Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Islam, M.N.
Results
1989 / IEEE
By: Bar-Joseph, I.; Soccolich, C.E.; Sunderman, E.R.; Islam, M.N.; Miller, B.I.; Chang, T.Y.; Sauer, N.;
By: Bar-Joseph, I.; Soccolich, C.E.; Sunderman, E.R.; Islam, M.N.; Miller, B.I.; Chang, T.Y.; Sauer, N.;
1996 / IEEE
By: Barnett, B.C.; Vaziri, M.; Ahn, K.H.; Chowdhury, D.Q.; Williams, G.R.; Hill, K.O.; Malo, B.; Islam, M.N.; Cao, X.D.;
By: Barnett, B.C.; Vaziri, M.; Ahn, K.H.; Chowdhury, D.Q.; Williams, G.R.; Hill, K.O.; Malo, B.; Islam, M.N.; Cao, X.D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3175-3
By: Barnett, B.C.; Liang, Y.; Ahn, K.H.; Jiang, M.; Cao, X.D.; Islam, M.N.;
By: Barnett, B.C.; Liang, Y.; Ahn, K.H.; Jiang, M.; Cao, X.D.; Islam, M.N.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Islam, M.N.; Cao, X.D.; Kao, Y.H.; Goltser, I.V.; Chaikamnerd, S.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Ahn, K.H.; Liang, Y.; Xia, T.J.;
By: Islam, M.N.; Cao, X.D.; Kao, Y.H.; Goltser, I.V.; Chaikamnerd, S.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Ahn, K.H.; Liang, Y.; Xia, T.J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Islam, M.N.; Nowak, G.A.; Nolan, D.; Evans, A.; Shi, C.X.; Lou, J.W.; Xia, T.J.; Andersen, J.K.;
By: Islam, M.N.; Nowak, G.A.; Nolan, D.; Evans, A.; Shi, C.X.; Lou, J.W.; Xia, T.J.; Andersen, J.K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Moodie, D.G.; Weidman, D.L.; Pastel, D.A.; Nolan, D.A.; Hawk, R.M.; Evans, A.F.; Islam, M.N.; Dasika, P.; Jiang, M.; Cao, X.D.;
By: Moodie, D.G.; Weidman, D.L.; Pastel, D.A.; Nolan, D.A.; Hawk, R.M.; Evans, A.F.; Islam, M.N.; Dasika, P.; Jiang, M.; Cao, X.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3891-X
By: Chaikamnerd, S.; Kao, Y.-H.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Cao, X.D.; Ahn, K.H.; Xia, T.J.; Liang, Y.;
By: Chaikamnerd, S.; Kao, Y.-H.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Cao, X.D.; Ahn, K.H.; Xia, T.J.; Liang, Y.;
1997 / IEEE
By: Jiang, M.; Ahn, K.H.; Cao, X.-D.; Dasika, P.; Weidman, D.L.; Islam, M.N.; Evans, A.F.; Hawk, R.M.; Nolan, D.A.; Liang, Y.;
By: Jiang, M.; Ahn, K.H.; Cao, X.-D.; Dasika, P.; Weidman, D.L.; Islam, M.N.; Evans, A.F.; Hawk, R.M.; Nolan, D.A.; Liang, Y.;
1998 / IEEE
By: Islam, M.N.; Anderson, J.K.; Chaikamnerd, S.; Cao, X.D.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Ahu, K.H.; Liang, Y.;
By: Islam, M.N.; Anderson, J.K.; Chaikamnerd, S.; Cao, X.D.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Boyraz, O.; Lou, J.W.; Ahu, K.H.; Liang, Y.;
1998 / IEEE / 1-55752-521-8
By: Islam, M.N.; Boyraz, O.; Ahn, K.H.; Lou, J.W.; Liang, Y.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.;
By: Islam, M.N.; Boyraz, O.; Ahn, K.H.; Lou, J.W.; Liang, Y.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Lou, J.W.; Islam, M.N.; Ahn, K.H.; Boyraz, O.; Kuo, Y.H.; Liang, Y.; Xin, T.J.;
By: Lou, J.W.; Islam, M.N.; Ahn, K.H.; Boyraz, O.; Kuo, Y.H.; Liang, Y.; Xin, T.J.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Kao, Y.-H.; Andersen, J.K.; Lou, L.W.; Xia, T.J.; Liang, Y.; Nowak, G.A.; Islam, M.N.; Boyraz, O.;
By: Kao, Y.-H.; Andersen, J.K.; Lou, L.W.; Xia, T.J.; Liang, Y.; Nowak, G.A.; Islam, M.N.; Boyraz, O.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Ahn, K.H.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Liang, Y.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Boyraz, O.; Nowak, G.A.;
By: Ahn, K.H.; Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Liang, Y.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Boyraz, O.; Nowak, G.A.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Nowak, G.A.; Shi, C.-X.; Boyraz, O.; Xia, T.J.; Lou, J.W.; Islam, M.N.;
By: Nowak, G.A.; Shi, C.-X.; Boyraz, O.; Xia, T.J.; Lou, J.W.; Islam, M.N.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Moodie, D.G.; Islam, M.N.; Jiang, M.; Dasika, P.; Pastel, D.A.; Nolan, D.A.; Hawk, R.M.; Evans, A.F.; Weidman, D.L.;
By: Moodie, D.G.; Islam, M.N.; Jiang, M.; Dasika, P.; Pastel, D.A.; Nolan, D.A.; Hawk, R.M.; Evans, A.F.; Weidman, D.L.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Fortenberry, R.M.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.; Newton, S.A.; Donald, D.K.; Lin, H.;
By: Fortenberry, R.M.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.; Newton, S.A.; Donald, D.K.; Lin, H.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Newton, S.A.; Lin, H.; Sorin, W.V.; Fortenberry, R.M.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.;
