Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Guillon, P.
Results
Dielectric resonators suitable for use in planar integrated circuits at short millimeter wavelengths
1989 / IEEEBy: Auxemery, P.; Guillon, P.; Jiao, X.H.; Cros, D.;
1992 / IEEE / 0-7803-0611-2
By: Bonnefoy, J.L.; Naud, P.; Guillon, P.; Julien, A.; Derray, D.; Prulhiere, J.P.;
By: Bonnefoy, J.L.; Naud, P.; Guillon, P.; Julien, A.; Derray, D.; Prulhiere, J.P.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Theron, B.; Boschet, C.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Gendraud, S.; Comte, R.;
By: Theron, B.; Boschet, C.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Gendraud, S.; Comte, R.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Theron, B.; Vigneron, S.; Latouche, Y.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Moraud, S.;
By: Theron, B.; Vigneron, S.; Latouche, Y.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Moraud, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Larique, E.; Baillargeat, D.; Guillon, P.; Sommet, R.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.;
By: Larique, E.; Baillargeat, D.; Guillon, P.; Sommet, R.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.;
Design and realization of a four pole elliptic microwave filter using low dielectric loaded cavities
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6By: Chaubet, M.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Gendraud, S.; Theron, B.; Vigneron, S.; Sombrin, J.;
1998 / IEEE
By: Mons, S.; Larique, E.; Quere, R.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.;
By: Mons, S.; Larique, E.; Quere, R.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Bodereau, F.; Guillon, P.; Aubourg, M.;
By: Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Bodereau, F.; Guillon, P.; Aubourg, M.;
1998 / IEEE
By: Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Mons, S.; Guillon, P.; Jansen, R.H.; Larique, E.; Quere, R.;
By: Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Mons, S.; Guillon, P.; Jansen, R.H.; Larique, E.; Quere, R.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Rouchaud, F.; Maignan, M.; Theron, B.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Madrangeas, V.;
By: Rouchaud, F.; Maignan, M.; Theron, B.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Madrangeas, V.;
1999 / IEEE
By: Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Mons, S.; Quere, R.; Sombrin, J.; Larique, E.; Zanchi, C.; Guillon, P.;
By: Aubourg, M.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Mons, S.; Quere, R.; Sombrin, J.; Larique, E.; Zanchi, C.; Guillon, P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Baillargeat, D.; Bodereau, F.; Cazaux, J.L.; Rogeaux, E.; Jarthon, G.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.;
By: Baillargeat, D.; Bodereau, F.; Cazaux, J.L.; Rogeaux, E.; Jarthon, G.; Guillon, P.; Aubourg, M.; Verdeyme, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Tanne, G.; Guillon, P.; Jarry, B.; Billonnet; Biron, F.; Toutain, S.; Mahe, F.; Ruis, E.;
By: Tanne, G.; Guillon, P.; Jarry, B.; Billonnet; Biron, F.; Toutain, S.; Mahe, F.; Ruis, E.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Boussavie, C.; Theron, B.; Verdeyme, S.; Vigneron, S.; Catherinot, A.; Guillon, P.;
By: Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Boussavie, C.; Theron, B.; Verdeyme, S.; Vigneron, S.; Catherinot, A.; Guillon, P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5838-4
By: Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.;
By: Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.; Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.;
2001 / IEEE
By: Guillon, P.; Verdeyme, S.; Bila, S.; Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Seyfert, F.; Sombrin, J.; Zanchi, C.; Baratchart, L.; Grimm, J.;
By: Guillon, P.; Verdeyme, S.; Bila, S.; Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Seyfert, F.; Sombrin, J.; Zanchi, C.; Baratchart, L.; Grimm, J.;
