Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Johnston, M.D.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Welch, D.R.; Stygar, W.A.; Johnston, M.D.; Oliver, B.V.; Thoma, C.; Clark, R.E.; Mostrom, C.; Genoni, T.C.; Bruner, N.L.; Rose, D.V.;
By: Welch, D.R.; Stygar, W.A.; Johnston, M.D.; Oliver, B.V.; Thoma, C.; Clark, R.E.; Mostrom, C.; Genoni, T.C.; Bruner, N.L.; Rose, D.V.;
1997 / IEEE
By: Everett, J.; Johnston, M.D.; Flukiger, R.; Grasso, G.; Beales, T.P.; LeLay, L.; Friend, C.M.; Caplin, A.D.; Dhalle, M.;
By: Everett, J.; Johnston, M.D.; Flukiger, R.; Grasso, G.; Beales, T.P.; LeLay, L.; Friend, C.M.; Caplin, A.D.; Dhalle, M.;
1997 / IEEE
By: Everett, J.; Johnston, M.D.; Perkins, G.K.; Volkozub, A.V.; Grovenor, C.R.M.; Moore, J.C.; Fox, S.; Hyland, D.; Caplin, A.D.;
By: Everett, J.; Johnston, M.D.; Perkins, G.K.; Volkozub, A.V.; Grovenor, C.R.M.; Moore, J.C.; Fox, S.; Hyland, D.; Caplin, A.D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Luginsland, J.W.; Lemke, R.W.; Lau, Y.Y.; Brake, M.L.; Johnston, M.D.; Keyser, M.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; Spencer, T.A.; Price, D.;
By: Luginsland, J.W.; Lemke, R.W.; Lau, Y.Y.; Brake, M.L.; Johnston, M.D.; Keyser, M.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Anderson, S.A.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Ludeking, L.; Spencer, T.A.; Price, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Lazarides, A.; Doll, G.L.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Qi, B.;
By: Lazarides, A.; Doll, G.L.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Qi, B.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Bogdan Neculaes, V.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.; Jordan, D.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
By: Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Bogdan Neculaes, V.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.; Jordan, D.W.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Spencer, T.A.; Jones, M.C.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.;
By: Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Spencer, T.A.; Jones, M.C.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Gilgenbach, R.M.; Qi, B.; Lau, Y.Y.; Lazarides, A.; Jones, M.C.; Doll, G.L.; Johnston, M.D.;
By: Gilgenbach, R.M.; Qi, B.; Lau, Y.Y.; Lazarides, A.; Jones, M.C.; Doll, G.L.; Johnston, M.D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7231-X
By: Jones, R.; Zurek, R.; Graf, J.; Mateer, B., III; Jai, B.; Johnston, M.D.; Eisen, H.;
By: Jones, R.; Zurek, R.; Graf, J.; Mateer, B., III; Jai, B.; Johnston, M.D.; Eisen, H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Jones, M.C.; Lopez, M.R.; Lau, Y.Y.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Johnston, M.D.; Spencer, T.A.;
By: Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Lemke, R.W.; Haworth, M.; Luginsland, J.W.; Jones, M.C.; Lopez, M.R.; Lau, Y.Y.; Jordan, D.W.; Neculaes, V.B.; Johnston, M.D.; Spencer, T.A.;
2002 / IEEE
By: Price, D.; Lopez, M.R.; Haworth, M.D.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Bogdan Neculaes, V.; Lemke, R.W.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.A.; Jordan, D.W.; Gilgenbach, R.M.;
By: Price, D.; Lopez, M.R.; Haworth, M.D.; Luginsland, J.W.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Bogdan Neculaes, V.; Lemke, R.W.; Jones, M.C.; Peters, C.W.; Miyake, H.; Keyser, M.W.; Johnston, M.D.; Anderson, S.A.; Jordan, D.W.; Gilgenbach, R.M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7911-X
By: Spencer, T.A.; Luginsland, J.W.; Johnston, M.D.; Pengvanich, P.; Strickler, T.S.; Lau, Y.Y.; White, W.M.; Jones, M.C.; Neculaes, V.B.; Lopez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Murphy, T.A.; Mardahl, P.J.; Cartwright, K.L.; Haworth, M.D.;
By: Spencer, T.A.; Luginsland, J.W.; Johnston, M.D.; Pengvanich, P.; Strickler, T.S.; Lau, Y.Y.; White, W.M.; Jones, M.C.; Neculaes, V.B.; Lopez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Price, D.; Murphy, T.A.; Mardahl, P.J.; Cartwright, K.L.; Haworth, M.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Gilgenbach, R.M.; Neculaes, V.B.; Price, D.; Murphy, T.; Mardahl, P.; Cartwright, K.; Haworth, M.; Luginsland, J.; Spencer, T.A.; Strickler, T.; Johnston, M.D.; Pengvanich, P.; Lau, Y.Y.; White, W.; Jones, M.; Lopez, M.;
By: Gilgenbach, R.M.; Neculaes, V.B.; Price, D.; Murphy, T.; Mardahl, P.; Cartwright, K.; Haworth, M.; Luginsland, J.; Spencer, T.A.; Strickler, T.; Johnston, M.D.; Pengvanich, P.; Lau, Y.Y.; White, W.; Jones, M.; Lopez, M.;
2004 / IEEE
