Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kondo, T.
Results
2012 / IEEE
By: Muramatsu, S.; Kondo, T.; Namba, S.; Inuzuka, H.; Agata, Y.; Tachi, T.; Fujimura, N.; Yasuda, K.; Niraula, M.;
By: Muramatsu, S.; Kondo, T.; Namba, S.; Inuzuka, H.; Agata, Y.; Tachi, T.; Fujimura, N.; Yasuda, K.; Niraula, M.;
2012 / IEEE
By: Yasuda, K.; Niraula, M.; Agata, Y.; Wajima, Y.; Namba, S.; Yamashita, H.; Muramatsu, S.; Kondo, T.;
By: Yasuda, K.; Niraula, M.; Agata, Y.; Wajima, Y.; Namba, S.; Yamashita, H.; Muramatsu, S.; Kondo, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kondo, T.; Namba, S.; Inuzuka, H.; Tachi, T.; Muramatsu, S.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Fujimura, N.; Agata, Y.;
By: Kondo, T.; Namba, S.; Inuzuka, H.; Tachi, T.; Muramatsu, S.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Fujimura, N.; Agata, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1405-3
By: Homma, M.; Takiguchi, K.; Nakajima, M.; Kojima, M.; Fukuda, T.; Kondo, T.;
By: Homma, M.; Takiguchi, K.; Nakajima, M.; Kojima, M.; Fukuda, T.; Kondo, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1982-0
By: Takehara, Y.; Marutani, H.; Kondo, T.; Shintani, N.; Takahashi, T.; Higaki, K.; Hiruta, Y.; Katsumata, A.; Hayashi, N.; Yamaji, Y.; Yamagata, O.;
By: Takehara, Y.; Marutani, H.; Kondo, T.; Shintani, N.; Takahashi, T.; Higaki, K.; Hiruta, Y.; Katsumata, A.; Hayashi, N.; Yamaji, Y.; Yamagata, O.;
2013 / IEEE
By: Agata, Y.; Yamashita, H.; Wajima, Y.; Muramatsu, S.; Kondo, T.; Namba, S.; Yasuda, K.; Niraula, M.;
By: Agata, Y.; Yamashita, H.; Wajima, Y.; Muramatsu, S.; Kondo, T.; Namba, S.; Yasuda, K.; Niraula, M.;
2012 / IEEE
By: Niraula, M.; Yasuda, K.; Namba, S.; Kondo, T.; Muramatsu, S.; Wajima, Y.; Yamashita, H.; Agata, Y.;
By: Niraula, M.; Yasuda, K.; Namba, S.; Kondo, T.; Muramatsu, S.; Wajima, Y.; Yamashita, H.; Agata, Y.;
2014 / IEEE
By: Sekido, M.; Takefuji, K.; Koyama, Y.; Ichikawa, R.; Hasegawa, S.; Hobiger, T.; Kondo, T.; Miyauchi, Y.; Ujihara, H.; Tsutsumi, M.;
By: Sekido, M.; Takefuji, K.; Koyama, Y.; Ichikawa, R.; Hasegawa, S.; Hobiger, T.; Kondo, T.; Miyauchi, Y.; Ujihara, H.; Tsutsumi, M.;
1989 / IEEE
By: Nishide, K.; Yoshida, J.; Ikeda, H.; Yoshida, H.; Kondo, T.; Andou, M.; Shinohara, S.; Miyata, M.; Sumi, M.;
By: Nishide, K.; Yoshida, J.; Ikeda, H.; Yoshida, H.; Kondo, T.; Andou, M.; Shinohara, S.; Miyata, M.; Sumi, M.;
1993 / IEEE
By: Collins, C.A.; Richardson, R.; Stefanik, A.M.; Stanek, R.; Lee, A.; Grozis, C.; Wands, R.; Fast, R.; Kephart, R.; Yamaoka, H.; Tanaka, K.; Makida, Y.; Kondo, T.; Doi, Y.; Yamamoto, A.;
By: Collins, C.A.; Richardson, R.; Stefanik, A.M.; Stanek, R.; Lee, A.; Grozis, C.; Wands, R.; Fast, R.; Kephart, R.; Yamaoka, H.; Tanaka, K.; Makida, Y.; Kondo, T.; Doi, Y.; Yamamoto, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1984-2
By: Kiuchi, H.; Kondo, T.; Nakajima, J.; Sekido, M.; Imae, M.; Hama, S.;
By: Kiuchi, H.; Kondo, T.; Nakajima, J.; Sekido, M.; Imae, M.; Hama, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-0891-3
By: Kondo, T.; Murakoshi, H.; Watanabe, T.; Takei, T.; Kawahara, N.; Anzai, F.; Dohi, Y.;
