Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kobayashi, T.
Results
2012 / IEEE
By: Kobayashi, T.; Ono, T.; Yamaji, A.; Yamaguchi, Y.; Oya, H.; Oshigami, S.; Nakagawa, H.; Kumamoto, A.; Seung Ryeol Lee; Jung-Ho Kim;
By: Kobayashi, T.; Ono, T.; Yamaji, A.; Yamaguchi, Y.; Oya, H.; Oshigami, S.; Nakagawa, H.; Kumamoto, A.; Seung Ryeol Lee; Jung-Ho Kim;
2012 / IEEE
By: Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Sakaguchi, J.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.; Kawanishi, T.;
By: Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Sakaguchi, J.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.; Kawanishi, T.;
2012 / IEEE
By: Charrier, J.; Yamamoto, A.; Anstett, D.; Bargueden, P.; Boussuge, T.; Bouty, A.; Dubois, O.; Durand, G.; Fazilleau, P.; Gibier, D.; Gournay, J.; Le Pouhalec, P.; Loiseau, D.; Lotrus, P.; Molinie, F.; Pinvidic, B.; Queinec, Y.; Zito, M.; Ogitsu, T.; Sasaki, K.; Kimura, N.; Kobayashi, T.; Makida, Y.; Nakamoto, T.; Ohhata, H.; Okamura, T.; Allard, J.;
By: Charrier, J.; Yamamoto, A.; Anstett, D.; Bargueden, P.; Boussuge, T.; Bouty, A.; Dubois, O.; Durand, G.; Fazilleau, P.; Gibier, D.; Gournay, J.; Le Pouhalec, P.; Loiseau, D.; Lotrus, P.; Molinie, F.; Pinvidic, B.; Queinec, Y.; Zito, M.; Ogitsu, T.; Sasaki, K.; Kimura, N.; Kobayashi, T.; Makida, Y.; Nakamoto, T.; Ohhata, H.; Okamura, T.; Allard, J.;
2012 / IEEE
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Mine, T.; Morimoto, T.; Takahama, T.; Takahashi, T.; Morita, S.; Kurotsuchi, K.; Shima, A.; Tai, M.; Anzai, Y.; Minemura, H.; Kinoshita, M.; Sasago, Y.; Kobayashi, T.;
By: Mine, T.; Morimoto, T.; Takahama, T.; Takahashi, T.; Morita, S.; Kurotsuchi, K.; Shima, A.; Tai, M.; Anzai, Y.; Minemura, H.; Kinoshita, M.; Sasago, Y.; Kobayashi, T.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Matsuura, A.; Miyamoto, Y.; Yamanaka, S.; Yamamoto, S.; Maeda, A.; Kotanigawa, T.; Kobayashi, T.; Tomizawa, M.; Sakano, T.; Inui, T.; Suzuki, M.; Iwaki, A.;
By: Matsuura, A.; Miyamoto, Y.; Yamanaka, S.; Yamamoto, S.; Maeda, A.; Kotanigawa, T.; Kobayashi, T.; Tomizawa, M.; Sakano, T.; Inui, T.; Suzuki, M.; Iwaki, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Kawasaki, K.; Satoh, M.; Kobayashi, T.; Kojima, S.; Taira, S.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Yamamoto, S.-I.; Umehara, T.; Uratsuka, S.; Uemoto, J.; Suzuki, R.; Nadai, A.;
By: Kawasaki, K.; Satoh, M.; Kobayashi, T.; Kojima, S.; Taira, S.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Yamamoto, S.-I.; Umehara, T.; Uratsuka, S.; Uemoto, J.; Suzuki, R.; Nadai, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Nadai, A.; Uratsuka, S.; Kobayashi, T.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Umehara, T.;
By: Nadai, A.; Uratsuka, S.; Kobayashi, T.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Umehara, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Kobayashi, T.; Horikoshi, K.; Miyamoto, Y.; Yoshida, E.; Sano, A.; Yamazaki, E.; Yamanaka, S.;
By: Kobayashi, T.; Horikoshi, K.; Miyamoto, Y.; Yoshida, E.; Sano, A.; Yamazaki, E.; Yamanaka, S.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Miyamoto, Y.; Kubota, H.; Sakano, T.; Matsuura, A.; Yoshida, M.; Ishihara, K.; Sano, A.; Kobayashi, T.; Nagatani, M.; Mizoguchi, M.;
By: Miyamoto, Y.; Kubota, H.; Sakano, T.; Matsuura, A.; Yoshida, M.; Ishihara, K.; Sano, A.; Kobayashi, T.; Nagatani, M.; Mizoguchi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Ohta, J.; Tokuda, T.; Noda, T.; Kobayashi, T.; Matsuda, T.; Keren Li; Bing Zhang; Davis, P.; Sasagawa, K.;
