Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kamiyama, S.
Results
1989 / IEEE
By: Takahashi, Y.; Ogura, M.; Ohnaka, K.; Sasai, Y.; Kamiyama, S.; Hoshina, J.; Mannoh, M.;
By: Takahashi, Y.; Ogura, M.; Ohnaka, K.; Sasai, Y.; Kamiyama, S.; Hoshina, J.; Mannoh, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Ishibashi, A.; Ohta, H.; Kidoguchi, I.; Hoshina, J.; Ban, Y.; Mannoh, M.; Kamiyama, S.; Ohnaka, K.;
By: Ishibashi, A.; Ohta, H.; Kidoguchi, I.; Hoshina, J.; Ban, Y.; Mannoh, M.; Kamiyama, S.; Ohnaka, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Ishibashi, A.; Ohta, H.; Hoshina, J.; Mannoh, M.; Ban, Y.; Kidoguchi, I.; Kamiyama, S.; Ohnaka, K.;
By: Ishibashi, A.; Ohta, H.; Hoshina, J.; Mannoh, M.; Ban, Y.; Kidoguchi, I.; Kamiyama, S.; Ohnaka, K.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Kasai, N.; Tanigawa, T.; Tatsumi, T.; Oshida, M.; Ishitani, A.; Watanabe, H.; Suzuki, H.; Kamiyama, S.; Sakai, A.;
By: Kasai, N.; Tanigawa, T.; Tatsumi, T.; Oshida, M.; Ishitani, A.; Watanabe, H.; Suzuki, H.; Kamiyama, S.; Sakai, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Mori, H.; Shibahara, K.; Koyama, K.; Hamada, T.; Watanabe, H.; Oikawa, R.; Ohnishi, S.; Itoh, K.; Yamashita, H.; Kojima, Y.; Nakajima, K.; Kamiyama, S.;
By: Mori, H.; Shibahara, K.; Koyama, K.; Hamada, T.; Watanabe, H.; Oikawa, R.; Ohnishi, S.; Itoh, K.; Yamashita, H.; Kojima, Y.; Nakajima, K.; Kamiyama, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Fukuhisa, T.; Kamiyama, S.; Adachi, I.; Kidoguchi; Uenoyama, T.; Takamori, A.; Mannoh, P.;
By: Fukuhisa, T.; Kamiyama, S.; Adachi, I.; Kidoguchi; Uenoyama, T.; Takamori, A.; Mannoh, P.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Fukui, K.; Drynan, J.M.; Tanigawa, T.; Yamaguchi, H.; Takenaka, M.; Inoue, K.; Hamada, M.; Nobusawa, H.; Matsumoto, A.; Kamiyama, S.; Ishigami, T.; Sugai, K.;
By: Fukui, K.; Drynan, J.M.; Tanigawa, T.; Yamaguchi, H.; Takenaka, M.; Inoue, K.; Hamada, M.; Nobusawa, H.; Matsumoto, A.; Kamiyama, S.; Ishigami, T.; Sugai, K.;
1992 / IEEE / 4-930813-51-4
By: Ishibashi, A.; Mannoh, M.; Ohnaka, K.; Ban, Y.; Kamiyama, S.; Ohta, H.; Kidoguchi, I.; Hoshina, J.;
By: Ishibashi, A.; Mannoh, M.; Ohnaka, K.; Ban, Y.; Kamiyama, S.; Ohta, H.; Kidoguchi, I.; Hoshina, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-6587-9
By: Kamiyama, S.; Takaso, T.; Gitlin, D.; Hart, M.J.; Nakayama, K.; Lui, K.; Vedagarbha, V.; Lee, J.K.J.; Pagaduan, F.E.;
By: Kamiyama, S.; Takaso, T.; Gitlin, D.; Hart, M.J.; Nakayama, K.; Lui, K.; Vedagarbha, V.; Lee, J.K.J.; Pagaduan, F.E.;
2003 / IEEE / 4-89114-037-2
By: Maeda, T.; Horiuchi, A.; Takada, H.; Tsutsumi, Y.; Torii, K.; Kamiyama, S.; Arikado, T.; Aoyama, T.; Kitajima, H.;
By: Maeda, T.; Horiuchi, A.; Takada, H.; Tsutsumi, Y.; Torii, K.; Kamiyama, S.; Arikado, T.; Aoyama, T.; Kitajima, H.;
2003 / IEEE / 4-89114-037-2
By: Torii, K.; Mitsuhashi, R.; Sasaki, T.; Tamura, Y.; Kitajima, H.; Aoyama, T.; Kamiyama, S.; Arikado, T.;
