Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Marin, A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0234-1
By: Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Almenares, F.; Sanchez, I.B.; Arias, P.; Sanchez, R.;
By: Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Almenares, F.; Sanchez, I.B.; Arias, P.; Sanchez, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0234-1
By: Almenarez Mendoza, F.; Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Sanvido, F.; Sanchez Guerrero, R.; Arias Cabarcos, P.;
By: Almenarez Mendoza, F.; Diaz-Sanchez, D.; Marin, A.; Sanvido, F.; Sanchez Guerrero, R.; Arias Cabarcos, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1193-0
By: Marin, A.; Proserpio, D.; Arias, P.; Almenarez, F.; Diaz-Sanchez, D.; Sanchez-Guerrero, R.;
By: Marin, A.; Proserpio, D.; Arias, P.; Almenarez, F.; Diaz-Sanchez, D.; Sanchez-Guerrero, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1193-0
By: Sanvido, F.; Sanchez-Guerrero, R.; Arias, P.; Marin, A.; Almenarez, F.; Diaz-Sanchez, D.;
By: Sanvido, F.; Sanchez-Guerrero, R.; Arias, P.; Marin, A.; Almenarez, F.; Diaz-Sanchez, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0231-0
By: Marin, A.; Sanchez Guerrero, R.; Almenares, F.; Cabarcos, P.A.; Diaz-Sanchez, D.;
By: Marin, A.; Sanchez Guerrero, R.; Almenares, F.; Cabarcos, P.A.; Diaz-Sanchez, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1325-5
By: Valencia, E.; Rios, H.V.; Herrera, R.; Silva, E.; Marin, A.; Montes, F.M.;
By: Valencia, E.; Rios, H.V.; Herrera, R.; Silva, E.; Marin, A.; Montes, F.M.;
1990 / IEEE
By: Coan, T.; Hopkins, G.; Wenwen Lu; Marin, A.; Osborne, D.; Beatty, J.; Warner, D.; Bing Zhou; Rohlf, J.; Ahlen, S.;
By: Coan, T.; Hopkins, G.; Wenwen Lu; Marin, A.; Osborne, D.; Beatty, J.; Warner, D.; Bing Zhou; Rohlf, J.; Ahlen, S.;
1994 / IEEE
By: Adam, A.; Ahlen, S.; Ambrosi, G.; Babucci, E.; Baschirotto, A.; Battiston, R.; Bay, A.; LBencze, G.Y.; Bertucci, B.; Biasini, M.; Bilei, G.M.; Bobbink, G.J.; Bosetti, M.; Brooks, M.L.; Busenitz, J.; Burger, W.J.; Camps, C.; Caria, M.; Castellini, G.; Checcucci, B.; Chen, A.; Coan, T.E.; Commichau, V.; DiBitonto, D.; Duinker, P.; Easo, S.; Extermann, P.; Fiandrini, E.; Gougas, A.; Hangartner, K.; Hauviller, C.; Herve, A.; Hou, S.; Josa, I.; Kapustinsky, J.S.; Kim, D.; Kinnison, W.W.; Kornis, J.; Krastev, V.R.; Landi, G.; Lebeau, M.; Lecomte, P.; Lee, D.M.; Leiste, R.; Lejeune, E.; Lin, W.T.; Lohmann, W.; Marin, A.; Massetti, R.; Mills, G.B.; Nowak, H.; Passaleva, G.; Paul, T.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrin, E.; Rancoita, P.G.; Rattaggi, M.; Santocchia, A.; Sachwitz, M.; Schmitz, P.; Schoeniech, B.; Servoli, L.; Susinno, G.F.; Terzi, G.; Thompson, T.C.; Tonisch, F.; Toth, J.; Trowitzsch, G.; Viertel, G.M.; Vogt, H.; Waldmeier, S.; Weill, R.; Yeh, S.C.; Zhou, B.;
By: Adam, A.; Ahlen, S.; Ambrosi, G.; Babucci, E.; Baschirotto, A.; Battiston, R.; Bay, A.; LBencze, G.Y.; Bertucci, B.; Biasini, M.; Bilei, G.M.; Bobbink, G.J.; Bosetti, M.; Brooks, M.L.; Busenitz, J.; Burger, W.J.; Camps, C.; Caria, M.; Castellini, G.; Checcucci, B.; Chen, A.; Coan, T.E.; Commichau, V.; DiBitonto, D.; Duinker, P.; Easo, S.; Extermann, P.; Fiandrini, E.; Gougas, A.; Hangartner, K.; Hauviller, C.; Herve, A.; Hou, S.; Josa, I.; Kapustinsky, J.S.; Kim, D.; Kinnison, W.W.; Kornis, J.; Krastev, V.R.; Landi, G.; Lebeau, M.; Lecomte, P.; Lee, D.M.; Leiste, R.; Lejeune, E.; Lin, W.T.; Lohmann, W.; Marin, A.; Massetti, R.; Mills, G.B.; Nowak, H.; Passaleva, G.; Paul, T.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrin, E.; Rancoita, P.G.; Rattaggi, M.; Santocchia, A.; Sachwitz, M.; Schmitz, P.; Schoeniech, B.; Servoli, L.; Susinno, G.F.; Terzi, G.; Thompson, T.C.; Tonisch, F.; Toth, J.; Trowitzsch, G.; Viertel, G.M.; Vogt, H.; Waldmeier, S.; Weill, R.; Yeh, S.C.; Zhou, B.;
1995 / IEEE / 4-930813-67-0
By: Marin, A.; Kloos, C.D.; Tiedemann, W.-D.; Lenk, S.; Grobe, C.; Grass, W.; Robles, T.;
