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Author: Lugli, P.
Results
2012 / IEEE
By: Huby, N.; Scarpa, G.; Tallarida, G.; Lugli, P.; Guziewicz, E.; Arcari, M.; Godlewski, M.; Krajewski, T.A.;
By: Huby, N.; Scarpa, G.; Tallarida, G.; Lugli, P.; Guziewicz, E.; Arcari, M.; Godlewski, M.; Krajewski, T.A.;
2012 / IEEE
By: Porod, W.; Niemier, M.; Hu, X.S.; Lugli, P.; Varga, E.; Bernstein, G.H.; Sankar, V.K.; Csaba, G.; Peng Li; Xueming Ju;
By: Porod, W.; Niemier, M.; Hu, X.S.; Lugli, P.; Varga, E.; Bernstein, G.H.; Sankar, V.K.; Csaba, G.; Peng Li; Xueming Ju;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Albert, E.; Qingqing Gong; Scarpa, G.; Chan-Park, M.B.; Lugli, P.; Abdellah, A.; Fabel, B.;
By: Albert, E.; Qingqing Gong; Scarpa, G.; Chan-Park, M.B.; Lugli, P.; Abdellah, A.; Fabel, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Ferrari, C.; Yaqub, A.; Abdellah, A.; Scarpa, G.; Lugli, P.; Fabel, B.;
By: Ferrari, C.; Yaqub, A.; Abdellah, A.; Scarpa, G.; Lugli, P.; Fabel, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Jegert, G.; Hochmeister, A.; Bareiss, M.; Lugli, P.; Zschieschang, U.; Koblmuller, G.; Scarpa, G.; Fabel, B.; Klauk, H.; Porod, W.;
By: Jegert, G.; Hochmeister, A.; Bareiss, M.; Lugli, P.; Zschieschang, U.; Koblmuller, G.; Scarpa, G.; Fabel, B.; Klauk, H.; Porod, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Becherer, M.; Xueming Ju; Csaba, G.; Lugli, P.; Breitkreutz, S.; Kiermaier, J.;
By: Becherer, M.; Xueming Ju; Csaba, G.; Lugli, P.; Breitkreutz, S.; Kiermaier, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2145-8
By: Qingqing Chen; Csaba, G.; Lugli, P.; Schlichtmann, U.; Ruhrmair, U.;
By: Qingqing Chen; Csaba, G.; Lugli, P.; Schlichtmann, U.; Ruhrmair, U.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1318-7
By: Locci, S.; Alimenti, F.; Roselli, L.; Lugli, P.; Virili, M.; Popescu, D.; Popescu, B.; Lolli, F.;
By: Locci, S.; Alimenti, F.; Roselli, L.; Lugli, P.; Virili, M.; Popescu, D.; Popescu, B.; Lolli, F.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0997-4
By: Lugli, P.; Schmitt-Landsiedel, D.; Hu, X.S.; Csaba, G.; Becherer, M.; Ju, X.; Niemier, M.; Porod, W.;
By: Lugli, P.; Schmitt-Landsiedel, D.; Hu, X.S.; Csaba, G.; Becherer, M.; Ju, X.; Niemier, M.; Porod, W.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0707-9
By: Kiermaier, J.; Xueming Ju; Lugli, P.; Savo, A.; Becherer, M.; Csaba, G.; Porod, W.; Schmitt-Landsiedel, D.; Breitkreutz, S.;
By: Kiermaier, J.; Xueming Ju; Lugli, P.; Savo, A.; Becherer, M.; Csaba, G.; Porod, W.; Schmitt-Landsiedel, D.; Breitkreutz, S.;
2013 / IEEE
By: Imtaar, M. A.; Yadav, A.; Lugli, P.; Porod, W.; Scarpa, G.; Bernstein, G. H.; Csaba, G.; Epping, A.; Becherer, M.; Fabel, B.; Rezgani, J.;
By: Imtaar, M. A.; Yadav, A.; Lugli, P.; Porod, W.; Scarpa, G.; Bernstein, G. H.; Csaba, G.; Epping, A.; Becherer, M.; Fabel, B.; Rezgani, J.;
2015 / IEEE
By: Michalska, A.; Maksymiuk, K.; Jaworska, E.; Schuster, T.; Bhatt, V.D.; Melzer, K.; Scarpa, G.; Lugli, P.;
By: Michalska, A.; Maksymiuk, K.; Jaworska, E.; Schuster, T.; Bhatt, V.D.; Melzer, K.; Scarpa, G.; Lugli, P.;
2015 / IEEE
By: Szakmany, G. P.; Jirauschek, C.; Russer, J. A.; Russer, P.; Schmidt, M.; Porod, W.; Bernstein, G. H.; Orlov, A. O.; Lugli, P.;
By: Szakmany, G. P.; Jirauschek, C.; Russer, J. A.; Russer, P.; Schmidt, M.; Porod, W.; Bernstein, G. H.; Orlov, A. O.; Lugli, P.;