By: Torii, K.; Mitsuhashi, R.; Sasaki, T.; Tamura, Y.; Kitajima, H.; Aoyama, T.; Kamiyama, S.; Arikado, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Torii, K.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Miyazaki, S.; Tamura, Y.; Kamiyama, S.; Aoyama, T.;
By: Torii, K.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Miyazaki, S.; Tamura, Y.; Kamiyama, S.; Aoyama, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Ida, T.; Aoyama, T.; Kume, S.; Hoshi, T.; Amai, H.; Yasuhira, M.; Ootsuka, F.; Izumi, N.; Sasaki, T.; Tamura, Y.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Torii, K.; Kamiyama, S.;
By: Ida, T.; Aoyama, T.; Kume, S.; Hoshi, T.; Amai, H.; Yasuhira, M.; Ootsuka, F.; Izumi, N.; Sasaki, T.; Tamura, Y.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Torii, K.; Kamiyama, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Honshio, A.; Mishima, S.; Kasugai, H.; Kawashima, T.; Iida, K.; Miyake, Y.; Akasaki, I.; Kamiyama, S.; Amano, H.; Iwaya, M.;
By: Honshio, A.; Mishima, S.; Kasugai, H.; Kawashima, T.; Iida, K.; Miyake, Y.; Akasaki, I.; Kamiyama, S.; Amano, H.; Iwaya, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Kitajima, H.; Miura, T.; Kamiyama, S.; Kobayashi, Y.; Arikado, T.; Torii, K.; Maeda, T.; Aoyama, T.; Yamashita, K.;
By: Kitajima, H.; Miura, T.; Kamiyama, S.; Kobayashi, Y.; Arikado, T.; Torii, K.; Maeda, T.; Aoyama, T.; Yamashita, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Itoh, H.; Kim, W.S.; Aoyama, T.; Kamiyama, S.; Maeda, T.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Torii, K.; Kawahara, T.;
By: Itoh, H.; Kim, W.S.; Aoyama, T.; Kamiyama, S.; Maeda, T.; Arikado, T.; Kitajima, H.; Torii, K.; Kawahara, T.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Nara, Y.; Ootsuka, F.; Ogawa, O.; Kamiyama, S.; Akasaka, Y.; Sasaki, T.; Miyagawa, K.; Shiraishi, K.;
By: Nara, Y.; Ootsuka, F.; Ogawa, O.; Kamiyama, S.; Akasaka, Y.; Sasaki, T.; Miyagawa, K.; Shiraishi, K.;
2005 / IEEE
By: Akasaki, I.; Amano, H.; Iwaya, M.; Miyake, Y.; Honshio, A.; Kamiyama, S.; Mishima, S.; Kasugai, H.; Kawashima, T.; Iida, K.;
By: Akasaki, I.; Amano, H.; Iwaya, M.; Miyake, Y.; Honshio, A.; Kamiyama, S.; Mishima, S.; Kasugai, H.; Kawashima, T.; Iida, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0161-5
By: Watanabe, H.; Nara, Y.; Kamiyama, S.; Torii, K.; Kimura, K.; Uematsu, M.; Shiraishi, K.; Suzuki, M.; Nakajima, K.; Zhao Ming; Yamada, K.; Chikyow, T.;
By: Watanabe, H.; Nara, Y.; Kamiyama, S.; Torii, K.; Kimura, K.; Uematsu, M.; Shiraishi, K.; Suzuki, M.; Nakajima, K.; Zhao Ming; Yamada, K.; Chikyow, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Imura, M.; Nagamatsu, K.; Iida, K.; Kawashima, T.; Okada, N.; Kato, N.; Balakrishnan, K.; Bandoh, A.; Akasaki, I.; Amano, H.; Kamiyama, S.; Iwaya, M.;
By: Imura, M.; Nagamatsu, K.; Iida, K.; Kawashima, T.; Okada, N.; Kato, N.; Balakrishnan, K.; Bandoh, A.; Akasaki, I.; Amano, H.; Kamiyama, S.; Iwaya, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Ono, T.; Sato, M.; Murayama, K.; Kamiyama, S.; Eimori, T.; Morooka, T.;