By: Marin, A.; Kloos, C.D.; Tiedemann, W.-D.; Lenk, S.; Grobe, C.; Grass, W.; Robles, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Wenninger, J.; Rybaltchenko, K.; Marin, A.; Coosemans, W.; Tecker, F.;
By: Wenninger, J.; Rybaltchenko, K.; Marin, A.; Coosemans, W.; Tecker, F.;
2003 / IEEE
By: van Kranenburg, R.; Garcia, R.C.; Campo, M.C.; Marin, A.; Almenarez, F.; Bolle, R.; Ying-Li Tian; Hampapur, A.; Brown, L.; Senior, A.; Pankanti, S.;
By: van Kranenburg, R.; Garcia, R.C.; Campo, M.C.; Marin, A.; Almenarez, F.; Bolle, R.; Ying-Li Tian; Hampapur, A.; Brown, L.; Senior, A.; Pankanti, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
By: Celentano, G.; Crescenzi, C.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Capriccioli, A.; Sanguinetti, G.P.; Roccella, M.; Ramogida, G.; Zanotelli, G.; Pizzuto, A.; Parodi, B.; Mazzone, G.; Marin, A.; Lucca, F.; Linari, M.; Frosi, P.;
2005 / IEEE / 0-7695-2424-9
By: Marin, A.; Lacoste, M.; Hinarejos, F.; Forne, J.; Carbonell, M.; Almenarez, F.; Montenegro, J.A.;
By: Marin, A.; Lacoste, M.; Hinarejos, F.; Forne, J.; Carbonell, M.; Almenarez, F.; Montenegro, J.A.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
By: Parodi, B.; Pizzuto, A.; Marin, A.; Lucca, F.; Galbiati, L.; Mazzone, G.; Frosi, P.; Coppi, B.; Colettf, A.; Crescenzf, C.; Celentano, G.; Bianchi, A.; Cucchiaro, A.; Roccella, M.; Ramogida, G.;
2007 / IEEE / 0-7695-2788-4
By: Schaefer, R.; Mueller, W.; Marin, A.; Zigler, M.; Diaz, D.; Almenarez, F.;
By: Schaefer, R.; Mueller, W.; Marin, A.; Zigler, M.; Diaz, D.; Almenarez, F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0550-5
By: Marin, A.; Jianu, S.; Stan, A.; Svasta, P.; Codreanu, N.D.; Cucu, T.C.; Turcu, C.; Plotog, I.;
By: Marin, A.; Jianu, S.; Stan, A.; Svasta, P.; Codreanu, N.D.; Cucu, T.C.; Turcu, C.; Plotog, I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1217-4
By: Svasta, P.; Marin, A.; Plotog, I.; Codreanu, N.D.; Cucu, T.C.; Turcu, C.; Farcas, C.; Bara, A.; Gavan, M.; Pitica, D.; Varzaru, G.;
By: Svasta, P.; Marin, A.; Plotog, I.; Codreanu, N.D.; Cucu, T.C.; Turcu, C.; Farcas, C.; Bara, A.; Gavan, M.; Pitica, D.; Varzaru, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1217-4
By: Mirea, A.; Marin, A.; Blejan, M.; Drumea, P.; Matache, G.; Ilie, I.;
By: Mirea, A.; Marin, A.; Blejan, M.; Drumea, P.; Matache, G.; Ilie, I.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3113-7
By: Garcia-Rubio, C.; Campo, C.; Cortes, A.; Diaz, D.; Marin, A.; Almenarez, F.;
By: Garcia-Rubio, C.; Campo, C.; Cortes, A.; Diaz, D.; Marin, A.; Almenarez, F.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3113-7
By: Almenarez, F.; Garcia-Rubio, C.; Campo, C.; Cortes, A.; Diaz, D.; Marin, A.;
By: Almenarez, F.; Garcia-Rubio, C.; Campo, C.; Cortes, A.; Diaz, D.; Marin, A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1458-1
By: Almenarez, F.; Marin, A.; Diaz-Sanchez, D.; Telematica, I.; Cortes, A.;
By: Almenarez, F.; Marin, A.; Diaz-Sanchez, D.; Telematica, I.; Cortes, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2558-7
By: Cortes, A.; Almenarez, F.; Marin, A.; Diaz-Sanchez, D.; Telematica, I.;
By: Cortes, A.; Almenarez, F.; Marin, A.; Diaz-Sanchez, D.; Telematica, I.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4260-7
By: Vasile, A.; Codreanu, N.D.; Plotog, I.; Svasta, P.M.; Marin, A.; Varzaru, G.;
By: Vasile, A.; Codreanu, N.D.; Plotog, I.; Svasta, P.M.; Marin, A.; Varzaru, G.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8044-9
By: Marin, A.; Cristea, V.; Boldeanu, D.; Dobre, C.; Constantinescu, I.;
By: Marin, A.; Cristea, V.; Boldeanu, D.; Dobre, C.; Constantinescu, I.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7904-7
By: Zhang, B.; Ostendorf, M.; Marin, A.; Bender, E.M.; Zachry, M.; Oxley, M.; Morgan, J.T.;
By: Zhang, B.; Ostendorf, M.; Marin, A.; Bender, E.M.; Zachry, M.; Oxley, M.; Morgan, J.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9394-4
By: Sridhar, B.; Joe, R.S.; Florence, E.S.; Harichandran, A.; Marin, A.;
By: Sridhar, B.; Joe, R.S.; Florence, E.S.; Harichandran, A.; Marin, A.;