2001 / IEEE
By: Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.;
By: Cros, D.; Duchiron, G.; Hartnett, J.G.; Tobar, M.E.; Guillon, P.; Blondy, P.; Ivanov, E.N.;
2001 / IEEE / 0-7803-7129-1
By: Blondy, P.; Quoirin, J.B.; Zanchi, C.; Diem, B.; Cros, D.; Charvet, P.; Rey, P.; Guillon, P.;
By: Blondy, P.; Quoirin, J.B.; Zanchi, C.; Diem, B.; Cros, D.; Charvet, P.; Rey, P.; Guillon, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Cailloce, Y.; Carlier, A.; Guillon, P.; Vaudon, P.; Blondeaux, H.; Verdeyme, S.; Leveque, P.; Baillargeat, D.;
By: Cailloce, Y.; Carlier, A.; Guillon, P.; Vaudon, P.; Blondeaux, H.; Verdeyme, S.; Leveque, P.; Baillargeat, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Aubourg, M.; Madrangeas, V.; Rouchaud, F.; Lascaux, C.; Maignan, M.; Theron, B.; Guillon, P.;
By: Aubourg, M.; Madrangeas, V.; Rouchaud, F.; Lascaux, C.; Maignan, M.; Theron, B.; Guillon, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Rius, E.; Quendo, C.; Guillon, P.; Jarry, B.; Billonnet, L.; Nenert, L.; Tanne, G.;
By: Rius, E.; Quendo, C.; Guillon, P.; Jarry, B.; Billonnet, L.; Nenert, L.; Tanne, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Guillon, P.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Lenoir, B.; Puech, J.; Zanchi, C.;
By: Guillon, P.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.; Lenoir, B.; Puech, J.; Zanchi, C.;
2001 / IEEE / 0-7803-6666-2
By: Champeaux, C.; Blondy, P.; Guillon, P.; Catherinot, A.; Cros, D.; Mercier, D.; Tristant, P.;
By: Champeaux, C.; Blondy, P.; Guillon, P.; Catherinot, A.; Cros, D.; Mercier, D.; Tristant, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Bila, S.; Bariant, D.; Herren, J.-J.; Pacaud, D.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.;
By: Bila, S.; Bariant, D.; Herren, J.-J.; Pacaud, D.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Baillargeat, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Thevenon, F.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Bila, S.; Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Rochette, M.; Bariant, D.; Thon, B.; Sombrin, J.; Lapierre, L.; Puech, J.;
By: Thevenon, F.; Guillon, P.; Verdeyme, S.; Bila, S.; Aubourg, M.; Baillargeat, D.; Rochette, M.; Bariant, D.; Thon, B.; Sombrin, J.; Lapierre, L.; Puech, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Zheng, E.; Guillon, P.; Baillargeat, D.; Verdeyme, S.; Tavernier, C.; Blondy, P.; Lenoir, B.; Papapolymerou, P.;
By: Zheng, E.; Guillon, P.; Baillargeat, D.; Verdeyme, S.; Tavernier, C.; Blondy, P.; Lenoir, B.; Papapolymerou, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Soulard, M.; Baillargeat, D.; Lopez, D.; Byk, E.; Verdeyme, S.; Laporte, E.; Guillon, P.; Sommet, R.; Quere, R.;
By: Soulard, M.; Baillargeat, D.; Lopez, D.; Byk, E.; Verdeyme, S.; Laporte, E.; Guillon, P.; Sommet, R.; Quere, R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Baillargeat, D.; Bila, S.; Saboureau, C.; Guillon, P.; Verdeyme, S.;
By: Baillargeat, D.; Bila, S.; Saboureau, C.; Guillon, P.; Verdeyme, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7440-1
By: Champeaux, C.; Guillon, P.; Cros, D.; Verdeyme, S.; Tristant, P.; Blondy, P.; Pothier, A.; Catherinot, A.;
By: Champeaux, C.; Guillon, P.; Cros, D.; Verdeyme, S.; Tristant, P.; Blondy, P.; Pothier, A.; Catherinot, A.;
1977 / IEEE
By: Bahar, E.; Besse, M.; Shen, L.C.; Sannino, M.; Borth, D.E.; Cain, C.A.; Caruso, G.; Cicconi, G.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Falciasecca, G.; Garault, Y.; Gauthier, F.; Guillon, P.; Kelly, A.J.; Ladbrooke, P.H.; Lee, C.C.; Lin, J.C.; Moll, N.J.; Ogusu, K.; Rogai, S.; Rosatelli, C.; Saha, P.K.;
By: Bahar, E.; Besse, M.; Shen, L.C.; Sannino, M.; Borth, D.E.; Cain, C.A.; Caruso, G.; Cicconi, G.; Das, B.N.; Deshpande, M.D.; Falciasecca, G.; Garault, Y.; Gauthier, F.; Guillon, P.; Kelly, A.J.; Ladbrooke, P.H.; Lee, C.C.; Lin, J.C.; Moll, N.J.; Ogusu, K.; Rogai, S.; Rosatelli, C.; Saha, P.K.;