Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Katoh, Y.
Results
2012 / IEEE
By: Takahashi, H.; Agari, K.; Yahata, K.; Katoh, K.; Satoh, Y.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ogata, K.; Kawada, T.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Shirakabe, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.;
By: Takahashi, H.; Agari, K.; Yahata, K.; Katoh, K.; Satoh, Y.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ogata, K.; Kawada, T.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Shirakabe, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.;
2012 / IEEE
By: Takasaki, M.; Toyoda, A.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Suzuki, Y.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Tanaka, K.H.; Hirose, E.; Satoh, Y.; Saijyo, M.; Saitoh, Y.; Kato, K.; Tanaka, H.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.;
By: Takasaki, M.; Toyoda, A.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Suzuki, Y.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Tanaka, K.H.; Hirose, E.; Satoh, Y.; Saijyo, M.; Saitoh, Y.; Kato, K.; Tanaka, H.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.;
2014 / IEEE
By: Suganuma, K.; Tsuruta, K.; Sugiura, K.; Ishino, H.; Park, S. W.; Sugahara, T.; Nagao, S.; Uwataki, R.; Katoh, Y.;
By: Suganuma, K.; Tsuruta, K.; Sugiura, K.; Ishino, H.; Park, S. W.; Sugahara, T.; Nagao, S.; Uwataki, R.; Katoh, Y.;
2014 / IEEE
By: Ozaki, M.; Sawai, K.; Katoh, Y.; Ebihara, Y.; Ieda, A.; Kataoka, R.; Miyoshi, Y.; Shiokawa, K.; Yagitani, S.;
By: Ozaki, M.; Sawai, K.; Katoh, Y.; Ebihara, Y.; Ieda, A.; Kataoka, R.; Miyoshi, Y.; Shiokawa, K.; Yagitani, S.;
1989 / IEEE
By: Shinohara, H.; Yoshimoto, M.; Segawa, H.; Matsumura, T.; Terane, H.; Nakagawa, S.; Maeda, A.; Tabuchi, K.; Iwatsuki, M.; Katoh, Y.; Ohira, H.; Horiba, Y.; Kato, S.;
By: Shinohara, H.; Yoshimoto, M.; Segawa, H.; Matsumura, T.; Terane, H.; Nakagawa, S.; Maeda, A.; Tabuchi, K.; Iwatsuki, M.; Katoh, Y.; Ohira, H.; Horiba, Y.; Kato, S.;
1992 / IEEE / 0-7803-0535-3
By: Katoh, Y.; Saitoh, Y.; Hoijer, M.; Nakanishi, S.; Kamiya, M.; Kojima, Y.;
By: Katoh, Y.; Saitoh, Y.; Hoijer, M.; Nakanishi, S.; Kamiya, M.; Kojima, Y.;
Ytterbium- and neodymium-doped yttrium aluminum garnet channel waveguide laser operating at 1.03 /sp
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5By: Katoh, Y.; Ohishi, Y.; Sugimoto, N.; Sude, S.; Shimokozono, M.; Tate, A.;
1996 / IEEE
By: Terui, H.; Sugimoto, N.; Inoue, Y.; Shibukawa, A.; Tate, A.; Sugita, A.; Yamada, Y.; Katoh, Y.;
By: Terui, H.; Sugimoto, N.; Inoue, Y.; Shibukawa, A.; Tate, A.; Sugita, A.; Yamada, Y.; Katoh, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Nakamura, M.; Sashida, N.; Inoue, K.-i.; Yamazaki, T.; Miyazawa, H.; Kawamura, S.; Furumura, Y.; Nakajima, T.; Ohno, C.; Shinohara, R.; Takai, K.; Noshiro, H.; Katoh, Y.; Kerry, A.; Satomi, R.;
By: Nakamura, M.; Sashida, N.; Inoue, K.-i.; Yamazaki, T.; Miyazawa, H.; Kawamura, S.; Furumura, Y.; Nakajima, T.; Ohno, C.; Shinohara, R.; Takai, K.; Noshiro, H.; Katoh, Y.; Kerry, A.; Satomi, R.;
1992 / IEEE / 0-7803-0479-9
By: Yamamoto, Y.; Sonoda, Y.; Tanaka, S.; Kawai, E.; Buchner, P.; Miura, A.; Katoh, Y.;
