Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ito, H.
Results
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Osabe, R.; Shindo, T.; Futami, M.; Okumura, T.; Ito, H.; Arai, S.; Nishiyama, N.; Amemiya, T.; Koguchi, T.;
By: Osabe, R.; Shindo, T.; Futami, M.; Okumura, T.; Ito, H.; Arai, S.; Nishiyama, N.; Amemiya, T.; Koguchi, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1118-3
By: Miura, T.; Yasaki, K.; Guo, Z.; Nakamura, Y.; Ito, H.; Nimura, K.;
By: Miura, T.; Yasaki, K.; Guo, Z.; Nakamura, Y.; Ito, H.; Nimura, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Chiba, T.; Endo, H.; Ito, H.; Naito, H.; Sakemi, Y.; Narita, S.; Yoshida, H.; Nishibori, Y.; Itoh, M.;
By: Chiba, T.; Endo, H.; Ito, H.; Naito, H.; Sakemi, Y.; Narita, S.; Yoshida, H.; Nishibori, Y.; Itoh, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1756-7
By: Knap, W.; Coquillat, D.; Otsuji, T.; Popov, V.; Fateev, D.; Ito, H.; Minamide, H.; Yuye Wang; Tanimoto, Y.; Tombet, S.B.; Watanabe, T.;
By: Knap, W.; Coquillat, D.; Otsuji, T.; Popov, V.; Fateev, D.; Ito, H.; Minamide, H.; Yuye Wang; Tanimoto, Y.; Tombet, S.B.; Watanabe, T.;
2013 / IEEE
By: Han, S.; Kawai, H.; Tabata, M.; suzuki, S.; Mase, K.; Kumogoshi, D.; Kodama, S.; Ijima, S.; Ito, H.;
By: Han, S.; Kawai, H.; Tabata, M.; suzuki, S.; Mase, K.; Kumogoshi, D.; Kodama, S.; Ijima, S.; Ito, H.;
2013 / IEEE
By: Nishikido, F.; Obata, T.; Yamaya, T.; Ito, H.; Tachibana, A.; Shimizu, K.; Suga, M.; Yoshida, E.; Inadama, N.;
By: Nishikido, F.; Obata, T.; Yamaya, T.; Ito, H.; Tachibana, A.; Shimizu, K.; Suga, M.; Yoshida, E.; Inadama, N.;
2013 / IEEE
By: Tomono, D.; Tanimori, T.; Matsumoto, E.; Ito, H.; Bando, N.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Sawano, T.; Mizumura, Y.; Mizumoto, T.; Takada, A.; Kubo, H.; Nabetani, A.;
By: Tomono, D.; Tanimori, T.; Matsumoto, E.; Ito, H.; Bando, N.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Sawano, T.; Mizumura, Y.; Mizumoto, T.; Takada, A.; Kubo, H.; Nabetani, A.;
2013 / IEEE
By: Tabata, M.; Masse, K.; Kodama, S.; Kumoagoshi, D.; Kawai, H.; Iijima, S.; Han, S.; Ito, H.;
By: Tabata, M.; Masse, K.; Kodama, S.; Kumoagoshi, D.; Kawai, H.; Iijima, S.; Han, S.; Ito, H.;
2013 / IEEE
By: Nakayama, H.; Mase, K.; Tabata, M.; Kawai, H.; Satoshi, K.; Kumogoshi, D.; Ito, H.; Iijima, S.;
By: Nakayama, H.; Mase, K.; Tabata, M.; Kawai, H.; Satoshi, K.; Kumogoshi, D.; Ito, H.; Iijima, S.;
1990 / IEEE
By: Yoshida, H.; Ito, H.; Obata, M.; Kawame, S.; Kobayashi, F.; Terada, H.; Kishimoto, M.; Katagiri, M.; Wakayama, N.;
By: Yoshida, H.; Ito, H.; Obata, M.; Kawame, S.; Kobayashi, F.; Terada, H.; Kishimoto, M.; Katagiri, M.; Wakayama, N.;
1990 / IEEE / 0-87942-632-2
By: Ishizu, T.; Inoue, S.; Fujino, T.; Ito, H.; Inoue, A.; Miyake, M.; Kataoka, N.; Watanabe, E.;
By: Ishizu, T.; Inoue, S.; Fujino, T.; Ito, H.; Inoue, A.; Miyake, M.; Kataoka, N.; Watanabe, E.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Yamauchi, Y.; Nagata, K.; Nittono, T.; Nakajima, O.; Ito, H.; Makimura, T.;
