Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Liu, H.Y.
Results
2001 / IEEE / 0-7803-6678-6
By: Gonzalez, D.; Guo, H.L.; Lu, J.P.; Luttmer, J.D.; Zuhoski, S.; Shinn, G.; Russell, N.M.; Guldi, R.L.; Holverson, P.; Chen, L.; Smith, P.B.; Chatterjee, B.; Cataldi, F.; Liu, H.Y.; Hsu, W.U.; Marudachalam, M.; Rose, D.J.;
By: Gonzalez, D.; Guo, H.L.; Lu, J.P.; Luttmer, J.D.; Zuhoski, S.; Shinn, G.; Russell, N.M.; Guldi, R.L.; Holverson, P.; Chen, L.; Smith, P.B.; Chatterjee, B.; Cataldi, F.; Liu, H.Y.; Hsu, W.U.; Marudachalam, M.; Rose, D.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7581-5
By: Sellers, I.R.; Houston, P.A.; Steer, M.J.; Airey, R.J.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
By: Sellers, I.R.; Houston, P.A.; Steer, M.J.; Airey, R.J.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7815-6
By: Heikkila, W.W.; Nelson, D.K.; Golke, K.W.; Liu, S.T.; Liu, H.Y.; Jenkins, W.C.;
By: Heikkila, W.W.; Nelson, D.K.; Golke, K.W.; Liu, S.T.; Liu, H.Y.; Jenkins, W.C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.;
By: Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.;
2004 / IEEE / 0-7803-8284-6
By: Soong, W.M.; David, J.P.R.; Ng, B.K.; Robson, P.N.; Ng, J.S.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Tan, C.H.;
By: Soong, W.M.; David, J.P.R.; Ng, B.K.; Robson, P.N.; Ng, J.S.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Tan, C.H.;
2004 / IEEE
By: Campbell, A.; Hughes, H.; Anthony, D.; Heikkila, W.; Petersen, E.L.; Liu, H.Y.; Liu, S.T.; McMarr, P.J.;
By: Campbell, A.; Hughes, H.; Anthony, D.; Heikkila, W.; Petersen, E.L.; Liu, H.Y.; Liu, S.T.; McMarr, P.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Liu, H.Y.; Adams, A.R.; Marko, I.P.; Groom, K.M.; Sweeney, S.J.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Sellers, R.;
By: Liu, H.Y.; Adams, A.R.; Marko, I.P.; Groom, K.M.; Sweeney, S.J.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Sellers, R.;
2005 / IEEE
By: Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Robbins, D.J.; Hogg, R.A.; Childs, D.T.; Hopkinson, M.; Sellers, I.R.; Groom, K.M.; Badcock, T.J.;
By: Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Robbins, D.J.; Hogg, R.A.; Childs, D.T.; Hopkinson, M.; Sellers, I.R.; Groom, K.M.; Badcock, T.J.;
2005 / IEEE
By: Hopkinson, M.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Hogg, R.A.; Badcock, T.; Ray, S.K.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.;
By: Hopkinson, M.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Hogg, R.A.; Badcock, T.; Ray, S.K.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8668-X
By: Liu, H.Y.; Ye, X.L.; Jin, P.; Chen, Y.H.; Wang, Z.G.; Zhang, Z.Y.; Liu, F.Q.; Wang, Y.L.; Xu, B.; Zhang, C.L.; Shi, G.X.;
By: Liu, H.Y.; Ye, X.L.; Jin, P.; Chen, Y.H.; Wang, Z.G.; Zhang, Z.Y.; Liu, F.Q.; Wang, Y.L.; Xu, B.; Zhang, C.L.; Shi, G.X.;
2005 / IEEE / 0-7803-8668-X
By: Hopkinson, M.; Ng, J.S.; Navaretti, P.; Sun, H.D.; Liu, H.Y.; Dawson, M.D.; Clark, A.H.;
By: Hopkinson, M.; Ng, J.S.; Navaretti, P.; Sun, H.D.; Liu, H.Y.; Dawson, M.D.; Clark, A.H.;
2005 / IEEE
By: Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.;
By: Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Marko, I.P.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Adams, A.R.; Sweeney, S.J.; Masse, N.;
By: Marko, I.P.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Adams, A.R.; Sweeney, S.J.; Masse, N.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Tartakovskii, A.I.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Fox, A.M.; Mowbray, D.J.; Kolodka, R.S.;
By: Tartakovskii, A.I.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Fox, A.M.; Mowbray, D.J.; Kolodka, R.S.;
2005 / IEEE
By: Sweeney, S.J.; Adams, A.R.; Marko, I.P.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.;
By: Sweeney, S.J.; Adams, A.R.; Marko, I.P.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Skolnick, M.S.; Mowbray, D.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8973-5
By: Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Walker, C.L.; Sandall, I.C.; Hopkinson, M.;
By: Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Sellers, I.R.; Smowton, P.M.; Walker, C.L.; Sandall, I.C.; Hopkinson, M.;
2006 / IEEE
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Mowbray, D.J.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Walker, C.L.;
