Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Huang, C.
Results
2012 / IEEE
By: Amirkhany, A.; Xingchao Yuan; Mishra, N.K.; Jie Shen; Beyene, W.T.; Chen, C.; Chin, T.J.; Dressier, D.; Huang, C.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Kaviani, K.; Hai Lan; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mukherjee, S.; Raghavan, L.; Saito, K.; Secker, D.; Sendhil, A.; Schmitt, R.; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Ting Wu; Chanh Tran; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Ling Yang; Jain, M.; Chang, K.-Y.K.; Wei, J.;
By: Amirkhany, A.; Xingchao Yuan; Mishra, N.K.; Jie Shen; Beyene, W.T.; Chen, C.; Chin, T.J.; Dressier, D.; Huang, C.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Kaviani, K.; Hai Lan; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mukherjee, S.; Raghavan, L.; Saito, K.; Secker, D.; Sendhil, A.; Schmitt, R.; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Ting Wu; Chanh Tran; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Ling Yang; Jain, M.; Chang, K.-Y.K.; Wei, J.;
2012 / IEEE
By: Kaviani, K.; Xingchao Yuan; Wei, J.; Amirkhany, A.; Jie Shen; Chin, T.J.; Thakkar, C.; Beyene, W.T.; Chan, N.; Chen, C.; Bing Ren Chuang; Dressler, D.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Ho, E.; Huang, C.; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mishra, N.K.; Raghavan, L.; Saito, K.; Schmitt, R.; Secker, D.; Xudong Shi; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Zhang, S.; Tran, C.; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Jain, M.; Kun-Yung Ken Chang; Ting Wu;
By: Kaviani, K.; Xingchao Yuan; Wei, J.; Amirkhany, A.; Jie Shen; Chin, T.J.; Thakkar, C.; Beyene, W.T.; Chan, N.; Chen, C.; Bing Ren Chuang; Dressler, D.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Ho, E.; Huang, C.; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mishra, N.K.; Raghavan, L.; Saito, K.; Schmitt, R.; Secker, D.; Xudong Shi; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Zhang, S.; Tran, C.; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Jain, M.; Kun-Yung Ken Chang; Ting Wu;
2012 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Amirkhany, A.; Secker, D.; Wu, T.; Kaviani, K.; Yuan, C.; Chang, K.; Jain, M.; Vyas, K.; Vaidyanath, A.; Tran, C.; Srinivas, S.; Shuaeb, F.; Shi, X.; Wei, J.; Saito, K.; Raghavan, L.; Mishra, N.; Madden, C.; M, M.; Le, P.; Huang, C.; Gadde, V.; Dressler, D.; Beyene, W.; Chin, T.; Chen, C.; Shen, J.;
By: Amirkhany, A.; Secker, D.; Wu, T.; Kaviani, K.; Yuan, C.; Chang, K.; Jain, M.; Vyas, K.; Vaidyanath, A.; Tran, C.; Srinivas, S.; Shuaeb, F.; Shi, X.; Wei, J.; Saito, K.; Raghavan, L.; Mishra, N.; Madden, C.; M, M.; Le, P.; Huang, C.; Gadde, V.; Dressler, D.; Beyene, W.; Chin, T.; Chen, C.; Shen, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Amirkhany, A.; Wei, J.; Yuan, C.; Chang, K.; Jain, M.; Vyas, K.; Vaidyanathan, A.; Tran, C.; Wu, T.; Srinivas, S.; Shuaeb, F.; Secker, D.; Saito, K.; Raghavan, L.; Mukherjee, S.; Madden, C.; M, M.; Le, P.; Kaviani, K.; Gadde, V.; Huang, C.; Chin, T.; Beyene, W.; Shen, J.; Mishra, N.;
By: Amirkhany, A.; Wei, J.; Yuan, C.; Chang, K.; Jain, M.; Vyas, K.; Vaidyanathan, A.; Tran, C.; Wu, T.; Srinivas, S.; Shuaeb, F.; Secker, D.; Saito, K.; Raghavan, L.; Mukherjee, S.; Madden, C.; M, M.; Le, P.; Kaviani, K.; Gadde, V.; Huang, C.; Chin, T.; Beyene, W.; Shen, J.; Mishra, N.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Wu, X.Y.; Ma, X.L.; Miao, Z.L.; Wang, M.; Luo, X.G.; Hu, C.G.; Pu, M.B.; Huang, C.;