By: Kondo, T.; Murakoshi, H.; Watanabe, T.; Takei, T.; Kawahara, N.; Anzai, F.; Dohi, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-0891-3
By: Kondo, T.; Murakoshi, H.; Watanabe, T.; Takei, T.; Kawahara, N.; Anzai, F.; Dohi, Y.;
By: Kondo, T.; Murakoshi, H.; Watanabe, T.; Takei, T.; Kawahara, N.; Anzai, F.; Dohi, Y.;
1995 / IEEE
By: Inoue, I.; Ikeda, M.; Watanabe, I.; Odajima, I.; Mukai, H.; Mine, S.; Maeto, T.; Hirata, Y.; Hirano, T.; Wilson, M.E.; Collins, C.A.; Wands, R.; Stefanik, A.M.; Stanek, R.P.; Ang Lee; Kephart, R.; Grozis, C.; Fast, R.W.; Yamaoka, H.; Tanaka, K.; Suzuki, S.; Makida, Y.; Kondo, Y.; Kondo, T.; Kimura, N.; Kasami, K.; Haruyama, T.; Doi, Y.; Araoka, O.; Yamamoto, A.; Suzuki, T.;
By: Inoue, I.; Ikeda, M.; Watanabe, I.; Odajima, I.; Mukai, H.; Mine, S.; Maeto, T.; Hirata, Y.; Hirano, T.; Wilson, M.E.; Collins, C.A.; Wands, R.; Stefanik, A.M.; Stanek, R.P.; Ang Lee; Kephart, R.; Grozis, C.; Fast, R.W.; Yamaoka, H.; Tanaka, K.; Suzuki, S.; Makida, Y.; Kondo, Y.; Kondo, T.; Kimura, N.; Kasami, K.; Haruyama, T.; Doi, Y.; Araoka, O.; Yamamoto, A.; Suzuki, T.;
1995 / IEEE
By: Maeohmichi, H.; Takashima, R.; Tamura, N.; Takahata, M.; Yoshikawa, M.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Iwata, Y.; Unno, Y.; Terada, S.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Iwasaki, H.; Spieler, H.; Kipnis, I.; Collins, T.; Ciocio, A.; Williams, D.C.; Wilder, M.; Webster, A.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Rahn, J.; Pulliam, T.; Noble, K.; Kashigin, S.; Hubbard, B.; Grillo, A.; Dubbs, T.; Dorfan, D.; DeWitt, J.;
By: Maeohmichi, H.; Takashima, R.; Tamura, N.; Takahata, M.; Yoshikawa, M.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Iwata, Y.; Unno, Y.; Terada, S.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Iwasaki, H.; Spieler, H.; Kipnis, I.; Collins, T.; Ciocio, A.; Williams, D.C.; Wilder, M.; Webster, A.; Spencer, E.; Seiden, A.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.A.; Rahn, J.; Pulliam, T.; Noble, K.; Kashigin, S.; Hubbard, B.; Grillo, A.; Dubbs, T.; Dorfan, D.; DeWitt, J.;
1995 / IEEE
By: Higuchi, M.; Daigo, M.; Takashima, R.; Murakami, A.; Kobayashi, S.; Tamura, N.; Coupal, D.; Frautschi, M.; Pal, T.; Ziock, H.; Palounek, A.; Wilder, M.; Webster, A.; Rowe, B.; O'Shaughnessy, K.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Handa, T.; Ohyama, H.; Yoshikawa, M.; Ohmoto, T.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Hinode, F.; Ujiie, N.; Unno, Y.;
By: Higuchi, M.; Daigo, M.; Takashima, R.; Murakami, A.; Kobayashi, S.; Tamura, N.; Coupal, D.; Frautschi, M.; Pal, T.; Ziock, H.; Palounek, A.; Wilder, M.; Webster, A.; Rowe, B.; O'Shaughnessy, K.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Handa, T.; Ohyama, H.; Yoshikawa, M.; Ohmoto, T.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Hinode, F.; Ujiie, N.; Unno, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Unno, Y.; Higuchi, M.; Hinode, F.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Iwasaki, H.; Terada, S.; Ohmoto, T.; Yoshikawa, M.; Ohyama, H.; Handa, T.; Iwata, Y.; Ohsugi, T.; O'Shaughnessy, K.; Rowe, B.; Webster, A.; Wilder, M.; Palounek, A.; Ziock, H.; Pal, T.; Frautschi, M.; Coupal, D.; Tamura, N.; Kobayashi, S.; Murakami, A.; Takashima, R.; Daigo, M.; Ujiie, N.;
