Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Johansson, A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-6252-0
By: Wei Shen; Johansson, A.; Tingting Zhang; Donghua Xie; Youzhi Xu;
By: Wei Shen; Johansson, A.; Tingting Zhang; Donghua Xie; Youzhi Xu;
2011 / IEEE / 978-88-903482-3-5
By: Johansson, A.; Tengstrand, G.; Bosser, L.; Grandin, J.; Andersson, V.; Andersson, B.; Benvenuti, D.; Hultman, P.;
By: Johansson, A.; Tengstrand, G.; Bosser, L.; Grandin, J.; Andersson, V.; Andersson, B.; Benvenuti, D.; Hultman, P.;
2011 / IEEE / 978-88-903482-3-5
By: Bosser, L.; Grandin, J.-F.; Hultman, P.; Benvenuti, D.; Andersson, B.; Andersson, V.; Tengstrand, G.; Johansson, A.;
By: Bosser, L.; Grandin, J.-F.; Hultman, P.; Benvenuti, D.; Andersson, B.; Andersson, V.; Tengstrand, G.; Johansson, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1180-0
By: Johansson, A.; Rohani, B.; Bayley, T.; Zepernick, H.-J.; Caldera, M.;
By: Johansson, A.; Rohani, B.; Bayley, T.; Zepernick, H.-J.; Caldera, M.;
2014 / IEEE
By: Sroka, R.; Herms, J.; Goetz, M.; Goebel, W.; Stepp, H.; Ruhm, A.; Johansson, A.; Hennig, G.;
By: Sroka, R.; Herms, J.; Goetz, M.; Goebel, W.; Stepp, H.; Ruhm, A.; Johansson, A.; Hennig, G.;
2013 / IEEE
By: Kauranen, M.; Pettersson, M.; Ahlskog, M.; Myllyperkio, P.; Johansson, A.; Herranen, O.; Huttunen, M. J.; Bautista, G.;
By: Kauranen, M.; Pettersson, M.; Ahlskog, M.; Myllyperkio, P.; Johansson, A.; Herranen, O.; Huttunen, M. J.; Bautista, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-5908-9
By: Johansson, A.; Boustedt, K.; Baldwin, D.F.; Baynham, G.; Elenius, P.; Patterson, D.; Wennerholm, C.;
By: Johansson, A.; Boustedt, K.; Baldwin, D.F.; Baynham, G.; Elenius, P.; Patterson, D.; Wennerholm, C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6482-1
By: Johansson, A.; Wennerholm, C.; Boustedt, K.; Mattsson, F.; Kandelid, S.; Patterson, D.; Baldwin, D.F.; Baynham, G.; Balkan, H.; Elenius, P.;
By: Johansson, A.; Wennerholm, C.; Boustedt, K.; Mattsson, F.; Kandelid, S.; Patterson, D.; Baldwin, D.F.; Baynham, G.; Balkan, H.; Elenius, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Tcherbakoff, O.; L'Huillier, A.; Johansson, A.; Mauritsson, J.; Lopez-Martens, R.; Constant, E.; Pluntridge, J.; Zair, A.; Mevel, E.;
By: Tcherbakoff, O.; L'Huillier, A.; Johansson, A.; Mauritsson, J.; Lopez-Martens, R.; Constant, E.; Pluntridge, J.; Zair, A.; Mevel, E.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Johansson, A.; Axelsson, J.; Svensson, J.; Andersson-Engels, S.; Svanberg, K.; Bendsoe, N.;
By: Johansson, A.; Axelsson, J.; Svensson, J.; Andersson-Engels, S.; Svanberg, K.; Bendsoe, N.;
2007 / IEEE / 1-4244-1089-4
By: Johansson, A.; Leisner, P.; Shamaev, A.; Paldyaev, N.; Belov, V.; Belov, I.;
By: Johansson, A.; Leisner, P.; Shamaev, A.; Paldyaev, N.; Belov, V.; Belov, I.;
1980 / IEEE
By: Hughes, E. B.; Hofstadter, R.; Schneid, E.; Favale, A.; Mayer-Hasselwander, H.; Sommer, M.; Rothermel, H.; Pinkau, K.; Thompson, D. J.; Ross, R. W.; Kniffen, D. A.; Hartman, R. C.; Fichtel, C. E.; Ehrmann, C. H.; Cruickshank, W. J.; Johansson, A.; Rolfe, J.; Bertsch, D. L.;
By: Hughes, E. B.; Hofstadter, R.; Schneid, E.; Favale, A.; Mayer-Hasselwander, H.; Sommer, M.; Rothermel, H.; Pinkau, K.; Thompson, D. J.; Ross, R. W.; Kniffen, D. A.; Hartman, R. C.; Fichtel, C. E.; Ehrmann, C. H.; Cruickshank, W. J.; Johansson, A.; Rolfe, J.; Bertsch, D. L.;
1980 / IEEE
By: Campbell, L.; Wilson, S.; Beron, B. L.; Johansson, A.; Eichler, R.; Hughes, E. B.; Hofstadter, R.; Gorodetsky, P.;
By: Campbell, L.; Wilson, S.; Beron, B. L.; Johansson, A.; Eichler, R.; Hughes, E. B.; Hofstadter, R.; Gorodetsky, P.;
1981 / IEEE
By: Fohlman, J.; Sundqvist, B.; Kamensky, I.; Johansson, A.; Hakansson, P.; Peterson, P.;
By: Fohlman, J.; Sundqvist, B.; Kamensky, I.; Johansson, A.; Hakansson, P.; Peterson, P.;
2007 / IEEE / 978-0-9789217-3-6
By: Andersson-Engels, S.; Svensson, T.; Svanberg, S.; Johansson, J.; Johansson, A.; Axelsson, J.;
By: Andersson-Engels, S.; Svensson, T.; Svanberg, S.; Johansson, J.; Johansson, A.; Axelsson, J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2174-9
By: Leinhard, O.D.; Borga, M.; Lundberg, P.; Nystrom, F.; Smedby, O.; Rydell, J.; Johansson, A.;
By: Leinhard, O.D.; Borga, M.; Lundberg, P.; Nystrom, F.; Smedby, O.; Rydell, J.; Johansson, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4159-4
By: Belov, I.; Lindgren, M.; Leisner, P.; Gunnarsson, N.; Danielsson, T.; Johansson, A.;
By: Belov, I.; Lindgren, M.; Leisner, P.; Gunnarsson, N.; Danielsson, T.; Johansson, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8331-0
By: Moe, J.; Gunnarsson, F.; Johansson, A.; Dahlen, A.; Kallin, H.; Rimhagen, T.;
By: Moe, J.; Gunnarsson, F.; Johansson, A.; Dahlen, A.; Kallin, H.; Rimhagen, T.;