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Author: Maiorov, M.
Results
1999 / IEEE
By: Khalfin, V.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Matarese, R.; Milgazo, H.;
By: Khalfin, V.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Matarese, R.; Milgazo, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
By: DiMarco, L.A.; Braun, A.M.; Menna, R.J.; Maiorov, M.; Martinelli, R.U.; Abeles, J.H.; Sugg, A.R.; Connolly, J.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Olsen, G.H.; Vurgaftman, I.; Bartolo, R.E.; Stokes, D.W.; Jurkovic, M.J.; Lindle, J.R.; Meyer, J.R.; Yang, M.-J.; Lee, H.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Garbuzov, D.Z.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.; Sugg, A.R.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
By: Sugg, A.R.; Olsen, G.H.; Connolly, J.C.; Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Menna, R.J.; Lee, H.; Yang, M.J.; Stokes, D.W.; Olafsen, L.J.; Felix, C.L.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.; Meyer, J.R.; Maiorov, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Maiorov, M.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.;
By: Maiorov, M.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
By: Garbuzov, D.Z.; Martinelli, R.U.; Belenky, G.L.; Westerfeld, D.; Donetsky, D.V.; Connolly, J.C.; Maiorov, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Maiorov, M.;
By: Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Todorov, S.; Komissarov, A.; Tsekoun, A.; Khalfin, V.; Maiorov, M.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Morris, N.; Komissarav, A.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Braun, A.; Khalfin, V.; Garbuzov, D.;
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Morris, N.; Komissarav, A.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Braun, A.; Khalfin, V.; Garbuzov, D.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Komissar, A.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Roff, R.;
By: Maiorov, M.; Kudryashov, I.; Komissar, A.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Roff, R.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Kudryashov, I.; Komissarov, A.; Maiorov, M.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
By: Kudryashov, I.; Komissarov, A.; Maiorov, M.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;
By: Chul Soo Kim; Zeidel, V.; Tsai, T.R.; Maiorov, M.; Heaps, C.W.; Trofimov, I.; Mijin Kim; Wysocki, G.; Meyer, J.R.; Vurgaftman, I.; Lindle, J.R.; Bewley, W.W.; Canedy, C.L.;