Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Lu, M.
Results
2012 / IEEE / 978-0-7695-4747-3
By: Bangalore, S.; Lu, M.; Srivastava, D.; Hadjieleftheriou, M.; Cormode, G.;
By: Bangalore, S.; Lu, M.; Srivastava, D.; Hadjieleftheriou, M.; Cormode, G.;
2013 / IEEE
By: Lu, M.; Park, H.-C.; Coldren, L. A.; Rodwell, M. J. W.; Johansson, L. A.; Griffith, Z.; Parker, J. S.; Sivananthan, A.; Bloch, E.;
By: Lu, M.; Park, H.-C.; Coldren, L. A.; Rodwell, M. J. W.; Johansson, L. A.; Griffith, Z.; Parker, J. S.; Sivananthan, A.; Bloch, E.;
2014 / IEEE
By: Rodwell, M.J.W.; Park, H.C.; Piels, M.; Lu, M.; Elias, D.; Sivananthan, A.; Bloch, E.; Coldren, L.A.; Griffith, Z.; Johansson, L.; Bowers, J. E.;
By: Rodwell, M.J.W.; Park, H.C.; Piels, M.; Lu, M.; Elias, D.; Sivananthan, A.; Bloch, E.; Coldren, L.A.; Griffith, Z.; Johansson, L.; Bowers, J. E.;
2014 / IEEE
By: Belenky, G.; Kipshidze, G.; Lu, M.; Stein, A.; Shterengas, L.; Hosoda, T.; Liang, R.;
By: Belenky, G.; Kipshidze, G.; Lu, M.; Stein, A.; Shterengas, L.; Hosoda, T.; Liang, R.;
Analysis of PCB level EMI phenomena using an adaptive low-frequency plane wave time domain algorithm
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2By: Shanker, B.; Lu, M.; Aygun, K.; Michielssen, E.;
2002 / IEEE / 0-7803-7335-9
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Cateus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Cateus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7335-9
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Coteus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Coteus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7216-6
By: Pallinti, J.; Wei-jen Hsia; Chuan-cheng Cheng; Wright, P.; Catabay, W.; Fujimoto, T.; Neumann, S.; Hao Cui; Lu, M.; Mei Zhu; Li, P.; Koh, J.;
By: Pallinti, J.; Wei-jen Hsia; Chuan-cheng Cheng; Wright, P.; Catabay, W.; Fujimoto, T.; Neumann, S.; Hao Cui; Lu, M.; Mei Zhu; Li, P.; Koh, J.;
2002 / IEEE / 0-7695-1745-5
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Coteus, R.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Tremaine, R.B.; Tsao, M.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Wazlowski, M.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
By: Almasi, G.; Almasi, G.S.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Ceze, L.; Coteus, R.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Deutsch, A.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Lu, M.; Mendell, M.; Mok, L.; Moreira, J.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Rand, R.; Regan, R.; Sahoo, R.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Singh, S.; Song, P.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Swetz, R.; Takken, T.; Tremaine, R.B.; Tsao, M.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Wazlowski, M.; Brown, J.; Liebsch, T.; Schram, A.; Ulsh, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7797-4
By: Ho, F.; Wang, D.; Catabay, W.; Kwak, L.; Reder, S.; Pallinti, J.; Lu, M.; Wright, P.; Barth, W.; Lakshminarayanan, S.;
By: Ho, F.; Wang, D.; Catabay, W.; Kwak, L.; Reder, S.; Pallinti, J.; Lu, M.; Wright, P.; Barth, W.; Lakshminarayanan, S.;
