Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kobayashi, K.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Nishiwaki, K.; Tamaki, K.; Nagasaka, Y.; Kobayashi, K.; Kikuchi, Y.; Saito, M.;
By: Nishiwaki, K.; Tamaki, K.; Nagasaka, Y.; Kobayashi, K.; Kikuchi, Y.; Saito, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Chida, K.; Gossard, A.C.; Hashisaka, M.; Yamauchi, Y.; Nakamura, S.; Kobayashi, K.; Utsumi, Y.; Saito, K.; Ensslin, K.; Leturcq, R.; Ono, T.;
By: Chida, K.; Gossard, A.C.; Hashisaka, M.; Yamauchi, Y.; Nakamura, S.; Kobayashi, K.; Utsumi, Y.; Saito, K.; Ensslin, K.; Leturcq, R.; Ono, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6581-1
By: Yamane, T.; Kuremoto, T.; Obayashi, M.; Kobayashi, K.; Liangbing Feng;
By: Yamane, T.; Kuremoto, T.; Obayashi, M.; Kobayashi, K.; Liangbing Feng;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Kobayashi, K.; Sakaguchi, T.; Matsutani, A.; Kato, T.; Takanashi, H.; Uenohara, H.;
By: Kobayashi, K.; Sakaguchi, T.; Matsutani, A.; Kato, T.; Takanashi, H.; Uenohara, H.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Kurihara, Y.; Ohkubo, T.; Watanabe, K.; Kobayashi, K.; Takahashi, K.;
By: Kurihara, Y.; Ohkubo, T.; Watanabe, K.; Kobayashi, K.; Takahashi, K.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Kurihara, Y.; Ohkubo, T.; Watanabe, K.; Kobayashi, K.; Komiyama, T.;
By: Kurihara, Y.; Ohkubo, T.; Watanabe, K.; Kobayashi, K.; Komiyama, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Saijo, Y.; Kobayashi, K.; Kubo, K.; Nagaoka, R.; Kudo, Y.; Koike, H.; Kumagai, K.;
By: Saijo, Y.; Kobayashi, K.; Kubo, K.; Nagaoka, R.; Kudo, Y.; Koike, H.; Kumagai, K.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Kurihara, Y.; Kobayashi, K.; Watanabe, K.; Ueda, M.; Negoro, H.;
By: Kurihara, Y.; Kobayashi, K.; Watanabe, K.; Ueda, M.; Negoro, H.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Kiura, T.; Matsumoto, K.; Hirafuji, M.; Suzuki, T.; Kobayashi, K.; Saito, Y.; Sudharsan, D.; Adinarayana, J.; Ninomiya, S.; Yoichi, H.; Hoshi, N.; Nesumi, H.; Itoh, A.; Shibuya, Y.; Tanaka, K.; Fukatsu, T.;
By: Kiura, T.; Matsumoto, K.; Hirafuji, M.; Suzuki, T.; Kobayashi, K.; Saito, Y.; Sudharsan, D.; Adinarayana, J.; Ninomiya, S.; Yoichi, H.; Hoshi, N.; Nesumi, H.; Itoh, A.; Shibuya, Y.; Tanaka, K.; Fukatsu, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1159-6
By: Akimoto, T.; Kobayashi, K.; Goto, T.; Yoshikai, T.; Inaba, M.; Yaguchi, H.;
By: Akimoto, T.; Kobayashi, K.; Goto, T.; Yoshikai, T.; Inaba, M.; Yaguchi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0664-6
