Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Marczewski, J.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Gwarek, W.; Kopyt, P.; Marczewski, J.; Yavorskiy, D.; Bialek, M.; Knap, W.; Grabiec, P.; Gorska, M.; Lusakowski, J.; Grodner, M.; Kucharski, K.;
By: Gwarek, W.; Kopyt, P.; Marczewski, J.; Yavorskiy, D.; Bialek, M.; Knap, W.; Grabiec, P.; Gorska, M.; Lusakowski, J.; Grodner, M.; Kucharski, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Lusakowski, J.; Kucharski, K.; Marczewski, J.; Kopyt, P.; Gwarek, W.K.;
By: Lusakowski, J.; Kucharski, K.; Marczewski, J.; Kopyt, P.; Gwarek, W.K.;
2003 / IEEE
By: Kucewicz, W.; Campagnolo, R.; Borghi, S.; Caccia, M.; Marczewski, J.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Tomaszewski, D.;
By: Kucewicz, W.; Campagnolo, R.; Borghi, S.; Caccia, M.; Marczewski, J.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Tomaszewski, D.;
2004 / IEEE
By: Marczewski, J.; Domanski, K.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Machowski, W.; Kuta, S.; Kucewicz, W.; Caccia, M.; Tomaszewski, D.; Kucharski, K.; Kociubinski, A.; Jaroszewicz, B.; Grodner, M.; Grabiec, P.;
By: Marczewski, J.; Domanski, K.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Machowski, W.; Kuta, S.; Kucewicz, W.; Caccia, M.; Tomaszewski, D.; Kucharski, K.; Kociubinski, A.; Jaroszewicz, B.; Grodner, M.; Grabiec, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8166-1
By: Jaroszewicz, B.; Klatka, T.; Grodner, M.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Niemiec, H.; Tomaszewski, D.; Szelezniak, M.; Sapor, M.; Marczewski, J.; Jasielski, J.; Kuta, S.; Kucharski, K.; Kucewicz, W.; Koziel, M.; Kociubinski, A.;
By: Jaroszewicz, B.; Klatka, T.; Grodner, M.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Niemiec, H.; Tomaszewski, D.; Szelezniak, M.; Sapor, M.; Marczewski, J.; Jasielski, J.; Kuta, S.; Kucharski, K.; Kucewicz, W.; Koziel, M.; Kociubinski, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Marczewski, J.; Alemi, M.; Prest, M.; Nadalut, B.; Simonetto, F.; Ramina, L.; Peghin, R.; Margoni, M.; Vallazza, E.; Fanin, C.; Checchia, P.; Borsato, E.; Miscetti, S.; Cordelli, M.; Bertolucci, S.; Anelli, M.; Caccia, A.; Bulgheroni, A.;
By: Marczewski, J.; Alemi, M.; Prest, M.; Nadalut, B.; Simonetto, F.; Ramina, L.; Peghin, R.; Margoni, M.; Vallazza, E.; Fanin, C.; Checchia, P.; Borsato, E.; Miscetti, S.; Cordelli, M.; Bertolucci, S.; Anelli, M.; Caccia, A.; Bulgheroni, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Domanski, K.; Grabiec, P.; Marczewski, J.; Caccia, M.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Machowski, W.; Kuta, S.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Kucharski, K.; Kociubinski, A.; Jaroszewicz, B.; Grodner, M.;
By: Domanski, K.; Grabiec, P.; Marczewski, J.; Caccia, M.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Machowski, W.; Kuta, S.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Kucharski, K.; Kociubinski, A.; Jaroszewicz, B.; Grodner, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Caccia, M.; Zalewska, A.; Badano, L.; Bol, J.; Berst, D.; Bianchi, C.; Bulgheroni, A.; Cannillo, F.; Cappellini, C.; Czermak, A.; Claus, G.; Colledani, C.; Conte, L.; Deptuch, G.; Dierlamm, A.; de Boer, W.; Domanski, K.; Dulinski, W.; Dulny, B.; Ferrando, O.; Grigoriev, E.; Grabiec, P.; Lorusso, R.; Jaroszewicz, B.; Jastrzab, M.; Jungermann, L.; Kucewicz, W.; Kucharski, K.; Kuta, S.; Leo, G.; Machowski, W.; Marczewski, J.; Mondry, G.; Niemiec, H.; Novario, R.; Nowak, L.; Pezzetta, M.; Popowski, Y.; Riester, J.-L.; Sampietro, C.; Sapor, M.; Schweickert, H.; Sowicki, B.; Tanzi, F.; Tomaszewski, D.; Alemi, M.;
