Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kulkarni, S.
Results
2012 / IEEE
By: Patil, S.; Kulkarni, S.; Kedia, S.; Dixit, M.; Balasubramanyam, P.V.; Gupta, A.; Andrews, L.;
By: Patil, S.; Kulkarni, S.; Kedia, S.; Dixit, M.; Balasubramanyam, P.V.; Gupta, A.; Andrews, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1163-3
By: Palizdar, M.; Comyn, T.P.; Ward, M.B.; Brown, A.P.; Harington, J.; Kulkarni, S.; Bell, A.J.; Roy, S.; Pemble, M.; Whatmore, R.; Quinne, C.; Kilcoyne, S.H.; Keeney, L.;
By: Palizdar, M.; Comyn, T.P.; Ward, M.B.; Brown, A.P.; Harington, J.; Kulkarni, S.; Bell, A.J.; Roy, S.; Pemble, M.; Whatmore, R.; Quinne, C.; Kilcoyne, S.H.; Keeney, L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-634-7
By: Keech, E.; Kulkarni, S.; Singh, P.; Klingler, J.; McDermott-Levy, R.;
By: Keech, E.; Kulkarni, S.; Singh, P.; Klingler, J.; McDermott-Levy, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1984-4
By: Notiyath, P.; Saikia, J.; Kapur, R.; Bhattacharya, P.; Kulkarni, S.; Fernandes, T.; Uppuluri, R.; Anbalan, A.;
By: Notiyath, P.; Saikia, J.; Kapur, R.; Bhattacharya, P.; Kulkarni, S.; Fernandes, T.; Uppuluri, R.; Anbalan, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1216-6
By: Jamieson, B.; Kulkarni, S.; Ningning Wang; O'Mathuna, C.; Roy, S.; Casey, D.; Rohan, J.;
By: Jamieson, B.; Kulkarni, S.; Ningning Wang; O'Mathuna, C.; Roy, S.; Casey, D.; Rohan, J.;
2012 / IEEE
By: Rao, V.V.; Sarangi, S.K.; Balasubramanyam, P.V.; Gupta, A.; Kar, S.; Singh, K.P.; Dixit, M.; Kulkarni, S.;
By: Rao, V.V.; Sarangi, S.K.; Balasubramanyam, P.V.; Gupta, A.; Kar, S.; Singh, K.P.; Dixit, M.; Kulkarni, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-0978-2
By: Bhattacharyya, A.; Faucher, M.; Hook, T.; Chen, B.; Gabrielle, E.; Johnson, A.; Mongeon, S.; Piccirillo, J.; Washburn, C.; Starkey, G.; King, W.; Kulkarni, S.; Eslinger, S.; Willets, C.; Racine, C.;
By: Bhattacharyya, A.; Faucher, M.; Hook, T.; Chen, B.; Gabrielle, E.; Johnson, A.; Mongeon, S.; Piccirillo, J.; Washburn, C.; Starkey, G.; King, W.; Kulkarni, S.; Eslinger, S.; Willets, C.; Racine, C.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Schepis, D.; Schulz, R.; Rausch, W.; Kulkarni, S.; Sadana, D.; Hovel, H.; Hathorn, K.; Hargrove, M.; Shahidi, G.G.; Assaderaghi, F.; Davari, B.; Dennard, R.; Sun, J.; Yee, D.;
By: Schepis, D.; Schulz, R.; Rausch, W.; Kulkarni, S.; Sadana, D.; Hovel, H.; Hathorn, K.; Hargrove, M.; Shahidi, G.G.; Assaderaghi, F.; Davari, B.; Dennard, R.; Sun, J.; Yee, D.;
1993 / IEEE
By: Hook, T.; Chen, B.; Gabrielle, E.; Johnson, A.; Mongeon, S.; Piccirillo, J.; Washburn, C.; King, W.; Kulkarni, S.; Eslinger, S.; Willets, C.; Racine, C.; Faucher, M.; Starkey, G.; Bhattacharyya, A.;
By: Hook, T.; Chen, B.; Gabrielle, E.; Johnson, A.; Mongeon, S.; Piccirillo, J.; Washburn, C.; King, W.; Kulkarni, S.; Eslinger, S.; Willets, C.; Racine, C.; Faucher, M.; Starkey, G.; Bhattacharyya, A.;
1999 / IEEE / 0-7695-0078-1
By: Kulkarni, S.; Bhattacharya, M.; Gupta, A.; Chakraborty, K.; Mazumder, P.;
By: Kulkarni, S.; Bhattacharya, M.; Gupta, A.; Chakraborty, K.; Mazumder, P.;
2001 / IEEE / 4-89114-012-7
By: Schiml, T.; Leung, P.; Brase, G.; Burrell, L.; Cowley, A.; Chen, K.C.; Von Ehrenwall, A.; Von Ehrenwall, B.; Felsner, P.; Gill, J.; Grellner, F.; Guarin, F.; Han, L.K.; Hoinkis, M.; Hsiung, E.; Kaltalioglu, E.; Kim, P.; Knoblinger, G.; Kulkarni, S.; Leslie, A.; Mono, T.; Schafbauer, T.; Schroeder, U.; Schruefer, K.; Spooner, T.; Warner, D.; Wang, C.; Wong, R.; Demm, E.; Biesemans, S.;