By: Luginsland, J.W.; Price, D.; Cartwright, K.L.; Haworth, M.D.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Mardahl, P.J.; Neculaes, V.B.; Strickler, T.S.; Johnston, M.D.; Jordan, D.W.; White, W.M.; Jones, M.C.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
By: Luginsland, J.W.; Price, D.; Cartwright, K.L.; Haworth, M.D.; Spencer, T.A.; Yue Ying Lau; Mardahl, P.J.; Neculaes, V.B.; Strickler, T.S.; Johnston, M.D.; Jordan, D.W.; White, W.M.; Jones, M.C.; Gilgenbach, R.M.; Lopez, M.R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Johnston, M.D.; Strickler, T.S.;
By: Mehlhorn, T.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Johnston, M.D.; Strickler, T.S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Gomez, M.R.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.S.; Zier, J.; Johnston, M.D.; Mazarakis, M.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.;
By: Gomez, M.R.; Lau, Y.Y.; Gilgenbach, R.M.; Strickler, T.S.; Zier, J.; Johnston, M.D.; Mazarakis, M.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Maenchen, J.E.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Rovang, D.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Johnston, M.D.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.;
By: Maenchen, J.E.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Rovang, D.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Johnston, M.D.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; McLean, J.; Cooper, G.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Hahn, K.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.;
By: Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; McLean, J.; Cooper, G.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Hahn, K.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Rose, D.V.; Welch, D.R.; Portillo, S.; Johnston, M.D.; Genoni, T.C.; Hahn, K.; Oliver, B.V.; Bruner, N.;
By: Rose, D.V.; Welch, D.R.; Portillo, S.; Johnston, M.D.; Genoni, T.C.; Hahn, K.; Oliver, B.V.; Bruner, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Gilgenbach, R.M.; Jones, M.C.; Strickler, T.S.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.E.; Melhorn, T.A.; Lau, Y.Y.;
By: Gilgenbach, R.M.; Jones, M.C.; Strickler, T.S.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.E.; Melhorn, T.A.; Lau, Y.Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Cooper, G.; Cordova, S.; Bruner, N.; Puetz, E.; Gregerson, D.; Van De Valde, D.; Rovang, D.; Welch, D.; Portillo, S.; O'Malley, J.; Oliver, B.; Molina, I.; McLean, J.; Maenchen, J.; Johnston, M.D.; Hahn, K.; Droemer, D.;
By: Cooper, G.; Cordova, S.; Bruner, N.; Puetz, E.; Gregerson, D.; Van De Valde, D.; Rovang, D.; Welch, D.; Portillo, S.; O'Malley, J.; Oliver, B.; Molina, I.; McLean, J.; Maenchen, J.; Johnston, M.D.; Hahn, K.; Droemer, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Rose, D.V.; Rovang, D.; Molina, I.; McLean, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Portillo, S.; Cooper, G.; Bruner, N.; Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Hahn, K.; Ziska, D.; Van De Valde, D.;
By: Rose, D.V.; Rovang, D.; Molina, I.; McLean, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Portillo, S.; Cooper, G.; Bruner, N.; Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Hahn, K.; Ziska, D.; Van De Valde, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Droemer, D.; Maron, Y.; Maenchen, J.; Portillo, S.; Rovang, D.; Hahn, K.; Johnston, M.D.;
By: Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Droemer, D.; Maron, Y.; Maenchen, J.; Portillo, S.; Rovang, D.; Hahn, K.; Johnston, M.D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: McLean, J.; Van De Valde, D.; Bruner, N.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Cooper, G.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hahn, K.;
By: McLean, J.; Van De Valde, D.; Bruner, N.; Rose, D.; Oliver, B.; Welch, D.; Cooper, G.; Schamiloglu, E.; Rovang, D.; Portillo, S.; Molina, I.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Hahn, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Droemer, D.; Johnston, M.D.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Welch, D.; Maron, Y.; Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.;
By: Droemer, D.; Johnston, M.D.; Maenchen, J.; Hahn, K.; Welch, D.; Maron, Y.; Schamiloglu, E.; Rose, D.; Oliver, B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Maron, Y.; Starbird, R.L.; Droemer, D.W.; Rose, D.V.;
By: Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Welch, D.R.; Maron, Y.; Starbird, R.L.; Droemer, D.W.; Rose, D.V.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Maron, Y.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Heathcote, A.; Maenchen, J.E.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Mehlhorn, T.A.;