By: Caccia, M.; Zalewska, A.; Badano, L.; Bol, J.; Berst, D.; Bianchi, C.; Bulgheroni, A.; Cannillo, F.; Cappellini, C.; Czermak, A.; Claus, G.; Colledani, C.; Conte, L.; Deptuch, G.; Dierlamm, A.; de Boer, W.; Domanski, K.; Dulinski, W.; Dulny, B.; Ferrando, O.; Grigoriev, E.; Grabiec, P.; Lorusso, R.; Jaroszewicz, B.; Jastrzab, M.; Jungermann, L.; Kucewicz, W.; Kucharski, K.; Kuta, S.; Leo, G.; Machowski, W.; Marczewski, J.; Mondry, G.; Niemiec, H.; Novario, R.; Nowak, L.; Pezzetta, M.; Popowski, Y.; Riester, J.-L.; Sampietro, C.; Sapor, M.; Schweickert, H.; Sowicki, B.; Tanzi, F.; Tomaszewski, D.; Alemi, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Borsato, E.; Checchia, P.; Cordelli, M.; Miscetti, S.; Bertoluccil, S.; Anelli, M.; Caccia, M.; Bulgheroni, A.; Alemi, M.; Marczewski, J.; Vallazza, E.; Prest, M.; Nadalut, B.; Simonetto, F.; Ramina, L.; Peghin, R.; Margoni, M.; Fanin, C.;
By: Borsato, E.; Checchia, P.; Cordelli, M.; Miscetti, S.; Bertoluccil, S.; Anelli, M.; Caccia, M.; Bulgheroni, A.; Alemi, M.; Marczewski, J.; Vallazza, E.; Prest, M.; Nadalut, B.; Simonetto, F.; Ramina, L.; Peghin, R.; Margoni, M.; Fanin, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Kuta, S.; Marczewski, J.; Kociubinski, A.; Jastrzab, M.; Jaroszewicz, B.; Kucharski, K.; Grodner, M.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Caccia, M.; Bulgheroni, A.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Sapor, M.; Niemiec, H.;
By: Kuta, S.; Marczewski, J.; Kociubinski, A.; Jastrzab, M.; Jaroszewicz, B.; Kucharski, K.; Grodner, M.; Grabiec, P.; Domanski, K.; Caccia, M.; Bulgheroni, A.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Sapor, M.; Niemiec, H.;
2008 / IEEE / 978-83-922632-7-2
By: Niemiec, H.; Kucewicz, W.; Ruddell, F.H.; Suder, S. L.; Gamble, H.S.; Baine, P.; Sapor, M.; Grabiec, P.; Kucharski, K.; Marczewski, J.; Tomaszewski, D.; Armstrong, B.M.; Bain, M.;
By: Niemiec, H.; Kucewicz, W.; Ruddell, F.H.; Suder, S. L.; Gamble, H.S.; Baine, P.; Sapor, M.; Grabiec, P.; Kucharski, K.; Marczewski, J.; Tomaszewski, D.; Armstrong, B.M.; Bain, M.;
2010 / IEEE
By: Ruddell, F.H.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Kusiak, T.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Armstrong, B.M.; Grabiec, P.; Marczewski, J.; Majewski, S.; Kucharski, K.; Loster, B.W.; Gamble, H.S.;
By: Ruddell, F.H.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Kusiak, T.; Kucewicz, W.; Tomaszewski, D.; Armstrong, B.M.; Grabiec, P.; Marczewski, J.; Majewski, S.; Kucharski, K.; Loster, B.W.; Gamble, H.S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Consejo, C.; Teppe, F.; Dyakonova, N.; Videlier, H.; Knap, W.; Marczewski, J.; Grabiec, P.; Tomaszewski, D.; Lusakowski, J.;
By: Consejo, C.; Teppe, F.; Dyakonova, N.; Videlier, H.; Knap, W.; Marczewski, J.; Grabiec, P.; Tomaszewski, D.; Lusakowski, J.;