By: Ohta, J.; Tokuda, T.; Noda, T.; Kobayashi, T.; Matsuda, T.; Keren Li; Bing Zhang; Davis, P.; Sasagawa, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0170-2
By: Sasagawa, K.; Ohta, J.; Tokuda, T.; Noda, T.; Kobayashi, T.; Tagawa, A.; Masuda, H.;
By: Sasagawa, K.; Ohta, J.; Tokuda, T.; Noda, T.; Kobayashi, T.; Tagawa, A.; Masuda, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kobayashi, T.; Moriyama, S.; Sakamoto, K.; Oda, Y.; Takahashi, K.; Hoshino, K.; Isayama, A.; Wada, K.; Hiranai, S.; Suzuki, S.; Yokokura, K.; Hinata, J.;
By: Kobayashi, T.; Moriyama, S.; Sakamoto, K.; Oda, Y.; Takahashi, K.; Hoshino, K.; Isayama, A.; Wada, K.; Hiranai, S.; Suzuki, S.; Yokokura, K.; Hinata, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1303-3
By: Kobayashi, T.; Yaguchi, A.; Otsu, N.; Hosaka, T.; Iwata, K.; Watanabe, K.;
By: Kobayashi, T.; Yaguchi, A.; Otsu, N.; Hosaka, T.; Iwata, K.; Watanabe, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1470-2
By: Tokuda, T.; Sasagawa, K.; Hatanaka, Y.; Noda, T.; Motoyama, M.; Ishikawa, Y.; Tamura, H.; Kobayashi, T.; Ohta, J.; Shiosaka, S.;
By: Tokuda, T.; Sasagawa, K.; Hatanaka, Y.; Noda, T.; Motoyama, M.; Ishikawa, Y.; Tamura, H.; Kobayashi, T.; Ohta, J.; Shiosaka, S.;
2011 / IEEE / 978-2-35500-015-7
By: Shibayama, N.; Kobayashi, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
By: Shibayama, N.; Kobayashi, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
Novel MEMS digital temperature sensor for wireless avian-influenza monitoring system in poultry farm
2011 / IEEE / 978-2-35500-015-7By: Kobayashi, T.; Okada, H.; Yi Zhang; Itoh, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1524-2
By: Ueta, N.; Nakachi, Y.; Shigeoka, S.; Sugii, M.; Ishibashi, K.; Sasaki, G.; Kobayashi, T.; Itakura, K.; Yonemoto, K.; Kanemoto, T.; Akahoshi, Y.; Sagara, S.; Matsumoto, T.; Narumi, T.; Inai, S.; Nakayama, Y.;
By: Ueta, N.; Nakachi, Y.; Shigeoka, S.; Sugii, M.; Ishibashi, K.; Sasaki, G.; Kobayashi, T.; Itakura, K.; Yonemoto, K.; Kanemoto, T.; Akahoshi, Y.; Sagara, S.; Matsumoto, T.; Narumi, T.; Inai, S.; Nakayama, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1524-2
By: Higo, N.; Motohashi, M.; Ono, E.; Ogata, T.; Nozawa, T.; Kobayashi, T.; Miyake, Y.; Yano, K.; Ara, K.; Ishikawa, K.;
By: Higo, N.; Motohashi, M.; Ono, E.; Ogata, T.; Nozawa, T.; Kobayashi, T.; Miyake, Y.; Yano, K.; Ara, K.; Ishikawa, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Kobayashi, T.; Yamashita, T.; Imai, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
By: Kobayashi, T.; Yamashita, T.; Imai, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Itoh, T.; Kobayashi, T.; Okada, H.; Toda, A.; Zhang, Y.; Maeda, R.;
By: Itoh, T.; Kobayashi, T.; Okada, H.; Toda, A.; Zhang, Y.; Maeda, R.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Mukasa, K.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Sugizaki, R.; Klaus, W.; Inaba, H.; Imamura, K.; Kawanishi, T.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.;
By: Mukasa, K.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Sugizaki, R.; Klaus, W.; Inaba, H.; Imamura, K.; Kawanishi, T.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Sano, A.; Masuda, H.; Ishihara, K.; Miyamoto, Y.; Kobayashi, T.; Kawakami, H.; Matsuura, A.; Yamanaka, S.;
By: Sano, A.; Masuda, H.; Ishihara, K.; Miyamoto, Y.; Kobayashi, T.; Kawakami, H.; Matsuura, A.; Yamanaka, S.;
Towards a fully integrated laser-induced fluorescence detection device for point-of-care bioanalysis
