Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ishii, T.
Results
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Kitano, M.; Miyagawa, T.; Kurosawa, N.; Ishii, T.; Aoki, T.; Hayashiya, H.; Kondoh, T.; Furukawa, T.; Suzuki, T.; Yoshizumi, H.;
By: Kitano, M.; Miyagawa, T.; Kurosawa, N.; Ishii, T.; Aoki, T.; Hayashiya, H.; Kondoh, T.; Furukawa, T.; Suzuki, T.; Yoshizumi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Kimura, T.; Matsuo, S.; Totsuka, H.; Imai, N.; Ishii, T.; Fujimura, T.; Shimada, M.; Oura, Y.;
By: Kimura, T.; Matsuo, S.; Totsuka, H.; Imai, N.; Ishii, T.; Fujimura, T.; Shimada, M.; Oura, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0231-0
By: Tanaka, A.; Koga, S.; Yamaguchi, M.; Hoshizawa, T.; Hosaka, M.; Ishii, T.;
By: Tanaka, A.; Koga, S.; Yamaguchi, M.; Hoshizawa, T.; Hosaka, M.; Ishii, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1780-1
By: Sasaki, S.; Ishii, T.; Takahashi, M.; Kenichiro, M.; Tanaka, K.;
By: Sasaki, S.; Ishii, T.; Takahashi, M.; Kenichiro, M.; Tanaka, K.;
1992 / IEEE
By: Nishida, T.; Ohyu, K.; Kure, T.; Yamanaka, T.; Iijima, S.; Kiyota, Y.; Okazaki, S.; Ishii, T.; Aoki, M.; Shimohigashi, K.; Yoshimura, T.; Seki, K.;
By: Nishida, T.; Ohyu, K.; Kure, T.; Yamanaka, T.; Iijima, S.; Kiyota, Y.; Okazaki, S.; Ishii, T.; Aoki, M.; Shimohigashi, K.; Yoshimura, T.; Seki, K.;
1990 / IEEE
By: Shimohigashi, K.; Seki, K.; Okazaki, S.; Nishida, T.; Ohyu, K.; Kure, T.; Yamanaka, T.; Iijima, S.; Kiyota, Y.; Yoshimura, T.; Ishii, T.; Aoki, M.;
By: Shimohigashi, K.; Seki, K.; Okazaki, S.; Nishida, T.; Ohyu, K.; Kure, T.; Yamanaka, T.; Iijima, S.; Kiyota, Y.; Yoshimura, T.; Ishii, T.; Aoki, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1844-7
By: Sumi, N.; Anbo, T.; Imaizumi, E.; Seki, K.; Nishida, T.; Nagai, R.; Rikino, K.; Miyamoto, M.; Sasaki, Y.; Hiraki, M.; Yano, K.; Matsuura, T.; Ishii, T.;
By: Sumi, N.; Anbo, T.; Imaizumi, E.; Seki, K.; Nishida, T.; Nagai, R.; Rikino, K.; Miyamoto, M.; Sasaki, Y.; Hiraki, M.; Yano, K.; Matsuura, T.; Ishii, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Hashimoto, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Murai, F.; Kobayashi, T.;
By: Hashimoto, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Murai, F.; Kobayashi, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Tanaka, T.; Miwa, H.; Miyazawa, K.; Hori, R.; Tsuchiya, O.; Nakamura, Y.; Oshima, K.; Furukawa, T.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Ishii, T.; Ikeda, Y.;
By: Tanaka, T.; Miwa, H.; Miyazawa, K.; Hori, R.; Tsuchiya, O.; Nakamura, Y.; Oshima, K.; Furukawa, T.; Kouro, Y.; Ohba, A.; Ishii, T.; Ikeda, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Ishii, T.; Maruno, T.; Sakata, T.; Tamamura, T.; Sasaki, S.; Maruo, Y.Y.;
By: Ishii, T.; Maruno, T.; Sakata, T.; Tamamura, T.; Sasaki, S.; Maruo, Y.Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3221-0
By: Yamanashi, M.; Toyoda, F.; Ishii, T.; Imaizumi, H.; Fukuda, K.; Kibayashi, Y.;
By: Yamanashi, M.; Toyoda, F.; Ishii, T.; Imaizumi, H.; Fukuda, K.; Kibayashi, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-3889-8
By: Murata, S.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Matsui, I.; Sugimoto, N.; Yasuda, N.; Syamsudln, M.; Hidayat, I.; Rosananto, I.; Pinandko, M.; Takano, H.;
