Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Harvey, M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-9268-8
By: Namera, T.; Fukui, H.; Hasui, A.; Yamazaki, M.; Hirata, Y.; Nanamatsu, S.; Miyazawa, S.; Matsue, H.; Ota, K.; Yui, T.; Kainuma, Y.; Yazawa, Y.; Miyajima, H.; Harvey, M.;
By: Namera, T.; Fukui, H.; Hasui, A.; Yamazaki, M.; Hirata, Y.; Nanamatsu, S.; Miyazawa, S.; Matsue, H.; Ota, K.; Yui, T.; Kainuma, Y.; Yazawa, Y.; Miyajima, H.; Harvey, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
By: Khalfin, V.; Martinelli, R.; Menna, R.; Maiorov, M.; Connolly, J.; Garbuzov, D.; Harvey, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Ahrens, L.; Alessi, J.; Zhang, S.Y.; Zeno, K.; Thieberger, P.; Tsoupas, N.; Steski, D.; Smith, K.S.; Smith, G.; Satogata, T.; Roser, T.; Morris, J.; Marr, G.; MacKay, W.; Lowenstein, D.; Ingrassia, P.; Hseuh, H.-C.; Hayes, T.; Harvey, M.; Glenn, J.W.; Gardner, C.J.; Frak, B.; D'Ottavio, T.; DeLong, J.; Carlson, C.; Benjamin, J.; Blaskiewicz, M.; Brennan, J.M.; Brown, K.A.;
By: Ahrens, L.; Alessi, J.; Zhang, S.Y.; Zeno, K.; Thieberger, P.; Tsoupas, N.; Steski, D.; Smith, K.S.; Smith, G.; Satogata, T.; Roser, T.; Morris, J.; Marr, G.; MacKay, W.; Lowenstein, D.; Ingrassia, P.; Hseuh, H.-C.; Hayes, T.; Harvey, M.; Glenn, J.W.; Gardner, C.J.; Frak, B.; D'Ottavio, T.; DeLong, J.; Carlson, C.; Benjamin, J.; Blaskiewicz, M.; Brennan, J.M.; Brown, K.A.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
By: Braun, A.M.; Martinelli, R.U.; Khalfin, V.; Li, J.; Willner, B.L.; Abeles, J.H.; Shellenbarger, Z.; Harvey, M.;
2007 / IEEE
By: Ochoa, E.; Ehret, J.; Bedford, R.; Nelson, T.; Starman, L.; Ren, F.; Anderson, T.; Harvey, M.;
By: Ochoa, E.; Ehret, J.; Bedford, R.; Nelson, T.; Starman, L.; Ren, F.; Anderson, T.; Harvey, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1335-5
By: Harvey, M.; Fukawa, Y.; Andresakis, J.; Jun Fan; Smith, N.; Knighten, J.;
By: Harvey, M.; Fukawa, Y.; Andresakis, J.; Jun Fan; Smith, N.; Knighten, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Drees, A.; Ahrens, L.; Alessi, J.; Bai, M.; Barton, D.; Beebe-Wang, J.; Blaskiewicz, M.; Brown, K.; Brennan, M.; Bruno, D.; Butler, J.; Calaga, R.; Cameron, P.; Connolly, R.; D'Ottavio, T.; Fischer, W.; Fu, W.; Ganetis, G.; Glenn, J.W.; Harvey, M.; Hayes, T.; Hsueh, H.C.; Huang, H.; Kewisch, J.; Lee, R.C.; Litvinenko, V.; Luo, Y.; MacKay, W.W.; Marr, G.; Marusic, A.; Michnoff, R.; Montag, C.; Morris, J.; Oerter, B.; Pilat, F.; Ptitsyn, V.; Roser, T.; Sandberg, J.; Satogata, T.; Schultheiss, C.; Severino, F.; Smith, K.; Tepikian, S.; Trbojevic, D.; Tsoupas, N.; Tuozzolo, J.; Zaltsman, A.; Zhang, S.Y.;
