Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Laskar, J.
Results
2011 / IEEE
By: Seong-Hyok Kim; Sungho Beck; Kwanyeob Chae; Jaehyouk Choi; Kim, S.T.; Bien, F.; Laskar, J.; Tentzeris, M.M.; Kyutae Lim; Chang-Ho Lee;
By: Seong-Hyok Kim; Sungho Beck; Kwanyeob Chae; Jaehyouk Choi; Kim, S.T.; Bien, F.; Laskar, J.; Tentzeris, M.M.; Kyutae Lim; Chang-Ho Lee;
1988 / IEEE
By: Laskar, J.; Adesida, I.; Kolodzev, J.; Sivco, D.; Boor, S.; Fischer, R.; Cho, A.Y.; Ketterson, A.; Reis, S.;
By: Laskar, J.; Adesida, I.; Kolodzev, J.; Sivco, D.; Boor, S.; Fischer, R.; Cho, A.Y.; Ketterson, A.; Reis, S.;
1989 / IEEE
By: Ketterson, A.A.; Hier, H.; Aina, O.A.; Kolodzey, J.; Adesida, I.; Brock, T.L.; Laskar, J.;
By: Ketterson, A.A.; Hier, H.; Aina, O.A.; Kolodzey, J.; Adesida, I.; Brock, T.L.; Laskar, J.;
1989 / IEEE
By: Baillargeon, J.N.; Ketterson, A.A.; Laskar, J.; Kolodzey, J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Brock, T.;
By: Baillargeon, J.N.; Ketterson, A.A.; Laskar, J.; Kolodzey, J.; Cheng, K.Y.; Adesida, I.; Brock, T.;
1991 / IEEE
By: Kolodzey, J.; Cunningham, B.T.; Hanson, A.W.; Laskar, J.; Prasad, S.J.; Stillman, G.;
By: Kolodzey, J.; Cunningham, B.T.; Hanson, A.W.; Laskar, J.; Prasad, S.J.; Stillman, G.;
1991 / IEEE / 0-87942-626-8
By: Hamm, R.A.; Nottenburg, R.N.; Laskar, J.; Panish, M.B.; Levi, A.F.J.; Humphrey, D.A.; Kolodzey, J.; Schmitt-Rink, S.;
By: Hamm, R.A.; Nottenburg, R.N.; Laskar, J.; Panish, M.B.; Levi, A.F.J.; Humphrey, D.A.; Kolodzey, J.; Schmitt-Rink, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0491-8
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
By: Kolodzey, J.; Feng, M.; Adesida, I.; Ketterson, A.; Kruse, J.; Maranowski, S.; Laskar, J.;
1993 / IEEE
By: Feng, M.; Laskar, J.; Kruse, J.; Van Harlingen, D.J.; Schweinfurth, R.A.; Teepe, M.R.; Platt, C.E.;
By: Feng, M.; Laskar, J.; Kruse, J.; Van Harlingen, D.J.; Schweinfurth, R.A.; Teepe, M.R.; Platt, C.E.;
1994 / IEEE
By: Laskar, J.; Freudenthal, A.; Liu, P.H.; Streit, D.; Dia, R.M.; Pospieszalski, M.W.; Tan, K.L.; Fujiwara, B.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Ng, G.I.;
By: Laskar, J.; Freudenthal, A.; Liu, P.H.; Streit, D.; Dia, R.M.; Pospieszalski, M.W.; Tan, K.L.; Fujiwara, B.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Ng, G.I.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Ng, G.I.; Lo, D.C.; Liu, P.H.; Streit, D.C.; Tan, K.L.; Laskar, J.; Hamai, M.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Nishimoto, M.;
By: Ng, G.I.; Lo, D.C.; Liu, P.H.; Streit, D.C.; Tan, K.L.; Laskar, J.; Hamai, M.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Nishimoto, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Hamai, M.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Szydlik, P.; Laskar, J.; Nishimoto, M.;
By: Hamai, M.; Bautista, J.J.; Lai, R.; Szydlik, P.; Laskar, J.; Nishimoto, M.;
1996 / IEEE
By: Evers, N.; Vendier, O.; Chun, C.; Murti, M.R.; Jokerst, N.M.; Moise, T.S.; Kao, Y.-C.; Laskar, J.;
By: Evers, N.; Vendier, O.; Chun, C.; Murti, M.R.; Jokerst, N.M.; Moise, T.S.; Kao, Y.-C.; Laskar, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Chau, H.-F.; Jokerst, N.M.; Laskar, J.; Evers, N.; Chun, C.; Beam, E., III;
By: Chau, H.-F.; Jokerst, N.M.; Laskar, J.; Evers, N.; Chun, C.; Beam, E., III;
1997 / IEEE / 0-7803-3857-X
By: Tummala, R.R.; Pham, A.; Haridass, A.; Chahal, P.; Laskar, J.; Swaminathan, M.; Allen, M.G.;
By: Tummala, R.R.; Pham, A.; Haridass, A.; Chahal, P.; Laskar, J.; Swaminathan, M.; Allen, M.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4203-8
By: Cole, H.S.; Krishnamurthy, V.; Laskar, J.; Pham, A.; Sitnik-Nieters, T.;
By: Cole, H.S.; Krishnamurthy, V.; Laskar, J.; Pham, A.; Sitnik-Nieters, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4795-1
By: Laskar, J.; Liang, H.; Sutono, S.; Staiculescu, D.; Jokerst, N.; Pham, A.; Chun, C.; Harris, M.; Brooke, M.;
