Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Imai, T.
Results
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Yoshimoto, N.; Ishii, H.; Imai, T.; Taguchi, K.; Fujiwara, M.; Suzuki, K.-I.; Hadama, H.;
By: Yoshimoto, N.; Ishii, H.; Imai, T.; Taguchi, K.; Fujiwara, M.; Suzuki, K.-I.; Hadama, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Shimozuma, T.; Takahashi, H.; Imai, T.; Kariya, T.; Minami, R.; Mutoh, T.; Ito, Y.; Takita, Y.; Okada, K.; Mizuno, Y.; Makino, R.; Ogasawara, S.; Nishiura, M.; Igami, H.; Yoshimura, Y.; Kubo, S.; Kobayashi, S.; Ito, S.;
By: Shimozuma, T.; Takahashi, H.; Imai, T.; Kariya, T.; Minami, R.; Mutoh, T.; Ito, Y.; Takita, Y.; Okada, K.; Mizuno, Y.; Makino, R.; Ogasawara, S.; Nishiura, M.; Igami, H.; Yoshimura, Y.; Kubo, S.; Kobayashi, S.; Ito, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Kobayashi, T.; Yamashita, T.; Imai, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
By: Kobayashi, T.; Yamashita, T.; Imai, T.; Takamatsu, S.; Itoh, T.; Miyake, K.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Suzuki, K.-I.; Imai, T.; Fujiwara, M.; Taguchi, K.; Yoshimoto, N.; Ishii, H.;
By: Suzuki, K.-I.; Imai, T.; Fujiwara, M.; Taguchi, K.; Yoshimoto, N.; Ishii, H.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Taguchi, K.; Imai, T.; Fujiwara, M.; Yoshimoto, N.; Ishii, H.; Suzuki, K.-I.;
By: Taguchi, K.; Imai, T.; Fujiwara, M.; Yoshimoto, N.; Ishii, H.; Suzuki, K.-I.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Phakasoum, C.; Ghoraishi, M.; Takada, J.; Hung Vu Le; Imai, T.; Kitao, K.;
By: Phakasoum, C.; Ghoraishi, M.; Takada, J.; Hung Vu Le; Imai, T.; Kitao, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1935-5
By: Takei, Y.; Tagaya, O.; Imai, T.; Shioiri, T.; Sato, J.; Homma, M.; Kuriyama, T.;
By: Takei, Y.; Tagaya, O.; Imai, T.; Shioiri, T.; Sato, J.; Homma, M.; Kuriyama, T.;
2014 / IEEE
By: Medbo, J.; Borner, K.; Ylitalo, J.; Roivainen, A.; Raschkowski, L.; Haneda, K.; Hovinen, V.; Imai, T.; Jarvelainen, J.; Jamsa, T.; Karttunen, A.; Kusume, K.; Kyrolainen, J.; Kyosti, P.; Meinila, J.; Nurmela, V.;
By: Medbo, J.; Borner, K.; Ylitalo, J.; Roivainen, A.; Raschkowski, L.; Haneda, K.; Hovinen, V.; Imai, T.; Jarvelainen, J.; Jamsa, T.; Karttunen, A.; Kusume, K.; Kyrolainen, J.; Kyosti, P.; Meinila, J.; Nurmela, V.;
1989 / IEEE
By: Uehara, K.; Ushigusa, K.; Suganuma, K.; Sato, M.; Sawahata, M.; Konishi, K.; Honda, M.; Imai, T.; Seki, M.; Ikeda, Y.; Yokokura, K.;
By: Uehara, K.; Ushigusa, K.; Suganuma, K.; Sato, M.; Sawahata, M.; Konishi, K.; Honda, M.; Imai, T.; Seki, M.; Ikeda, Y.; Yokokura, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Ikeda, Y.; Takasa, A.; Suganuma, K.; Sawahata, M.; Takahashi, S.; Ushigusa, K.; Imai, T.; Seki, M.;
By: Ikeda, Y.; Takasa, A.; Suganuma, K.; Sawahata, M.; Takahashi, S.; Ushigusa, K.; Imai, T.; Seki, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Maebara, S.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.; Sakamoto, K.; Kasugai, A.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Hirata, Y.; Hayashi, K.; Okazaki, Y.; Kariya, T.;
By: Maebara, S.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.; Sakamoto, K.; Kasugai, A.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Hirata, Y.; Hayashi, K.; Okazaki, Y.; Kariya, T.;
1996 / IEEE
By: Murakami, M.; Aiki, M.; Sumida, M.; Amemiya, M.; Imai, T.; Aoyama, M.; Takahashi, T.;
By: Murakami, M.; Aiki, M.; Sumida, M.; Amemiya, M.; Imai, T.; Aoyama, M.; Takahashi, T.;
A study of impedance analysis for an induction heating device by applying a new interpolation method
1997 / IEEEBy: Sakiyama, K.; Imai, T.; Omori, H.; Hirota, I.;
1997 / IEEE / 0-7803-4371-9
By: Imai, T.; Chiba, H.; Shiokawa, J.; Kurashige, T.; Yamamoto, N.; Kami, H.; Tarumizu, H.; Kitade, T.;
By: Imai, T.; Chiba, H.; Shiokawa, J.; Kurashige, T.; Yamamoto, N.; Kami, H.; Tarumizu, H.; Kitade, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Ikeda, Y.; Yamamoto, T.; Imai, T.; Sakamoto, K.; Ushigusa, K.; Haga, K.; Terakado, M.; Kasugai, A.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.;
By: Ikeda, Y.; Yamamoto, T.; Imai, T.; Sakamoto, K.; Ushigusa, K.; Haga, K.; Terakado, M.; Kasugai, A.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Kariya, T.; Imai, T.; Ikeda, Y.; Tsuneoka, M.; Kasugai, A.; Hayashi, K.; Takahashi, K.; Okazaki, Y.; Sakamoto, K.; Hirata, Y.; Mitsunaka, Y.;
By: Kariya, T.; Imai, T.; Ikeda, Y.; Tsuneoka, M.; Kasugai, A.; Hayashi, K.; Takahashi, K.; Okazaki, Y.; Sakamoto, K.; Hirata, Y.; Mitsunaka, Y.;
1998 / IEEE / 0-7803-4285-2
By: Saito, T.; Ohashi, N.; Yasuda, J.; Noguchi, J.; Owada, N.; Sasajima, K.; Hiruma, K.; Yamaguchi, H.; Imai, T.;
By: Saito, T.; Ohashi, N.; Yasuda, J.; Noguchi, J.; Owada, N.; Sasajima, K.; Hiruma, K.; Yamaguchi, H.; Imai, T.;
Development of high gradient zinc oxide nonlinear resistors and their application to surge arresters
1998 / IEEEBy: Kayano, Y.; Tanno, Y.; Ando, H.; Udagawa, T.; Imai, T.; Kan, M.;
1999 / IEEE / 0-7695-0093-5
By: Leigh, J.; Johnson, A.E.; DeFanti, T.A.; Brown, M.; Ali, M.D.; Bailey, S.; Banerjee, A.; Benerjee, P.; Jim Chen; Curry, K.; Curtis, J.; Dech, F.; Dodds, B.; Foster, I.; Fraser, S.; Ganeshan, K.; Glen, D.; Grossman, R.; Heiland, R.; Hicks, J.; Hudson, A.D.; Imai, T.; Khan, M.A.; Kapoor, A.; Kenyon, R.V.; Kelso, J.; Kriz, R.; Hudson, A.D.; Imai, T.; Khan, M.A.; Kapoor, A.; Kenyon, R.V.; Kelso, J.; Kriz, R.; Lascara, C.; Liu, X.; Lin, Y.; Mason, T.; Millman, A.; Nobuyuki, K.; Park, K.; Parod, B.; Rajlich, P.J.; Rasmussen, M.; Rawlings, M.; Robertson, D.H.; Thongrong, S.; Stein, R.J.; Swartz, K.; Tuecke, S.; Wallach, H.; Hong Yee Wong; Wheless, G.H.;