1990 / IEEE
By: Magistrali, F.; Bigliardi, S.; Lugli, P.; Capelletti, R.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Testa, N.; Paccagnella, A.;
By: Magistrali, F.; Bigliardi, S.; Lugli, P.; Capelletti, R.; Manfredi, M.; Zanoni, E.; Canali, C.; Testa, N.; Paccagnella, A.;
1996 / IEEE
By: Canali, C.; Zandler, G.; Zanoni, E.; Loris Vendrame; Neviani, A.; Manfredi, M.; Malik, R.; Lugli, P.; Carlo, A.D.; Pavan, P.;
By: Canali, C.; Zandler, G.; Zanoni, E.; Loris Vendrame; Neviani, A.; Manfredi, M.; Malik, R.; Lugli, P.; Carlo, A.D.; Pavan, P.;
2000 / IEEE
By: Zandler, G.; Lugli, P.; Rossi, L.; Di Carlo, A.; Zanoni, E.; Jackson, M.; Meneghesso, G.;
By: Zandler, G.; Lugli, P.; Rossi, L.; Di Carlo, A.; Zanoni, E.; Jackson, M.; Meneghesso, G.;
2004 / IEEE
By: Lugli, P.; Di Carlo, A.; Manenti, M.; Berliocchi, M.; Bolognesi, A.; Dufour, C.; Lmimouni, K.;
By: Lugli, P.; Di Carlo, A.; Manenti, M.; Berliocchi, M.; Bolognesi, A.; Dufour, C.; Lmimouni, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8536-5
By: Regoliosi, P.; Lugli, P.; Terranova, M.L.; Orlanducci, S.; Di Carlo, A.; Reale, A.;
By: Regoliosi, P.; Lugli, P.; Terranova, M.L.; Orlanducci, S.; Di Carlo, A.; Reale, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8536-5
By: Gagliardi, A.; Pecchia, A.; Lugli, P.; Frauenheim, T.; Di Carlo, A.;
By: Gagliardi, A.; Pecchia, A.; Lugli, P.; Frauenheim, T.; Di Carlo, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8536-5
By: Terranova, M.L.; Tamburri, E.; Brunetti, F.; Fiori, A.; Reale, A.; Orlanducci, S.; Lugli, P.; Di Carlo, A.;
By: Terranova, M.L.; Tamburri, E.; Brunetti, F.; Fiori, A.; Reale, A.; Orlanducci, S.; Lugli, P.; Di Carlo, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8649-3
By: Bolognesi, A.; Latessa, L.; Pecchia, A.; Di Carlo, A.; Scarpa, G.; Harrer, S.; Erlen, C.; Csaba, G.; Lugli, P.;
By: Bolognesi, A.; Latessa, L.; Pecchia, A.; Di Carlo, A.; Scarpa, G.; Harrer, S.; Erlen, C.; Csaba, G.; Lugli, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8649-3
By: Pecchia, A.; Lugli, P.; Frauenheim, T.; Niehaus, T.; Di Carlo, A.; Gagliardi, A.;
By: Pecchia, A.; Lugli, P.; Frauenheim, T.; Niehaus, T.; Di Carlo, A.; Gagliardi, A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0077-5
By: Brunetti, F.; Erlen, C.; Nickel, B.; Schiefer, S.; Fiebig, M.; Lugli, P.;
By: Brunetti, F.; Erlen, C.; Nickel, B.; Schiefer, S.; Fiebig, M.; Lugli, P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0077-5
By: Lugli, P.; Fiori, A.; Brunetti, F.; Merlo, V.; Cirillo, M.; Ciorba, A.; di Carlo, A.; Reale, A.; Paoloni, C.; von Neumann, L.; Petrolati, E.; Riccitelli, R.; Terranova, M.L.; Toschi, F.; Tamburri, E.; Sessa, V.; Orlanducci, S.;
By: Lugli, P.; Fiori, A.; Brunetti, F.; Merlo, V.; Cirillo, M.; Ciorba, A.; di Carlo, A.; Reale, A.; Paoloni, C.; von Neumann, L.; Petrolati, E.; Riccitelli, R.; Terranova, M.L.; Toschi, F.; Tamburri, E.; Sessa, V.; Orlanducci, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0301-4
By: Cheze, C.; Liebau, M.; Duesberg, G.S.; Graham, A.P.; Weber, W.M.; Lugli, P.; Geelhaar, L.; Riechert, H.; Kreupl, F.; Hoenlein, W.; Pamler, W.; Unger, E.;
By: Cheze, C.; Liebau, M.; Duesberg, G.S.; Graham, A.P.; Weber, W.M.; Lugli, P.; Geelhaar, L.; Riechert, H.; Kreupl, F.; Hoenlein, W.; Pamler, W.; Unger, E.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Vitiello, M.S.; Lugli, P.; Scarpa, G.; Jirauschek, C.; Scamarcio, G.;
