Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Klein, N.
Results
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Vitusevich, S.; Cherpak, N.T.; Barannik, A.A.; Gubin, A.I.; Klein, N.; Offenhaeusser, A.;
By: Vitusevich, S.; Cherpak, N.T.; Barannik, A.A.; Gubin, A.I.; Klein, N.; Offenhaeusser, A.;
1989 / IEEE
By: Eujen, R.; Brauer, D.J.; Muller, G.; Peiniger, M.; Hein, M.; Klein, U.; Ponto, L.; Piel, H.; Klein, N.;
By: Eujen, R.; Brauer, D.J.; Muller, G.; Peiniger, M.; Hein, M.; Klein, U.; Ponto, L.; Piel, H.; Klein, N.;
1993 / IEEE
By: Faley, M.I.; Urban, K.; Evers, W.; Schulz, H.; Poppe, U.; Klein, N.; Dahne, U.; Soltner, H.;
By: Faley, M.I.; Urban, K.; Evers, W.; Schulz, H.; Poppe, U.; Klein, N.; Dahne, U.; Soltner, H.;
1995 / IEEE
By: Dahne, U.; Tellmann, N.; Orbach-Werbig, S.; Lenkens, M.; Hensen, S.; Lancaster, M.J.; Porch, A.; Avenhaus, B.; Humphreys, R.; Edwards, J.A.; Stritzker, B.; Karl, H.; Muller, E.; Thomas, O.; Senateur, J.P.; Dubourdieu, C.; Klein, N.;
By: Dahne, U.; Tellmann, N.; Orbach-Werbig, S.; Lenkens, M.; Hensen, S.; Lancaster, M.J.; Porch, A.; Avenhaus, B.; Humphreys, R.; Edwards, J.A.; Stritzker, B.; Karl, H.; Muller, E.; Thomas, O.; Senateur, J.P.; Dubourdieu, C.; Klein, N.;
1995 / IEEE
By: Dahne, U.; Siegel, M.; Jia, C.L.; Poppe, U.; Faley, M.I.; Goncharov, Yu.; Kunkel, G.; Glyantsev, V.N.; Urban, K.; Klein, N.;
By: Dahne, U.; Siegel, M.; Jia, C.L.; Poppe, U.; Faley, M.I.; Goncharov, Yu.; Kunkel, G.; Glyantsev, V.N.; Urban, K.; Klein, N.;
1997 / IEEE
By: Ockenfuss, G.; Wordenweber, R.; Zaitsev, A.G.; Klein, N.; Zuccaro, C.; Konigs, T.; Kutzner, R.;
By: Ockenfuss, G.; Wordenweber, R.; Zaitsev, A.G.; Klein, N.; Zuccaro, C.; Konigs, T.; Kutzner, R.;
1997 / IEEE
By: Klein, N.; Poppe, U.; Schulz, H.; Volkov, O.Y.; Pavlovskii, V.V.; Divin, Y.Y.; Urban, K.;
By: Klein, N.; Poppe, U.; Schulz, H.; Volkov, O.Y.; Pavlovskii, V.V.; Divin, Y.Y.; Urban, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Baumfalk, A.; Hormann, A.; Schrempp, C.; Mayer, B.; Neumann, C.; Chaloupka, H.; Klauda, M.; Klein, N.; Kasser, T.; Schornstein, S.;
By: Baumfalk, A.; Hormann, A.; Schrempp, C.; Mayer, B.; Neumann, C.; Chaloupka, H.; Klauda, M.; Klein, N.; Kasser, T.; Schornstein, S.;
2000 / IEEE
By: Klauda, M.; Kasser, T.; Mayer, B.; Neumann, C.; Schnell, F.; Aminov, B.; Bareiss, M.; Chaloupka, H.; Kolesov, S.; Piel, H.; Klein, N.; Schornstein, S.; Baumfalk, A.;
By: Klauda, M.; Kasser, T.; Mayer, B.; Neumann, C.; Schnell, F.; Aminov, B.; Bareiss, M.; Chaloupka, H.; Kolesov, S.; Piel, H.; Klein, N.; Schornstein, S.; Baumfalk, A.;
2002 / IEEE / 966-7968-12-X
By: Belyaev, A.E.; Konakova, R.V.; Petrychuk, M.V.; Avksentyev, A.Yu.; Danylchenko, B.A.; Vitusevich, S.A.; Klein, N.; Danylyuk, S.V.; Kurakin, A.M.;
By: Belyaev, A.E.; Konakova, R.V.; Petrychuk, M.V.; Avksentyev, A.Yu.; Danylchenko, B.A.; Vitusevich, S.A.; Klein, N.; Danylyuk, S.V.; Kurakin, A.M.;
2003 / IEEE