By: Leigh, J.; Johnson, A.E.; DeFanti, T.A.; Brown, M.; Ali, M.D.; Bailey, S.; Banerjee, A.; Benerjee, P.; Jim Chen; Curry, K.; Curtis, J.; Dech, F.; Dodds, B.; Foster, I.; Fraser, S.; Ganeshan, K.; Glen, D.; Grossman, R.; Heiland, R.; Hicks, J.; Hudson, A.D.; Imai, T.; Khan, M.A.; Kapoor, A.; Kenyon, R.V.; Kelso, J.; Kriz, R.; Hudson, A.D.; Imai, T.; Khan, M.A.; Kapoor, A.; Kenyon, R.V.; Kelso, J.; Kriz, R.; Lascara, C.; Liu, X.; Lin, Y.; Mason, T.; Millman, A.; Nobuyuki, K.; Park, K.; Parod, B.; Rajlich, P.J.; Rasmussen, M.; Rawlings, M.; Robertson, D.H.; Thongrong, S.; Stein, R.J.; Swartz, K.; Tuecke, S.; Wallach, H.; Hong Yee Wong; Wheless, G.H.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Yamada, E.; Komukai, T.; Kubota, H.; Suzuki, K.; Imai, T.; Nakazawa, M.; Sahara, A.; Tamura, K.;
By: Yamada, E.; Komukai, T.; Kubota, H.; Suzuki, K.; Imai, T.; Nakazawa, M.; Sahara, A.; Tamura, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Imai, T.; Kasugai, A.; Ikeda, Y.; Ikeda, Yu.; Hiranai, K.; Anno, K.; Terakado, M.; Shimono, M.; Shinozaki, S.; Fujii, T.; Yokokura, K.; Tsuneoka, M.; Kajiwara, K.; Takahashi, K.; Sakamoto, K.; Moriyama, S.;
By: Imai, T.; Kasugai, A.; Ikeda, Y.; Ikeda, Yu.; Hiranai, K.; Anno, K.; Terakado, M.; Shimono, M.; Shinozaki, S.; Fujii, T.; Yokokura, K.; Tsuneoka, M.; Kajiwara, K.; Takahashi, K.; Sakamoto, K.; Moriyama, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-6327-2
By: Fujiwara, T.; Noguchi, J.; Torii, K.; Imai, T.; Ohashi, N.; Saito, T.; Hinode, K.; Kondo, S.; Yamaguchi, H.; Homma, Y.; Owada, N.;
By: Fujiwara, T.; Noguchi, J.; Torii, K.; Imai, T.; Ohashi, N.; Saito, T.; Hinode, K.; Kondo, S.; Yamaguchi, H.; Homma, Y.; Owada, N.;
2000 / IEEE / 1-55752-630-3
By: Maeda, H.; Matsuda, T.; Murakami, M.; Tada, Y.; Imai, T.; Sumida, M.;
By: Maeda, H.; Matsuda, T.; Murakami, M.; Tada, Y.; Imai, T.; Sumida, M.;
2000 / IEEE / 0-7803-6513-5
By: Hayashi, K.; Takahashi, K.; Kasugai, A.; Sakamoto, K.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Kariya, T.; Fujii, T.; Seki, M.; Shoyama, H.; Moriyama, S.; Kajiwara, K.; Ikeda, Y.; Ikeda, Y.; Tsuneoka, M.;
By: Hayashi, K.; Takahashi, K.; Kasugai, A.; Sakamoto, K.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Kariya, T.; Fujii, T.; Seki, M.; Shoyama, H.; Moriyama, S.; Kajiwara, K.; Ikeda, Y.; Ikeda, Y.; Tsuneoka, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-6678-6
By: Omori, S.; Ito, Y.; Kubo, M.; Noguchi, J.; Ohashi, N.; Saito, T.; Yamaguchi, H.; Imai, T.; Tamaru, T.;
By: Omori, S.; Ito, Y.; Kubo, M.; Noguchi, J.; Ohashi, N.; Saito, T.; Yamaguchi, H.; Imai, T.; Tamaru, T.;