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5By: Kamei, T.; Maeda, R.; Kobayashi, T.; Ito, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2177-9
By: Kobayashi, T.; Ueno, M.; Hayashi, Y.; Tamura, K.; Kiguchi, K.; Mawatari, M.;
By: Kobayashi, T.; Ueno, M.; Hayashi, Y.; Tamura, K.; Kiguchi, K.; Mawatari, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1236-3
By: Takizawa, K.; Kobayashi, T.; Takada, J.; Aoyagi, T.; Kohno, R.; Yazdandoost, K.Y.; Miura, R.; Hamaguchi, K.; Hernandez, M.; Huan-Bang Li;
By: Takizawa, K.; Kobayashi, T.; Takada, J.; Aoyagi, T.; Kohno, R.; Yazdandoost, K.Y.; Miura, R.; Hamaguchi, K.; Hernandez, M.; Huan-Bang Li;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0836-6
By: Tokuda, T.; Sasagawa, K.; Noda, T.; Kitsumoto, C.; Kobayashi, T.; Haruta, M.; Ohta, J.;
By: Tokuda, T.; Sasagawa, K.; Noda, T.; Kitsumoto, C.; Kobayashi, T.; Haruta, M.; Ohta, J.;
2012 / IEEE / 978-0-7695-4661-2
By: Iwamura, M.; Shafait, F.; Toyamaya, T.; Kobayashi, T.; Dengel, A.; Kise, K.;
By: Iwamura, M.; Shafait, F.; Toyamaya, T.; Kobayashi, T.; Dengel, A.; Kise, K.;
2012 / IEEE / 978-2-35500-021-8
By: Kobayashi, T.; Nogami, H.; Itoh, T.; Maeda, R.; Masuda, T.; Zhao Gang; Okada, H.;
By: Kobayashi, T.; Nogami, H.; Itoh, T.; Maeda, R.; Masuda, T.; Zhao Gang; Okada, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2025-2
By: Thangthai, A.; Saychum, S.; Kobayashi, T.; Lamsrichan, P.; Wutiwiwatchai, C.; Thatphithakkul, N.; Janjoi, P.;
By: Thangthai, A.; Saychum, S.; Kobayashi, T.; Lamsrichan, P.; Wutiwiwatchai, C.; Thatphithakkul, N.; Janjoi, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Fujisaki, Y.; Tai, M.; Kinoshita, M.; Anzai, Y.; Minemura, H.; Sasago, Y.; Kusaba, S.; Kobayashi, T.; Yonamoto, Y.; Shima, A.; Mine, T.; Takahama, T.; Morimoto, T.;
By: Fujisaki, Y.; Tai, M.; Kinoshita, M.; Anzai, Y.; Minemura, H.; Sasago, Y.; Kusaba, S.; Kobayashi, T.; Yonamoto, Y.; Shima, A.; Mine, T.; Takahama, T.; Morimoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0979-1
By: Ohkawara, M.; Takakusaki, K.; Sasaki, R.; Kobayashi, T.; Masuda, H.; Yajima, H.;
By: Ohkawara, M.; Takakusaki, K.; Sasaki, R.; Kobayashi, T.; Masuda, H.; Yajima, H.;
2013 / IEEE
By: Kobayashi, T.; Okamoto, K.; Hagiwara, M.; Horiuchi, Y.; Sakurada, S.; Nakamura, T.; Kobayashi, T.; Endo, M.;
By: Kobayashi, T.; Okamoto, K.; Hagiwara, M.; Horiuchi, Y.; Sakurada, S.; Nakamura, T.; Kobayashi, T.; Endo, M.;
2014 / IEEE
By: Kaji, H.; Furukawa, K.; Kusano, S.; Kudou, T.; Okazaki, T.; Tobiyama, M.; Suetake, M.; Satoh, M.; Nakamura, T.T.; Miyahara, F.; Kobayashi, T.; Iwasaki, M.; Kikutani, E.;
By: Kaji, H.; Furukawa, K.; Kusano, S.; Kudou, T.; Okazaki, T.; Tobiyama, M.; Suetake, M.; Satoh, M.; Nakamura, T.T.; Miyahara, F.; Kobayashi, T.; Iwasaki, M.; Kikutani, E.;
2014 / IEEE
By: Borchard, P.; Collins, G.; Moriyama, S.; Kobayashi, T.; Mizuhara, M.; Ives, L.; Neilson, J.;
By: Borchard, P.; Collins, G.; Moriyama, S.; Kobayashi, T.; Mizuhara, M.; Ives, L.; Neilson, J.;
2014 / IEEE
By: Mizuno, T.; Kobayashi, T.; Morioka, T.; Saitoh, K.; Takara, H.; Sano, A.; Kawakami, H.; Nakagawa, T.; Miyamoto, Y.; Abe, Y.; Goh, T.; Oguma, M.; Sakamoto, T.; Sasaki, Y.; Ishida, I.; Takenaga, K.; Matsuo, S.;
By: Mizuno, T.; Kobayashi, T.; Morioka, T.; Saitoh, K.; Takara, H.; Sano, A.; Kawakami, H.; Nakagawa, T.; Miyamoto, Y.; Abe, Y.; Goh, T.; Oguma, M.; Sakamoto, T.; Sasaki, Y.; Ishida, I.; Takenaga, K.; Matsuo, S.;
2013 / IEEE
By: Xu, Z. Z.; Li, R. X.; Kobayashi, T.; Leng, Y. X.; Li, C.; Jiang, Y. L.; Li, F. J.; Liu, J.;
By: Xu, Z. Z.; Li, R. X.; Kobayashi, T.; Leng, Y. X.; Li, C.; Jiang, Y. L.; Li, F. J.; Liu, J.;