Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Li, X.
Results
2012 / IEEE
By: Blevins, J.D.; Kuball, M.; Trejo, M.; Walker, D.E.; Kossler, M.; Fitch, R.; Gillespie, J.K.; Crespo, A.; Via, G.D.; Chabak, K.D.; Morkoc, H.; Ozgur, U.; Li, X.; Leach, J.; Evans, K.R.; Paskova, T.; Moereke, J.; Killat, N.; Tapajna, M.;
By: Blevins, J.D.; Kuball, M.; Trejo, M.; Walker, D.E.; Kossler, M.; Fitch, R.; Gillespie, J.K.; Crespo, A.; Via, G.D.; Chabak, K.D.; Morkoc, H.; Ozgur, U.; Li, X.; Leach, J.; Evans, K.R.; Paskova, T.; Moereke, J.; Killat, N.; Tapajna, M.;
2012 / IEEE
By: Crespo, A.; Gillespie, J.K.; Morkoc, H.; Ozgur, U.; Li, X.; Chabak, K.D.; Leach, J.; Evans, K.R.; Paskova, T.; Pomeroy, J.W.; Montes, M.; Killat, N.; Kuball, M.; Blevins, J.D.; Via, G.D.; Trejo, M.; Walker, D.E.; Kossler, M.; Fitch, R.;
By: Crespo, A.; Gillespie, J.K.; Morkoc, H.; Ozgur, U.; Li, X.; Chabak, K.D.; Leach, J.; Evans, K.R.; Paskova, T.; Pomeroy, J.W.; Montes, M.; Killat, N.; Kuball, M.; Blevins, J.D.; Via, G.D.; Trejo, M.; Walker, D.E.; Kossler, M.; Fitch, R.;
2012 / IEEE
By: Baesens, B.; Bouboulis, P.; Liu, D.; Zhao, D.; Yang, J.; Wang, C.; Tang, H.; Cruces, S.; Domeniconi, C.; Ikeda, S.; Li, X.; Melin, P.; Rao, V. S. H.; Schuller, B. W.; Shen, Y.;
By: Baesens, B.; Bouboulis, P.; Liu, D.; Zhao, D.; Yang, J.; Wang, C.; Tang, H.; Cruces, S.; Domeniconi, C.; Ikeda, S.; Li, X.; Melin, P.; Rao, V. S. H.; Schuller, B. W.; Shen, Y.;
2012 / IEEE
By: Li, C.; Gao, C.; Yang, Z.; Hu, X.; Zhang, W.; Tsang, Y. H.; Wang, Y.; Liu, X.; Zhao, W.; Wang, Y.; Li, X.; Shen, D.;
By: Li, C.; Gao, C.; Yang, Z.; Hu, X.; Zhang, W.; Tsang, Y. H.; Wang, Y.; Liu, X.; Zhao, W.; Wang, Y.; Li, X.; Shen, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Veloso, A.; Ragnarsson, L.-A.; Hoffmann, T.; Horiguchi, N.; Absil, P.P.; Mertens, P.; Struyf, H.; Pey, K.-L.; Li, X.; Conard, T.; Franquet, A.; Bender, H.; Favia, P.; Van Ammel, A.; Tielens, H.; Higuchi, Y.; Takeoka, S.; Yamaguchi, S.; Hong, S.-H.; Dehan, M.; Kauerauf, T.; Eneman, G.; Paraschiv, V.; Rohr, E.; Schram, T.; Crabbe, Y.; Brus, S.; Suhard, S.; Cho, M.J.; Devriendt, K.; Kellens, K.; Sebaai, F.;
By: Veloso, A.; Ragnarsson, L.-A.; Hoffmann, T.; Horiguchi, N.; Absil, P.P.; Mertens, P.; Struyf, H.; Pey, K.-L.; Li, X.; Conard, T.; Franquet, A.; Bender, H.; Favia, P.; Van Ammel, A.; Tielens, H.; Higuchi, Y.; Takeoka, S.; Yamaguchi, S.; Hong, S.-H.; Dehan, M.; Kauerauf, T.; Eneman, G.; Paraschiv, V.; Rohr, E.; Schram, T.; Crabbe, Y.; Brus, S.; Suhard, S.; Cho, M.J.; Devriendt, K.; Kellens, K.; Sebaai, F.;