By: Schiml, T.; Leung, P.; Brase, G.; Burrell, L.; Cowley, A.; Chen, K.C.; Von Ehrenwall, A.; Von Ehrenwall, B.; Felsner, P.; Gill, J.; Grellner, F.; Guarin, F.; Han, L.K.; Hoinkis, M.; Hsiung, E.; Kaltalioglu, E.; Kim, P.; Knoblinger, G.; Kulkarni, S.; Leslie, A.; Mono, T.; Schafbauer, T.; Schroeder, U.; Schruefer, K.; Spooner, T.; Warner, D.; Wang, C.; Wong, R.; Demm, E.; Biesemans, S.;
2003 / IEEE / 0-7695-1904-0
By: Sylvester, D.; Srivastava, A.; Kwong, W.; Kulkarni, S.; Bai, R.; Blaauw, D.;
By: Sylvester, D.; Srivastava, A.; Kwong, W.; Kulkarni, S.; Bai, R.; Blaauw, D.;
2003 / IEEE / 0-7695-1933-4
By: Johnson, M.; Bunch, L.; Breedy, M.; Hayes, P.; Suri, N.; Kulkarni, S.; Bradshaw, J.; Uszok, A.; Jeffers, R.; Lott, J.;
By: Johnson, M.; Bunch, L.; Breedy, M.; Hayes, P.; Suri, N.; Kulkarni, S.; Bradshaw, J.; Uszok, A.; Jeffers, R.; Lott, J.;
2003 / IEEE / 1-58113-688-9
By: Sylvester, D.; Pan, D.; Cohn, J.; Kung, D.; Srivastava, A.; Stok, L.; Puri, R.; Kulkarni, S.;
By: Sylvester, D.; Pan, D.; Cohn, J.; Kung, D.; Srivastava, A.; Stok, L.; Puri, R.; Kulkarni, S.;
2003 / IEEE / 0-7695-1994-6
By: Linington, P.F.; Cole, J.; Neal, S.; Kulkarni, S.; Gibson, S.; Milosevic, Z.;
By: Linington, P.F.; Cole, J.; Neal, S.; Kulkarni, S.; Gibson, S.; Milosevic, Z.;
2004 / IEEE / 0-7803-8267-6
By: Rusu, S.; Chang, J.; Rao, A.; Kulkarni, S.; Goe, R.; Desai, K.; Hannoun, D.; Leong, G.; Chiu, S.; Karim, M.; Truong, K.; Huang, M.; Haque, M.; Shoemaker, J.;
By: Rusu, S.; Chang, J.; Rao, A.; Kulkarni, S.; Goe, R.; Desai, K.; Hannoun, D.; Leong, G.; Chiu, S.; Karim, M.; Truong, K.; Huang, M.; Haque, M.; Shoemaker, J.;
Effects of image quantization and regularization on lesion detectability in SPECT MAP reconstruction
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9By: Yuxiang Xing; Oldan, J.; Kulkarni, S.; Khurd, P.; Gindi, G.;
2005 / IEEE
By: Kulkarni, S.; Goe, R.; Desai, K.; Leong, G.; Karim, M.; Kevin Truong; Chang, J.; Haque, M.; Ming Huang; Tam, S.; Shoemaker, J.; Rusu, S.; Siufu Chiu;
By: Kulkarni, S.; Goe, R.; Desai, K.; Leong, G.; Karim, M.; Kevin Truong; Chang, J.; Haque, M.; Ming Huang; Tam, S.; Shoemaker, J.; Rusu, S.; Siufu Chiu;
2005 / IEEE
By: Bulmus, V.; Murthy, N.; Shimoboji, T.; Kulkarni, S.; Lackey, C.; Hoffman, A.S.; El-Sayed, M.; Stayton, P.S.;
By: Bulmus, V.; Murthy, N.; Shimoboji, T.; Kulkarni, S.; Lackey, C.; Hoffman, A.S.; El-Sayed, M.; Stayton, P.S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8994-8
By: Beeby, S.P.; Roy, S.; Kulkarni, S.; Saha, C.; O'Donnell, T.; White, N.M.; Koukharenko, E.; Tudor, M.J.;
By: Beeby, S.P.; Roy, S.; Kulkarni, S.; Saha, C.; O'Donnell, T.; White, N.M.; Koukharenko, E.; Tudor, M.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9074-1
By: Lott, J.; Kulkarni, S.; Johnson, M.; Bunch, L.; Hayes, P.; Suri, N.; Breedy, M.; Bradshaw, J.; Moreau, L.; Uszok, A.;
By: Lott, J.; Kulkarni, S.; Johnson, M.; Bunch, L.; Hayes, P.; Suri, N.; Breedy, M.; Bradshaw, J.; Moreau, L.; Uszok, A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0152-6
By: Dunaway, P.A.; Dambrauskas, T.; Schuelein, M.; Muthukumar, S.; Newman, M.W.; Swan, J.M.; Jordan, J.M.; Worwag, W.; Topic, L.A.; Stingel, R.A.; Opheim, T.A.; Linde, C.D.; Kulkarni, S.;
By: Dunaway, P.A.; Dambrauskas, T.; Schuelein, M.; Muthukumar, S.; Newman, M.W.; Swan, J.M.; Jordan, J.M.; Worwag, W.; Topic, L.A.; Stingel, R.A.; Opheim, T.A.; Linde, C.D.; Kulkarni, S.;