Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Greiner, A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Strohmeier, D.; Korvink, J.G.; Wallrabe, U.; Greiner, A.; Domaszewski, M.; Draheim, J.;
By: Strohmeier, D.; Korvink, J.G.; Wallrabe, U.; Greiner, A.; Domaszewski, M.; Draheim, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1124-3
By: Kauzlaric, D.; Korvink, J.G.; Succi, S.; Greiner, A.; Espa� P.; Hanein, Y.; Liba, O.;
By: Kauzlaric, D.; Korvink, J.G.; Succi, S.; Greiner, A.; Espa� P.; Hanein, Y.; Liba, O.;
Application of a redefinable symbolic simulation technique in VLSI testability design rules checking
1994 / IEEE / 0-8186-5620-4By: Greiner, A.; Florent, O.; Hirech, M.; Rejouan, E.;
1996 / IEEE
By: Baumann, I.; Bosso, S.; Brinkmann, R.; Corsini, R.; Dinand, M.; Wessel, R.; Schafer, K.; Sochtig, J.; Sohler, W.; Suche, H.; Greiner, A.;
By: Baumann, I.; Bosso, S.; Brinkmann, R.; Corsini, R.; Dinand, M.; Wessel, R.; Schafer, K.; Sochtig, J.; Sohler, W.; Suche, H.; Greiner, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3650-X
By: Zerrouk, B.; Nezamzadeh, R.; Marbot, R.; Derieux, A.; Greiner, A.; Potter, F.; Reibaldi, V.;
By: Zerrouk, B.; Nezamzadeh, R.; Marbot, R.; Derieux, A.; Greiner, A.; Potter, F.; Reibaldi, V.;
2003 / IEEE / 0-7695-1870-2
By: Mortiez, L.; Greiner, A.; Charlery, H.; Adriahantenaina, A.; Zeferino, C.A.;
By: Mortiez, L.; Greiner, A.; Charlery, H.; Adriahantenaina, A.; Zeferino, C.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0275-1
By: Gaddi, R.; Del Tin, L.; Korvink, J.G.; Greiner, A.; Rudnyi, E.; Gnudi, A.;
By: Gaddi, R.; Del Tin, L.; Korvink, J.G.; Greiner, A.; Rudnyi, E.; Gnudi, A.;
2006 / IEEE / 4-901122-86-X
By: Petrot, F.; Greiner, A.; Labayrade, R.; Chotin-Avot, R.; Benabdenbi, M.; Carrier, M.;
By: Petrot, F.; Greiner, A.; Labayrade, R.; Chotin-Avot, R.; Benabdenbi, M.; Carrier, M.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Greiner, A.; Rudnyi, E.B.; Gnudi, A.; Gaddi, R.; Iannacci, J.; Del Tin, L.; Korvink, J.G.;
By: Greiner, A.; Rudnyi, E.B.; Gnudi, A.; Gaddi, R.; Iannacci, J.; Del Tin, L.; Korvink, J.G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Falkenau, M.; Aghajani-Talesh, A.; Sebastian, J.; Greiner, A.; Griesmaier, A.; Pfau, T.; Rehme, P.;
By: Falkenau, M.; Aghajani-Talesh, A.; Sebastian, J.; Greiner, A.; Griesmaier, A.; Pfau, T.; Rehme, P.;
2009 / IEEE / 978-0-7695-3690-3
By: de Mello, A.V.; Becoulet, A.; Pouillon, N.; Greiner, A.; Pecheux, F.;
By: de Mello, A.V.; Becoulet, A.; Pouillon, N.; Greiner, A.; Pecheux, F.;