By: Inoue, K.; Matsuo, A.; Kobayashi, K.; Yoshino, T.; Kamimura, M.; Hayase, Y.;
By: Inoue, K.; Matsuo, A.; Kobayashi, K.; Yoshino, T.; Kamimura, M.; Hayase, Y.;
2011 / IEEE / 978-2-908849-25-7
By: Kameda, S.; Izuka, N.; Oguma, H.; Tanifuji, S.; Komatsu, K.; Suematsu, N.; Miyake, Y.; Tsubouchi, K.; Kobayashi, K.; Takagi, T.;
By: Kameda, S.; Izuka, N.; Oguma, H.; Tanifuji, S.; Komatsu, K.; Suematsu, N.; Miyake, Y.; Tsubouchi, K.; Kobayashi, K.; Takagi, T.;
2011 / IEEE / 978-89-93215-03-8
By: Uchiyama, S.; Yokoji, Y.; Obayashi, M.; Kobayashi, K.; Kuremoto, T.; Liangbing Feng;
By: Uchiyama, S.; Yokoji, Y.; Obayashi, M.; Kobayashi, K.; Kuremoto, T.; Liangbing Feng;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Douseki, T.; Kobayashi, K.; Yoshioka, H.; Yamanaka, T.; Tanaka, A.;
By: Douseki, T.; Kobayashi, K.; Yoshioka, H.; Yamanaka, T.; Tanaka, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1524-2
By: Okuyama, K.; Tokumasu, A.; Tsukahara, M.; Kobayashi, K.; Nakauchi, Y.; Saitou, K.;
By: Okuyama, K.; Tokumasu, A.; Tsukahara, M.; Kobayashi, K.; Nakauchi, Y.; Saitou, K.;
2012 / IEEE / 978-89-5519-163-9
By: Hatamoto, H.; Kikuchi, N.; Kobayashi, K.; Kitazawa, S.; Shimizu, S.; Nakamoto, N.; Ban, H.; Oka, T.; Hara, M.;
By: Hatamoto, H.; Kikuchi, N.; Kobayashi, K.; Kitazawa, S.; Shimizu, S.; Nakamoto, N.; Ban, H.; Oka, T.; Hara, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0269-2
By: Kawai, E.; Saito, S.; Kanaumi, Y.; Shimojo, S.; Kobayashi, K.; Ishii, S.;
By: Kawai, E.; Saito, S.; Kanaumi, Y.; Shimojo, S.; Kobayashi, K.; Ishii, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Bourdoux, A.; Hartmann, M.; Couvreur, A.; Amin, A.; Appeltans, R.; Cappelle, H.; Raghavan, P.; Min Li; Yomo, H.; Kobayashi, K.; Van der Perre, L.; Dejonghe, A.;
By: Bourdoux, A.; Hartmann, M.; Couvreur, A.; Amin, A.; Appeltans, R.; Cappelle, H.; Raghavan, P.; Min Li; Yomo, H.; Kobayashi, K.; Van der Perre, L.; Dejonghe, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Shibata, H.; Sugizaki, Y.; Furuyama, H.; Hiyama, K.; Kobayashi, K.; Uemura, H.;
By: Shibata, H.; Sugizaki, Y.; Furuyama, H.; Hiyama, K.; Kobayashi, K.; Uemura, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Naito, Y.; Uenohara, H.; Kobayashi, K.; Kato, T.; Fukui, N.; Satoshi, S.;
By: Naito, Y.; Uenohara, H.; Kobayashi, K.; Kato, T.; Fukui, N.; Satoshi, S.;
2014 / IEEE
By: Nakashima, M.; Kobayashi, K.; Ogura, T.; Kawajiri, Y.; Shukuri, S.; Otoi, H.; Shimizu, S.; Ajika, N.; Mihara, M.;
