Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Jenkins, P.P.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Walters, R.J.; Lumb, M.P.; Tischler, J.G.; Gonzalez, M.; Abell, J.; Jenkins, P.P.; Stavrinou, P.; Chan, N.; Adams, J.G.J.; Ekins-Daukes, N.; Yakes, M.K.;
By: Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Walters, R.J.; Lumb, M.P.; Tischler, J.G.; Gonzalez, M.; Abell, J.; Jenkins, P.P.; Stavrinou, P.; Chan, N.; Adams, J.G.J.; Ekins-Daukes, N.; Yakes, M.K.;
1991 / IEEE / 0-87942-636-5
By: Brinker, D.J.; Swartz, C.K.; Curtis, H.B.; Weinberg, I.; Faur, M.; Jenkins, P.P.;
By: Brinker, D.J.; Swartz, C.K.; Curtis, H.B.; Weinberg, I.; Faur, M.; Jenkins, P.P.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Hoffman, R.W., Jr.; Fatemi, N.S.; Brinker, D.J.; Wilt, D.M.; Lowe, R.; Jenkins, P.P.;
By: Hoffman, R.W., Jr.; Fatemi, N.S.; Brinker, D.J.; Wilt, D.M.; Lowe, R.; Jenkins, P.P.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Faur, F.; Faur, M.; Wilt, D.M.; Goradia, M.; Jenkins, P.P.; Flood, D.J.;
By: Faur, F.; Faur, M.; Wilt, D.M.; Goradia, M.; Jenkins, P.P.; Flood, D.J.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Wilt, D.M.; Fatemi, N.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Scheiman, D.A.; Brinker, D.; Jenkins, P.P.;
By: Wilt, D.M.; Fatemi, N.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Scheiman, D.A.; Brinker, D.; Jenkins, P.P.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Brinker, D.J.; Faur, M.; Goradia, C.; Flood, D.J.; Faur, M.; Goradia, M.; Wilt, D.M.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Bailey, S.; Moulot, J.;
By: Brinker, D.J.; Faur, M.; Goradia, C.; Flood, D.J.; Faur, M.; Goradia, M.; Wilt, D.M.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Bailey, S.; Moulot, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3547-3
By: Scheiman, D.; Wilt, D.M.; Garverick, L.M.; Jenkins, P.P.; Lowe, R.A.; Hoffman, R.W., Jr.; Fatemi, N.S.;
By: Scheiman, D.; Wilt, D.M.; Garverick, L.M.; Jenkins, P.P.; Lowe, R.A.; Hoffman, R.W., Jr.; Fatemi, N.S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3166-4
By: Fatemi, N.S.; Wilt, D.M.; Jain, R.K.; Landis, G.A.; Hoffman, R.W., Jr.; Jenkins, P.P.;
By: Fatemi, N.S.; Wilt, D.M.; Jain, R.K.; Landis, G.A.; Hoffman, R.W., Jr.; Jenkins, P.P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3166-4
By: Ringel, S.A.; Scheiman, D.A.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Davis, W.; Brinker, D.J.; Hoffman, R.W., Jr.; Wilt, D.M.; Weizer, V.G.;
By: Ringel, S.A.; Scheiman, D.A.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Davis, W.; Brinker, D.J.; Hoffman, R.W., Jr.; Wilt, D.M.; Weizer, V.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Brinker, D.; Scheiman, D.; Murray, C.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Riley, D.; Weizer, V.G.; Jenkins, P.P.; Wilt, D.M.; Fatemi, N.S.;
By: Brinker, D.; Scheiman, D.; Murray, C.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Riley, D.; Weizer, V.G.; Jenkins, P.P.; Wilt, D.M.; Fatemi, N.S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Walters, R.J.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Messenger, S.R.; Weizer, V.G.; Brinker, D.J.; Wilt, D.M.; Scheiman, D.A.; Ringel, S.A.; Stan, M.A.;