By: Kang, W.N.; Klein, N.; Lahl, P.; Wordenweber, R.; Jin, B.B.; Hyeong-Jin Kim; Maki, K.; Dahm, T.; Sung-IK Lee; Eun-Mi Choi;
By: Kang, W.N.; Klein, N.; Lahl, P.; Wordenweber, R.; Jin, B.B.; Hyeong-Jin Kim; Maki, K.; Dahm, T.; Sung-IK Lee; Eun-Mi Choi;
2003 / IEEE / 0-7803-8139-4
By: Kochelap, V.A.; Danylyuk, S.V.; Vitusevich, S.A.; Luth, H.; Petrychuk, M.V.; Belyaev, A.E.; Danilchenko, B.A.; Sokolov, V.N.; Avksentyev, A.Yu.; Budnik, A.P.; Zelenskyi, S.E.; Klein, N.;
By: Kochelap, V.A.; Danylyuk, S.V.; Vitusevich, S.A.; Luth, H.; Petrychuk, M.V.; Belyaev, A.E.; Danilchenko, B.A.; Sokolov, V.N.; Avksentyev, A.Yu.; Budnik, A.P.; Zelenskyi, S.E.; Klein, N.;
2005 / IEEE
By: Schuster, M.; Kadlec, F.; Kuzel, P.; Paul, O.; Trautmann, A.; Ruther, P.; Klein, N.;
By: Schuster, M.; Kadlec, F.; Kuzel, P.; Paul, O.; Trautmann, A.; Ruther, P.; Klein, N.;
2004 / IEEE / 981-256-196-X
By: Danylyuk, S.V.; Vitusevich, S.A.; Eastman, L.F.; Vertiatchikh, A.; Belyaev, A.E.; Petrychuk, M.V.; Klein, N.;
By: Danylyuk, S.V.; Vitusevich, S.A.; Eastman, L.F.; Vertiatchikh, A.; Belyaev, A.E.; Petrychuk, M.V.; Klein, N.;
2007 / IEEE / 1-4244-0687-0
By: Pullar, R.C.; Klein, N.; Kuzel, P.; Berta, M.; Alford, N.M.; Kadlec, F.; Poppe, U.; Danylyuk, S.; Romanus, H.;
By: Pullar, R.C.; Klein, N.; Kuzel, P.; Berta, M.; Alford, N.M.; Kadlec, F.; Poppe, U.; Danylyuk, S.; Romanus, H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1956-2
By: Klein, N.; Kurakin, A.M.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Naumov, A.V.; Petrychuk, M.V.;
By: Klein, N.; Kurakin, A.M.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Naumov, A.V.; Petrychuk, M.V.;
2008 / IEEE
By: Kurakin, A.M.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Naumov, A.V.; Petrychuk, M.V.; Klein, N.;
By: Kurakin, A.M.; Vitusevich, S.A.; Belyaev, A.E.; Naumov, A.V.; Petrychuk, M.V.; Klein, N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2643-0
By: Klein, N.; Sian Lun Lau; Droegehorn, O.; Porras, J.; Koenig, I.;
By: Klein, N.; Sian Lun Lau; Droegehorn, O.; Porras, J.; Koenig, I.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2481-8
By: Levin, S.; Klein, N.; Shapira, S.; Eyal, A.; Levy, S.; Fleishon, G.;
By: Levin, S.; Klein, N.; Shapira, S.; Eyal, A.; Levy, S.; Fleishon, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4748-0
By: Klushin, A.M.; Barannik, A.A.; Gubin, A.I.; Klein, N.; Shaforost, E.N.;
By: Klushin, A.M.; Barannik, A.A.; Gubin, A.I.; Klein, N.; Shaforost, E.N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-757-3
By: Vitusevich, S.; Krause, H.; Klein, N.; Shaforost, O.N.; Kurakin, A.; Rongen, H.;
By: Vitusevich, S.; Krause, H.; Klein, N.; Shaforost, O.N.; Kurakin, A.; Rongen, H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-757-3
By: Klein, N.; Krause, H.; Vitusevich, S.; Rongen, H.; Shaforost, O. N.; Kurakin, A.;
By: Klein, N.; Krause, H.; Vitusevich, S.; Rongen, H.; Shaforost, O. N.; Kurakin, A.;