By: Yamamoto, Y.; Sonoda, Y.; Tanaka, S.; Kawai, E.; Buchner, P.; Miura, A.; Katoh, Y.;
1992 / IEEE / 4-930813-51-4
By: Xu, C.Q.; Horikawa, H.; Jorna, M.; Kamijoh, T.; Katoh, Y.; Yamada, K.;
By: Xu, C.Q.; Horikawa, H.; Jorna, M.; Kamijoh, T.; Katoh, Y.; Yamada, K.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Miyazawa, H.; Kishii, S.; Arimoto, Y.; Eshita, T.; Misawa, N.; Katoh, Y.;
By: Miyazawa, H.; Kishii, S.; Arimoto, Y.; Eshita, T.; Misawa, N.; Katoh, Y.;
2000 / IEEE
By: Kusano, E.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Yahata, K.; Minakawa, M.; Tsukada, S.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Nuomi, H.;
By: Kusano, E.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Yahata, K.; Minakawa, M.; Tsukada, S.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Nuomi, H.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Katoh, Y.; Ryuoh, T.; Fukuda, S.; Tanno, M.; Tate, A.; Sugimoto, N.; Shimokozono, M.;
By: Katoh, Y.; Ryuoh, T.; Fukuda, S.; Tanno, M.; Tate, A.; Sugimoto, N.; Shimokozono, M.;
2002 / IEEE
By: Sato, Y.; Saitoh, Y.; Agari, K.; Kusano, E.; Tanaka, K.H.; Tanaka, H.; Katoh, K.; Yahata, K.; Minakawa, M.; Tsukada, S.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.;
By: Sato, Y.; Saitoh, Y.; Agari, K.; Kusano, E.; Tanaka, K.H.; Tanaka, H.; Katoh, K.; Yahata, K.; Minakawa, M.; Tsukada, S.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.;
2004 / IEEE
By: Agari, K.; Tsukuda, S.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Tanaka, H.; Kato, K.; Yahata, K.; Saito, N.; Saitoh, Y.; Toyoda, A.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Yamada, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Sato, Y.;
By: Agari, K.; Tsukuda, S.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Tanaka, H.; Kato, K.; Yahata, K.; Saito, N.; Saitoh, Y.; Toyoda, A.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Yamada, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Sato, Y.;
2004 / IEEE
By: Kohama, M.; Kurodai, M.; Hasegawa, T.; Inagaki, T.; Ieiri, M.; Noumi, H.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sakuda, M.; Katoh, Y.; Nishikawa, K.; Nakamura, K.; Minakawa, M.; Maruyama, T.; Kusano, E.;
By: Kohama, M.; Kurodai, M.; Hasegawa, T.; Inagaki, T.; Ieiri, M.; Noumi, H.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sakuda, M.; Katoh, Y.; Nishikawa, K.; Nakamura, K.; Minakawa, M.; Maruyama, T.; Kusano, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Minakawa, M.; Noumi, H.; Inaba, S.; Katoh, Y.; Igarashi, Y.; Ieiri, M.; Hirose, E.; Agari, K.; Sato, Y.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Yamada, Y.; Toyoda, A.; Tanaka, K.; Takasaki, M.; Takahashi, H.; Suzuki, Y.; Saito, M.;
By: Minakawa, M.; Noumi, H.; Inaba, S.; Katoh, Y.; Igarashi, Y.; Ieiri, M.; Hirose, E.; Agari, K.; Sato, Y.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Yamada, Y.; Toyoda, A.; Tanaka, K.; Takasaki, M.; Takahashi, H.; Suzuki, Y.; Saito, M.;
2006 / IEEE
By: Yamanoi, Y.; Ieiri, M.; Minakawa, M.; Sato, Y.; Noumi, H.; Toyoda, A.; Watanabe, T.; Agari, K.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Yahata, K.; Kato, K.; Saitoh, Y.; Ozawa, T.; Tsukada, S.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Yamada, Y.; Katoh, Y.;
