Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kai, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1772-7
By: Shimizu, Y.; Ito, S.; Kang-Won Lee; Kai, Y.; Fukuta, M.; Tanaka, K.; Wei Gao;
By: Shimizu, Y.; Ito, S.; Kang-Won Lee; Kai, Y.; Fukuta, M.; Tanaka, K.; Wei Gao;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
By: Kai, Y.; Shimizu, S.; Ohnakado, T.; Sugihara, I.; Bez, R.; Grossi, A.; Modelli, A.; Khouri, P.O.; Torelli, G.; Campardo, G.; Micheloni, R.; Commodaro, S.; Yero, E.; Zammabio, M.; Mognoni, S.; Sacco, A.; Picca, M.; Manstleita, A.; Scotti, M.; Motta, I.; Golla, C.; Pierin, A.; Ohba, A.; Fulatsuya, T.; Makabe, R.; Kawai, S.;
2000 / IEEE / 1-55752-630-3
By: Kotaki, Y.; Wakao, K.; Seino, M.; Doi, M.; Chikama, T.; Nakazawa, T.; Onaka, H.; Kai, Y.; Kaito, Y.; Miyata, H.; Sakai, Y.; Yonetani, H.; Kunikane, T.; Komiyama, M.;
By: Kotaki, Y.; Wakao, K.; Seino, M.; Doi, M.; Chikama, T.; Nakazawa, T.; Onaka, H.; Kai, Y.; Kaito, Y.; Miyata, H.; Sakai, Y.; Yonetani, H.; Kunikane, T.; Komiyama, M.;
2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Nishimura, K.; Horiuchi, Y.; Inohara, R.; Takenaka, M.; Shimizu, K.; Amin, A.A.; Nakano, Y.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyahara, T.; Onaka, H.; Aoki, Y.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.;
By: Nishimura, K.; Horiuchi, Y.; Inohara, R.; Takenaka, M.; Shimizu, K.; Amin, A.A.; Nakano, Y.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyahara, T.; Onaka, H.; Aoki, Y.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.;
2007 / IEEE
By: Usami, M.; Takita, Y.; Kai, Y.; Aoki, Y.; Onaka, H.; Miyazaki, Y.; Miyahara, T.; Hatta, T.; Motoshima, K.; Kagimoto, T.; Kurobe, T.; Kasukawa, A.; Arimoto, H.; Tsuji, S.; Uetsuka, H.; Nakano, Y.; Amin, A.A.; Shimizu, K.; Takenaka, M.; Tanemura, T.; Inohara, R.; Nishimura, K.; Horiuchi, Y.;
By: Usami, M.; Takita, Y.; Kai, Y.; Aoki, Y.; Onaka, H.; Miyazaki, Y.; Miyahara, T.; Hatta, T.; Motoshima, K.; Kagimoto, T.; Kurobe, T.; Kasukawa, A.; Arimoto, H.; Tsuji, S.; Uetsuka, H.; Nakano, Y.; Amin, A.A.; Shimizu, K.; Takenaka, M.; Tanemura, T.; Inohara, R.; Nishimura, K.; Horiuchi, Y.;
2007 / IEEE / 1-4244-1121-1
By: Takita, Y.; Kai, Y.; Nishimura, K.; Usami, M.; Inohara, R.; Takenaka, M.; Shimizu, K.; Al Amin, A.; Nakano, Y.; Uetsuka, H.; Urino, Y.; Sugimoto, N.; Kageyama, J.; Kondo, Y.; Ono, M.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyazaki, Y.; Miyahara, T.; Onaka, H.;
By: Takita, Y.; Kai, Y.; Nishimura, K.; Usami, M.; Inohara, R.; Takenaka, M.; Shimizu, K.; Al Amin, A.; Nakano, Y.; Uetsuka, H.; Urino, Y.; Sugimoto, N.; Kageyama, J.; Kondo, Y.; Ono, M.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyazaki, Y.; Miyahara, T.; Onaka, H.;
2007 / IEEE / 1-55752-831-4
By: Sato, K.; Akahoshi, T.; Sugama, A.; Onaka, H.; Aoki, S.; Kato, M.; Takita, Y.; Kai, Y.;
By: Sato, K.; Akahoshi, T.; Sugama, A.; Onaka, H.; Aoki, S.; Kato, M.; Takita, Y.; Kai, Y.;
2008 / IEEE
By: Shimizu, K.; Tanemura, T.; Takenaka, M.; Al Amin, A.; Nakano, Y.; Uetsuka, H.; Inohara, R.; Onaka, H.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.; Nishimura, K.;
