Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Gupta, R.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-372-8
By: Gupta, R.; Zhiling Lan; Li Yu; Wei Tang; Desai, N.; Ziming Zheng; Buettner, D.; Coghlan, S.;
By: Gupta, R.; Zhiling Lan; Li Yu; Wei Tang; Desai, N.; Ziming Zheng; Buettner, D.; Coghlan, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0455-9
By: Biswas, M.; Mishra, S.; Jegannathan, S.; Singh, V.K.; Gupta, R.;
By: Biswas, M.; Mishra, S.; Jegannathan, S.; Singh, V.K.; Gupta, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0351-4
By: Gupta, R.; Dussarrat, C.; Eisenbraun, E.; Nicoll, W.; Anderson, C.;
By: Gupta, R.; Dussarrat, C.; Eisenbraun, E.; Nicoll, W.; Anderson, C.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0158-9
By: Kumar, S.; Agarwal, P.; Upadhyay, A.; Gupta, R.; Rajasekar, S.; Kumar, Y.S.;
By: Kumar, S.; Agarwal, P.; Upadhyay, A.; Gupta, R.; Rajasekar, S.; Kumar, Y.S.;
2013 / IEEE
By: Custer, D.; Walsh, C.; Begg, N. D.; Hanumara, N. C.; Slocum, A. H.; Osborn, L. R.; Gupta, R.;
By: Custer, D.; Walsh, C.; Begg, N. D.; Hanumara, N. C.; Slocum, A. H.; Osborn, L. R.; Gupta, R.;
2015 / IEEE
By: Gupta, R.; Nakao, K.; Willen, E.; Weggel, R.; Scanlan, R.; Anerella, M.; Schmalzle, J.; Sampson, W.; Lalitha, S.L.; Ghosh, A.; Kolonko, J.;
By: Gupta, R.; Nakao, K.; Willen, E.; Weggel, R.; Scanlan, R.; Anerella, M.; Schmalzle, J.; Sampson, W.; Lalitha, S.L.; Ghosh, A.; Kolonko, J.;
2015 / IEEE
By: Zeller, A.; Wanderer, P.; Sampson, W.; Joshi, P.; Cozzolino, J.; Anerella, M.; Gupta, R.;
By: Zeller, A.; Wanderer, P.; Sampson, W.; Joshi, P.; Cozzolino, J.; Anerella, M.; Gupta, R.;
1992 / IEEE
By: Ganetis, G.; Rehak, M.; Cottingham, J.; Anerella, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Thompson, P.; Skaritka, J.; Shutt, R.; Sampson, W.; Rohrer, E.P.; Garber, M.; Prodell, A.; Muratore, J.; Morgan, G.; Meade, A.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Gupta, R.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.;
By: Ganetis, G.; Rehak, M.; Cottingham, J.; Anerella, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Thompson, P.; Skaritka, J.; Shutt, R.; Sampson, W.; Rohrer, E.P.; Garber, M.; Prodell, A.; Muratore, J.; Morgan, G.; Meade, A.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Gupta, R.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.;
1992 / IEEE
By: Koska, W.; Bleadon, M.; Bossert, R.; Carson, J.; Delchamps, S.; Gourlay, S.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Strait, J.; Wake, M.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Kahn, S.; Herrera, J.; Kelly, E.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
By: Koska, W.; Bleadon, M.; Bossert, R.; Carson, J.; Delchamps, S.; Gourlay, S.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Strait, J.; Wake, M.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Kahn, S.; Herrera, J.; Kelly, E.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
Results of magnetic field measurements of 40 mm aperture 17-m long SSC model collider dipole magnets
1992 / IEEEBy: Wanderer, P.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.; Turner, J.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.;
1992 / IEEE
By: Kuzminski, J.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
By: Kuzminski, J.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.C.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.;
1988 / IEEE / 0-8186-0869-2
By: Horowitz, E.; Hardonag, I.; Gupta, R.; Cheng, W.; Breuer, M.A.; Lin, S.Y.;
By: Horowitz, E.; Hardonag, I.; Gupta, R.; Cheng, W.; Breuer, M.A.; Lin, S.Y.;
1991 / IEEE
By: Kerby, J.; Strait, J.; Morgan, G.; Kahn, S.; Gupta, R.; Goodzeit, C.; Willen, E.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Sanger, P.; Orrell, D.; Nobrega, F.; Leung, K.; Jayakumar, J.; Schermer, R.;
By: Kerby, J.; Strait, J.; Morgan, G.; Kahn, S.; Gupta, R.; Goodzeit, C.; Willen, E.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Sanger, P.; Orrell, D.; Nobrega, F.; Leung, K.; Jayakumar, J.; Schermer, R.;
Synchronization and communication costs of loop partitioning on shared-memory multiprocessor systems
1992 / IEEEBy: Gupta, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Cottingham, G.; Prodell, A.; Anerella, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Thompson, P.; Shutt, R.; Sampson, W.; Rohrer, E.; Rehak, M.; Radusewicz, P.; Ganetis, G.; Muratore, J.; Morgan, G.; Meade, A.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Gupta, R.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.;
By: Cottingham, G.; Prodell, A.; Anerella, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Thompson, P.; Shutt, R.; Sampson, W.; Rohrer, E.; Rehak, M.; Radusewicz, P.; Ganetis, G.; Muratore, J.; Morgan, G.; Meade, A.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Gupta, R.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Gupta, R.; Greene, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Morgillo, A.; Muratore, J.; Prodell, A.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Herrera, J.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.; Ganetis, G.; Cottingham, J.; Anerella, M.; Morgan, G.H.;
By: Gupta, R.; Greene, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Morgillo, A.; Muratore, J.; Prodell, A.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Herrera, J.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.; Ganetis, G.; Cottingham, J.; Anerella, M.; Morgan, G.H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0196-X
By: Gerson, H.; Hampsch, T.; Gupta, R.; Assal, F.; Sorbello, R.; Zaghloul, A.;
By: Gerson, H.; Hampsch, T.; Gupta, R.; Assal, F.; Sorbello, R.; Zaghloul, A.;
1993 / IEEE
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
1993 / IEEE
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap