Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hashimoto, K.
Results
2011 / IEEE
By: Ohta, K.; Nakayama, H.; Tsunoda, H.; Nemoto, Y.; Keeni, G.M.; Suzuki, A.; Waizumi, Y.; Hashimoto, K.; Nagatomi, R.; Nishiyama, H.;
By: Ohta, K.; Nakayama, H.; Tsunoda, H.; Nemoto, Y.; Keeni, G.M.; Suzuki, A.; Waizumi, Y.; Hashimoto, K.; Nagatomi, R.; Nishiyama, H.;
2012 / IEEE
By: Hashimoto, K.; Kitao, J.; Matsuo, T.; Ahagon, A.; Ishihara, Y.; Fujiwara, K.; Takahashi, Y.;
By: Hashimoto, K.; Kitao, J.; Matsuo, T.; Ahagon, A.; Ishihara, Y.; Fujiwara, K.; Takahashi, Y.;
2012 / IEEE
By: Matsuda, T.; Miura, M.; Hara, M.; Matsuda, S.; Hashimoto, K.; Satoh, Y.; Ueda, U.M.;
By: Matsuda, T.; Miura, M.; Hara, M.; Matsuda, S.; Hashimoto, K.; Satoh, Y.; Ueda, U.M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Takeuchi, M.; Petersen, K.; Solis, J.; Hashimoto, K.; Takanishi, A.; Ishikawa, S.; Kusano, T.;
By: Takeuchi, M.; Petersen, K.; Solis, J.; Hashimoto, K.; Takanishi, A.; Ishikawa, S.; Kusano, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Kondo, H.; Yoshimura, Y.; Hashimoto, K.; Takanishi, A.; Hun-ok Lim;
By: Kondo, H.; Yoshimura, Y.; Hashimoto, K.; Takanishi, A.; Hun-ok Lim;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Tsunakawa, H.; Saito, Y.; Nishino, M.N.; Ono, T.; Kojima, H.; Kasahara, Y.; Omura, Y.; Hashimoto, K.; Goto, Y.; Kitaguchi, S.;
By: Tsunakawa, H.; Saito, Y.; Nishino, M.N.; Ono, T.; Kojima, H.; Kasahara, Y.; Omura, Y.; Hashimoto, K.; Goto, Y.; Kitaguchi, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Hashimoto, K.; Matsumoto, H.; Shinohara, N.; Shishkov, B.; Mitani, T.;
By: Hashimoto, K.; Matsumoto, H.; Shinohara, N.; Shishkov, B.; Mitani, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-868-6
By: Recchiuto, C.T.; Muscolo, G.G.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Dario, P.; Laschi, C.;
By: Recchiuto, C.T.; Muscolo, G.G.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Dario, P.; Laschi, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2138-0
By: Natale, L.; Jamone, L.; Takanishi, A.; Sandini, G.; Hashimoto, K.;
By: Natale, L.; Jamone, L.; Takanishi, A.; Sandini, G.; Hashimoto, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1200-5
By: Kryczka, P.; Falotico, E.; Berthoz, A.; Dario, P.; Laschi, C.; Takanishi, A.; Lim, H.; Hashimoto, K.;
By: Kryczka, P.; Falotico, E.; Berthoz, A.; Dario, P.; Laschi, C.; Takanishi, A.; Lim, H.; Hashimoto, K.;
2014 / IEEE
By: Otani, T.; George, T.; Takanishi, A.; Lim, H.O.; Kawakami, Y.; Sakaguchi, M.; Destephe, M.; Hashimoto, K.; Miyamae, S.; Hamamoto, S.; Uryu, K.; Yahara, M.; Iizuka, A.;
By: Otani, T.; George, T.; Takanishi, A.; Lim, H.O.; Kawakami, Y.; Sakaguchi, M.; Destephe, M.; Hashimoto, K.; Miyamae, S.; Hamamoto, S.; Uryu, K.; Yahara, M.; Iizuka, A.;
2014 / IEEE
By: Kishi, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Otani, T.; Nozawa, T.;
By: Kishi, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Otani, T.; Nozawa, T.;
2014 / IEEE
By: Otani, T.; Yahara, M.; Takanishi, A.; Lim, H.O.; Hyon, S.H.; Kawakami, Y.; Sakaguchi, M.; Endo, N.; Kishi, T.; Hashimoto, K.; Uryu, K.; Iizuka, A.;
By: Otani, T.; Yahara, M.; Takanishi, A.; Lim, H.O.; Hyon, S.H.; Kawakami, Y.; Sakaguchi, M.; Endo, N.; Kishi, T.; Hashimoto, K.; Uryu, K.; Iizuka, A.;
2014 / IEEE
By: Gambogi, W.; Heta, Y.; Sample, T.; Trout, T. J.; Stika, K.; Aoki, T.; Garreau-Iles, L.; Hamzavytehrany, B.; Bradley, A.; MacMaster, S.; Felder, T.; Kopchick, J.; Hashimoto, K.;
By: Gambogi, W.; Heta, Y.; Sample, T.; Trout, T. J.; Stika, K.; Aoki, T.; Garreau-Iles, L.; Hamzavytehrany, B.; Bradley, A.; MacMaster, S.; Felder, T.; Kopchick, J.; Hashimoto, K.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Yamada, T.; Okabe, N.; Takato, H.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Ozaki, T.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Hieda, K.; Hashimoto, K.; Inoue, S.;
By: Yamada, T.; Okabe, N.; Takato, H.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Ozaki, T.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Hieda, K.; Hashimoto, K.; Inoue, S.;
1991 / IEEE
By: Hayashida, H.; Nagamatsu, M.; Mori, J.; Maeguchi, K.; Hirano, M.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Noda, M.; Tanaka, S.;
By: Hayashida, H.; Nagamatsu, M.; Mori, J.; Maeguchi, K.; Hirano, M.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Noda, M.; Tanaka, S.;
1991 / IEEE / 0-87942-673-X
By: Hayashida, H.; Hashimoto, K.; Suguro, K.; Kunishima, I.; Suizu, Y.; Shinagawa, H.; Toyoshima, Y.;
By: Hayashida, H.; Hashimoto, K.; Suguro, K.; Kunishima, I.; Suizu, Y.; Shinagawa, H.; Toyoshima, Y.;
1992 / IEEE
By: Watanabe, T.; Hashimoto, K.; Nakata, H.; Jinbo, T.; Okazawa, T.; Ninomiya, K.; Kodama, N.; Oyama, K.; Sato, T.; Koike, M.; Urai, T.;
By: Watanabe, T.; Hashimoto, K.; Nakata, H.; Jinbo, T.; Okazawa, T.; Ninomiya, K.; Kodama, N.; Oyama, K.; Sato, T.; Koike, M.; Urai, T.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Nakata, H.; Jinbo, T.; Okazawa, T.; Oyama, K.-I.; Kodama, N.; Hashimoto, K.; Sato, T.; Koike, M.; Urai, T.; Ninomiya, K.; Watanabe, T.;
By: Nakata, H.; Jinbo, T.; Okazawa, T.; Oyama, K.-I.; Kodama, N.; Hashimoto, K.; Sato, T.; Koike, M.; Urai, T.; Ninomiya, K.; Watanabe, T.;
1993 / IEEE
By: Matsumoto, S.; Nakata, Y.; Yabu, T.; Ogawa, H.; Sagago, M.; Matsuo, N.; Okada, S.; Hashimoto, K.;
By: Matsumoto, S.; Nakata, Y.; Yabu, T.; Ogawa, H.; Sagago, M.; Matsuo, N.; Okada, S.; Hashimoto, K.;
Ultrasonic vibration press of metal and ceramic powders using complex vibration and vacuum condition
1991 / IEEEBy: Suzuki, H.; Ueoka, T.; Tsujino, J.; Hashimoto, K.; Shinuchi, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Shibata, H.; Matsuno, T.; Matsunaga, T.; Shinagawa, H.; Kasai, K.; Toyoshima, Y.; Hayashida, H.; Yoshinari, H.; Norishima, M.; Eguchi, T.; Hashimoto, K.;
By: Shibata, H.; Matsuno, T.; Matsunaga, T.; Shinagawa, H.; Kasai, K.; Toyoshima, Y.; Hayashida, H.; Yoshinari, H.; Norishima, M.; Eguchi, T.; Hashimoto, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Matsumoto, S.; Yabu, T.; Ogawa, H.; Nakata, Y.; Sasago, M.; Okada, S.; Matsuo, N.; Hashimoto, K.;
By: Matsumoto, S.; Yabu, T.; Ogawa, H.; Nakata, Y.; Sasago, M.; Okada, S.; Matsuo, N.; Hashimoto, K.;
1990 / IEEE
By: Yamada, T.; Ozaki, T.; Takato, H.; Okabe, N.; Hieda, K.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Takahashi, Y.; Kumagae, A.; Yagishita, A.; Takedai, S.; Hashimoto, K.;
By: Yamada, T.; Ozaki, T.; Takato, H.; Okabe, N.; Hieda, K.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Takahashi, Y.; Kumagae, A.; Yagishita, A.; Takedai, S.; Hashimoto, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0747-X
