Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Koch, T.
Results
1996 / IEEE
By: Kaminow, I.P.; Gallager, R.G.; Dragone, C.; Koch, T.; Koren, U.; Saleh, A.A.M.; Kirby, A.J.; Ozveren, C.M.; Schofield, B.; Thomas, R.E.; Barry, R.A.; Castagnozzi, D.M.; Chan, V.W.S.; Hemenway, B.R., Jr; Marquis, D.; Parikh, S.A.; Stevens, M.L.; Swanson, E.A.; Finn, S.G.; Doerr, C.R.;
By: Kaminow, I.P.; Gallager, R.G.; Dragone, C.; Koch, T.; Koren, U.; Saleh, A.A.M.; Kirby, A.J.; Ozveren, C.M.; Schofield, B.; Thomas, R.E.; Barry, R.A.; Castagnozzi, D.M.; Chan, V.W.S.; Hemenway, B.R., Jr; Marquis, D.; Parikh, S.A.; Stevens, M.L.; Swanson, E.A.; Finn, S.G.; Doerr, C.R.;
1998 / IEEE
By: Pease, A.; Mehdi, I.; Koch, T.; Oswald, J.E.; Erickson, N.R.; Dengler, R.J.; Siegel, P.H.; Frerking, M.A.; Kim, M.; Humphrey, D.A.; Lee, T.H.;
By: Pease, A.; Mehdi, I.; Koch, T.; Oswald, J.E.; Erickson, N.R.; Dengler, R.J.; Siegel, P.H.; Frerking, M.A.; Kim, M.; Humphrey, D.A.; Lee, T.H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7231-X
By: Ade, P.; Jones, W.; Bhatia, R.; Bock, J.; Lange, A.; Sudiwala, R.; Husted, L.; Paine, C.; Koch, T.; Minhee Yun;
By: Ade, P.; Jones, W.; Bhatia, R.; Bock, J.; Lange, A.; Sudiwala, R.; Husted, L.; Paine, C.; Koch, T.; Minhee Yun;
Analysis and design of coupled-cavity lasers - Part I: Threshold gain analysis and design guidelines
1984 / IEEEBy: Coldren, L.; Koch, T.;
1985 / IEEE
By: Wilt, D.; Kasper, B.; Gnauck, A.; Cohen, L.; Nelson, K.; Campbell, J.; Linke, R.; Yen, R.; Burkhardt, E.; Bridges, T.; Koch, T.; Dawson, R.;
By: Wilt, D.; Kasper, B.; Gnauck, A.; Cohen, L.; Nelson, K.; Campbell, J.; Linke, R.; Yen, R.; Burkhardt, E.; Bridges, T.; Koch, T.; Dawson, R.;
2006 / IEEE
By: Vigoda, B.; Merkli, P.; Loeliger, H.-A.; Koch, T.; Gershenfeld, N.; Frey, M.; Dauwels, J.;
By: Vigoda, B.; Merkli, P.; Loeliger, H.-A.; Koch, T.; Gershenfeld, N.; Frey, M.; Dauwels, J.;
2006 / IEEE / 0-7695-2595-4
By: Monser, R.; Koch, T.; Becker, A.; Nixdorf, M.; Richter, J.G.; Schneider, M.;
By: Monser, R.; Koch, T.; Becker, A.; Nixdorf, M.; Richter, J.G.; Schneider, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Stuhler, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.; Goetz, S.; Pfau, T.; Koch, T.; Lahaye, T.; Fattori, M.;
By: Stuhler, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.; Goetz, S.; Pfau, T.; Koch, T.; Lahaye, T.; Fattori, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Koch, T.; Lahaye, T.; Pfau, T.; Griesmaier, A.; Frohlich, B.; Fattori, M.;
By: Koch, T.; Lahaye, T.; Pfau, T.; Griesmaier, A.; Frohlich, B.; Fattori, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3827-3
By: Luethi, P.; Wenk, M.; Lerjen, M.; Fichtner, W.; Felber, N.; Maechler, P.; Koch, T.;
By: Luethi, P.; Wenk, M.; Lerjen, M.; Fichtner, W.; Felber, N.; Maechler, P.; Koch, T.;
Live demonstration: Hardware platform and implementation of a real-time multi-user MIMO-OFDM testbed
2009 / IEEE / 978-1-4244-3827-3By: Luethi, P.; Wenk, M.; Lerjen, M.; Fichtner, W.; Felber, N.; Maechler, P.; Koch, T.;