By: Yamanoi, Y.; Ieiri, M.; Minakawa, M.; Sato, Y.; Noumi, H.; Toyoda, A.; Watanabe, T.; Agari, K.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Yahata, K.; Kato, K.; Saitoh, Y.; Ozawa, T.; Tsukada, S.; Birumachi, T.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Yamada, Y.; Katoh, Y.;
2006 / IEEE
By: Hirose, E.; Saijyo, M.; Agari, K.; Ieiri, M.; Katoh, Y.; Minakawa, M.; Noumi, H.; Sato, Y.; Suzuki, Y.; Takahashi, H.; Takasaki, M.; Toyoda, A.; Yamada, Y.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Tanaka, H.; Kato, K.; Saitoh, N.; Tanaka, K.H.;
By: Hirose, E.; Saijyo, M.; Agari, K.; Ieiri, M.; Katoh, Y.; Minakawa, M.; Noumi, H.; Sato, Y.; Suzuki, Y.; Takahashi, H.; Takasaki, M.; Toyoda, A.; Yamada, Y.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Tanaka, H.; Kato, K.; Saitoh, N.; Tanaka, K.H.;
2006 / IEEE
By: Hirose, E.; Ieiri, M.; Takahashi, H.; Yahata, K.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Saijo, M.; Yamanoi, Y.; Yamada, Y.; Watanabe, H.; Agari, K.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.;
By: Hirose, E.; Ieiri, M.; Takahashi, H.; Yahata, K.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Saijo, M.; Yamanoi, Y.; Yamada, Y.; Watanabe, H.; Agari, K.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-0137-6
By: Shiode, D.; Uchida, K.; Katoh, Y.; Miyamoto, Y.; Kakihara, T.; Tokai, T.;
By: Shiode, D.; Uchida, K.; Katoh, Y.; Miyamoto, Y.; Kakihara, T.; Tokai, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Wei, Z.; Mikawa, T.; Katayama, K.; Katoh, Y.; Fujii, S.; Mitani, S.; Kanzawa, Y.; Osano, K.; Muraoka, S.; Takagi, T.; Odagawa, A.; Shimakawa, K.; Kawai, K.; Azuma, R.; Kawashima, Y.; Arita, K.;
By: Wei, Z.; Mikawa, T.; Katayama, K.; Katoh, Y.; Fujii, S.; Mitani, S.; Kanzawa, Y.; Osano, K.; Muraoka, S.; Takagi, T.; Odagawa, A.; Shimakawa, K.; Kawai, K.; Azuma, R.; Kawashima, Y.; Arita, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Watanabe, H.; Noumi, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Takahashi, H.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Yamanoi, Y.; Saito, M.; Mitsubishi, T.; Minakwa, M.; Hirose, E.; Katoh, Y.; Inaba, S.; Igarashi, Y.; Leiri, M.; Agari, K.;
By: Watanabe, H.; Noumi, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Takahashi, H.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Yamanoi, Y.; Saito, M.; Mitsubishi, T.; Minakwa, M.; Hirose, E.; Katoh, Y.; Inaba, S.; Igarashi, Y.; Leiri, M.; Agari, K.;
2008 / IEEE
By: Birumachi, T.; Kato, K.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Yahata, K.; Tada, M.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ozawa, T.;
By: Birumachi, T.; Kato, K.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sato, Y.; Yamanoi, Y.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Yahata, K.; Tada, M.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ozawa, T.;
2008 / IEEE
By: Suzuki, Y.; Takasaki, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Sato, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Tanaka, K.H.; Hirose, E.; Saijyo, M.; Saitoh, N.; Katoh, K.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Toyoda, A.;