By: Walters, R.J.; Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Messenger, S.R.; Weizer, V.G.; Brinker, D.J.; Wilt, D.M.; Scheiman, D.A.; Ringel, S.A.; Stan, M.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Appelbaum, J.; Baraona, C.R.; Landis, G.A.; Jenkins, P.P.; Segalov, T.;
By: Appelbaum, J.; Baraona, C.R.; Landis, G.A.; Jenkins, P.P.; Segalov, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4515-0
By: Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Wilt, D.M.; Riley, D.R.; Murray, C.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Weizer, V.G.;
By: Jenkins, P.P.; Fatemi, N.S.; Wilt, D.M.; Riley, D.R.; Murray, C.S.; Hoffman, R.W., Jr.; Weizer, V.G.;
2000 / IEEE / 0-7803-5772-8
By: Scheiman, D.A.; Khan, O.; Pal, A.M.; Weizer, V.G.; Smith, M.A.; Sinharoy, S.; Jenkins, P.P.;
By: Scheiman, D.A.; Khan, O.; Pal, A.M.; Weizer, V.G.; Smith, M.A.; Sinharoy, S.; Jenkins, P.P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7471-1
By: Jenkins, P.P.; Scheiman, D.A.; Snyder, D.B.; Blankenship, K.S.; Rieke, W.J.;
By: Jenkins, P.P.; Scheiman, D.A.; Snyder, D.B.; Blankenship, K.S.; Rieke, W.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8707-4
By: Wilt, D.M.; Pal, A.M.T.; Prokop, N.F.; Ringel, S.A.; Andre, Cl.; Fitzgerald, E.A.; Scheiman, D.A.; Jenkins, P.P.; Maurer, W.F.; McElroy, B.; Smith, M.A.;
By: Wilt, D.M.; Pal, A.M.T.; Prokop, N.F.; Ringel, S.A.; Andre, Cl.; Fitzgerald, E.A.; Scheiman, D.A.; Jenkins, P.P.; Maurer, W.F.; McElroy, B.; Smith, M.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-8707-4
By: Messenger, S.R.; Rabinovich, W.S.; Murphy, J.L.; Gilbreath, G.C.; Summers, G.P.; Warner, J.H.; Lorentzen, J.R.; Smith, M.A.; Jenkins, P.P.; Walters, R.J.; Krasowski, M.J.; Wilt, D.M.;
By: Messenger, S.R.; Rabinovich, W.S.; Murphy, J.L.; Gilbreath, G.C.; Summers, G.P.; Warner, J.H.; Lorentzen, J.R.; Smith, M.A.; Jenkins, P.P.; Walters, R.J.; Krasowski, M.J.; Wilt, D.M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Fitzgerald, E.A.; Ringel, S.A.; Wilt, D.M.; Walters, R.; Jenkins, P.P.;
By: Fitzgerald, E.A.; Ringel, S.A.; Wilt, D.M.; Walters, R.; Jenkins, P.P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0016-3
By: Garner, J.C.; Lam, S.N.; Krasowski, M.J.; Greer, L.C.; Piszczor, M.F.; Wilt, D.M.; Flatico, J.M.; Jenkins, P.P.; Walters, R.J.; Bruninga, C.D.R.R.; Messenger, S.R.; Lorentzen, J.R.; Warner, J.H.; Ruth, R.E.; Braun, W.R.; Vasquez, J.A.;
By: Garner, J.C.; Lam, S.N.; Krasowski, M.J.; Greer, L.C.; Piszczor, M.F.; Wilt, D.M.; Flatico, J.M.; Jenkins, P.P.; Walters, R.J.; Bruninga, C.D.R.R.; Messenger, S.R.; Lorentzen, J.R.; Warner, J.H.; Ruth, R.E.; Braun, W.R.; Vasquez, J.A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1640-0
By: Walters, R.J.; Jenkins, P.P.; Warner, J.H.; Messenger, S.R.; Lorentzen, J.R.;
By: Walters, R.J.; Jenkins, P.P.; Warner, J.H.; Messenger, S.R.; Lorentzen, J.R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5892-9
By: Seiler, S.W.; Davis, J.F.; Newlander, C.D.; Horton, R.; Lorentzen, J.R.; Fisher, J.H.; Fournier, K.B.; Walters, R.J.; Trautz, K.M.; Jenkins, P.P.; Eskenazi, M.I.; Cho, B.; Rekow, V.;
By: Seiler, S.W.; Davis, J.F.; Newlander, C.D.; Horton, R.; Lorentzen, J.R.; Fisher, J.H.; Fournier, K.B.; Walters, R.J.; Trautz, K.M.; Jenkins, P.P.; Eskenazi, M.I.; Cho, B.; Rekow, V.;