By: Shimizu, K.; Tanemura, T.; Takenaka, M.; Al Amin, A.; Nakano, Y.; Uetsuka, H.; Inohara, R.; Onaka, H.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.; Nishimura, K.;
2006 / IEEE / 978-89-955301-4-6
By: Al Amin, A.; Shimizu, K.; Nakano, Y.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyahara, T.; Onaka, H.; Aoki, Y.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.; Horiuchi, Y.; Inohara, R.; Nishimura, K.; Takenaka, M.;
By: Al Amin, A.; Shimizu, K.; Nakano, Y.; Motoshima, K.; Hatta, T.; Miyahara, T.; Onaka, H.; Aoki, Y.; Kai, Y.; Takita, Y.; Usami, M.; Horiuchi, Y.; Inohara, R.; Nishimura, K.; Takenaka, M.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-856-8
By: Kai, Y.; Nakagawa, G.; Kinoshita, S.; Sone, K.; Aoki, Y.; Yoshida, S.;
By: Kai, Y.; Nakagawa, G.; Kinoshita, S.; Sone, K.; Aoki, Y.; Yoshida, S.;
2008 / IEEE / 978-0-85825-807-5
By: Sone, K.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Kinoshita, S.; Aoki, Y.;
By: Sone, K.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Kinoshita, S.; Aoki, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2227-2
By: Nakagawa, G.; Aoki, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kai, Y.; Kinoshita, S.;
By: Nakagawa, G.; Aoki, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kai, Y.; Kinoshita, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Yoneyama, T.; Niraula, M.; Agata, Y.; Nakashima, H.; Katoh, D.; Nakanishi, T.; Yasuda, K.; Matsumoto, K.; Oka, H.; Yamada, W.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.;
By: Yoneyama, T.; Niraula, M.; Agata, Y.; Nakashima, H.; Katoh, D.; Nakanishi, T.; Yasuda, K.; Matsumoto, K.; Oka, H.; Yamada, W.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Kinoshita, S.; Yonenaga, K.; Takada, A.; Sakai, Y.; Nakagawa, G.; Yoshida, S.; Kai, Y.; Ono, T.; Mori, K.; Sano, A.; Sone, K.; Aoki, Y.; Yongmei Sun; Inuzuka, F.;
By: Kinoshita, S.; Yonenaga, K.; Takada, A.; Sakai, Y.; Nakagawa, G.; Yoshida, S.; Kai, Y.; Ono, T.; Mori, K.; Sano, A.; Sone, K.; Aoki, Y.; Yongmei Sun; Inuzuka, F.;
2009 / IEEE
By: Katoh, D.; Matsumoto, K.; Nakanishi, T.; Nakashima, H.; Yoneyama, T.; Oka, H.; Agata, Y.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Yamada, W.;
By: Katoh, D.; Matsumoto, K.; Nakanishi, T.; Nakashima, H.; Yoneyama, T.; Oka, H.; Agata, Y.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Yamada, W.;
2009 / IEEE
By: Nakashima, H.; Katoh, D.; Nakanishi, T.; Yoneyama, T.; Matsumoto, K.; Oka, H.; Agata, Y.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Yamada, W.;
By: Nakashima, H.; Katoh, D.; Nakanishi, T.; Yoneyama, T.; Matsumoto, K.; Oka, H.; Agata, Y.; Ichihashi, H.; Kai, Y.; Watanabe, A.; Yasuda, K.; Niraula, M.; Yamada, W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5096-1
By: Kai, Y.; Fukushima, N.; Hironishi, K.; Nakagawa, G.; Kinoshita, S.; Sone, K.; Morito, K.; Tanaka, S.; Aoki, Y.; Yoshida, S.;
By: Kai, Y.; Fukushima, N.; Hironishi, K.; Nakagawa, G.; Kinoshita, S.; Sone, K.; Morito, K.; Tanaka, S.; Aoki, Y.; Yoshida, S.;