By: Nakashima, M.; Kobayashi, K.; Ogura, T.; Kawajiri, Y.; Shukuri, S.; Otoi, H.; Shimizu, S.; Ajika, N.; Mihara, M.;
2014 / IEEE
By: Onodera, H.; Kanda, S.; Furuta, J.; Manzawa, Y.; Masuda, M.; Kubota, K.; Kobayashi, K.;
By: Onodera, H.; Kanda, S.; Furuta, J.; Manzawa, Y.; Masuda, M.; Kubota, K.; Kobayashi, K.;
2014 / IEEE
By: Hatsui, T.; Okihara, M.; Kinoshita, H.; Watanabe, T.; Ono, S.; Kobayashi, K.; Kudo, T.;
By: Hatsui, T.; Okihara, M.; Kinoshita, H.; Watanabe, T.; Ono, S.; Kobayashi, K.; Kudo, T.;
1988 / IEEE
By: Bui, S.; Yang, D.C.; Esfandiari, R.; Lin, T.S.; O'Neill, T.J.; Kobayashi, K.; Takamoto, J.; Chow, D.;
By: Bui, S.; Yang, D.C.; Esfandiari, R.; Lin, T.S.; O'Neill, T.J.; Kobayashi, K.; Takamoto, J.; Chow, D.;
1988 / IEEE
By: Hayama, M.; Matsumoto, T.; Yamazaki, T.; Takasago, H.; Kobayashi, K.; Sakamoto, H.; Nakagawa, N.;
By: Hayama, M.; Matsumoto, T.; Yamazaki, T.; Takasago, H.; Kobayashi, K.; Sakamoto, H.; Nakagawa, N.;
1988 / IEEE / 0-8186-0872-2
By: Kawagai, K.; Maeguchi, K.; Matsunaga, J.; Sakurai, T.; Kobayashi, T.; Miyoshi, T.; Iizuka, T.; Kobayashi, K.; Shiotari, Y.;
By: Kawagai, K.; Maeguchi, K.; Matsunaga, J.; Sakurai, T.; Kobayashi, T.; Miyoshi, T.; Iizuka, T.; Kobayashi, K.; Shiotari, Y.;
1989 / IEEE
By: Shirotori, T.; Takayanagi, T.; Sakurai, T.; Sawada, K.; Sato, K.; Miyoshi, A.; Hayakashi, Y.; Ando, T.; Kobayashi, K.; Nogami, K.; Maeguchi, K.; Fuji, H.; Matsunaga, J.; Maeda, T.; Iizuka, T.;
By: Shirotori, T.; Takayanagi, T.; Sakurai, T.; Sawada, K.; Sato, K.; Miyoshi, A.; Hayakashi, Y.; Ando, T.; Kobayashi, K.; Nogami, K.; Maeguchi, K.; Fuji, H.; Matsunaga, J.; Maeda, T.; Iizuka, T.;
1989 / IEEE
By: Arima, H.; Terada, Y.; Kobayashi, K.; Miyawaki, Y.; Nakayama, T.; Yoshihara, T.; Matsukawa, T.;
By: Arima, H.; Terada, Y.; Kobayashi, K.; Miyawaki, Y.; Nakayama, T.; Yoshihara, T.; Matsukawa, T.;
1989 / IEEE
By: Yoshihara, T.; Matsukawa, T.; Arima, H.; Ajika, N.; Terada, Y.; Hayashikoshi, M.; Nakayama, T.; Kobayashi, K.; Miyawaki, Y.;
By: Yoshihara, T.; Matsukawa, T.; Arima, H.; Ajika, N.; Terada, Y.; Hayashikoshi, M.; Nakayama, T.; Kobayashi, K.; Miyawaki, Y.;
1989 / IEEE
By: Takeda, M.; Sasaki, M.; Takahashi, H.; Naiki, I.; Matsuyama, Y.; Miyaji, F.; Sugano, Y.; Hirano, K.; Kobayashi, K.; Shimada, T.; Tsumori, T.; Nishiyama, K.; Hagiwara, Y.;
By: Takeda, M.; Sasaki, M.; Takahashi, H.; Naiki, I.; Matsuyama, Y.; Miyaji, F.; Sugano, Y.; Hirano, K.; Kobayashi, K.; Shimada, T.; Tsumori, T.; Nishiyama, K.; Hagiwara, Y.;