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Author: Limiti, E.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4577-1438-2
By: Palombini, D.; Bentini, A.; Palomba, M.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
By: Palombini, D.; Bentini, A.; Palomba, M.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
2013 / IEEE
By: Mata-Contreras, J.; Palombini, D.; Martin-Guerrero, T. M.; Limiti, E.; Camacho-Penalosa, C.;
By: Mata-Contreras, J.; Palombini, D.; Martin-Guerrero, T. M.; Limiti, E.; Camacho-Penalosa, C.;
2015 / IEEE
By: Giovine, E.; Pietrantonio, F.D.; Colangeli, S.; Ciccognani, W.; Verona, C.; Verona-Rinati, G.; Marinelli, M.; Limiti, E.;
By: Giovine, E.; Pietrantonio, F.D.; Colangeli, S.; Ciccognani, W.; Verona, C.; Verona-Rinati, G.; Marinelli, M.; Limiti, E.;
2004 / IEEE
By: Russo, R.; Barra, M.; Cassinese, A.; Vaglio, R.; Ciccognani, W.; Prigiobbo, A.; Limiti, E.; De Dominicis, M.; Cirillo, M.;
By: Russo, R.; Barra, M.; Cassinese, A.; Vaglio, R.; Ciccognani, W.; Prigiobbo, A.; Limiti, E.; De Dominicis, M.; Cirillo, M.;
2004 / IEEE / 83-906662-7-8
By: Cavanna, T.; Suriani, A.; Selleri, S.; Pelosi, G.; Limiti, E.; Franzese, E.;
By: Cavanna, T.; Suriani, A.; Selleri, S.; Pelosi, G.; Limiti, E.; Franzese, E.;
2004 / IEEE / 83-906662-7-8
By: Colantonio, P.; Ciccognani, W.; Rossi, M.; Limiti, E.; Giannini, F.;
By: Colantonio, P.; Ciccognani, W.; Rossi, M.; Limiti, E.; Giannini, F.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Giannini, F.; Colantonio, P.; Proietti, C.; Romanini, P.; Giofre, R.; Peroni, M.; Serino, A.; Limiti, E.;
By: Giannini, F.; Colantonio, P.; Proietti, C.; Romanini, P.; Giofre, R.; Peroni, M.; Serino, A.; Limiti, E.;
2005 / IEEE / 88-902012-0-7
By: Serino, A.; Limiti, E.; Giofre, R.; Giannini, F.; Peroni, M.; Proietti, C.; Colantonio, P.; Romanini, P.;
By: Serino, A.; Limiti, E.; Giofre, R.; Giannini, F.; Peroni, M.; Proietti, C.; Colantonio, P.; Romanini, P.;
2006 / IEEE
By: Serino, A.; Giannini, F.; Limiti, E.; Giofre, R.; Peroni, M.; Colantonio, P.; Proietti, C.; Romanini, P.;
By: Serino, A.; Giannini, F.; Limiti, E.; Giofre, R.; Peroni, M.; Colantonio, P.; Proietti, C.; Romanini, P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0087-2
By: Limiti, E.; Giannini, F.; Di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.;
By: Limiti, E.; Giannini, F.; Di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.;
2006 / IEEE
By: De Raedt, W.; Caddemi, A.; Limiti, E.; Schreurs, D.M.M.-P.; Dongping Xiao; Crupi, G.; Germain, M.;
By: De Raedt, W.; Caddemi, A.; Limiti, E.; Schreurs, D.M.M.-P.; Dongping Xiao; Crupi, G.; Germain, M.;
2006 / IEEE / 2-9600551-8-7
By: Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.; Giannini, F.; Di Paolo, F.;
By: Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.; Giannini, F.; Di Paolo, F.;
2006 / IEEE / 0-7803-9722-3
By: Lanzieri, C.; Limiti, E.; Giofre, R.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Lavanga, S.;
By: Lanzieri, C.; Limiti, E.; Giofre, R.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Lavanga, S.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-003-3
By: Camarchia, V.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.;
By: Camarchia, V.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0660-9
By: Serino, A.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Ciccognani, W.; Peroni, M.; Lanzieri, C.;
By: Serino, A.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Ciccognani, W.; Peroni, M.; Lanzieri, C.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-001-9
By: Camarchia, V.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.;
By: Camarchia, V.; Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-001-9
By: Limiti, E.; Giannini, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.;
By: Limiti, E.; Giannini, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-002-6
By: Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.; Camarchia, V.;
By: Nanni, A.; Limiti, E.; Giannini, F.; Colantonio, P.; Pirola, M.; Teppati, V.; Camarchia, V.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-002-6