By: Unno, Y.; Higuchi, M.; Hinode, F.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Iwasaki, H.; Terada, S.; Ohmoto, T.; Yoshikawa, M.; Ohyama, H.; Handa, T.; Iwata, Y.; Ohsugi, T.; O'Shaughnessy, K.; Rowe, B.; Webster, A.; Wilder, M.; Palounek, A.; Ziock, H.; Pal, T.; Frautschi, M.; Coupal, D.; Tamura, N.; Kobayashi, S.; Murakami, A.; Takashima, R.; Daigo, M.; Ujiie, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Suguri, K.; Kotera, H.; Yamauchi, H.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.; Shibata, N.; Matsuda, H.; Satoh, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
By: Suguri, K.; Kotera, H.; Yamauchi, H.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.; Shibata, N.; Matsuda, H.; Satoh, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
1996 / IEEE
By: Tashiro, Y.; Ono, N.; Okubo, T.; Ogura, K.; Matsuda, H.; Abe, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakagawa, F.; Otsu, K.; Kasai, R.; Shibata, N.; Ikenaga, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
By: Tashiro, Y.; Ono, N.; Okubo, T.; Ogura, K.; Matsuda, H.; Abe, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakagawa, F.; Otsu, K.; Kasai, R.; Shibata, N.; Ikenaga, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Unno, Y.; Kohriki, T.; Takashima, R.; Wilder, M.; Sadrozinski, H.F.W.; Spencer, E.; Rowe, B.; Pulliam, T.; Noble, K.; Kroeger, W.; Kashigin, S.; Grillo, A.; Dubbs, T.; Spieler, H.; Siegrist, J.; Haber, C.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Handa, T.; Ohyama, H.; Yoshikawa, M.; Ohmoto, T.; Maeohmichi, H.; Tamura, N.; Takahata, K.M.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.;
By: Unno, Y.; Kohriki, T.; Takashima, R.; Wilder, M.; Sadrozinski, H.F.W.; Spencer, E.; Rowe, B.; Pulliam, T.; Noble, K.; Kroeger, W.; Kashigin, S.; Grillo, A.; Dubbs, T.; Spieler, H.; Siegrist, J.; Haber, C.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Handa, T.; Ohyama, H.; Yoshikawa, M.; Ohmoto, T.; Maeohmichi, H.; Tamura, N.; Takahata, K.M.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.;
1996 / IEEE
By: Takahashi, N.; Takehara, J.; Kitagawa, M.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakano, M.; Muramatsu, K.;
By: Takahashi, N.; Takehara, J.; Kitagawa, M.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakano, M.; Muramatsu, K.;
Finite element analysis of thermal characteristics in continuous wave long- wavelength surface-emitt
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5By: Baba, T.; Iga, K.; Koyama, F.; Kondo, T.;
1996 / IEEE
By: Sato, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Matsuda, H.; Shibata, N.; Suguri, K.; Kotera, H.; Shimizu, A.; Minami, T.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.;