By: Newton, S.A.; Lin, H.; Sorin, W.V.; Fortenberry, R.M.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.;
1999 / IEEE
By: Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Islam, M.N.; Said, A.A.; Lou, J.W.; Nowak, G.A.; Boyraz, O.; Ahn, K.H.; Liang, Y.;
By: Kao, Y.-H.; Xia, T.J.; Islam, M.N.; Said, A.A.; Lou, J.W.; Nowak, G.A.; Boyraz, O.; Ahn, K.H.; Liang, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2448-X
By: Ahn, K.; Barnett, B.C.; Malo, B.; Hill, K.O.; Islam, M.N.; Cao, X.D.; Vaziri, M.;
By: Ahn, K.; Barnett, B.C.; Malo, B.; Hill, K.O.; Islam, M.N.; Cao, X.D.; Vaziri, M.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Liang, Y.; Nolan, D.A.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.; Boyraz, O.; Stocker, J.C.; Lou, J.W.;
By: Liang, Y.; Nolan, D.A.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.; Boyraz, O.; Stocker, J.C.; Lou, J.W.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Barnett, B.C.; Rahman, L.; Sha, W.; Jiang, M.; Reddy, K.V.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.;
By: Barnett, B.C.; Rahman, L.; Sha, W.; Jiang, M.; Reddy, K.V.; Islam, M.N.; Andersen, J.K.;
2000 / IEEE
By: Evans, A.F.; Bouton, W.J.; Tarcza, S.H.; Nolan, D.A.; Jepsen, K.S.; Lou, J.W.; Islam, M.N.;
By: Evans, A.F.; Bouton, W.J.; Tarcza, S.H.; Nolan, D.A.; Jepsen, K.S.; Lou, J.W.; Islam, M.N.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Tarcza, S.H.; Nolan, D.A.; Jepsen, K.S.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Evans, A.F.; Bouton, W.L.;
By: Tarcza, S.H.; Nolan, D.A.; Jepsen, K.S.; Lou, J.W.; Islam, M.N.; Evans, A.F.; Bouton, W.L.;
2005 / IEEE
By: Guoyun Tian; Yueli Liu; Johnson, R.W.; Lall, P.; Palmer, M.; Islam, M.N.; Crane, L.;
By: Guoyun Tian; Yueli Liu; Johnson, R.W.; Lall, P.; Palmer, M.; Islam, M.N.; Crane, L.;
2006 / IEEE / 98432-3814-1
By: Mridha, M.F.; Shill, P.C.; Islam, M.N.; Hashem, M.M.A.; Islam, S.; Muhammad, D.;
By: Mridha, M.F.; Shill, P.C.; Islam, M.N.; Hashem, M.M.A.; Islam, S.; Muhammad, D.;
2007 / IEEE
By: Nolan, D.A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Galvanauskas, A.; Wood, W.A.; Kulkarni, O.P.; Ming-Yuan Cheng; Kumar, M.; Chenan Xia;
By: Nolan, D.A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Galvanauskas, A.; Wood, W.A.; Kulkarni, O.P.; Ming-Yuan Cheng; Kumar, M.; Chenan Xia;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Kumar, M.; Xia, C.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Galvanauskas, A.; Islam, M.N.;
By: Kumar, M.; Xia, C.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Galvanauskas, A.; Islam, M.N.;
2008 / IEEE / 978-89-5519-135-6
By: Chowdhury, M.Z.; Jang, Y.M.; Sun Woong Choi; Sang Bum Kang; Young Ki Lee; Young Min Seo; Islam, M.N.;
By: Chowdhury, M.Z.; Jang, Y.M.; Sun Woong Choi; Sang Bum Kang; Young Ki Lee; Young Min Seo; Islam, M.N.;
2008 / IEEE / 978-89-5519-135-6
By: Chowdhury, M.Z.; Islam, M.N.; Yeong Min Jang; Sun Woong Choi; Sang Bum Kang; Young Ki Lee; Young Min Seo;
By: Chowdhury, M.Z.; Islam, M.N.; Yeong Min Jang; Sun Woong Choi; Sang Bum Kang; Young Ki Lee; Young Min Seo;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Lee, D.J.; Xia, C.A.; Kulkarni, O.P.; Powley, M.L.; Aitken, B.; Kumar, M.; Nolan, D.A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Kuditcher, A.;
By: Lee, D.J.; Xia, C.A.; Kulkarni, O.P.; Powley, M.L.; Aitken, B.; Kumar, M.; Nolan, D.A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Kuditcher, A.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Islam, M.N.; Kulkarni, O.P.; Kumar, M.; Xia, C.A.; Wood, W.A.; Nolan, D.A.; Terry, F.L.;
By: Islam, M.N.; Kulkarni, O.P.; Kumar, M.; Xia, C.A.; Wood, W.A.; Nolan, D.A.; Terry, F.L.;
2009 / IEEE
By: Zakel, A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Zhao Xu; Chenan Xia; Mauricio, J.;
By: Zakel, A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.; Zhao Xu; Chenan Xia; Mauricio, J.;
10.5 watts time-averaged power mid-IR supercontinuum generation with direct pulse pattern modulation
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8By: Chenan Xia; Zhao Xu; Mauricio, J.; Zakel, A.; Freeman, M.J.; Terry, F.L.; Islam, M.N.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5223-1
By: Islam, M.N.; Islam, M.F.; Hossain, M.M.; Matin, M.A.; Hossain, M.M.;
By: Islam, M.N.; Islam, M.F.; Hossain, M.M.; Matin, M.A.; Hossain, M.M.;