By: Nakayama, S.; Hashimoto, K.; Okada, Y.; Oono, N.; Ishii, J.; Unuora, K.; Ishida, S.; Saito, T.;
By: Nakayama, S.; Hashimoto, K.; Okada, Y.; Oono, N.; Ishii, J.; Unuora, K.; Ishida, S.; Saito, T.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Endo, M.; Hashimoto, K.; Yamashita, K.; Katsuyama, A.; Matsuo, T.; Tani, Y.; Sasago, M.; Nomura, N.;
By: Endo, M.; Hashimoto, K.; Yamashita, K.; Katsuyama, A.; Matsuo, T.; Tani, Y.; Sasago, M.; Nomura, N.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Shimizu, N.; Naito, Y.; Itoh, Y.; Shibata, Y.; Hirofuji, Y.; Nishio, M.; Asai, A.; Ohe, K.; Umimoto, H.; Hashimoto, K.;
By: Shimizu, N.; Naito, Y.; Itoh, Y.; Shibata, Y.; Hirofuji, Y.; Nishio, M.; Asai, A.; Ohe, K.; Umimoto, H.; Hashimoto, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Tsunoda, H.; Tanimoto, M.; Kamiya, E.; Yamaguchi, Y.; Sakagami, E.; Mori, S.; Hisatomi, K.; Yoshikawa, K.; Hashimoto, K.; Hiura, Y.; Arai, N.; Egawa, H.;
By: Tsunoda, H.; Tanimoto, M.; Kamiya, E.; Yamaguchi, Y.; Sakagami, E.; Mori, S.; Hisatomi, K.; Yoshikawa, K.; Hashimoto, K.; Hiura, Y.; Arai, N.; Egawa, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Maurer, W.; Mii, T.; Liebmann, L.; Martino, R.; Hashimoto, K.; Farrell, T.; Chang, I.; Ausschnitt, C.; Ferguson, R.; Weed, J.; Samuels, D.; Nunes, R.; Neisser, M.; Moy, D.;
By: Maurer, W.; Mii, T.; Liebmann, L.; Martino, R.; Hashimoto, K.; Farrell, T.; Chang, I.; Ausschnitt, C.; Ferguson, R.; Weed, J.; Samuels, D.; Nunes, R.; Neisser, M.; Moy, D.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Mizushima, I.; Azuma, A.; Eguchi, T.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Shiozawa, J.; Mitani, Y.;
By: Mizushima, I.; Azuma, A.; Eguchi, T.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Shiozawa, J.; Mitani, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Aoyama, K.; Izawa, T.; Kawamura, S.; Goto, H.; Furumochi, K.; Shimizu, H.; Watanabe, K.; Inoue, F.; Takagi, H.; Shimizu, A.; Kawamura, E.; Hashimoto, K.; Yokoyama, Y.; Katsube, M.;
By: Aoyama, K.; Izawa, T.; Kawamura, S.; Goto, H.; Furumochi, K.; Shimizu, H.; Watanabe, K.; Inoue, F.; Takagi, H.; Shimizu, A.; Kawamura, E.; Hashimoto, K.; Yokoyama, Y.; Katsube, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2940-6
By: Nishihara, T.; Uchishiba, H.; Ohmori, H.; Ikata, O.; Satoh, Y.; Kawachi, O.; Ueda, M.; Hashimoto, K.;
By: Nishihara, T.; Uchishiba, H.; Ohmori, H.; Ikata, O.; Satoh, Y.; Kawachi, O.; Ueda, M.; Hashimoto, K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3339-X
By: Suk-Chon Kwon; Kanazawa, K.; Itoh, J.; Sung-Soo Lee; Koji Sakui; Jin-Ki Kim; Miyamoto, J.; Sung-Tae Ahn; Hashimoto, K.; Kang-Deog Suh; Oshima, Y.; Tae-Sung Jung; Kanda, K.; Jang-Rae Kim; Himeno, T.; Kang-Young Kim; Nakamura, H.; Ji-Jun Lee;
By: Suk-Chon Kwon; Kanazawa, K.; Itoh, J.; Sung-Soo Lee; Koji Sakui; Jin-Ki Kim; Miyamoto, J.; Sung-Tae Ahn; Hashimoto, K.; Kang-Deog Suh; Oshima, Y.; Tae-Sung Jung; Kanda, K.; Jang-Rae Kim; Himeno, T.; Kang-Young Kim; Nakamura, H.; Ji-Jun Lee;
1995 / IEEE / 0-7803-2140-5
By: Ogata, S.; Hashimoto, K.; Tokunaga, M.; Shimotashiro, M.; Kurosawa, Y.;
By: Ogata, S.; Hashimoto, K.; Tokunaga, M.; Shimotashiro, M.; Kurosawa, Y.;