Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Johnson, F.G.
Results
1997 / IEEE
By: Stone, D.R.; Wilson, R.A.; Dagenais, M.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.; Tabatabaei, S.A.; Merritt, S.A.; Chen, Y.J.; Porkolab, G.A.;
By: Stone, D.R.; Wilson, R.A.; Dagenais, M.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.; Tabatabaei, S.A.; Merritt, S.A.; Chen, Y.J.; Porkolab, G.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
By: Cho, S.H.; Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.; Nam, K.; Hovinen, M.; Lu, C.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Nam, K.; Heim, P.; Fan, Z.F.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Cho, S.H.;
By: Nam, K.; Heim, P.; Fan, Z.F.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Cho, S.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Wenhua Lin; Yen-Ping Ho; Hryniewicz, J.V.; Stone, D.R.; Tabatabaei, S.A.; Towner, F.J.; Liu, Y.C.; Johnson, F.G.; Shih-Hsiang Hsu; Agarwala, S.;
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Wenhua Lin; Yen-Ping Ho; Hryniewicz, J.V.; Stone, D.R.; Tabatabaei, S.A.; Towner, F.J.; Liu, Y.C.; Johnson, F.G.; Shih-Hsiang Hsu; Agarwala, S.;
1997 / IEEE
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
By: Hovinen, M.; Lu, C.C.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Nam, K.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Vusirikala, V.;
1997 / IEEE
By: Seiferth, F.; Stone, D.R.; Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Johnson, F.G.; Fox, S.; Merritt, S.A.; Whaley, R.D.;
By: Seiferth, F.; Stone, D.R.; Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Johnson, F.G.; Fox, S.; Merritt, S.A.; Whaley, R.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Stone, D.R.; Degenais, M.; Gopalan, B.; Whaley, R.D.; Gomez, R.D.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.;
By: Stone, D.R.; Degenais, M.; Gopalan, B.; Whaley, R.D.; Gomez, R.D.; King, O.; Johnson, F.G.; Agarwala, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Fox, S.; Whaley, R.D.; Stone, D.R.; Merritt, S.A.; Johnson, F.G.; Seiferth, F.;
By: Dagenais, M.; Chen, Y.J.; Fox, S.; Whaley, R.D.; Stone, D.R.; Merritt, S.A.; Johnson, F.G.; Seiferth, F.;
1997 / IEEE
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
By: Bartolo, R.E.; Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agarwala, S.; Whaley, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Agrawala, S.; Whaley, R.; Stone, D.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Vusirikala, V.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Tabatabaei, S.A.; Hsu, S.-H.; Chen, Y.J.; Stone, D.R.; Agarwala, S.; Cho, P.; Hrynlewicz, J.V.; Johnson, F.G.;
By: Tabatabaei, S.A.; Hsu, S.-H.; Chen, Y.J.; Stone, D.R.; Agarwala, S.; Cho, P.; Hrynlewicz, J.V.; Johnson, F.G.;
1997 / IEEE
By: Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Whaley, R.D.; Agarwala, S.; Bartolo, R.E.;
By: Saini, S.S.; Vusirikala, V.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Whaley, R.D.; Agarwala, S.; Bartolo, R.E.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Song, J.H.; Cho, S.H.; Heim, P.J.S.; Johnson, F.G.; Fan, Z.F.; Sirkis, J.; Sivanesan, P.;
By: Dagenais, M.; Song, J.H.; Cho, S.H.; Heim, P.J.S.; Johnson, F.G.; Fan, Z.F.; Sirkis, J.; Sivanesan, P.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
By: Dagenais, M.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Vusirikala, V.; Fox, S.; Cho, S.H.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Stone, D.R.; Chen, Y.J.; Hryniewicz, J.V.; King, O.; Johnson, F.G.; Tabatanaei, S.A.; Agarwala, S.; Shih-Hsiang Hsu;
By: Stone, D.R.; Chen, Y.J.; Hryniewicz, J.V.; King, O.; Johnson, F.G.; Tabatanaei, S.A.; Agarwala, S.; Shih-Hsiang Hsu;
1998 / IEEE / 0-7503-0556-8
By: Chen, Y.J.; Towner, F.J.; Hryniewicz, J.V.; Agarwala, S.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Tabatabaei, S.A.; Shih-Hsiang Hsu;
By: Chen, Y.J.; Towner, F.J.; Hryniewicz, J.V.; Agarwala, S.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Tabatabaei, S.A.; Shih-Hsiang Hsu;
1998 / IEEE
By: Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Song, J.H.;
By: Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Song, J.H.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Cho, P.S.; Shih-Hsiang Hsu; Stone, D.R.; Chen, Y.J.; Lowry, C.W.; Hryniewicz, J.V.; King, O.; Johnson, F.G.; Tabatabael, S.A.;
By: Cho, P.S.; Shih-Hsiang Hsu; Stone, D.R.; Chen, Y.J.; Lowry, C.W.; Hryniewicz, J.V.; King, O.; Johnson, F.G.; Tabatabael, S.A.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
By: Hu, Y.; Song, J.H.; Fox, S.; Cho, S.H.; Dagenais, M.; Fan, Z.F.; Bugge, F.; Erbert, G.; Stone, D.; Johnson, F.G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Simonis, G.; Johnson, F.G.; Whaley, R., Jr.; Wasiczko, L.;
