Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Johnson, D.E.
Results
1989 / IEEE
By: Herrup, D.A.; McInturff, A.D.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Johnson, D.E.; Syphers, M.J.; Hanft, R.W.; Tollestrup, A.V.; Johnson, R.P.; Brown, B.C.;
By: Herrup, D.A.; McInturff, A.D.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Johnson, D.E.; Syphers, M.J.; Hanft, R.W.; Tollestrup, A.V.; Johnson, R.P.; Brown, B.C.;
1989 / IEEE
By: Lamm, M.J.; Brown, B.C.; Hanft, R.W.; Tollestrup, A.V.; Johnson, R.P.; Kuchnir, M.; Syphers, M.J.; Herrup, D.A.; Johnson, D.E.; McInturff, A.D.;
By: Lamm, M.J.; Brown, B.C.; Hanft, R.W.; Tollestrup, A.V.; Johnson, R.P.; Kuchnir, M.; Syphers, M.J.; Herrup, D.A.; Johnson, D.E.; McInturff, A.D.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Hendricks, B.; Goderre, G.; Siergiej, D.; Gelfand, N.M.; Finley, D.; Hsueh, S.Y.; Herrup, D.; Saritepe, S.; Koepke, K.; Joshel, R.; Johnson, R.P.; Johnson, D.E.;
By: Hendricks, B.; Goderre, G.; Siergiej, D.; Gelfand, N.M.; Finley, D.; Hsueh, S.Y.; Herrup, D.; Saritepe, S.; Koepke, K.; Joshel, R.; Johnson, R.P.; Johnson, D.E.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Gelfand, N.; Goderre, G.; Finley, D.; Annala, G.; Ankenbrandt, C.; Herrup, D.A.; Siergiej, D.; Saritepe, S.; Pruss, S.; Koepke, K.; Joshel, R.; Johnson, R.P.; Johnson, D.E.; Hendricks, B.;
By: Gelfand, N.; Goderre, G.; Finley, D.; Annala, G.; Ankenbrandt, C.; Herrup, D.A.; Siergiej, D.; Saritepe, S.; Pruss, S.; Koepke, K.; Joshel, R.; Johnson, R.P.; Johnson, D.E.; Hendricks, B.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Johnson, R.P.; Hendricks, B.; Goderre, G.; Johnson, D.E.; Joshel, R.;
By: Johnson, R.P.; Hendricks, B.; Goderre, G.; Johnson, D.E.; Joshel, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Ozelis, J.P.; Coulter, K.J.; Delchamps, S.; Jaffery, T.S.; Kinney, W.; Lamm, M.J.; Strait, J.; Wake, M.; Fortunato, D.; Johnson, D.E.; Koska, W.;
By: Ozelis, J.P.; Coulter, K.J.; Delchamps, S.; Jaffery, T.S.; Kinney, W.; Lamm, M.J.; Strait, J.; Wake, M.; Fortunato, D.; Johnson, D.E.; Koska, W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Leung, E.M.; Kolonko, J.J.; Green, M.A.; Johnson, D.E.; Madura, D.D.; Cline, D.B.; Garren, A.A.; Schachinger, L.C.;
By: Leung, E.M.; Kolonko, J.J.; Green, M.A.; Johnson, D.E.; Madura, D.D.; Cline, D.B.; Garren, A.A.; Schachinger, L.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Johnson, D.E.; Michelotti, L.; Holt, J.A.; Gelfand, N.; Holmes, S.D.; Mishra, C.S.;
By: Johnson, D.E.; Michelotti, L.; Holt, J.A.; Gelfand, N.; Holmes, S.D.; Mishra, C.S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Baiod, R.; Walbridge, D.G.C.; Ostiguy, J.-F.; Martin, P.S.; Harding, D.J.; DiMarco, J.E.; Johnson, D.E.;
By: Baiod, R.; Walbridge, D.G.C.; Ostiguy, J.-F.; Martin, P.S.; Harding, D.J.; DiMarco, J.E.; Johnson, D.E.;
1999 / IEEE
By: Johnson, D.E.; Damerau, F.J.; Apte, C.; Weiss, S.M.; Hampp, T.; Goetz, T.; Oles, F.J.;
By: Johnson, D.E.; Damerau, F.J.; Apte, C.; Weiss, S.M.; Hampp, T.; Goetz, T.; Oles, F.J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Johnson, D.E.; Flora, R.H.; Capista, D.P.; Brown, B.C.; Wu, G.; Martin, K.S.;