By: Vitiello, M.S.; Lugli, P.; Scarpa, G.; Jirauschek, C.; Scamarcio, G.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1572-4
By: Schmitt-Landsiedel, D.; Lugli, P.; Porod, W.; Osswald, P.; Emling, R.; Csaba, G.; Becherer, M.;
By: Schmitt-Landsiedel, D.; Lugli, P.; Porod, W.; Osswald, P.; Emling, R.; Csaba, G.; Becherer, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0607-4
By: Abstreiter, G.; Tornow, M.; Scarpa, G.; Brunetti, F.; Strobel, S.; Harrer, S.; Lugli, P.;
By: Abstreiter, G.; Tornow, M.; Scarpa, G.; Brunetti, F.; Strobel, S.; Harrer, S.; Lugli, P.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2104-6
By: Strobel, S.; Tornow, M.; Lugli, P.; Abstreiter, G.; Scarpa, G.; Penso-Blanco, G.; Harrer, S.;
By: Strobel, S.; Tornow, M.; Lugli, P.; Abstreiter, G.; Scarpa, G.; Penso-Blanco, G.; Harrer, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2104-6
By: Geelhaar, L.; Weber, W.M.; Lugli, P.; Scarpa, G.; Lamagna, L.; Riechert, H.; Unger, E.; Kreupl, F.; Fanciulli, M.;
By: Geelhaar, L.; Weber, W.M.; Lugli, P.; Scarpa, G.; Lamagna, L.; Riechert, H.; Unger, E.; Kreupl, F.; Fanciulli, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3762-7
By: Csaba, G.; Arcari, M.; Spiga, S.; Kutrzeba-Kotowska, B.; Lugli, P.; Tallarida, G.; Bez, R.; Huby, N.; Redaelli, A.;
By: Csaba, G.; Arcari, M.; Spiga, S.; Kutrzeba-Kotowska, B.; Lugli, P.; Tallarida, G.; Bez, R.; Huby, N.; Redaelli, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3925-6
By: Rizos, N.; Schmitt-Landsiedel, D.; Becherer, M.; Csaba, G.; Lugli, P.; Omar, M.;
By: Rizos, N.; Schmitt-Landsiedel, D.; Becherer, M.; Csaba, G.; Lugli, P.; Omar, M.;
2009 / IEEE / 978-981-08-3694-8
By: Hansen, A.G.; Lugli, P.; Csaba, G.; Krebs, F.C.; Albert, E.; Tornow, M.; Norrman, K.; Bundgaard, E.; Sondergaard, R.; Strobel, S.;
By: Hansen, A.G.; Lugli, P.; Csaba, G.; Krebs, F.C.; Albert, E.; Tornow, M.; Norrman, K.; Bundgaard, E.; Sondergaard, R.; Strobel, S.;
2009 / IEEE / 978-981-08-3694-8
By: Strobel, S.; Abdellah, A.; Lugli, P.; Penso-Blanco, G.; Abstreiter, G.; Harrer, S.; Scarpa, G.; Tornow, M.;
By: Strobel, S.; Abdellah, A.; Lugli, P.; Penso-Blanco, G.; Abstreiter, G.; Harrer, S.; Scarpa, G.; Tornow, M.;
2009 / IEEE / 978-9-8108-2468-6
By: Wiedenmann, O.; Exner, A.; Abdellah, A.; Scarpa, G.; Lugli, P.; Zhao, D.W.; Wang, Y.; Sun, X.W.;
By: Wiedenmann, O.; Exner, A.; Abdellah, A.; Scarpa, G.; Lugli, P.; Zhao, D.W.; Wang, Y.; Sun, X.W.;
2009 / IEEE / 978-9-8108-2468-6
By: Csaba, G.; Albert, E.; Abdellah, A.; Lugli, P.; Divina, P.R.; Erlen, C.; Chan-Park, M.B.; Scarpa, G.; Gong, Q.; Fabel, B.;
By: Csaba, G.; Albert, E.; Abdellah, A.; Lugli, P.; Divina, P.R.; Erlen, C.; Chan-Park, M.B.; Scarpa, G.; Gong, Q.; Fabel, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6680-1
By: Lugli, P.; Xueming Ju; Csaba, G.; Ruhrmair, U.; Zhiqian Ma; Schlichtmann, U.; Schmidhuber, J.; Porod, W.; Qingqing Chen;
By: Lugli, P.; Xueming Ju; Csaba, G.; Ruhrmair, U.; Zhiqian Ma; Schlichtmann, U.; Schmidhuber, J.; Porod, W.; Qingqing Chen;
2011 / IEEE
By: Harrer, S.; Scarpa, G.; Exner, A.; Abdellah, A.; Blanco, G.P.; Lugli, P.; Schmidt-Mende, L.; Wiedemann, W.;
By: Harrer, S.; Scarpa, G.; Exner, A.; Abdellah, A.; Blanco, G.P.; Lugli, P.; Schmidt-Mende, L.; Wiedemann, W.;