By: Wu, X.Y.; Ma, X.L.; Miao, Z.L.; Wang, M.; Luo, X.G.; Hu, C.G.; Pu, M.B.; Huang, C.;
2015 / IEEE
By: Wang, Y.; Lo, G.; Kuo, W.; Huang, C.; Liang, Y.C.; Huang, S.; Huang, B.; Huang, H.; Samudra, G.S.; Chang, T.;
By: Wang, Y.; Lo, G.; Kuo, W.; Huang, C.; Liang, Y.C.; Huang, S.; Huang, B.; Huang, H.; Samudra, G.S.; Chang, T.;
2015 / IEEE
By: Tu, M.; Jou, S.; Chuang, C.; Lu, C.; Wu, Y.; Lee, K.; Huang, H.; Kan, P.; Huang, C.; Kao, Y.;
By: Tu, M.; Jou, S.; Chuang, C.; Lu, C.; Wu, Y.; Lee, K.; Huang, H.; Kan, P.; Huang, C.; Kao, Y.;
Reconfiguration of Resonance Characteristics for Terahertz U-Shape Metamaterial Using MEMS Mechanism
2015 / IEEEBy: Lee, C.; Huang, C.; Lin, Y.;
2014 / IEEE
By: Wu, S.; Huang, Y.; Huang, C.; Tsai, K.; Chuang, M.; Hsiao, C.; Su, Y.; Yu, H.; Kao, T.;
By: Wu, S.; Huang, Y.; Huang, C.; Tsai, K.; Chuang, M.; Hsiao, C.; Su, Y.; Yu, H.; Kao, T.;
2014 / IEEE
By: Shi, J.; Huang, C.; Bowers, J.E.; Pan, C.; Wun, J.; Chen, Y.; Lai, C.; Liu, H.; Yang, S.;
By: Shi, J.; Huang, C.; Bowers, J.E.; Pan, C.; Wun, J.; Chen, Y.; Lai, C.; Liu, H.; Yang, S.;
2014 / IEEE
By: Huang, C.; Sun, A.; Wu, H.; Yuan, F.; Hsu, J.; Hsiao, S.; Sharma, P.; Lee, H.; Lu, H.; Wang, S.;
By: Huang, C.; Sun, A.; Wu, H.; Yuan, F.; Hsu, J.; Hsiao, S.; Sharma, P.; Lee, H.; Lu, H.; Wang, S.;
2014 / IEEE
By: He, J.; Horng, R.; Huang, C.; Lien, D.; Wei, T.; Ke, J.; Ravadgar, P.; Tsai, D.; Tsai, M.;
By: He, J.; Horng, R.; Huang, C.; Lien, D.; Wei, T.; Ke, J.; Ravadgar, P.; Tsai, D.; Tsai, M.;
2013 / IEEE
By: Fernandez, J. C.; Albright, B. J.; Yin, L.; Shimada, T.; Shah, R.; Roth, M.; Palaniyappan, S.; Jung, D.; Johnson, R. P.; Huang, C.; Gautier, D.; Hamilton, C. E.; Hegelich, B. M.; Honrubia, J.;
By: Fernandez, J. C.; Albright, B. J.; Yin, L.; Shimada, T.; Shah, R.; Roth, M.; Palaniyappan, S.; Jung, D.; Johnson, R. P.; Huang, C.; Gautier, D.; Hamilton, C. E.; Hegelich, B. M.; Honrubia, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Lau, B.; Samir Patel; Chanh Tran; Ho, J.; Yiu-Fai Chan; Donnelly, K.; Jun Kim; Tarver, R.; Leung Yu; Johnson, M.; Wei, J.; Huang, C.; Pak Chau;
By: Lau, B.; Samir Patel; Chanh Tran; Ho, J.; Yiu-Fai Chan; Donnelly, K.; Jun Kim; Tarver, R.; Leung Yu; Johnson, M.; Wei, J.; Huang, C.; Pak Chau;
1996 / IEEE / 0-7803-3268-7
By: Kao, C.Y.; Luo, J.; Yeh, C.S.; Mendel, R.; Lewicki, L.; Chen, H.; Huang, C.; Hwang, K.W.;
By: Kao, C.Y.; Luo, J.; Yeh, C.S.; Mendel, R.; Lewicki, L.; Chen, H.; Huang, C.; Hwang, K.W.;
1996 / IEEE
By: Johnson, M.G.; Donnelly, K.S.; Kulkami, R.; Tarver, R.; Leung Yu; Wei, J.; Huang, C.; Stark, D.; Pak Shing Chau; Jun Kim; Benedict Lau; Patel, S.; Chanh V. Tran; Ho, J.T.C.; Yiu-Fai Chan;
By: Johnson, M.G.; Donnelly, K.S.; Kulkami, R.; Tarver, R.; Leung Yu; Wei, J.; Huang, C.; Stark, D.; Pak Shing Chau; Jun Kim; Benedict Lau; Patel, S.; Chanh V. Tran; Ho, J.T.C.; Yiu-Fai Chan;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Gough, P.; Ginet, G.; Burke, W.J.; Olsen, D.; Hardy, D.A.; James, H.G.; Huang, C.;
By: Gough, P.; Ginet, G.; Burke, W.J.; Olsen, D.; Hardy, D.A.; James, H.G.; Huang, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-3575-9
By: Zous, N.K.; Chang, T.E.; Chiang, L.P.; Tahui Wang; Huang, C.; Shen, K.Y.;
By: Zous, N.K.; Chang, T.E.; Chiang, L.P.; Tahui Wang; Huang, C.; Shen, K.Y.;