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Mowbray, D.J.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Walker, C.L.;
2006 / IEEE
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liew, S.L.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liew, S.L.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
2006 / IEEE
By: Campbell, A.; Hughes, H.L.; Kirchner, G.; Golke, K.W.; Ziegler, J.F.; Brewster, N.; Liu, H.Y.; Liu, M.S.; Nelson, D.;
By: Campbell, A.; Hughes, H.L.; Kirchner, G.; Golke, K.W.; Ziegler, J.F.; Brewster, N.; Liu, H.Y.; Liu, M.S.; Nelson, D.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Mowbray, D.J.; Liu, H.Y.; Hopkinson, M.;
By: Smowton, P.M.; Sandall, I.C.; Mowbray, D.J.; Liu, H.Y.; Hopkinson, M.;
2007 / IEEE / 1-4244-0874-1
By: Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Agarwal, H.; Childs, D.; Alexander, R.R.; Hogg, R.A.;
By: Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Agarwal, H.; Childs, D.; Alexander, R.R.; Hogg, R.A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1077-4
By: Zhang, L.; Liang, F.Q.; Gu, Y.; Han, L.N.; Liu, H.Y.; Wang, X.L.; Wang, C.X.; Wang, Q.; Zhao, W.G.;
By: Zhang, L.; Liang, F.Q.; Gu, Y.; Han, L.N.; Liu, H.Y.; Wang, X.L.; Wang, C.X.; Wang, Q.; Zhao, W.G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: George, A.A.; Smowton, P.M.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Sandall, I.C.;
By: George, A.A.; Smowton, P.M.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Sandall, I.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Naidu, D.S.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Mexis, M.; Summers, H.D.; Smowton, P.M.; Sobiesierski, A.;
By: Naidu, D.S.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Mexis, M.; Summers, H.D.; Smowton, P.M.; Sobiesierski, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Badcock, T.J.; Mowbray, D.J.; Hopkinson, M.; Hogg, R.A.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Agarwal, H.; Childs, D.; Alexander, R.R.; Arakawa, Y.; Sugawara, M.; Yamamoto, T.; Ishida, M.; Skolnick, M.S.;
By: Badcock, T.J.; Mowbray, D.J.; Hopkinson, M.; Hogg, R.A.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Agarwal, H.; Childs, D.; Alexander, R.R.; Arakawa, Y.; Sugawara, M.; Yamamoto, T.; Ishida, M.; Skolnick, M.S.;
2007 / IEEE
By: Golke, K.; Tsang, J.C.; Nelson, D.K.; Liu, S.T.; Ziegler, J.F.; Hughes, H.L.; Fechner, P.; McMarr, P.J.; Liu, H.Y.; Van Cleave, R.; Brewster, N.; Heikkila, W.;
By: Golke, K.; Tsang, J.C.; Nelson, D.K.; Liu, S.T.; Ziegler, J.F.; Hughes, H.L.; Fechner, P.; McMarr, P.J.; Liu, H.Y.; Van Cleave, R.; Brewster, N.; Heikkila, W.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Badcock, T.J.; Hopkinson, M.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Jin, C.Y.; Mowbray, D.J.; Royce, R.J.;
By: Badcock, T.J.; Hopkinson, M.; Groom, K.M.; Liu, H.Y.; Jin, C.Y.; Mowbray, D.J.; Royce, R.J.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Boyle, S.J.; Ramsay, A.J.; Skolnick, M.S.; Fox, A.M.; Liu, H.Y.; Kolodka, R.S.;
By: Boyle, S.J.; Ramsay, A.J.; Skolnick, M.S.; Fox, A.M.; Liu, H.Y.; Kolodka, R.S.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ray, S.K.; Hogg, R.A.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Kennedy, K.; Alexander, R.;
By: Ray, S.K.; Hogg, R.A.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Groom, K.M.; Kennedy, K.; Alexander, R.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Badcock, T.J.; Smowton, P.M.;
By: Sandall, I.C.; Walker, C.L.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.; Badcock, T.J.; Smowton, P.M.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Badcock, T.; Smowton, P.M.; Walker, C.L.; Sandall, I.C.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
By: Badcock, T.; Smowton, P.M.; Walker, C.L.; Sandall, I.C.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Mowbray, D.J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2307-1
By: Drouzas, I.W.; Migliorato, M.A.; Garg, R.; Haxha, V.; Mowbray, D.J.; Ulloa, J.M.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Steer, M.J.; Koenraad, P.M.;
By: Drouzas, I.W.; Migliorato, M.A.; Garg, R.; Haxha, V.; Mowbray, D.J.; Ulloa, J.M.; Hopkinson, M.; Liu, H.Y.; Steer, M.J.; Koenraad, P.M.;