By: Sato, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Matsuda, H.; Shibata, N.; Suguri, K.; Kotera, H.; Shimizu, A.; Minami, T.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Unno, Y.; Kehriki, T.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.; Nakao, M.; Tamura, N.; Fujita, K.; Handa, T.; Iwata, Y.; Ohsugi, T.; Dane, J.; Pier, S.; Ciocio, A.; Emes, J.; Gilchriese, M.; Haber, C.; Holland, S.; Kipnis, I.; Lozano-Bahile, J.; Shapiro, M.; Siegrist, J.; Spieler, H.; Moorhead, G.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Kashigin, S.; Kroeger, W.; Spieler, H.; Moorhead, G.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Kashigin, S.; Kroeger, W.; Rowe, B.; Spencer, E.; Sadrozinski, H.F.W.; Wilder, M.; Takashima, R.;
By: Unno, Y.; Kehriki, T.; Terada, S.; Iwasaki, H.; Kondo, T.; Nakao, M.; Tamura, N.; Fujita, K.; Handa, T.; Iwata, Y.; Ohsugi, T.; Dane, J.; Pier, S.; Ciocio, A.; Emes, J.; Gilchriese, M.; Haber, C.; Holland, S.; Kipnis, I.; Lozano-Bahile, J.; Shapiro, M.; Siegrist, J.; Spieler, H.; Moorhead, G.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Kashigin, S.; Kroeger, W.; Spieler, H.; Moorhead, G.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Kashigin, S.; Kroeger, W.; Rowe, B.; Spencer, E.; Sadrozinski, H.F.W.; Wilder, M.; Takashima, R.;
1997 / IEEE
By: Unno, Y.; Nakao, M.; Wilder, M.; Terada, S.; Takashima, R.; Tamura, N.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Shapiro, M.; Sadrozinski, H.F.W.; Rowe, B.; Pier, S.; Ohsugi, T.; Moorhead, G.; Lozano-Bahilo, J.; Kroeger, W.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Kipnis, I.; Kashigin, S.; Iwata, Y.; Iwasaki, H.; Holland, S.; Handa, T.; Haber, C.; Fujita, K.; Ciocio, A.; Dane, J.; Dubbs, T.; Emes, J.; Gilchriese, M.; Grillo, A.;
By: Unno, Y.; Nakao, M.; Wilder, M.; Terada, S.; Takashima, R.; Tamura, N.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Shapiro, M.; Sadrozinski, H.F.W.; Rowe, B.; Pier, S.; Ohsugi, T.; Moorhead, G.; Lozano-Bahilo, J.; Kroeger, W.; Kondo, T.; Kohriki, T.; Kipnis, I.; Kashigin, S.; Iwata, Y.; Iwasaki, H.; Holland, S.; Handa, T.; Haber, C.; Fujita, K.; Ciocio, A.; Dane, J.; Dubbs, T.; Emes, J.; Gilchriese, M.; Grillo, A.;
1997 / IEEE
By: Makida, Y.; Yamaoka, H.; Yamamoto, A.; Tanaka, K.; Kondo, T.; Haruyama, T.; Doi, Y.;
By: Makida, Y.; Yamaoka, H.; Yamamoto, A.; Tanaka, K.; Kondo, T.; Haruyama, T.; Doi, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-1789-0
By: Kondo, T.; Ohashi, M.; Takahashl, H.; Ito, R.; Shiraki, Y.; Ogasawara, N.;
By: Kondo, T.; Ohashi, M.; Takahashl, H.; Ito, R.; Shiraki, Y.; Ogasawara, N.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Morgan, D.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.;
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Morgan, D.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4526-6
By: Liao, J.C.; Figueroa, D.G.; Huang, L.; Rodriguez, J.P.; Taniguchi, M.; Li, Y.L.; Kondo, T.; Canner, J.;
By: Liao, J.C.; Figueroa, D.G.; Huang, L.; Rodriguez, J.P.; Taniguchi, M.; Li, Y.L.; Kondo, T.; Canner, J.;
1998 / IEEE
By: Kohriki, T.; Terada, S.; Kondo, T.; Unno, Y.; Yamamoto, K.; Yamamura, K.; Asai, M.; Kitabayashi, H.; Fujita, K.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Takashima, R.; Nakano, I.;
By: Kohriki, T.; Terada, S.; Kondo, T.; Unno, Y.; Yamamoto, K.; Yamamura, K.; Asai, M.; Kitabayashi, H.; Fujita, K.; Ohsugi, T.; Iwata, Y.; Takashima, R.; Nakano, I.;
1998 / IEEE
