Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ivanov, E.N.
Results
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Reshitnyk, Y.; Farr, W.; Fan, Y.; le Floch, J.; Benmessai, K.; Duty, T.L.; Creedon, D.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Martinis, J.M.;
By: Reshitnyk, Y.; Farr, W.; Fan, Y.; le Floch, J.; Benmessai, K.; Duty, T.L.; Creedon, D.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Martinis, J.M.;
2012 / IEEE
By: Parker, S.R.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.; Le Floch, J.-M.; Bara, R.; Ivanov, E.N.; Hartnett, J.G.;
By: Parker, S.R.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.; Le Floch, J.-M.; Bara, R.; Ivanov, E.N.; Hartnett, J.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-3728-X
By: Woode, R.A.; Tobar, M.E.; Ivanov, E.N.; Stockwell, P.R.; Searls, J.H.; McNeilage, C.;
By: Woode, R.A.; Tobar, M.E.; Ivanov, E.N.; Stockwell, P.R.; Searls, J.H.; McNeilage, C.;
2000 / IEEE / 0-7803-5838-4
By: Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.;
By: Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.;
2001 / IEEE
By: Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.;
By: Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.;
Design of a cryogenic dual-mode resonator for a fly-wheel oscillator for a cesium frequency standard
2001 / IEEE / 0-7803-7028-7By: Ivanov, E.N.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.; Bilski, P.; Cros, D.;
2001 / IEEE
By: Udem, T.; Diddams, S.A.; Hollberg, L.; Ivanov, E.N.; Curtis, E.A.; Oates, C.W.; Robinson, H.G.; Wineland, D.J.; Drullinger, R.E.; Itano, W.M.; Rafac, R.J.; Bergquist, J.C.;
By: Udem, T.; Diddams, S.A.; Hollberg, L.; Ivanov, E.N.; Curtis, E.A.; Oates, C.W.; Robinson, H.G.; Wineland, D.J.; Drullinger, R.E.; Itano, W.M.; Rafac, R.J.; Bergquist, J.C.;
2002 / IEEE / 0-7803-7242-5
By: Piquet, O.; Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Locke, C.R.; Cros, D.;
By: Piquet, O.; Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Locke, C.R.; Cros, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7082-1
By: Tobar, M.E.; Locke, C.R.; Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Hamilton, G.L.;
By: Tobar, M.E.; Locke, C.R.; Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Hamilton, G.L.;
2003 / IEEE / 0-7803-7688-9
By: Hartnett, J.G.; Hamilton, G.L.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Cros, D.; Ivanov, E.N.;
By: Hartnett, J.G.; Hamilton, G.L.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Cros, D.; Ivanov, E.N.;
2004 / IEEE / 0-7803-8414-8
By: Green, D.M.; Stockwell, P.R.; Ivanov, E.N.; Searls, J.H.; McNeilage, C.; Mossamaparast, M.;
By: Green, D.M.; Stockwell, P.R.; Ivanov, E.N.; Searls, J.H.; McNeilage, C.; Mossamaparast, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8414-8
By: Hartnett, J.G.; Anstie, J.D.; Stanwix, P.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.;
By: Hartnett, J.G.; Anstie, J.D.; Stanwix, P.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.;
2004 / IEEE / 0-7803-8414-8
By: Tobar, M.E.; Stanwix, P.L.; Wolf, P.; van Kann, F.; Hartnett, J.G.; Susli, M.; Ivanov, E.N.; Winterflood, J.;
By: Tobar, M.E.; Stanwix, P.L.; Wolf, P.; van Kann, F.; Hartnett, J.G.; Susli, M.; Ivanov, E.N.; Winterflood, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8981-6
By: McFerran, J.J.; Bartels, A.; Diddams, S.A.; Hollberg, L.; Oates, C.W.; Wilpers, G.; Ivanov, E.N.;
By: McFerran, J.J.; Bartels, A.; Diddams, S.A.; Hollberg, L.; Oates, C.W.; Wilpers, G.; Ivanov, E.N.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Santarelli, G.; Bize, S.; Luiten, A.N.; Stanwix, P.L.; Hartnett, J.G.; Wolf, P.; Locke, C.R.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Clairon, A.;
By: Santarelli, G.; Bize, S.; Luiten, A.N.; Stanwix, P.L.; Hartnett, J.G.; Wolf, P.; Locke, C.R.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Clairon, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Torrealba, J.A.; Cros, D.; le Floch, J.-M.; Hartnett, J.G.; Locke, C.R.;
By: Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Torrealba, J.A.; Cros, D.; le Floch, J.-M.; Hartnett, J.G.; Locke, C.R.;
2006 / IEEE
By: Bize, S.; Santarelli, G.; Lawn, M.A.; Fisk, P.T.H.; Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Luiten, A.N.; Hartnett, J.G.; Stanwix, P.L.; Locke, C.R.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Guillemot, P.; Clairon, A.; Wolf, P.;
By: Bize, S.; Santarelli, G.; Lawn, M.A.; Fisk, P.T.H.; Warrington, R.B.; Wouters, M.J.; Luiten, A.N.; Hartnett, J.G.; Stanwix, P.L.; Locke, C.R.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Guillemot, P.; Clairon, A.; Wolf, P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0074-0
By: Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Fowler, A.C.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.; Wolf, P.; Locke, C.R.;
By: Hartnett, J.G.; Ivanov, E.N.; Fowler, A.C.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.; Wolf, P.; Locke, C.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Benabid, F.; Light, P.S.; Luiten, A.N.; Ivanov, E.N.; McFerran, J.J.; Fortier, T.M.; Locke, C.R.;
By: Benabid, F.; Light, P.S.; Luiten, A.N.; Ivanov, E.N.; McFerran, J.J.; Fortier, T.M.; Locke, C.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Hartnett, J.G.; Fowler, A.C.; Ivanov, E.N.; Stanwix, P.L.; Miao, M.M.; le Floch, J.-M.; Tobar, M.E.; Wolf, P.;
By: Hartnett, J.G.; Fowler, A.C.; Ivanov, E.N.; Stanwix, P.L.; Miao, M.M.; le Floch, J.-M.; Tobar, M.E.; Wolf, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Ivanov, E.N.; Locke, C.R.; Hartnett, J.G.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.;
By: Ivanov, E.N.; Locke, C.R.; Hartnett, J.G.; Stanwix, P.L.; Tobar, M.E.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6401-2
By: Mouneyrac, D.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Tobar, M.E.; Le Floch, J.;
By: Mouneyrac, D.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Tobar, M.E.; Le Floch, J.;