By: Murata, S.; Ishii, T.; Kobayashi, T.; Matsui, I.; Sugimoto, N.; Yasuda, N.; Syamsudln, M.; Hidayat, I.; Rosananto, I.; Pinandko, M.; Takano, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Murai, F.; Mine, T.; Sano, T.; Yano, K.; Ishii, T.; Seki, K.; Kure, T.;
By: Murai, F.; Mine, T.; Sano, T.; Yano, K.; Ishii, T.; Seki, K.; Kure, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4344-1
By: Ishii, T.; Fukuda, T.; Suzuki, S.; Yanagita, Y.; Ogura, E.; Hiranaka, D.; Takashima, M.; Ishikawa, T.;
By: Ishii, T.; Fukuda, T.; Suzuki, S.; Yanagita, Y.; Ogura, E.; Hiranaka, D.; Takashima, M.; Ishikawa, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4344-1
By: Mine, T.; Sane, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Kure, T.; Murai, F.;
By: Mine, T.; Sane, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Kure, T.; Murai, F.;
1993 / IEEE / 0-7803-0843-3
By: Kawahara, K.; Nagasawa, N.; Okabe, T.; Ishii, T.; Tanahashi, N.; Okada, S.;
By: Kawahara, K.; Nagasawa, N.; Okabe, T.; Ishii, T.; Tanahashi, N.; Okada, S.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Sude, R.; Miura, T.; Kono, T.; Ishii, T.; Shimaoka, M.; Hirataka, T.; Kato, T.; Tatsuno, K.; Yoshida, K.;
By: Sude, R.; Miura, T.; Kono, T.; Ishii, T.; Shimaoka, M.; Hirataka, T.; Kato, T.; Tatsuno, K.; Yoshida, K.;
1998 / IEEE
By: Takashima, M.; Ogura, E.; Ishii, T.; Fukuda, T.; Hiranaka, D.; Suzuki, S.; Yanagita, Y.; Ishikawa, T.;
By: Takashima, M.; Ogura, E.; Ishii, T.; Fukuda, T.; Hiranaka, D.; Suzuki, S.; Yanagita, Y.; Ishikawa, T.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Inoue, Y.; Naganuma, K.; Ishii, T.; Okamoto, K.; Kurokawa, T.; Tsuda, H.; Takenouchi, H.;
By: Inoue, Y.; Naganuma, K.; Ishii, T.; Okamoto, K.; Kurokawa, T.; Tsuda, H.; Takenouchi, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4965-2
By: Weisshaar, A.; Ishii, T.; Hahm, Y.C.; Tripathi, A.; Zheng, J.; Tripathi, V.K.;
By: Weisshaar, A.; Ishii, T.; Hahm, Y.C.; Tripathi, A.; Zheng, J.; Tripathi, V.K.;
1998 / IEEE / 0-7803-5164-9
By: Nemoto, Y.; Fujie, M.; Ishii, T.; Hattori, S.; Koseki, A.; Egawa, S.;
By: Nemoto, Y.; Fujie, M.; Ishii, T.; Hattori, S.; Koseki, A.; Egawa, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Sano, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Kure, T.; Murai, F.; Mine, T.;
By: Sano, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Kure, T.; Murai, F.; Mine, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Umeda, Y.; Yokoyama, H.; Ishii, T.; Suemitsu, T.; Tamamura, T.; Ishii, Y.; Enoki, T.;
By: Umeda, Y.; Yokoyama, H.; Ishii, T.; Suemitsu, T.; Tamamura, T.; Ishii, Y.; Enoki, T.;
1999 / IEEE
By: Kure, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Sano, T.; Kobayashi, T.; Hashimoto, T.; Murai, F.; Mine, T.;
By: Kure, T.; Ishii, T.; Yano, K.; Seki, K.; Sano, T.; Kobayashi, T.; Hashimoto, T.; Murai, F.; Mine, T.;
1999 / IEEE
By: Okamoto, K.; Tsuda, H.; Kurokawa, T.; Takenouchi, H.; Inoue, Y.; Naganuma, K.; Ishii, T.;
By: Okamoto, K.; Tsuda, H.; Kurokawa, T.; Takenouchi, H.; Inoue, Y.; Naganuma, K.; Ishii, T.;
1999 / IEEE