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegriste, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.W.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.; Morgan, D.;
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegriste, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.W.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.; Morgan, D.;
1991 / IEEE / 0-87942-644-6
By: Notomi, S.; Abe, M.; Mimura, T.; Kaneko, A.; Suzuki, M.; Hanyu, S.; Kosugi, M.; Watanabe, Y.; Kondo, T.;
By: Notomi, S.; Abe, M.; Mimura, T.; Kaneko, A.; Suzuki, M.; Hanyu, S.; Kosugi, M.; Watanabe, Y.; Kondo, T.;
1990 / IEEE
By: Hashizume, N.; Kondo, T.; Ito, R.; Umegaki, S.; Ogasawara, N.; Morita, R.; Miyoshi, S.;
By: Hashizume, N.; Kondo, T.; Ito, R.; Umegaki, S.; Ogasawara, N.; Morita, R.; Miyoshi, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4285-2
By: Wei, C.; Toyoda, S.; Motegi, N.; Kondo, T.; Chen, J.; Mizusawa, Y.; Chen, H.-C.; Ku, T.-K.; Chen, L.-J.;
By: Wei, C.; Toyoda, S.; Motegi, N.; Kondo, T.; Chen, J.; Mizusawa, Y.; Chen, H.-C.; Ku, T.-K.; Chen, L.-J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4950-4
By: Ishi, J.; Kunugita, H.; Ito, R.; Kondo, T.; Tanaka, K.; Ema, K.; Sano, K.;
By: Ishi, J.; Kunugita, H.; Ito, R.; Kondo, T.; Tanaka, K.; Ema, K.; Sano, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Tani, M.; Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.;
By: Tani, M.; Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.;
1999 / IEEE / 0-7695-0078-1
By: Ohura, T.; Naganuma, J.; Minami, T.; Yoshitome, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Nitta, K.; Kondo, T.;
By: Ohura, T.; Naganuma, J.; Minami, T.; Yoshitome, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Nitta, K.; Kondo, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Stugu, B.; Stapnes, S.; Roe, S.; Riedler, P.; Johansen, L.G.; Robinson, D.; Phillips, P.W.; Fukunaga, C.; Nakano, I.; Ohsugi, T.; Kondo, T.; Sato, K.; Kitayama, E.; Ikeda, M.; Takashima, R.; Iwata, Y.; Moorhead, G.; Kohriki, T.; Terada, S.; Yamashita, T.; Unno, Y.;
By: Stugu, B.; Stapnes, S.; Roe, S.; Riedler, P.; Johansen, L.G.; Robinson, D.; Phillips, P.W.; Fukunaga, C.; Nakano, I.; Ohsugi, T.; Kondo, T.; Sato, K.; Kitayama, E.; Ikeda, M.; Takashima, R.; Iwata, Y.; Moorhead, G.; Kohriki, T.; Terada, S.; Yamashita, T.; Unno, Y.;
1999 / IEEE
By: Tashiro, Y.; Watanabe, H.; Naganuma, J.; Ochiai, K.; Iwasaki, H.; Endo, M.; Minami, T.; Yoshitome, T.; Suguri, K.; Nitta, K.; Kondo, T.; Ikeda, M.; Kasai, R.; Okubo, T.; Kobayashi, N.;
By: Tashiro, Y.; Watanabe, H.; Naganuma, J.; Ochiai, K.; Iwasaki, H.; Endo, M.; Minami, T.; Yoshitome, T.; Suguri, K.; Nitta, K.; Kondo, T.; Ikeda, M.; Kasai, R.; Okubo, T.; Kobayashi, N.;
1999 / IEEE
By: Yamamoto, A.; Smith, K.D.; Ross, J.S.H.; Meguro, S.; Wada, K.; Bjorset, L.; Doi, Y.; Ten Kate, H.; Yamaoka, H.; Haruyama, T.; Tanaka, K.; Makida, Y.; Kondo, T.;
By: Yamamoto, A.; Smith, K.D.; Ross, J.S.H.; Meguro, S.; Wada, K.; Bjorset, L.; Doi, Y.; Ten Kate, H.; Yamaoka, H.; Haruyama, T.; Tanaka, K.; Makida, Y.; Kondo, T.;
1999 / IEEE
By: Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.; Tani, M.;
By: Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.; Tani, M.;