By: Suzuki, Y.; Takasaki, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Sato, Y.; Katoh, Y.; Ieiri, M.; Agari, K.; Takahashi, H.; Tanaka, K.H.; Hirose, E.; Saijyo, M.; Saitoh, N.; Katoh, K.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Toyoda, A.;
2008 / IEEE
By: Naruki, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Muto, R.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.; Agari, K.; Takahashi, H.; Yahata, K.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Saijo, M.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.;
By: Naruki, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Muto, R.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.; Agari, K.; Takahashi, H.; Yahata, K.; Katoh, K.; Saitoh, Y.; Saijo, M.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Fujii, S.; Katayama, K.; Muraoka, S.; Mitani, S.; Kawai, K.; Katoh, Y.; Arita, K.; Kanzawa, Y.; Wei, Z.; Oshima, M.; Kumigashira, H.; Horiba, K.; Yasuhara, R.; Takagi, T.; Sugaya, H.; Shimakawa, K.; Azuma, R.; Okada, T.; Himeno, A.; Tsuji, K.; Kawashima, Y.; Miyanaga, R.; Ninomiya, T.; Mikawa, T.; Iijima, M.;
By: Fujii, S.; Katayama, K.; Muraoka, S.; Mitani, S.; Kawai, K.; Katoh, Y.; Arita, K.; Kanzawa, Y.; Wei, Z.; Oshima, M.; Kumigashira, H.; Horiba, K.; Yasuhara, R.; Takagi, T.; Sugaya, H.; Shimakawa, K.; Azuma, R.; Okada, T.; Himeno, A.; Tsuji, K.; Kawashima, Y.; Miyanaga, R.; Ninomiya, T.; Mikawa, T.; Iijima, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Ghoniem, N.; Aoyama, A.; Williams, B.; Morley, N.; Katoh, Y.; Sharafat, S.;
By: Ghoniem, N.; Aoyama, A.; Williams, B.; Morley, N.; Katoh, Y.; Sharafat, S.;
2009 / IEEE
By: Katoh, Y.; Suzuki, T.; Sugibayashi, T.; Miura, S.; Saito, S.; Sakimura, N.; Nebashi, R.; Honjo, H.;
By: Katoh, Y.; Suzuki, T.; Sugibayashi, T.; Miura, S.; Saito, S.; Sakimura, N.; Nebashi, R.; Honjo, H.;
2010 / IEEE
By: Takahashi, H.; Yahata, K.; Hirose, E.; Ieiri, M.; Iio, M.; Katoh, Y.; Kiyomichi, A.; Minakawa, M.; Muto, R.; Naruki, M.; Noumi, H.; Sato, Y.; Sawada, S.; Shirakabe, Y.; Suzuki, Y.; Takasaki, M.; Tanaka, K.H.; Toyoda, A.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Ogata, K.; Saijyo, M.; Saitoh, Y.; Katoh, K.; Agari, K.;
By: Takahashi, H.; Yahata, K.; Hirose, E.; Ieiri, M.; Iio, M.; Katoh, Y.; Kiyomichi, A.; Minakawa, M.; Muto, R.; Naruki, M.; Noumi, H.; Sato, Y.; Sawada, S.; Shirakabe, Y.; Suzuki, Y.; Takasaki, M.; Tanaka, K.H.; Toyoda, A.; Watanabe, H.; Yamanoi, Y.; Ogata, K.; Saijyo, M.; Saitoh, Y.; Katoh, K.; Agari, K.;
2010 / IEEE
By: Agari, K.; Yamanoi, Y.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Birumachi, T.; Yahata, K.; Satoh, H.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ozawa, T.; Kato, K.; Iio, M.; Ieiri, M.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Kiyomichi, A.; Katoh, Y.;
By: Agari, K.; Yamanoi, Y.; Takahashi, H.; Hirose, E.; Tanaka, K.H.; Birumachi, T.; Yahata, K.; Satoh, H.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ozawa, T.; Kato, K.; Iio, M.; Ieiri, M.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Kiyomichi, A.; Katoh, Y.;