By: Tamamura, T.; Osaka, J.; Suemitsu, T.; Xu, D.; Umeda, Y.; Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamane, Y.;
By: Tamamura, T.; Osaka, J.; Suemitsu, T.; Xu, D.; Umeda, Y.; Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamane, Y.;
1999 / IEEE
By: Ishii, T.; Shimaoka, M.; Ishikawa, T.; Fukuda, K.; Tatsuno, K.; Hiratakia, T.; Kato, T.; Yoshida, K.; Miura, T.;
By: Ishii, T.; Shimaoka, M.; Ishikawa, T.; Fukuda, K.; Tatsuno, K.; Hiratakia, T.; Kato, T.; Yoshida, K.; Miura, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-4759-5
By: Ishii, T.; Miyao, H.; Isaka, S.; Hosokawa, N.; Kobayashi, S.; Okubo, H.; Tsuchic, M.; Ono, T.; Kobayashi, T.;
By: Ishii, T.; Miyao, H.; Isaka, S.; Hosokawa, N.; Kobayashi, S.; Okubo, H.; Tsuchic, M.; Ono, T.; Kobayashi, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5170-3
By: Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamana, Y.; Umeda, Y.; Suemitsu, T.; Xu, D.; Tamamura, T.;
By: Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamana, Y.; Umeda, Y.; Suemitsu, T.; Xu, D.; Tamamura, T.;
2000 / IEEE
By: Dong Xu; Tamamura, T.; Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamane, Y.; Umeda, Y.; Osaka, J.; Suemitsu, T.;
By: Dong Xu; Tamamura, T.; Ishii, T.; Ishii, Y.; Yamane, Y.; Umeda, Y.; Osaka, J.; Suemitsu, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5614-4
By: Nunoda, S.; Shinagawa, M.; Cornelissen, G.; Otsuka, K.; Halberg, F.; Ohkawa, S.; Nishimura, Y.; Watanabe, Y.; Omori, K.; Ishii, T.; Fujii, C.; Hotta, N.; Kubo, Y.;
By: Nunoda, S.; Shinagawa, M.; Cornelissen, G.; Otsuka, K.; Halberg, F.; Ohkawa, S.; Nishimura, Y.; Watanabe, Y.; Omori, K.; Ishii, T.; Fujii, C.; Hotta, N.; Kubo, Y.;
2000 / IEEE / 1-55752-646-X
By: Kawano, K.; Minabe, J.; Baba, K.; Niitsu, T.; Ishii, T.; Nishikata, Y.;
By: Kawano, K.; Minabe, J.; Baba, K.; Niitsu, T.; Ishii, T.; Nishikata, Y.;
2000 / IEEE / 1-55752-646-X
By: Ishii, T.; Niitsu, T.; Minabe, J.; Kawano, K.; Baba, K.; Nishikata, Y.;
By: Ishii, T.; Niitsu, T.; Minabe, J.; Kawano, K.; Baba, K.; Nishikata, Y.;
2000 / IEEE / 0-7695-0571-6
By: Nokuchi, K.; Osuo, A.; Ishii, T.; Katamachi, K.; Dai, Y.; Hashimoto, K.; Shibata, Y.; Cai, D.;
By: Nokuchi, K.; Osuo, A.; Ishii, T.; Katamachi, K.; Dai, Y.; Hashimoto, K.; Shibata, Y.; Cai, D.;
Facial expression recognition of person without language ability based on the optical flow histogram
2000 / IEEE / 0-7803-5747-7By: Osuo, A.; Shibata, Y.; Ishii, T.; Hashimoto, K.; Katamachi, K.; Dai, Y.; Cai, D.; Kakizaki, N.; Nokuchi, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6608-5
By: Noda, S.; Manita, K.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.; Kishimoto, J.; Kubano, S.; Sato, A.; Takaheshi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Nozoe, A.; Kotani, H.;
By: Noda, S.; Manita, K.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.; Kishimoto, J.; Kubano, S.; Sato, A.; Takaheshi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Nozoe, A.; Kotani, H.;
2001 / IEEE
By: Kuboyama, R.; Yamashita, Y.; Tsutsumi, K.; Kimura, H.; Sannomiya, T.; Sato, S.; Okada, S.; Asano, K.; Hayashi, H.; Ishii, T.; Takeo, M.;
By: Kuboyama, R.; Yamashita, Y.; Tsutsumi, K.; Kimura, H.; Sannomiya, T.; Sato, S.; Okada, S.; Asano, K.; Hayashi, H.; Ishii, T.; Takeo, M.;