Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Magerlein, J.H.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1111-3
By: Dang, B.; Andry, P.; Colgan, E.G.; Wakil, J.; Polastre, R.J.; Maria, J.; Magerlein, J.H.;
By: Dang, B.; Andry, P.; Colgan, E.G.; Wakil, J.; Polastre, R.J.; Maria, J.; Magerlein, J.H.;
1988 / IEEE
By: Magerlein, J.H.; Anderson, C.J.; Thomas, M.; Roche, P.; Pomerene, A.T.S.; Hovel, H.J.; Hoh, P.D.; Greiner, J.H.; Feder, J.D.; Callegari, A.; Bermon, S.; Scott, G.J.;
By: Magerlein, J.H.; Anderson, C.J.; Thomas, M.; Roche, P.; Pomerene, A.T.S.; Hovel, H.J.; Hoh, P.D.; Greiner, J.H.; Feder, J.D.; Callegari, A.; Bermon, S.; Scott, G.J.;
1989 / IEEE
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
1992 / IEEE / 0-87942-652-7
By: Magerlein, J.H.; Kuech, T.F.; La Tulipe, D.C.; Tischler, M.A.; Hovel, H.J.;
By: Magerlein, J.H.; Kuech, T.F.; La Tulipe, D.C.; Tischler, M.A.; Hovel, H.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8265-X
By: Lund, J.L.; Cotte, J.; Jahnes, C.V.; Seeger, D.; Magerlein, J.H.; Deligianni, H.; Hoivik, N.; Tornello, J.A.; Fryer, P.; Buchwalter, L.P.; Chinthakindi, A.;
By: Lund, J.L.; Cotte, J.; Jahnes, C.V.; Seeger, D.; Magerlein, J.H.; Deligianni, H.; Hoivik, N.; Tornello, J.A.; Fryer, P.; Buchwalter, L.P.; Chinthakindi, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-8985-9
By: Wakil, J.; Zitz, J.; Marston, K.; Choudhary, R.; Bezama, R.J.; Rothwell, M.B.; Toy, H.; Polastre, R.J.; Magerlein, J.H.; LaBianca, N.; Graham, W.; Gaynes, A.; Furman, B.; Colgan, E.G.;
By: Wakil, J.; Zitz, J.; Marston, K.; Choudhary, R.; Bezama, R.J.; Rothwell, M.B.; Toy, H.; Polastre, R.J.; Magerlein, J.H.; LaBianca, N.; Graham, W.; Gaynes, A.; Furman, B.; Colgan, E.G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Dolfi, D.W.; Buckman Windover, L.A.; Rosenau, S.A.; Law, B.; Telia, R.P.; Gong, W.; Tandon, A.; Tan, M.R.T.; Djordjev, K.D.; Schmit, A.J.; Rankin, G.H.; Flower, G.M.; de Groot, E.; Panotopoulos, G.; Ali, M.E.; Lemoff, B.E.; Dyckman, W.; Abshier, J.; Katopis, G.; Becker, D.; Benner, A.; Torok, J.; Stigliani, D., Jr.; Schow, C.; Schaub, J.; Magerlein, J.H.; Furman, B.; Colgan, E.G.;
By: Dolfi, D.W.; Buckman Windover, L.A.; Rosenau, S.A.; Law, B.; Telia, R.P.; Gong, W.; Tandon, A.; Tan, M.R.T.; Djordjev, K.D.; Schmit, A.J.; Rankin, G.H.; Flower, G.M.; de Groot, E.; Panotopoulos, G.; Ali, M.E.; Lemoff, B.E.; Dyckman, W.; Abshier, J.; Katopis, G.; Becker, D.; Benner, A.; Torok, J.; Stigliani, D., Jr.; Schow, C.; Schaub, J.; Magerlein, J.H.; Furman, B.; Colgan, E.G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
2007 / IEEE
By: Marston, K.C.; Toy, H.; Bezama, R.J.; Rothwell, M.B.; Polastre, R.J.; Choudhary, R.; Magerlein, J.H.; LaBianca, N.C.; Graham, W.S.; Gaynes, M.; Furman, B.; Colgan, E.G.; Schmidt, R.R.; Zitz, J.A.; Wakil, J.;
By: Marston, K.C.; Toy, H.; Bezama, R.J.; Rothwell, M.B.; Polastre, R.J.; Choudhary, R.; Magerlein, J.H.; LaBianca, N.C.; Graham, W.S.; Gaynes, M.; Furman, B.; Colgan, E.G.; Schmidt, R.R.; Zitz, J.A.; Wakil, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0877-1
By: Hoivik, N.; Gaucher, B.; Magerlein, J.H.; Knickerbocker, J.; Grzyb, J.; Jahnes, C.V.; Pfeiffer, U.; Patel, C.; Tsang, C.; Cotte, J.M.; Liu, D.;
By: Hoivik, N.; Gaucher, B.; Magerlein, J.H.; Knickerbocker, J.; Grzyb, J.; Jahnes, C.V.; Pfeiffer, U.; Patel, C.; Tsang, C.; Cotte, J.M.; Liu, D.;
2008 / IEEE
By: Jahnes, C.V.; Palego, C.; Hwang, J.; Halder, S.; Etzold, K.F.; Zhen Peng; Magerlein, J.H.; Cotte, J.M.;
By: Jahnes, C.V.; Palego, C.; Hwang, J.; Halder, S.; Etzold, K.F.; Zhen Peng; Magerlein, J.H.; Cotte, J.M.;