Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Manfra, M.J.
Results
1988 / IEEE
By: Finn, M.C.; Turner, G.W.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.;
By: Finn, M.C.; Turner, G.W.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.;
1992 / IEEE
By: Palmateer, S.C.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Calawa, A.R.; Chen, C.-L.; Hollis, M.A.; Manfra, M.J.;
By: Palmateer, S.C.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Calawa, A.R.; Chen, C.-L.; Hollis, M.A.; Manfra, M.J.;
1991 / IEEE / 0-87942-591-1
By: Clifton, B.J.; Temme, D.H.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.;
By: Clifton, B.J.; Temme, D.H.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.;
1995 / IEEE
By: Gramstorff, B.F.; Mahoney, L.J.; Manfra, M.J.; Nichols, K.B.; Molvar, K.M.; Chen, C.L.; Brown, E.R.; Murphy, R.A.;
By: Gramstorff, B.F.; Mahoney, L.J.; Manfra, M.J.; Nichols, K.B.; Molvar, K.M.; Chen, C.L.; Brown, E.R.; Murphy, R.A.;
1998 / IEEE
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
1987 / IEEE
By: Calawa, A.R.; Smith, F.W.; Spooner, F.H.; Huang, J.C.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Chen, C.L.;
By: Calawa, A.R.; Smith, F.W.; Spooner, F.H.; Huang, J.C.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Chen, C.L.;
1999 / IEEE
By: Connors, M.K.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.G.; Choi, H.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Cook, C.C.; Manfra, M.J.;
By: Connors, M.K.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.G.; Choi, H.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Cook, C.C.; Manfra, M.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Choi, H.K.; Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Fan, T.Y.; Manfra, M.J.; Foti, P.J.;
By: Choi, H.K.; Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Fan, T.Y.; Manfra, M.J.; Foti, P.J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Turner, G.W.; Buchter, S.C.; Goyal, A.K.; Choi, H.K.; Calawa, S.D.; Manfra, M.J.;
By: Turner, G.W.; Buchter, S.C.; Goyal, A.K.; Choi, H.K.; Calawa, S.D.; Manfra, M.J.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
2001 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Foti, P.J.; Manfra, M.J.; Liau, Z.L.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Missaggia, L.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Daneu, J.L.; O'Brien, P.;
By: Foti, P.J.; Manfra, M.J.; Liau, Z.L.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Missaggia, L.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Daneu, J.L.; O'Brien, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; O'Brien, P.; Foti, P.J.; Manfra, M.J.;
By: Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; O'Brien, P.; Foti, P.J.; Manfra, M.J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
1994 / IEEE
By: Brown, E.R.; Jenskins, G.E.; Liu, H.C.; Manfra, M.J.; Nichols, K.B.; McIntosh, K.A.;
By: Brown, E.R.; Jenskins, G.E.; Liu, H.C.; Manfra, M.J.; Nichols, K.B.; McIntosh, K.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7317-0
By: Manfra, M.J.; Weimann, N.G.; Molnar, R.J.; Lang, D.V.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Hsu, J.W.P.;
By: Manfra, M.J.; Weimann, N.G.; Molnar, R.J.; Lang, D.V.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Hsu, J.W.P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7581-5
By: Pfeiffer, L.N.; Hsu, J.W.P.; Weimann, N.G.; Manfra, M.J.; Molnar, R.J.; West, K.W.;
By: Pfeiffer, L.N.; Hsu, J.W.P.; Weimann, N.G.; Manfra, M.J.; Molnar, R.J.; West, K.W.;
1987 / IEEE
By: Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Chang-Lee Chen; Atwater, H.A.; Chu, A.;
By: Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Chang-Lee Chen; Atwater, H.A.; Chu, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7478-9
By: Weimann, N.G.; Molnar, R.J.; Lang, D.V.; Chu, S.N.G.; Hsu, J.W.P.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Baldwin, K.; Manfra, M.J.;
By: Weimann, N.G.; Molnar, R.J.; Lang, D.V.; Chu, S.N.G.; Hsu, J.W.P.; West, K.W.; Pfeiffer, L.N.; Baldwin, K.; Manfra, M.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
1985 / IEEE
By: Mahoney, L.J.; Chu, A.; Chen, C.L.; Brooks, R.C.; Finn, M.C.; Manfra, M.J.; Mavroides, J.G.;
By: Mahoney, L.J.; Chu, A.; Chen, C.L.; Brooks, R.C.; Finn, M.C.; Manfra, M.J.; Mavroides, J.G.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Manfra, M.J.; Schmult, S.; Mitrofanov, O.; Molnar, R.J.; Sergent, A.M.;
By: Manfra, M.J.; Schmult, S.; Mitrofanov, O.; Molnar, R.J.; Sergent, A.M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Duerr, E.K.; Turner, G.W.; Donnelly, J.P.; Diagne, M.A.;
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Duerr, E.K.; Turner, G.W.; Donnelly, J.P.; Diagne, M.A.;