Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Jensen, N.
Results
2012 / IEEE
By: Jensen, N.; Johnsson, D.; Bychikhin, S.; Mamanee, W.; Pogany, D.; Gornik, E.; Stecher, M.;
By: Jensen, N.; Johnsson, D.; Bychikhin, S.; Mamanee, W.; Pogany, D.; Gornik, E.; Stecher, M.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
1993 / IEEE
By: Stubkjaer, K.E.; Durhuus, T.; Jensen, N.; Jorgensen, C.G.; Mikkelsen, B.; Fernier, B.; Doussiere, P.;
By: Stubkjaer, K.E.; Durhuus, T.; Jensen, N.; Jorgensen, C.G.; Mikkelsen, B.; Fernier, B.; Doussiere, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Stecher, M.; Groos, G.; Denison, M.; Jensen, N.; Gornik, E.; Dubec, V.; Kuzmik, J.; Bychikhin, S.; Pogany, D.;
By: Stecher, M.; Groos, G.; Denison, M.; Jensen, N.; Gornik, E.; Dubec, V.; Kuzmik, J.; Bychikhin, S.; Pogany, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7649-8
By: Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Bychikhin, S.; Pogany, D.; Stecher, M.;
By: Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Bychikhin, S.; Pogany, D.; Stecher, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7876-8
By: Pogany, D.; Dubec, V.; Stecher, M.; Jensen, N.; Gornik, E.; Silber, D.; Blaho, M.; Denison, M.; Joos, J.;
By: Pogany, D.; Dubec, V.; Stecher, M.; Jensen, N.; Gornik, E.; Silber, D.; Blaho, M.; Denison, M.; Joos, J.;
2003 / IEEE
By: Jensen, N.; Bychikhin, S.; Dubec, V.; Kuzmik, J.; Denison, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Stecher, M.; Groos, G.;
By: Jensen, N.; Bychikhin, S.; Dubec, V.; Kuzmik, J.; Denison, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Stecher, M.; Groos, G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.; Ciappa, M.; Barlini, D.; Stecher, M.; Corvasce, C.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Gnani, E.; Reggiani, S.;
By: Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.; Ciappa, M.; Barlini, D.; Stecher, M.; Corvasce, C.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Gnani, E.; Reggiani, S.;
2005 / IEEE
By: Strzalkoswi, B.; Rudolf, R.; Denison, M.; Jensen, N.; Stecher, M.; Lorenz, L.; Muenzer, M.N.;
By: Strzalkoswi, B.; Rudolf, R.; Denison, M.; Jensen, N.; Stecher, M.; Lorenz, L.; Muenzer, M.N.;
2005 / IEEE
By: Fichtner, W.; Ciappa, M.; Barlini, D.; Corvasce, C.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Denison, M.; Reggiani, S.; Stecher, M.; Gnani, E.; Groos, G.; Jensen, N.;
By: Fichtner, W.; Ciappa, M.; Barlini, D.; Corvasce, C.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Denison, M.; Reggiani, S.; Stecher, M.; Gnani, E.; Groos, G.; Jensen, N.;
2005 / IEEE
By: Baccarani, G.; Groos, G.; Rudan, M.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Stecher, M.; Bychikhin, S.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Pogany, D.; Kuzmik, J.;
By: Baccarani, G.; Groos, G.; Rudan, M.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Stecher, M.; Bychikhin, S.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Pogany, D.; Kuzmik, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Pogany, D.; Reggiani, S.; Kuzmik, J.; Bychikhin, S.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Gnani, E.;
By: Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Gornik, E.; Pogany, D.; Reggiani, S.; Kuzmik, J.; Bychikhin, S.; Baccarani, G.; Rudan, M.; Gnani, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Barlini, D.; Corvasce, C.; Rudan, M.; Baccarani, G.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Ciappa, M.; Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.;
By: Barlini, D.; Corvasce, C.; Rudan, M.; Baccarani, G.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Ciappa, M.; Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.;
2006 / IEEE
By: Barlini, D.; Corvasce, C.; Rudan, M.; Baccarani, G.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Ciappa, M.; Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.;
By: Barlini, D.; Corvasce, C.; Rudan, M.; Baccarani, G.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Ciappa, M.; Stecher, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Denison, M.; Fichtner, W.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Pogany, D.; Kuzmik, J.; Denison, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Stecher, M.; Gornik, E.;
By: Pogany, D.; Kuzmik, J.; Denison, M.; Groos, G.; Jensen, N.; Stecher, M.; Gornik, E.;