By: Yamauchi, Y.; Nagata, K.; Nittono, T.; Nakajima, O.; Ito, H.; Makimura, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-1313-5
By: Miura, S.; Yoshida, T.; Kawauchi, H.; Takagi, H.; Tadano, H.; Ito, H.;
By: Miura, S.; Yoshida, T.; Kawauchi, H.; Takagi, H.; Tadano, H.; Ito, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Yamada, Y.; Mikagi, K.; Watanabe, H.; Yoshida, K.; Miyamoto, H.; Kikkawa, T.; Ito, H.; Inoue, K.; Sekine, M.; Honma, I.;
By: Yamada, Y.; Mikagi, K.; Watanabe, H.; Yoshida, K.; Miyamoto, H.; Kikkawa, T.; Ito, H.; Inoue, K.; Sekine, M.; Honma, I.;
1995 / IEEE / 0-7803-2788-8
By: Yamahata, S.; Ida, M.; Matsuoka, Y.; Kobayashi, T.; Ito, H.; Kurishima, K.;
By: Yamahata, S.; Ida, M.; Matsuoka, Y.; Kobayashi, T.; Ito, H.; Kurishima, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Igura, H.; Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.; Furuta, K.; Izumikawa, M.;
By: Igura, H.; Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.; Furuta, K.; Izumikawa, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Furuta, K.; Izumikawa, M.; Igura, H.; Makajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.;
By: Furuta, K.; Izumikawa, M.; Igura, H.; Makajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Morizane, M.; Yagiura, T.; Okuda, N.; Fujiwara, T.; Ito, H.; Nakamura, N.; Yamashita, Y.; Omoto, S.; Ito, T.; Nakano, S.; Ohnishi, M.;
By: Morizane, M.; Yagiura, T.; Okuda, N.; Fujiwara, T.; Ito, H.; Nakamura, N.; Yamashita, Y.; Omoto, S.; Ito, T.; Nakano, S.; Ohnishi, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Boulin, D.M.; Mansfield, W.M.; O'Connor, K.J.; Bevk, J.; Brasen, D.; Cheng, M.; Cirelli, R.A.; Eshraghi, S.A.; Green, M.L.; Guinn, K.V.; Hillenius, S.J.; Ibbotson, D.E.; Jacobson, D.C.; Kim, Y.O.; King, C.A.; Kistler, R.C.; Klemens, F.P.; Krisch, K.S.; Kornblit, A.; Lee, J.T.C.; Manchanda, L.; McNevin, S.C.; Moccio, S.V.; Monroe, D.P.; Ng, K.K.; O'Malley, M.L.; Rafferty, C.S.; Schwartz, G.P.; Vaidya, S.; Weber, G.R.; Feldman, L.C.; Pinto, M.R.; Itani, T.; Tounai, T.; Kasama, K.; Miyamoto, H.; Ikawa, E.; Hasagawa, E.; Ishitani, A.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Saito, S.; Nakamae, M.;
By: Boulin, D.M.; Mansfield, W.M.; O'Connor, K.J.; Bevk, J.; Brasen, D.; Cheng, M.; Cirelli, R.A.; Eshraghi, S.A.; Green, M.L.; Guinn, K.V.; Hillenius, S.J.; Ibbotson, D.E.; Jacobson, D.C.; Kim, Y.O.; King, C.A.; Kistler, R.C.; Klemens, F.P.; Krisch, K.S.; Kornblit, A.; Lee, J.T.C.; Manchanda, L.; McNevin, S.C.; Moccio, S.V.; Monroe, D.P.; Ng, K.K.; O'Malley, M.L.; Rafferty, C.S.; Schwartz, G.P.; Vaidya, S.; Weber, G.R.; Feldman, L.C.; Pinto, M.R.; Itani, T.; Tounai, T.; Kasama, K.; Miyamoto, H.; Ikawa, E.; Hasagawa, E.; Ishitani, A.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Saito, S.; Nakamae, M.;