By: Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Ono, T.; Sato, M.; Murayama, K.; Kamiyama, S.; Eimori, T.; Morooka, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Nara, Y.; Aoyama, T.; Ootuka, M.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Miura, T.; Kamiyama, S.;
By: Nara, Y.; Aoyama, T.; Ootuka, M.; Kitajima, M.; Kurosawa, E.; Miura, T.; Kamiyama, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Miyazaki, S.; Uedono, A.; Yamabe, K.; Chikyow, T.; Adachi, T.; Shiraishi, K.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
By: Miyazaki, S.; Uedono, A.; Yamabe, K.; Chikyow, T.; Adachi, T.; Shiraishi, K.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Eimori, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.;
2009 / IEEE
By: Ono, T.; Eimori, T.; Morooka, T.; Mise, N.; Sato, M.; Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Kamiyama, S.;
By: Ono, T.; Eimori, T.; Morooka, T.; Mise, N.; Sato, M.; Mise, N.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Kamiyama, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2185-5
By: Kamiyama, S.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Mise, N.; Nara, Y.; Matsuki, T.; Eimori, T.; Ohji, Y.; Aoyama, T.; Ono, T.; Sato, M.;
By: Kamiyama, S.; Morooka, T.; Kadoshima, M.; Mise, N.; Nara, Y.; Matsuki, T.; Eimori, T.; Ohji, Y.; Aoyama, T.; Ono, T.; Sato, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Kamiyama, S.; Ishikawa, D.; Kurosawa, E.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Ootuka, M.; Aoyama, T.; Nara, Y.; Kitajima, M.;
By: Kamiyama, S.; Ishikawa, D.; Kurosawa, E.; Nakata, H.; Ohji, Y.; Ootuka, M.; Aoyama, T.; Nara, Y.; Kitajima, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Eimori, T.; Shiraishi, K.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Nakamura, M.; Morooka, T.; Tachibana, A.; Sugino, S.; Arimura, H.; Shimokawa, J.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Nabatame, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Watanabe, H.; Yamabe, K.;
By: Eimori, T.; Shiraishi, K.; Kamiyama, S.; Mise, N.; Nakamura, M.; Morooka, T.; Tachibana, A.; Sugino, S.; Arimura, H.; Shimokawa, J.; Umezawa, N.; Sato, M.; Ohji, Y.; Nara, Y.; Nabatame, T.; Aoyama, T.; Yamada, K.; Watanabe, H.; Yamabe, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Shiraishi, K.; Suzuki, T.; Morooka, T.; Matsuki, T.; Sugita, Y.; Kamiyama, S.; Yamabe, K.; Ohji, Y.; Ikeda, K.; Sato, M.; Yugami, J.; Yamada, K.; Ohmori, K.;
By: Shiraishi, K.; Suzuki, T.; Morooka, T.; Matsuki, T.; Sugita, Y.; Kamiyama, S.; Yamabe, K.; Ohji, Y.; Ikeda, K.; Sato, M.; Yugami, J.; Yamada, K.; Ohmori, K.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Ban, K.; Yamaguchi, M.; Amano, H.; Honda, Y.; Tanikawa, T.; Park, G.J.; Nagata, K.; Akasaki, I.; Kamiyama, S.; Takeuchi, T.; Iwaya, M.; Takeda, K.; Nonaka, K.;
By: Ban, K.; Yamaguchi, M.; Amano, H.; Honda, Y.; Tanikawa, T.; Park, G.J.; Nagata, K.; Akasaki, I.; Kamiyama, S.; Takeuchi, T.; Iwaya, M.; Takeda, K.; Nonaka, K.;