By: Koley, B.; Dagenais, M.; Simonis, G.; Johnson, F.G.; Whaley, R., Jr.; Wasiczko, L.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Cho, S.H.; Hu, Y.; Dagenais, M.; Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Song, J.H.;
By: Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Cho, S.H.; Hu, Y.; Dagenais, M.; Heim, P.J.S.; Fan, Z.F.; Song, J.H.;
1999 / IEEE
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
By: Dagenais, M.; Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Saini, S.S.; Stone, D.; Johnson, F.G.; Bartolo, R.E.; Heim, P.J.S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Grover, R.; Zhou, W.; Hu, Y.; Dilli, Z.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.;
By: Grover, R.; Zhou, W.; Hu, Y.; Dilli, Z.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.;
2000 / IEEE
By: Heim, P.J.S.; Cho, S.H.; Han, I.K.; Dagenais, M.; Woo, D.H.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Kim, S.H.;
By: Heim, P.J.S.; Cho, S.H.; Han, I.K.; Dagenais, M.; Woo, D.H.; Johnson, F.G.; Song, J.H.; Kim, S.H.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Zhu, Y.; Dagenais, M.; King, O.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Johnson, F.G.;
By: Zhou, W.; Pamulapati, J.; Shen, H.; Zhu, Y.; Dagenais, M.; King, O.; Ren, T.; Saini, S.S.; Bartolo, R.E.; Johnson, F.G.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Cho, P.S.; Hsiao-Yun Yu; Johnson, F.G.; Heim, P.; Mandelberg, H.; Goldhar, J.; Dagenais, M.; Stone, D.R.;
By: Cho, P.S.; Hsiao-Yun Yu; Johnson, F.G.; Heim, P.; Mandelberg, H.; Goldhar, J.; Dagenais, M.; Stone, D.R.;
2000 / IEEE
By: Han, I.K.; Cho, S.H.; Song, J.H.; Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Heim, P.J.S.;
By: Han, I.K.; Cho, S.H.; Song, J.H.; Dagenais, M.; Hu, Y.; Stone, D.R.; Johnson, F.G.; Heim, P.J.S.;
2000 / IEEE
By: Shaw, H.C.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Ott, M.N.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.;
By: Shaw, H.C.; Johnson, F.G.; Hu, Y.; Saini, S.S.; Dagenais, M.; Stone, D.R.; Ott, M.N.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Safwat, A.M.R.; Kim, J.; Lee, C.H.; Yang, C.H.; Johnson, W.B.; Johnson, F.G.;
By: Safwat, A.M.R.; Kim, J.; Lee, C.H.; Yang, C.H.; Johnson, W.B.; Johnson, F.G.;
2001 / IEEE
By: Ritter, K.J.; Johnson, F.G.; Ho, P.-T.; Little, B.E.; Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.;
By: Ritter, K.J.; Johnson, F.G.; Ho, P.-T.; Little, B.E.; Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Saini, S.S.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.; Stone, D.R.;
By: Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Saini, S.S.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.; Stone, D.R.;
Integrated 1/spl times/2 loss-less Y-junction splitter on a passive active resonant coupler platform
2000 / IEEE / 1-55752-634-6By: Saini, S.S.; Pamulapati, J.; Zhou, W.; Shen, H.; Stone, D.R.; Hu, Y.; Johnson, F.G.; Dagenais, M.; Grover, R.; Dilli, Z.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Ho, P.-T.; Johnson, F.G.; Little, B.E.; Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.;
By: Ho, P.-T.; Johnson, F.G.; Little, B.E.; Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Johnson, F.G.; Calhoun, L.C.; Ibrahim, T.; Asil, P.P.; Hryniewicz, J.V.; Van, V.; Grover, R.; Ho, P.-T.;
By: Johnson, F.G.; Calhoun, L.C.; Ibrahim, T.; Asil, P.P.; Hryniewicz, J.V.; Van, V.; Grover, R.; Ho, P.-T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Ibrahim, T.A.; Ho, P.-T.; Goldhar, J.; Grover, R.; Van, V.; Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Ritter, K.;
By: Ibrahim, T.A.; Ho, P.-T.; Goldhar, J.; Grover, R.; Van, V.; Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Ritter, K.;
2002 / IEEE
By: Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Ritter, K.; Ibrahim, T.A.; Grover, R.; Van, V.; Ho, P.-T.; Goldhar, J.;
By: Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Ritter, K.; Ibrahim, T.A.; Grover, R.; Van, V.; Ho, P.-T.; Goldhar, J.;
2002 / IEEE
By: Hryniewicz, J.V.; Johnson, F.G.; Calhoun, L.C.; Absil, P.P.; Ho, P.-T.; Van, V.; Ibrahim, T.A.; Grover, R.;
By: Hryniewicz, J.V.; Johnson, F.G.; Calhoun, L.C.; Absil, P.P.; Ho, P.-T.; Van, V.; Ibrahim, T.A.; Grover, R.;
2004 / IEEE
By: Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.; Chu, S.T.; Little, B.E.; Trakalo, M.; Johnson, F.G.; King, O.; Van, V.; Gill, D.; Seiferth, F.;
By: Hryniewicz, J.V.; Absil, P.P.; Chu, S.T.; Little, B.E.; Trakalo, M.; Johnson, F.G.; King, O.; Van, V.; Gill, D.; Seiferth, F.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Seiferth, F.; King, O.; Gill, D.; Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Trakalo, M.; Hryniewicz, J.V.; Van, V.; Little, B.E.; Chu, S.T.; Shanton, J.;
By: Seiferth, F.; King, O.; Gill, D.; Johnson, F.G.; Absil, P.P.; Trakalo, M.; Hryniewicz, J.V.; Van, V.; Little, B.E.; Chu, S.T.; Shanton, J.;