By: Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.; Giannini, F.;
By: Ciccognani, W.; Serino, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.; Giannini, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2645-4
By: Giannini, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Nanni, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.;
By: Giannini, F.; Ciccognani, W.; Serino, A.; Nanni, A.; Longhi, P.E.; Limiti, E.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-006-4
By: Costrini, C.; Melone, G.; Ghione, G.; Serino, A.; Limiti, E.; Peroni, M.; Lavanga, S.; Lanzieri, C.; Cetronio, A.; Calori, M.;
By: Costrini, C.; Melone, G.; Ghione, G.; Serino, A.; Limiti, E.; Peroni, M.; Lavanga, S.; Lanzieri, C.; Cetronio, A.; Calori, M.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-007-1
By: De Dominicis, M.; Cetronio, A.; Bettidi, A.; Alleva, V.; Romaninf, P.; Ferrari, M.; Megna, A.; Peroni, M.; Limiti, E.; Lanzierf, C.; Giovine, E.;
By: De Dominicis, M.; Cetronio, A.; Bettidi, A.; Alleva, V.; Romaninf, P.; Ferrari, M.; Megna, A.; Peroni, M.; Limiti, E.; Lanzierf, C.; Giovine, E.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-007-1
By: Ferrari, M.; di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Limiti, E.; Giannini, F.;
By: Ferrari, M.; di Paolo, F.; Ciccognani, W.; Limiti, E.; Giannini, F.;
2008 / IEEE / 978-2-87487-007-1
By: Ghione, G.; Serino, A.; Limiti, E.; Peroni, M.; Lavanga, S.; Melone, G.; Cetronio, A.; Calori, M.; Costrini, C.; Lanzieri, C.;
By: Ghione, G.; Serino, A.; Limiti, E.; Peroni, M.; Lavanga, S.; Melone, G.; Cetronio, A.; Calori, M.; Costrini, C.; Lanzieri, C.;
2009 / IEEE / 978-3-9812668-0-1
By: Giovine, E.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.; Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.;
By: Giovine, E.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.; Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3704-7
By: Conte, G.; Rossi, M.C.; Calvani, P.; Limiti, E.; Ciccognani, W.; Pasciuto, B.;
By: Conte, G.; Rossi, M.C.; Calvani, P.; Limiti, E.; Ciccognani, W.; Pasciuto, B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3377-3
By: Giovine, E.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.; Calvani, P.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
By: Giovine, E.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.; Calvani, P.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4695-7
By: Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.; Carta, S.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.;
By: Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.; Carta, S.; Conte, G.; Rossi, M.C.; Sinisi, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4749-7
By: Sinisi, F.; Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.; Rossi, M.C.; Ciccognani, W.; Giovine, E.; Conte, G.;
By: Sinisi, F.; Corsaro, A.; Calvani, P.; Limiti, E.; Rossi, M.C.; Ciccognani, W.; Giovine, E.; Conte, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-6030-4
By: Ciccognani, W.; Ghione, G.; Cappelluti, F.; Conte, G.; Camarchia, V.; Pasciuto, B.; Calvani, P.; Rossi, M.C.; Giovine, E.; Dominijanni, D.; Limiti, E.;
By: Ciccognani, W.; Ghione, G.; Cappelluti, F.; Conte, G.; Camarchia, V.; Pasciuto, B.; Calvani, P.; Rossi, M.C.; Giovine, E.; Dominijanni, D.; Limiti, E.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-3887-7
By: Ferri, M.; Limiti, E.; Salome, A.; Lucente, M.; Zuliani, L.; Ruggieri, M.;
By: Ferri, M.; Limiti, E.; Salome, A.; Lucente, M.; Zuliani, L.; Ruggieri, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7412-7
By: Quaglia, R.; Pirola, M.; Ghione, G.; Cavanna, T.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
By: Quaglia, R.; Pirola, M.; Ghione, G.; Cavanna, T.; Limiti, E.; Ciccognani, W.;
2010 / IEEE / 978-2-87487-017-0
By: Limiti, E.; Pasciuto, B.; Giovine, E.; Dominijanni, D.; Conte, G.; Calvani, P.;
By: Limiti, E.; Pasciuto, B.; Giovine, E.; Dominijanni, D.; Conte, G.; Calvani, P.;