2011 / IEEE / 978-83-932075-2-7
By: Li, X.; Shen, N.; Chen, Z.; Singh, N.; Maly, W.; Pfitzner, A.; Lin, Y.; Marek-Sadowska, M.; Kuzmicz, W.; Kasprowicz, D.;
By: Li, X.; Shen, N.; Chen, Z.; Singh, N.; Maly, W.; Pfitzner, A.; Lin, Y.; Marek-Sadowska, M.; Kuzmicz, W.; Kasprowicz, D.;
The use of real time digital simulation and hardware in the loop to de-risk novel control algorithms
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6By: Daffey, K.; Roscoe, A.; Li, X.; Booth, C.; Rn, L.J.W.; Mupambireyi, U.; Loddick, S.; Blair, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-247-9
By: Dries, C.; Fursin, L.; Li, X.; Alexandrov, P.; Burke, T.; Zhao, J.;
By: Dries, C.; Fursin, L.; Li, X.; Alexandrov, P.; Burke, T.; Zhao, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-449-7
By: Zheng, X.H.; Niu, J.W.; Ding, S.T.; Guo, S.S.; Li, X.; Xu, S.Y.; Zhang, L.;
By: Zheng, X.H.; Niu, J.W.; Ding, S.T.; Guo, S.S.; Li, X.; Xu, S.Y.; Zhang, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0894-7
By: Yu, H.J.; Anferov, V.; Anferova, S.; Guo, B.X.; Liu, H.B.; Li, X.; Xiao, L.Z.;
By: Yu, H.J.; Anferov, V.; Anferova, S.; Guo, B.X.; Liu, H.B.; Li, X.; Xiao, L.Z.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Li, X.; Artan, N.S.; Chao, H.J.; Ludvig, N.; Ning, C.; Patel, R.;
By: Li, X.; Artan, N.S.; Chao, H.J.; Ludvig, N.; Ning, C.; Patel, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Giannini, V.; Maier, S.A.; Ekins-Daukes, N.J.; Lee, K.-H.; Li, X.; Hylton, N.P.;
By: Giannini, V.; Maier, S.A.; Ekins-Daukes, N.J.; Lee, K.-H.; Li, X.; Hylton, N.P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Yang, C.; Li, X.; Cheng, Y.; Wang, A.; Wang, X.; Zhan, J.; Yang, Y.; Shi, Z.; Fang, Q.; Ren, T.-L.;
By: Yang, C.; Li, X.; Cheng, Y.; Wang, A.; Wang, X.; Zhan, J.; Yang, Y.; Shi, Z.; Fang, Q.; Ren, T.-L.;
2012 / IEEE
By: Ghibaudo, G.; Fang, Z.; Chroboczek, J.A.; Yu, H.Y.; Buckley, J.; Kwong, D.L.; Li, X.; DeSalvo, B.;
By: Ghibaudo, G.; Fang, Z.; Chroboczek, J.A.; Yu, H.Y.; Buckley, J.; Kwong, D.L.; Li, X.; DeSalvo, B.;
2012 / IEEE
By: So, J.H.; Kim, H.J.; Alenkov, V.V.; Annenkov, A.N.; Bhang, H.; Boiko, R.S.; Buzanov, O.A.; Chernyak, D.M.; Choi, J.H.; Choi, S.; Danevich, F.A.; Efendiev, K.V.; Gangapshev, A.M.; Gavryluk, Y.M.; Gezhaev, A.M.; Hwang, Y.S.; Jiang, H.; Kang, W.G.; Kazalov, V.V.; Khanbekov, N.D.; Kim, G.B.; Kim, S.K.; Kim, S.C.; Kim, Y.D.; Kim, Y.H.; Kobychev, V.V.; Kornoukhov, V.N.; Kuzminov, V.V.; Lee, H.S.; Lee, J.I.; Lee, J.M.; Lee, K.B.; Lee, M.J.; Lee, M.K.; Lee, S.J.; Li, J.; Li, X.; Mokina, V.M.; Myung, S.S.; Nikolaiko, A.S.; Olsen, S.; Park, H.; Panasenko, S.I.; Poda, D.V.; Podviyanuk, R.B.; Polischuk, O.G.; Ratkevich, S.S.; Satou, Y.; Tanida, K.; Tretyak, V.I.; Yakimenko, S.P.; Yue, Q.;