By: Laskar, J.; Liang, H.; Sutono, S.; Staiculescu, D.; Jokerst, N.; Pham, A.; Chun, C.; Harris, M.; Brooke, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4439-1
By: Laskar, J.; Moon, E.; Vendier, O.; Chun, C.; Brooke, M.; Jokerst, N.M.; Ki, H.C.;
By: Laskar, J.; Moon, E.; Vendier, O.; Chun, C.; Brooke, M.; Jokerst, N.M.; Ki, H.C.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Sutono, A.; Pham, A.; Sitnik-Nieters, T.; Cole, H.S.; Krishnamurthy, V.; Laskar, J.;
By: Sutono, A.; Pham, A.; Sitnik-Nieters, T.; Cole, H.S.; Krishnamurthy, V.; Laskar, J.;
1997 / IEEE / 4-88552-187-4
By: Shell, M.; Han, S.; Gaudino, R.; Laskar, J.; Blumenthal, D.J.; Vaughn, M.D.;
By: Shell, M.; Han, S.; Gaudino, R.; Laskar, J.; Blumenthal, D.J.; Vaughn, M.D.;
1999 / IEEE
By: Matinpour, B.; Bergman, J.I.; Joo, Y.; Chang, J.; Laskar, J.; Beam, E., III; Brar, B.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.;
By: Matinpour, B.; Bergman, J.I.; Joo, Y.; Chang, J.; Laskar, J.; Beam, E., III; Brar, B.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.;
1999 / IEEE
By: Chervela, N.; Jiang, H.-T.; Singh, J.; Phillips, J.; Klotzkin, D.; Norris, T.B.; Kamath, K.K.; Bhattacharya, P.; Murty, M.R.; Laskar, J.; Sosnowski, T.;
By: Chervela, N.; Jiang, H.-T.; Singh, J.; Phillips, J.; Klotzkin, D.; Norris, T.B.; Kamath, K.K.; Bhattacharya, P.; Murty, M.R.; Laskar, J.; Sosnowski, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Blumenthal, D.J.; Laskar, J.; Matinpour, B.; Chang-Ho Lee; Sangwoo Han;
By: Blumenthal, D.J.; Laskar, J.; Matinpour, B.; Chang-Ho Lee; Sangwoo Han;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Laskar, J.; Staiculescu, D.; Anaki, I.; Rudy, D.; Sweetman, E.; Mendelsohn, J.;
By: Laskar, J.; Staiculescu, D.; Anaki, I.; Rudy, D.; Sweetman, E.; Mendelsohn, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Wills, D.S.; Jung, S.; Laskar, J.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.; Chang, J.J.; Joo, Y.J.; Brown, A.S.; Lee, M.; Thomas, M.; Vrazel, M.; Cross, J.; Bond, S.; Vendier, O.;
By: Wills, D.S.; Jung, S.; Laskar, J.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.; Chang, J.J.; Joo, Y.J.; Brown, A.S.; Lee, M.; Thomas, M.; Vrazel, M.; Cross, J.; Bond, S.; Vendier, O.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Yoo, S.; Laskar, J.; Chakraborty, S.; Matinpour, B.; Lee, C.-H.; Heo, D.;
By: Yoo, S.; Laskar, J.; Chakraborty, S.; Matinpour, B.; Lee, C.-H.; Heo, D.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Kim, B.; Shin, J.-H.; Seok, E.; Suh, Y.; Laskar, J.; Raghavan, A.; Heo, D.;
By: Kim, B.; Shin, J.-H.; Seok, E.; Suh, Y.; Laskar, J.; Raghavan, A.; Heo, D.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Raghavan, A.; Yoo, L.; Murti, M.R.; Lai, R.; Bautista, J.; Laskar, J.; Nuttinck, S.;
By: Raghavan, A.; Yoo, L.; Murti, M.R.; Lai, R.; Bautista, J.; Laskar, J.; Nuttinck, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-6450-3
By: Laskar, J.; Pham, A.; Sprinceanu, L.; Piacente, P.; Krishnamurthy, V.; Schmanski, B.; Marcinkewicz, W.; Bates, D.;
By: Laskar, J.; Pham, A.; Sprinceanu, L.; Piacente, P.; Krishnamurthy, V.; Schmanski, B.; Marcinkewicz, W.; Bates, D.;
2000 / IEEE
By: Seung-Yup Yoo; Yi-Jan Emery Chen; Gebara, E.; Deukhyoun Heo; Laskar, J.; Youngsuk Suh; Hamai, M.;
By: Seung-Yup Yoo; Yi-Jan Emery Chen; Gebara, E.; Deukhyoun Heo; Laskar, J.; Youngsuk Suh; Hamai, M.;
2000 / IEEE
By: Grundbacher, R.; Laskar, J.; Murti, M.R.; Liu, P.H.; Chin, P.; Barsky, M.; Nuttinck, S.; Lai, R.; Bautista, J.; Bergman, J.I.; Raghavan, A.; Yoo, S.;
By: Grundbacher, R.; Laskar, J.; Murti, M.R.; Liu, P.H.; Chin, P.; Barsky, M.; Nuttinck, S.; Lai, R.; Bautista, J.; Bergman, J.I.; Raghavan, A.; Yoo, S.;
2000 / IEEE
By: Jung, S.; Vrazel, M.; Brown, A.S.; Wills, D.S.; Joo, Y.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.; Laskar, J.; Chang, J.J.;
By: Jung, S.; Vrazel, M.; Brown, A.S.; Wills, D.S.; Joo, Y.; Brooke, M.A.; Jokerst, N.M.; Laskar, J.; Chang, J.J.;