By: Drees, A.; Ahrens, L.; Alessi, J.; Bai, M.; Barton, D.; Beebe-Wang, J.; Blaskiewicz, M.; Brown, K.; Brennan, M.; Bruno, D.; Butler, J.; Calaga, R.; Cameron, P.; Connolly, R.; D'Ottavio, T.; Fischer, W.; Fu, W.; Ganetis, G.; Glenn, J.W.; Harvey, M.; Hayes, T.; Hsueh, H.C.; Huang, H.; Kewisch, J.; Lee, R.C.; Litvinenko, V.; Luo, Y.; MacKay, W.W.; Marr, G.; Marusic, A.; Michnoff, R.; Montag, C.; Morris, J.; Oerter, B.; Pilat, F.; Ptitsyn, V.; Roser, T.; Sandberg, J.; Satogata, T.; Schultheiss, C.; Severino, F.; Smith, K.; Tepikian, S.; Trbojevic, D.; Tsoupas, N.; Tuozzolo, J.; Zaltsman, A.; Zhang, S.Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Brennan, J.M.; Brown, K.A.; Blaskiewicz, M.; Benjamin, J.; Alessi, J.; Ahrens, L.; Zeno, K.; Zaltsman, A.; Tsoupas, N.; Thieberger, P.; Steski, D.; Smith, K.S.; Severino, F.; Roser, T.; Pilat, F.; Morris, J.; Marr, G.; Haixin Huang; Hayes, T.; Harvey, M.; Glenn, J.W.; Gardner, C.J.; Fischer, W.; Carlson, C.;
By: Brennan, J.M.; Brown, K.A.; Blaskiewicz, M.; Benjamin, J.; Alessi, J.; Ahrens, L.; Zeno, K.; Zaltsman, A.; Tsoupas, N.; Thieberger, P.; Steski, D.; Smith, K.S.; Severino, F.; Roser, T.; Pilat, F.; Morris, J.; Marr, G.; Haixin Huang; Hayes, T.; Harvey, M.; Glenn, J.W.; Gardner, C.J.; Fischer, W.; Carlson, C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Fischer, W.; Fedotov, A.; Hayes, T.; Jappe, W.; Lee, R.C.; MacKay, W.W.; Malitsky, N.; Marr, G.; Michnoff, R.; Oerter, B.; Pozdeyev, E.; Roser, T.; Severino, F.; Smith, K.; Tepikian, S.; Tsoupas, N.; Harvey, M.; Drees, A.; Butler, J.; Bruno, D.; Brennan, J.M.; Bai, M.; Ahrens, L.; Satogata, T.;
By: Fischer, W.; Fedotov, A.; Hayes, T.; Jappe, W.; Lee, R.C.; MacKay, W.W.; Malitsky, N.; Marr, G.; Michnoff, R.; Oerter, B.; Pozdeyev, E.; Roser, T.; Severino, F.; Smith, K.; Tepikian, S.; Tsoupas, N.; Harvey, M.; Drees, A.; Butler, J.; Bruno, D.; Brennan, J.M.; Bai, M.; Ahrens, L.; Satogata, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Harvey, M.; Fukawa, Y.; Andresakis, J.; Jun Fan; Smith, N.; Knighten, J.;
By: Harvey, M.; Fukawa, Y.; Andresakis, J.; Jun Fan; Smith, N.; Knighten, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3296-7
By: Lovell, N.H.; Savkin, A.V.; Harvey, M.; Cave, G.; Middleton, P.M.; Chan, G.; Tang, C.H.H.;
By: Lovell, N.H.; Savkin, A.V.; Harvey, M.; Cave, G.; Middleton, P.M.; Chan, G.; Tang, C.H.H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-663-7
By: Matsue, H.; Miyazawa, S.; Ota, K.; Yui, T.; Kainuma, Y.; Yamashita, S.; Yazawa, Y.; Miyajima, H.; Harvey, M.; Fukui, H.; Yamazaki, M.; Hasui, A.; Hirata, Y.; Nanamatsu, S.;
By: Matsue, H.; Miyazawa, S.; Ota, K.; Yui, T.; Kainuma, Y.; Yamashita, S.; Yazawa, Y.; Miyajima, H.; Harvey, M.; Fukui, H.; Yamazaki, M.; Hasui, A.; Hirata, Y.; Nanamatsu, S.;