By: So, J.H.; Kim, H.J.; Alenkov, V.V.; Annenkov, A.N.; Bhang, H.; Boiko, R.S.; Buzanov, O.A.; Chernyak, D.M.; Choi, J.H.; Choi, S.; Danevich, F.A.; Efendiev, K.V.; Gangapshev, A.M.; Gavryluk, Y.M.; Gezhaev, A.M.; Hwang, Y.S.; Jiang, H.; Kang, W.G.; Kazalov, V.V.; Khanbekov, N.D.; Kim, G.B.; Kim, S.K.; Kim, S.C.; Kim, Y.D.; Kim, Y.H.; Kobychev, V.V.; Kornoukhov, V.N.; Kuzminov, V.V.; Lee, H.S.; Lee, J.I.; Lee, J.M.; Lee, K.B.; Lee, M.J.; Lee, M.K.; Lee, S.J.; Li, J.; Li, X.; Mokina, V.M.; Myung, S.S.; Nikolaiko, A.S.; Olsen, S.; Park, H.; Panasenko, S.I.; Poda, D.V.; Podviyanuk, R.B.; Polischuk, O.G.; Ratkevich, S.S.; Satou, Y.; Tanida, K.; Tretyak, V.I.; Yakimenko, S.P.; Yue, Q.;
2013 / IEEE
By: Garner, S.M.; Wu, K.-W.; Cimo, P.; Li, X.; Lin, J.C.; Lee, Y.-Z.; Liao, Y.C.; Shiu, J.W.; Tsai, Y.S.; Chen, K.T.; Lai, Y.C.; Lai, C.C.;
By: Garner, S.M.; Wu, K.-W.; Cimo, P.; Li, X.; Lin, J.C.; Lee, Y.-Z.; Liao, Y.C.; Shiu, J.W.; Tsai, Y.S.; Chen, K.T.; Lai, Y.C.; Lai, C.C.;
2013 / IEEE
By: Geng, C.; Zhao, B.; Zhao, W.; Duan, K.; Li, X.; Mu, J.; Yang, H.; Zhu, Y.; Tan, Y.; Zhang, E.; Luo, W.;
By: Geng, C.; Zhao, B.; Zhao, W.; Duan, K.; Li, X.; Mu, J.; Yang, H.; Zhu, Y.; Tan, Y.; Zhang, E.; Luo, W.;
2013 / IEEE
By: Ramachandran, R.; Smith, D. K.; Kuo, K.-S.; Nair, U. S.; Rushing, J.; Li, X.; Conover, H.; Lin, A.; Graves, S.;
By: Ramachandran, R.; Smith, D. K.; Kuo, K.-S.; Nair, U. S.; Rushing, J.; Li, X.; Conover, H.; Lin, A.; Graves, S.;
2012 / IEEE
By: Burr, K. C.; Wang, G.-C. J.; Gagnon, D.; Wang, Z.; Ivanov, O.; Canzolino, M.; Karr, A.; Du, H.; Mann, G.; Balakrishnan, K.; Wang, J.; Li, X.; Rollet, C.; Kundro, E.; Buhin, M.; McGowan, D.; Jedrzejewski, J.;
By: Burr, K. C.; Wang, G.-C. J.; Gagnon, D.; Wang, Z.; Ivanov, O.; Canzolino, M.; Karr, A.; Du, H.; Mann, G.; Balakrishnan, K.; Wang, J.; Li, X.; Rollet, C.; Kundro, E.; Buhin, M.; McGowan, D.; Jedrzejewski, J.;
2015 / IEEE
By: Zhang, W.; Jiang, Z.; Xu, J.; Zhang, Y.; Wei, L.; Luo, A.; Liu, J.; Wang, L.; Li, X.; You, G.; Atalla, M.R.M.; Elahi, A.M.;
By: Zhang, W.; Jiang, Z.; Xu, J.; Zhang, Y.; Wei, L.; Luo, A.; Liu, J.; Wang, L.; Li, X.; You, G.; Atalla, M.R.M.; Elahi, A.M.;