2005 / IEEE
By: Pankanti, S.; Merkl, H.; Lu, M.; Haas, N.; Hampapur, A.; Connell, J.; Brown, L.; Ekin, A.;
By: Pankanti, S.; Merkl, H.; Lu, M.; Haas, N.; Hampapur, A.; Connell, J.; Brown, L.; Ekin, A.;
2005 / IEEE
By: Lu, M.; Hampapur, A.; Pankanti, S.; Senior, A.; Brown, L.; Chiao Fe Shu; Connell, J.; Ekin, A.; Ying-Li Tian;
By: Lu, M.; Hampapur, A.; Pankanti, S.; Senior, A.; Brown, L.; Chiao Fe Shu; Connell, J.; Ekin, A.; Ying-Li Tian;
On uniform versus non-uniform sampling of far-field patterns in the plane wave time domain algorithm
2005 / IEEE / 0-7803-8883-6By: Michielssen, E.; Shanker, B.; Lu, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9385-6
By: Connell, J.; Brown, L.; Lu, M.; Hampapur, A.; Chiao-Fe Shu; Yingli Tian; Senior, A.;
By: Connell, J.; Brown, L.; Lu, M.; Hampapur, A.; Chiao-Fe Shu; Yingli Tian; Senior, A.;
2002 / IEEE / 0-7695-1524-X
By: Adiga, N.R.; Almasi, G.; Almasi, G.S.; Aridor, Y.; Barik, R.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Chan, W.; Ceze, L.; Coteus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Desai, K.M.; Deutsch, A.; Domany, T.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Erway, C.; Esch, J.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Garg, R.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gopalsamy, B.; Gunnels, J.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Krevat, E.; Kurhekar, M.P.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Liu, L.K.; Lu, M.; Mendell, M.; Misra, A.; Moatti, Y.; Mok, L.; Moreira, J.E.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Oliner, A.; Pandit, V.; Pudota, R.B.; Rand, R.; Regan, R.; Rubin, B.; Ruehli, A.; Rus, S.; Sahoo, R.K.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Sharma, M.; Shmueli, E.; Singh, S.; Song, P.; Srinivasan, V.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Surovic, C.; Swetz, R.; Takken, T.; Tremaine, R.B.; Tsao, M.; Umamaheshwaran, A.R.; Verma, P.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Wazlowski, M.; Barrett, W.; Engel, C.; Drehmel, B.; Hilgart, B.; Hill, D.; Kasemkhani, F.; Krolak, D.; Li, C.T.; Liebsch, T.; Marcella, J.; Muff, A.; Okomo, A.; Rouse, M.; Schram, A.; Tubbs, M.; Ulsh, G.; Wait, C.; Wittrup, J.; Bae, M.; Dockser, K.; Kissel, L.; Seager, M.K.; Vetter, J.S.; Yates, K.;
By: Adiga, N.R.; Almasi, G.; Almasi, G.S.; Aridor, Y.; Barik, R.; Beece, D.; Bellofatto, R.; Bhanot, G.; Bickford, R.; Blumrich, M.; Bright, A.A.; Brunheroto, J.; Cascaval, C.; Castanos, J.; Chan, W.; Ceze, L.; Coteus, P.; Chatterjee, S.; Chen, D.; Chiu, G.; Cipolla, T.M.; Crumley, P.; Desai, K.M.; Deutsch, A.; Domany, T.; Dombrowa, M.B.; Donath, W.; Eleftheriou, M.; Erway, C.; Esch, J.; Fitch, B.; Gagliano, J.; Gara, A.; Garg, R.; Germain, R.; Giampapa, M.E.; Gopalsamy, B.; Gunnels, J.; Gupta, M.; Gustavson, F.; Hall, S.; Haring, R.A.; Heidel, D.; Heidelberger, P.; Herger, L.M.; Hoenicke, D.; Jackson, R.D.; Jamal-Eddine, T.; Kopcsay, G.V.; Krevat, E.; Kurhekar, M.P.; Lanzetta, A.P.; Lieber, D.; Liu, L.K.; Lu, M.; Mendell, M.; Misra, A.; Moatti, Y.; Mok, L.; Moreira, J.E.; Nathanson, B.J.; Newton, M.; Ohmacht, M.; Oliner, A.; Pandit, V.; Pudota, R.B.; Rand, R.; Regan, R.; Rubin, B.; Ruehli, A.; Rus, S.; Sahoo, R.K.; Sanomiya, A.; Schenfeld, E.; Sharma, M.; Shmueli, E.; Singh, S.; Song, P.; Srinivasan, V.; Steinmacher-Burow, B.D.; Strauss, K.; Surovic, C.; Swetz, R.; Takken, T.; Tremaine, R.B.; Tsao, M.; Umamaheshwaran, A.R.; Verma, P.; Vranas, P.; Ward, T.J.C.; Wazlowski, M.; Barrett, W.; Engel, C.; Drehmel, B.; Hilgart, B.; Hill, D.; Kasemkhani, F.; Krolak, D.; Li, C.T.; Liebsch, T.; Marcella, J.; Muff, A.; Okomo, A.; Rouse, M.; Schram, A.; Tubbs, M.; Ulsh, G.; Wait, C.; Wittrup, J.; Bae, M.; Dockser, K.; Kissel, L.; Seager, M.K.; Vetter, J.S.; Yates, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Anderson, T.S.; Zheng, J.; Park, S.-J.; Eden, J.G.; Cunningham, B.T.; Lu, M.;
By: Anderson, T.S.; Zheng, J.; Park, S.-J.; Eden, J.G.; Cunningham, B.T.; Lu, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Lu, M.; Moon Gi Cho; Hongqing Zhang; Henderson, D.W.; Lauro, P.; Goldsmith, C.; Polastre, R.; Da-Yuan Shih;
By: Lu, M.; Moon Gi Cho; Hongqing Zhang; Henderson, D.W.; Lauro, P.; Goldsmith, C.; Polastre, R.; Da-Yuan Shih;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Auth, C.; Cappellani, A.; Wiegand, C.; Wiedemer, J.; Wallace, C.; Vandervoorn, P.; Troeger, T.; Towner, D.; Thompson, A.; Tambwe, F.; Tone, K.; Souw, V.; Shifren, L.; Sandford, J.; Ranade, P.; Rahhal-orabi, N.; Norris, B.; Mistry, K.; Mariappan, H.; Lu, M.; Lavric, D.; Kuhn, K.; Klaus, J.; Joshi, S.; Chun, J.-S.; Dalis, A.; Davis, A.; Ghani, T.; Glass, G.; Glassman, T.; Harper, M.; Hattendorf, M.; Hentges, P.; Jaloviar, S.;
By: Auth, C.; Cappellani, A.; Wiegand, C.; Wiedemer, J.; Wallace, C.; Vandervoorn, P.; Troeger, T.; Towner, D.; Thompson, A.; Tambwe, F.; Tone, K.; Souw, V.; Shifren, L.; Sandford, J.; Ranade, P.; Rahhal-orabi, N.; Norris, B.; Mistry, K.; Mariappan, H.; Lu, M.; Lavric, D.; Kuhn, K.; Klaus, J.; Joshi, S.; Chun, J.-S.; Dalis, A.; Davis, A.; Ghani, T.; Glass, G.; Glassman, T.; Harper, M.; Hattendorf, M.; Hentges, P.; Jaloviar, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Shi, L.; Chen, K.-N.; Wang, X.; Doyle, J.P.; Young, A.M.; Yu, R.R.; Liu, F.; Haensch, W.; Wisnieff, R.; Koester, S.J.; Purushothaman, S.; Kelly, K.A.; Merryman, A.G.; Perfecto, E.D.; Klymko, N.R.; Gu, X.; Lu, M.; Wong, K.H.; Hagan, J.A.; Ryan, C.T.; Brown, D.; Dipaola, D.A.; Li, X.;
By: Shi, L.; Chen, K.-N.; Wang, X.; Doyle, J.P.; Young, A.M.; Yu, R.R.; Liu, F.; Haensch, W.; Wisnieff, R.; Koester, S.J.; Purushothaman, S.; Kelly, K.A.; Merryman, A.G.; Perfecto, E.D.; Klymko, N.R.; Gu, X.; Lu, M.; Wong, K.H.; Hagan, J.A.; Ryan, C.T.; Brown, D.; Dipaola, D.A.; Li, X.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4755-8
By: Milite, C.; Mercier, C.; Lu, M.; Kjeldsen, R.; Desimone, M.; Feris, R.; Russo, S.; Brown, L.; Bobbitt, R.; Hampapur, A.; Yun Zhai; Chiao-fe Shu;
By: Milite, C.; Mercier, C.; Lu, M.; Kjeldsen, R.; Desimone, M.; Feris, R.; Russo, S.; Brown, L.; Bobbitt, R.; Hampapur, A.; Yun Zhai; Chiao-fe Shu;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap