Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Lemke, R.W.
Results
2012 / IEEE
By: Hodge, K.C.; Lemke, R.W.; Hanshaw, H.L.; Hall, C.A.; Hickman, R.J.; Pena, G.E.; Reed, K.W.; Schneider, L.X.; Davis, J.-P.; Glover, S.F.; Johnson, W.A.; Coats, R.S.; Warne, L.K.; White, F.E.; Van De Valde, D.M.; Tullar, S.J.; Sceiford, M.E.; Rudys, J.M.; Puissant, J.G.; McDaniel, D.H.; Lucero, D.J.; Lehr, J.M.;
By: Hodge, K.C.; Lemke, R.W.; Hanshaw, H.L.; Hall, C.A.; Hickman, R.J.; Pena, G.E.; Reed, K.W.; Schneider, L.X.; Davis, J.-P.; Glover, S.F.; Johnson, W.A.; Coats, R.S.; Warne, L.K.; White, F.E.; Van De Valde, D.M.; Tullar, S.J.; Sceiford, M.E.; Rudys, J.M.; Puissant, J.G.; McDaniel, D.H.; Lucero, D.J.; Lehr, J.M.;
2012 / IEEE
By: Glover, S.F.; Van De Valde, D.M.; Foster, P.J.; Lucero, D.J.; Schneider, L.X.; Reed, K.W.; Pena, G.E.; Davis, J.; Hall, C.A.; Hickman, R.J.; Hodge, K.C.; Lemke, R.W.; Lehr, J.M.; McDaniel, D.H.; Puissant, J.G.; Rudys, J.M.; Sceiford, M.E.; Tullar, S.J.; White, F.E.;
By: Glover, S.F.; Van De Valde, D.M.; Foster, P.J.; Lucero, D.J.; Schneider, L.X.; Reed, K.W.; Pena, G.E.; Davis, J.; Hall, C.A.; Hickman, R.J.; Hodge, K.C.; Lemke, R.W.; Lehr, J.M.; McDaniel, D.H.; Puissant, J.G.; Rudys, J.M.; Sceiford, M.E.; Tullar, S.J.; White, F.E.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Lemke, R.W.; Clark, M.C.; Bowers, L.A.; Platt, R.C.; Haworth, M.D.; Davis, C.E.;
By: Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Lemke, R.W.; Clark, M.C.; Bowers, L.A.; Platt, R.C.; Haworth, M.D.; Davis, C.E.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
By: Harjes, C.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Pointon, T.D.; Hall, C.A.; Bliss, D.E.; Davis, J.-P.; Deeney, C.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Flicker, D.G.; Oliver, B.V.; Geissel, M.; Webb, T.J.; Miller, C.L.; Campbell, R.B.; Lemke, R.W.;
By: Flicker, D.G.; Oliver, B.V.; Geissel, M.; Webb, T.J.; Miller, C.L.; Campbell, R.B.; Lemke, R.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Haynes, W.B.; Carlesten, B.E.; Arman, M.J.; Coleman, P.D.; Hendricks, K.J.; Haworth, M.D.; Bowers, L.;
By: Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Haynes, W.B.; Carlesten, B.E.; Arman, M.J.; Coleman, P.D.; Hendricks, K.J.; Haworth, M.D.; Bowers, L.;
1996 / IEEE
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Moreland, L.D.; Pegel, I.V.;
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Roitman, A.M.; Moreland, L.D.; Pegel, I.V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
By: Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Roitman, A.M.; Pegel, I.V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Lemke, R.W.; Roitman, H.A.M.; Pegel, I.V.; Korovin, S.D.;
By: Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Lemke, R.W.; Roitman, H.A.M.; Pegel, I.V.; Korovin, S.D.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Mazarakis, M.; Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Clark, M.C.; Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Arman, M.J.; Bowers, L.A.;
By: Mazarakis, M.; Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Clark, M.C.; Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Arman, M.J.; Bowers, L.A.;
Significant pulse-lengthening in a multigigawatt magnetically insulated transmission line oscillator
1998 / IEEEBy: Hackett, K.; Hendricks, K.J.; Benford, J.; Baca, G.; Haworth, M.D.; Spencer, T.A.; Shiffler, D.; Sena, M.; Ralph, D.; Englert, T.; Price, D.; Lemke, R.W.; LaCour, M.; Henley, D.;
1998 / IEEE
By: Arman, M.J.; Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Bowers, L.; Coleman, P.D.; Hendricks, K.J.; Shiffler, D.; Englert, T.; Haworth, M.D.; Baca, G.;
By: Arman, M.J.; Spencer, T.A.; Lemke, R.W.; Bowers, L.; Coleman, P.D.; Hendricks, K.J.; Shiffler, D.; Englert, T.; Haworth, M.D.; Baca, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.; Baca, C.; Haworth, M.D.; Lemke, R.W.; Hendricks, K.J.;
By: Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.; Baca, C.; Haworth, M.D.; Lemke, R.W.; Hendricks, K.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Lemke, R.W.; Price, D.; Luginsland, J.W.; Jaynes, R.L.; Cohen, W.E.; Spencer, T.A.; Peters, C.W.; Brake, M.L.; Lau, Y.Y.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; McNeely, M.J.; Booske, J.H.;
By: Lemke, R.W.; Price, D.; Luginsland, J.W.; Jaynes, R.L.; Cohen, W.E.; Spencer, T.A.; Peters, C.W.; Brake, M.L.; Lau, Y.Y.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; McNeely, M.J.; Booske, J.H.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Sanford, T.W.L.; Lemke, R.W.; Peterson, D.L.;
By: Mehlhorn, T.A.; Lash, J.S.; Sanford, T.W.L.; Lemke, R.W.; Peterson, D.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Garasi, C.J.; Haill, T.A.; Brunner, T.A.; Budge, K.G.; Campbell, R.B.; Desjarlais, N.I.; Oliver, B.V.; Lawrence, R.J.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Robinson, A.C.; Cochrane, K.;
By: Garasi, C.J.; Haill, T.A.; Brunner, T.A.; Budge, K.G.; Campbell, R.B.; Desjarlais, N.I.; Oliver, B.V.; Lawrence, R.J.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Robinson, A.C.; Cochrane, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Luginsland, J.W.; Lemke, R.W.; Lau, Y.Y.; Brake, M.L.; Johnston, M.D.; Keyser, M.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; Spencer, T.A.; Price, D.;
By: Luginsland, J.W.; Lemke, R.W.; Lau, Y.Y.; Brake, M.L.; Johnston, M.D.; Keyser, M.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; Spencer, T.A.; Price, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Sanford, T.W.L.; Watt, R.G.; Mock, R.C.; Chandler, G.A.; Fehl, D.L.; Hebron, D.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Ruiz, C.L.; Slutz, S.A.; Struve, K.W.; Peterson, D.L.; Chrien, R.E.; Idzorek, G.C.; Lemke, R.W.;
By: Sanford, T.W.L.; Watt, R.G.; Mock, R.C.; Chandler, G.A.; Fehl, D.L.; Hebron, D.E.; Leeper, R.J.; Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Ruiz, C.L.; Slutz, S.A.; Struve, K.W.; Peterson, D.L.; Chrien, R.E.; Idzorek, G.C.; Lemke, R.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Bogdan Neculaes, V.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.; Jordan, D.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
By: Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Bogdan Neculaes, V.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.; Jordan, D.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Cochrane, K.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Lawrence, R.J.; Haill, T.A.; Garasi, C.J.; Desjarlais, M.P.; Budge, K.G.; Brunner, T.A.;
By: Cochrane, K.; Robinson, A.C.; Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Lawrence, R.J.; Haill, T.A.; Garasi, C.J.; Desjarlais, M.P.; Budge, K.G.; Brunner, T.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Lemke, R.W.; Leeper, R.J.; Chandler, G.A.; Mock, R.C.; Sanford, T.W.L.; Mosher, D.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Chittenden, J.P.; Watt, R.G.; Peterson, D.L.; Idzorek, G.C.; Chrien, R.E.; Waisman, E.M.; Sarkisov, G.S.;
By: Mehlhorn, T.A.; Nash, T.J.; Lemke, R.W.; Leeper, R.J.; Chandler, G.A.; Mock, R.C.; Sanford, T.W.L.; Mosher, D.; Lebedev, S.V.; Haines, M.G.; Chittenden, J.P.; Watt, R.G.; Peterson, D.L.; Idzorek, G.C.; Chrien, R.E.; Waisman, E.M.; Sarkisov, G.S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Spencer, T.A.; Jones, M.C.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.;
By: Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Spencer, T.A.; Jones, M.C.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Jones, M.C.; Lopez, M.R.; Lau, Y.Y.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Johnston, M.D.; Spencer, T.A.;
By: Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Jones, M.C.; Lopez, M.R.; Lau, Y.Y.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Johnston, M.D.; Spencer, T.A.;
2002 / IEEE
By: Price, D.; Lopez, M.R.; Haworth, M.D.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Bogdan Neculaes, V.; Lemke, R.W.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.A.; Jordan, D.W.; Gilgenbach, R.M.;
By: Price, D.; Lopez, M.R.; Haworth, M.D.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Bogdan Neculaes, V.; Lemke, R.W.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.A.; Jordan, D.W.; Gilgenbach, R.M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Lemke, R.W.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Harjes, H.C.; Pointon, T.D.;
By: Lemke, R.W.; Bliss, D.E.; Savage, M.E.; Harjes, H.C.; Pointon, T.D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Slutz, S.A.; Rochau, G.A.; Chandler, G.A.; Dunham, G.; Bailey, J.E.; Nielson, D.; Calhoun, D.; Moore, T.;
By: Mehlhorn, T.A.; Lemke, R.W.; Slutz, S.A.; Rochau, G.A.; Chandler, G.A.; Dunham, G.; Bailey, J.E.; Nielson, D.; Calhoun, D.; Moore, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Jones, B.; Cuneo, M.E.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Jones, M.; Sinars, D.B.; Lebedev, S.V.; Porter, J.L.;
By: Jones, B.; Cuneo, M.E.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Jones, M.; Sinars, D.B.; Lebedev, S.V.; Porter, J.L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Chittenden, J.P.; Ampleford, D.J.; Yu, E.P.; Lemke, R.W.; Desjarlais, M.P.; Jennings, C.A.; Ciardi, A.;
By: Chittenden, J.P.; Ampleford, D.J.; Yu, E.P.; Lemke, R.W.; Desjarlais, M.P.; Jennings, C.A.; Ciardi, A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Desjarlais, M.P.; Sinars, D.B.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Yu, E.P.; Cuneo, M.E.; Hanshaw, H.L.; Brunner, T.A.; Haill, T.A.;
By: Desjarlais, M.P.; Sinars, D.B.; Waisman, E.M.; Lemke, R.W.; Mehlhorn, T.A.; Yu, E.P.; Cuneo, M.E.; Hanshaw, H.L.; Brunner, T.A.; Haill, T.A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Jones, B.M.; Cuneo, M.E.; Waisman, E.M.; Stygar, W.A.; Sinars, D.B.; Lemke, R.W.; Jones, M.;
By: Jones, B.M.; Cuneo, M.E.; Waisman, E.M.; Stygar, W.A.; Sinars, D.B.; Lemke, R.W.; Jones, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Davis, J.-P.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Coats, R.S.; Langston, W.L.;
By: Seidel, D.B.; Pointon, T.D.; Davis, J.-P.; Lemke, R.W.; Knudson, M.D.; Coats, R.S.; Langston, W.L.;