Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Heavner, T.P.
Results
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5400-1
By: Ashby, N.; Klipstein, W.M.; Sullivan, D.B.; Shirley, J.H.; Robinson, H.G.; Rolston, S.; Walls, F.L.; Phillips, W.; Parker, T.E.; Meekhof, D.M.; Kitching, J.; Hollberg, L.W.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; DeMarchi, A.; Vessot, R.F.C.; Young, L.; Wu, S.; Thompson, R.; Seidel, D.; Maleki, L.;
By: Ashby, N.; Klipstein, W.M.; Sullivan, D.B.; Shirley, J.H.; Robinson, H.G.; Rolston, S.; Walls, F.L.; Phillips, W.; Parker, T.E.; Meekhof, D.M.; Kitching, J.; Hollberg, L.W.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; DeMarchi, A.; Vessot, R.F.C.; Young, L.; Wu, S.; Thompson, R.; Seidel, D.; Maleki, L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5744-2
By: Jefferts, S.R.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Sullivan, D.B.; Robinson, H.G.; Meekhof, D.M.; Kitching, J.;
By: Jefferts, S.R.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Sullivan, D.B.; Robinson, H.G.; Meekhof, D.M.; Kitching, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5838-4
By: Heavner, T.P.; Holberg, L.; Jefferts, S.R.; Kitching, J.; Klipstein, W.M.; Meekhof, D.M.; Robinson, H.G.;
By: Heavner, T.P.; Holberg, L.; Jefferts, S.R.; Kitching, J.; Klipstein, W.M.; Meekhof, D.M.; Robinson, H.G.;
2001 / IEEE
By: Jefferts, S.R.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Robinson, H.G.; Meekhof, D.M.; Klipstein, W.M.; Kitching, J.;
By: Jefferts, S.R.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Robinson, H.G.; Meekhof, D.M.; Klipstein, W.M.; Kitching, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7695-1
By: Riddle, B.F.; Juroshek, J.R.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Crowley, T.P.;
By: Riddle, B.F.; Juroshek, J.R.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Crowley, T.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7688-9
By: Heavner, T.P.; Drullinger, R.E.; Diddams, S.A.; Bize, S.; Oskay, W.H.; Bergquist, J.C.; Hollberg, L.; Tanaka, U.; Tanner, C.E.; Parker, T.E.; Jefferts, S.R.; Itano, W.M.;
By: Heavner, T.P.; Drullinger, R.E.; Diddams, S.A.; Bize, S.; Oskay, W.H.; Bergquist, J.C.; Hollberg, L.; Tanaka, U.; Tanner, C.E.; Parker, T.E.; Jefferts, S.R.; Itano, W.M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7688-9
By: Shirley, J.H.; Donley, E.A.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; Parker, T.E.;
By: Shirley, J.H.; Donley, E.A.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; Parker, T.E.;
Recent improvements in NIST-F1 and a resulting accuracy of /spl delta/f/f=0.61/spl times/10/sup -15/
2005 / IEEEBy: Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Parker, T.E.; Shirley, J.H.; Donley, E.A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8414-8
By: Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Parker, T.E.; Shirley, J.H.; Donley, E.A.;
By: Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Parker, T.E.; Shirley, J.H.; Donley, E.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Heavner, T.P.; Ashby, N.; Shirley, J.H.; Jefferts, S.R.; Levi, F.; Donley, E.A.;
By: Heavner, T.P.; Ashby, N.; Shirley, J.H.; Jefferts, S.R.; Levi, F.; Donley, E.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: O'Brien, J.W.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Levi, F.; Jefferts, S.R.;
By: O'Brien, J.W.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Levi, F.; Jefferts, S.R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Levi, F.; Parker, T.E.; Donley, E.A.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.;
By: Levi, F.; Parker, T.E.; Donley, E.A.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0074-0
By: Diddams, S.A.; Kim, K.; Stalnaker, J.E.; Fortier, T.M.; Oskay, W.H.; Lorini, L.; Jensen, M.J.; Itano, W.M.; Bergquist, J.C.; Parker, T.E.; Levi, F.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Hollberg, L.;
By: Diddams, S.A.; Kim, K.; Stalnaker, J.E.; Fortier, T.M.; Oskay, W.H.; Lorini, L.; Jensen, M.J.; Itano, W.M.; Bergquist, J.C.; Parker, T.E.; Levi, F.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Donley, E.A.; Hollberg, L.;
2004 / IEEE / 0-7803-8493-8
By: Donley, E.A.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Parker, T.E.; Shirley, J.H.;
By: Donley, E.A.; Jefferts, S.R.; Heavner, T.P.; Parker, T.E.; Shirley, J.H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Heavner, T.P.; Ashby, N.; Dudin, Y.O.; Radnaev, A.G.; Jefferts, S.R.;
By: Heavner, T.P.; Ashby, N.; Dudin, Y.O.; Radnaev, A.G.; Jefferts, S.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0646-3
By: Fortier, T.M.; Lorini, L.; Levi, F.; Stalnaker, J.E.; Shirley, J.; Parker, T.E.; Oskay, W.H.; Kim, K.; Jefferts, S.R.; Itano, W.M.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Diddams, S.A.; Delaney, M.J.; Bergquist, J.C.; Ashby, N.;
By: Fortier, T.M.; Lorini, L.; Levi, F.; Stalnaker, J.E.; Shirley, J.; Parker, T.E.; Oskay, W.H.; Kim, K.; Jefferts, S.R.; Itano, W.M.; Hollberg, L.; Heavner, T.P.; Diddams, S.A.; Delaney, M.J.; Bergquist, J.C.; Ashby, N.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3511-1
By: Jefferts, S.R.; Mongino, B.; Costanzo, G.A.; Godone, A.; Bertacco, E.K.; Heavner, T.P.; Lorini, L.; Calonico, D.; Calosso, C.; Levi, F.; Donley, E.A.;
By: Jefferts, S.R.; Mongino, B.; Costanzo, G.A.; Godone, A.; Bertacco, E.K.; Heavner, T.P.; Lorini, L.; Calonico, D.; Calosso, C.; Levi, F.; Donley, E.A.;
2010 / IEEE
By: Donley, E.A.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; Mongino, B.; Costanzo, G.A.; Calosso, C.; Godone, A.; Bertacco, E.K.; Lorini, L.; Calonico, D.; Levi, F.;
By: Donley, E.A.; Heavner, T.P.; Jefferts, S.R.; Mongino, B.; Costanzo, G.A.; Calosso, C.; Godone, A.; Bertacco, E.K.; Lorini, L.; Calonico, D.; Levi, F.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-112-0
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Parker, T.E.; Donley, L.; Shirley, J.H.; Calonico, D.; Heavner, T.P.; Mongino, B.; Costanzo, G.; Calosso, C.;
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Parker, T.E.; Donley, L.; Shirley, J.H.; Calonico, D.; Heavner, T.P.; Mongino, B.; Costanzo, G.; Calosso, C.;