By: Maron, Y.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Heathcote, A.; Maenchen, J.E.; Droemer, D.; Bruner, N.; Rose, D.V.; Welch, D.R.; Mehlhorn, T.A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Leckbee, J.; Oliver, B.V.; Portillo, S.; Johnston, M.D.; Rovang, D.C.; Hahn, K.; Cordova, S.; Molina, I.;
By: Leckbee, J.; Oliver, B.V.; Portillo, S.; Johnston, M.D.; Rovang, D.C.; Hahn, K.; Cordova, S.; Molina, I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Oliver, B.V.; Maenchen, J.E.; Johnston, M.D.; Rovang, D.C.; McLean, J.; Portillo, S.; Welch, D.R.; Cooper, G.M.; Rose, D.V.; Bruner, N.; Puetz, E.;
By: Oliver, B.V.; Maenchen, J.E.; Johnston, M.D.; Rovang, D.C.; McLean, J.; Portillo, S.; Welch, D.R.; Cooper, G.M.; Rose, D.V.; Bruner, N.; Puetz, E.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Zier, J.C.; Gomez, M.R.; Cuneo, M.E.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Mehlhorn, T.A.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.; Gilgenbach, R.M.;
By: Zier, J.C.; Gomez, M.R.; Cuneo, M.E.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.; Mehlhorn, T.A.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.; Gilgenbach, R.M.;
2008 / IEEE
By: Zier, J.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Gilgenbach, R.M.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.W.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.;
By: Zier, J.; Gomez, M.R.; French, D.M.; Gilgenbach, R.M.; Mazarakis, M.G.; Tang, W.W.; Cuneo, M.E.; Mehlhorn, T.A.; Johnston, M.D.; Lau, Y.Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Bruner, N.; McLean, J.; Cooper, G.; Bittlestone, D.J.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Molina, I.; Leckbee, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.;
By: Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Bruner, N.; McLean, J.; Cooper, G.; Bittlestone, D.J.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Molina, I.; Leckbee, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Oliver, B.V.; Hahn, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Critchley, A.; Heathcote, A.; Stambulchik, E.; Bernshtam, V.; Mehlhorn, T.A.; Klodzh, E.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.;
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Portillo, S.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Critchley, A.; Heathcote, A.; Stambulchik, E.; Bernshtam, V.; Mehlhorn, T.A.; Klodzh, E.; Maron, Y.; Droemer, D.; Bruner, N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Jordan, N.; Cruz, E.; French, D.; Hoff, B.W.; Tang, W.; Zier, J.; Gomez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Sinebryukhov, V.A.; Kim, A.A.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.; Mazarakis, M.G.; Lau, Y.Y.;
By: Jordan, N.; Cruz, E.; French, D.; Hoff, B.W.; Tang, W.; Zier, J.; Gomez, M.R.; Gilgenbach, R.M.; Sinebryukhov, V.A.; Kim, A.A.; Mehlhorn, T.A.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Cuneo, M.; Mazarakis, M.G.; Lau, Y.Y.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Johnston, M.D.; Webb, T.; Molina, I.; Leckbee, J.J.; Cordova, S.R.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Threadgold, J.; Jones, A.; Heathcoat, A.; Crotch, I.; Critchley, A.; Clough, S.; Ziska, D.; Portillo, S.; Welch, D.R.; Rose, D.V.;
By: Johnston, M.D.; Webb, T.; Molina, I.; Leckbee, J.J.; Cordova, S.R.; Oliver, B.V.; Hahn, K.; Threadgold, J.; Jones, A.; Heathcoat, A.; Crotch, I.; Critchley, A.; Clough, S.; Ziska, D.; Portillo, S.; Welch, D.R.; Rose, D.V.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Oliver, B.V.; Leckbee, J.J.; Bui, B.; Portillo, S.; Hahn, K.D.; Johnston, M.D.;
By: Oliver, B.V.; Leckbee, J.J.; Bui, B.; Portillo, S.; Hahn, K.D.; Johnston, M.D.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-3887-7
By: Schmitz, P.; Signori, G.; Varghese, P.; Thomas, R.C.; McSmith, G.W.; Martin-Mur, T.J.; Kornfeld, R.P.; Johnston, M.D.; Jai, B.; Ilott, P.A.; Guinn, J.R.; Gladden, R.E.; Erickson, J.K.; Bruvold, K.N.; Edwards, C.D.;
By: Schmitz, P.; Signori, G.; Varghese, P.; Thomas, R.C.; McSmith, G.W.; Martin-Mur, T.J.; Kornfeld, R.P.; Johnston, M.D.; Jai, B.; Ilott, P.A.; Guinn, J.R.; Gladden, R.E.; Erickson, J.K.; Bruvold, K.N.; Edwards, C.D.;
2010 / IEEE
By: Threadgold, J.R.; Ziska, D.; Molina, I.; Leckbee, J.J.; Gignac, R.E.; Crotch, I.; Cordova, S.R.; Welch, D.R.; Webb, T.J.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Bruner, N.; Hahn, K.D.; Portillo, S.;
By: Threadgold, J.R.; Ziska, D.; Molina, I.; Leckbee, J.J.; Gignac, R.E.; Crotch, I.; Cordova, S.R.; Welch, D.R.; Webb, T.J.; Oliver, B.V.; Johnston, M.D.; Bruner, N.; Hahn, K.D.; Portillo, S.;