Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hollis, M.A.
Results
1989 / IEEE
By: Actis, R.; Nichols, K.B.; Bozler, C.O.; Chick, R.W.; Hollis, M.A.; Murphy, R.A.; McMorran, R.A.;
By: Actis, R.; Nichols, K.B.; Bozler, C.O.; Chick, R.W.; Hollis, M.A.; Murphy, R.A.; McMorran, R.A.;
1992 / IEEE
By: Palmateer, S.C.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Calawa, A.R.; Chen, C.-L.; Hollis, M.A.; Manfra, M.J.;
By: Palmateer, S.C.; Mahoney, L.J.; Courtney, W.E.; Calawa, A.R.; Chen, C.-L.; Hollis, M.A.; Manfra, M.J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Wintucky, E.G.; Goplen, B.; Palmer, D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.; Bandy, S.G.;
By: Wintucky, E.G.; Goplen, B.; Palmer, D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.; Bandy, S.G.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Murphy, R.A.; Rabe, S.; Lincoln, G.A.; Harris, C.T.; Hollis, M.A.; Bozler, C.O.; Rathman, D.D.; Smith, H.I.;
By: Murphy, R.A.; Rabe, S.; Lincoln, G.A.; Harris, C.T.; Hollis, M.A.; Bozler, C.O.; Rathman, D.D.; Smith, H.I.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Murphy, R.A.; Jensen, K.L.; Ngo, M.T.; Garven, M.; Shaw, J.; Harris, C.T.; Kodis, M.A.; Hollis, M.A.; Graves, C.A.; Mathews, R.H.;
By: Murphy, R.A.; Jensen, K.L.; Ngo, M.T.; Garven, M.; Shaw, J.; Harris, C.T.; Kodis, M.A.; Hollis, M.A.; Graves, C.A.; Mathews, R.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Bandy, S.G.; Wintucky, E.G.; Goplen, B.; Palmer, D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.;
By: Bandy, S.G.; Wintucky, E.G.; Goplen, B.; Palmer, D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.;
1993 / IEEE / 0-7803-0852-2
By: Rabe, S.; Harris, C.T.; Bozler, C.O.; Hollis, M.A.; Goodhue, W.D.; Rathman, D.D.;
By: Rabe, S.; Harris, C.T.; Bozler, C.O.; Hollis, M.A.; Goodhue, W.D.; Rathman, D.D.;
Bright-field Analysis Of Field-emission Cones Using High-resolution Transmission Electron Microscopy
1993 / IEEE / 0-7803-0852-2By: Nitishin, P.M.; Goodhue, W.D.; Hollis, M.A.; Johnson, G.D.; Rathman, D.D.; Bozler, C.O.; Harris, C.T.;
1993 / IEEE / 0-7803-0852-2
By: Kordesch, M.; Lyszczarz, T.M.; Uttaro, R.; Hollis, M.A.; Krohn, K.E.; Efremow, N.N.; Rathman, D.D.; Bozler, C.O.; Twichell, J.C.; Geis, M.W.;
By: Kordesch, M.; Lyszczarz, T.M.; Uttaro, R.; Hollis, M.A.; Krohn, K.E.; Efremow, N.N.; Rathman, D.D.; Bozler, C.O.; Twichell, J.C.; Geis, M.W.;
1987 / IEEE
By: Nichols, K.B.; Murphy, R.A.; Rabe, S.; Vera, A.; Mathews, R.; Kushner, L.J.; Quddus, M.A.; Bozler, C.O.; Hollis, M.A.;
By: Nichols, K.B.; Murphy, R.A.; Rabe, S.; Vera, A.; Mathews, R.; Kushner, L.J.; Quddus, M.A.; Bozler, C.O.; Hollis, M.A.;
1998 / IEEE / 0-7803-5096-0
By: Goplen, B.; Palmer, W.D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.; Bandy, S.G.; Wintucky, E.G.;
By: Goplen, B.; Palmer, W.D.; Hollis, M.A.; Spindt, C.A.; Green, M.C.; Bandy, S.G.; Wintucky, E.G.;
1998 / IEEE / 0-7803-5096-0
By: Murphy, R.A.; Graves, C.A.; Harris, C.T.; Parameswaran, L.; Hollis, M.A.;
By: Murphy, R.A.; Graves, C.A.; Harris, C.T.; Parameswaran, L.; Hollis, M.A.;
1980 / IEEE
By: Allis, J.W.; Ananasso, F.G.; Winkler, C.; Weil, C.M.; Archer, J.W.; Barber, P.W.; Begemann, G.; Blackman, C.F.; Caloccia, E.M.; Cap, F.; Cullen, A.L.; Dahele, J.S.; Deutsch, R.; Dragone, C.; Durney, C.H.; Dydyk, M.; Hinken, J.H.; Hoefer, W.J.R.; Hollis, M.A.; Iskander, M.F.; Itoh, T.; Karmel, P.R.; Knorr, J.B.; Kobayashi, M.; Koyano, Y.Y.; Kpodzo, E.; Lewis, J.E.; Love, J.D.; Marazzi, E.; Massoudi, H.; Nagao, T.; Papp, J.C.; Predmore, C.R.; Rizzoli, V.; Saleh, A.A.M.; Schaefer, D.J.; Schunemann, K.; Serna, R.; Shayda, P.M.; Yi-Chi Shih; Tanaka, Z.; Terakado, R.; Tranquilla, J.M.; Watanabe, R.;
By: Allis, J.W.; Ananasso, F.G.; Winkler, C.; Weil, C.M.; Archer, J.W.; Barber, P.W.; Begemann, G.; Blackman, C.F.; Caloccia, E.M.; Cap, F.; Cullen, A.L.; Dahele, J.S.; Deutsch, R.; Dragone, C.; Durney, C.H.; Dydyk, M.; Hinken, J.H.; Hoefer, W.J.R.; Hollis, M.A.; Iskander, M.F.; Itoh, T.; Karmel, P.R.; Knorr, J.B.; Kobayashi, M.; Koyano, Y.Y.; Kpodzo, E.; Lewis, J.E.; Love, J.D.; Marazzi, E.; Massoudi, H.; Nagao, T.; Papp, J.C.; Predmore, C.R.; Rizzoli, V.; Saleh, A.A.M.; Schaefer, D.J.; Schunemann, K.; Serna, R.; Shayda, P.M.; Yi-Chi Shih; Tanaka, Z.; Terakado, R.; Tranquilla, J.M.; Watanabe, R.;
1981 / IEEE
By: Malik, R.J.; Hollis, M.A.; Eastman, L.F.; Woodard, D.W.; Wood, C.E.C.; AuCoin, T.R.;
By: Malik, R.J.; Hollis, M.A.; Eastman, L.F.; Woodard, D.W.; Wood, C.E.C.; AuCoin, T.R.;
1985 / IEEE
By: Piacentini, W.J.; Hollis, M.A.; Smith, P.M.; Bozler, C.O.; Nichols, K.B.; Rabe, S.; Gale, R.P.; Murphy, R.A.;
By: Piacentini, W.J.; Hollis, M.A.; Smith, P.M.; Bozler, C.O.; Nichols, K.B.; Rabe, S.; Gale, R.P.; Murphy, R.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;
By: Hollis, M.A.; Madison, S.M.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Oakley, D.C.; Caissie, J.M.; Missaggia, L.J.; Sheehan, M.; O'Donnell, F.J.; Napoleone, A.;