By: Johnson, D.E.; Flora, R.H.; Capista, D.P.; Brown, B.C.; Wu, G.; Martin, K.S.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Kobilarcik, T.; Johnstone, J.; Johnson, D.E.; Moore, C.; Murphy, C.T.;
By: Kobilarcik, T.; Johnstone, J.; Johnson, D.E.; Moore, C.; Murphy, C.T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Johnson, D.E.; Yang, M.J.; Volk, J.T.; Pruss, S.M.; Foster, G.W.; Mishra, C.S.; Jackson, G.P.; Gattuso, C.; Brown, B.C.;
By: Johnson, D.E.; Yang, M.J.; Volk, J.T.; Pruss, S.M.; Foster, G.W.; Mishra, C.S.; Jackson, G.P.; Gattuso, C.; Brown, B.C.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Syphers, M.; Piekarz, H.; Oleck, A.R.; Mishra, C.S.; Johnstone, C.J.; Johnson, D.E.; Yang, M.J.; Hu, M.; Gattuso, C.; Foster, G.W.; Anderson, T.G.; Marchionni, A.;
By: Syphers, M.; Piekarz, H.; Oleck, A.R.; Mishra, C.S.; Johnstone, C.J.; Johnson, D.E.; Yang, M.J.; Hu, M.; Gattuso, C.; Foster, G.W.; Anderson, T.G.; Marchionni, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Volk, J.T.; Mishra, C.S.; Johnson, D.E.; Gattuso, C.; Glass, H.D.; Foster, G.W.; Yang, M.-J.;
By: Volk, J.T.; Mishra, C.S.; Johnson, D.E.; Gattuso, C.; Glass, H.D.; Foster, G.W.; Yang, M.-J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1381-2
By: Chiou, D.; Zheng Xu; Johnson, D.E.; Reinhart, W.H.; Patil, N.; Joonsoo Kim; Dam Sunwoo;
By: Chiou, D.; Zheng Xu; Johnson, D.E.; Reinhart, W.H.; Patil, N.; Joonsoo Kim; Dam Sunwoo;
2007 / IEEE / 0-7695-3047-8
By: Reinhart, W.; Patil, N.A.; Joonsoo Kim; Dam Sunwoo; Johnson, D.E.; Angepat, H.; Chiou, D.; Keefe, J.;
By: Reinhart, W.; Patil, N.A.; Joonsoo Kim; Dam Sunwoo; Johnson, D.E.; Angepat, H.; Chiou, D.; Keefe, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Tartaglia, M.; Robotham, W.F.; Kourbanis, I.; Kashikhin, V.S.; Johnson, D.E.; Glass, H.D.; Harding, D.J.; DiMarco, J.; Chou, W.; Carson, J.A.; Brown, B.C.; Bartelson, L.;
By: Tartaglia, M.; Robotham, W.F.; Kourbanis, I.; Kashikhin, V.S.; Johnson, D.E.; Glass, H.D.; Harding, D.J.; DiMarco, J.; Chou, W.; Carson, J.A.; Brown, B.C.; Bartelson, L.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Adamson, P.; Brown, B.C.; Ming-Jen Yang; Morris, D.K.; Kourbanis, I.; Johnson, D.E.; Capista, D.;
By: Adamson, P.; Brown, B.C.; Ming-Jen Yang; Morris, D.K.; Kourbanis, I.; Johnson, D.E.; Capista, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Mokhov, N.V.; Kourbanis, I.; Johnson, D.E.; Koba, K.; Rakhno, I.L.; Brown, B.C.; Drozhdin, A.I.; Sidorov, V.I.;
By: Mokhov, N.V.; Kourbanis, I.; Johnson, D.E.; Koba, K.; Rakhno, I.L.; Brown, B.C.; Drozhdin, A.I.; Sidorov, V.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Liaw, C.-J.; Yoon, P.; Johnson, D.E.; Beebe-Wang, J.; Raparia, D.;
By: Liaw, C.-J.; Yoon, P.; Johnson, D.E.; Beebe-Wang, J.; Raparia, D.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1693-6
By: Johnson, D.E.; Reinhart, W.; Patil, N.A.; Joonsoo Kim; Angepat, H.; Dam Sunwoo; Chiou, D.;
By: Johnson, D.E.; Reinhart, W.; Patil, N.A.; Joonsoo Kim; Angepat, H.; Dam Sunwoo; Chiou, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0298-3
By: Tan, H.Z.; Johnson, D.E.; Provancher, W.R.; Doxon, A.J.; Jaeyoung Park;
By: Tan, H.Z.; Johnson, D.E.; Provancher, W.R.; Doxon, A.J.; Jaeyoung Park;