Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Granatstein, V.L.
Results
2011 / IEEE
By: Nusinovich, G.S.; Petillo, J.J.; Kesar, A.S.; Granatstein, V.L.; Herrmannsfeldt, W.B.;
By: Nusinovich, G.S.; Petillo, J.J.; Kesar, A.S.; Granatstein, V.L.; Herrmannsfeldt, W.B.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Hogan, B.; Latham, P.E.; Tantawi, S.; Main, W.;
By: Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Hogan, B.; Latham, P.E.; Tantawi, S.; Main, W.;
1988 / IEEE
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
1988 / IEEE
By: Striffler, C.D.; Lawson, W.; Hix, W.R.; Granatstein, V.L.; Goutos, D.; Destler, W.W.; Singh, A.;
By: Striffler, C.D.; Lawson, W.; Hix, W.R.; Granatstein, V.L.; Goutos, D.; Destler, W.W.; Singh, A.;
1988 / IEEE
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Striffler, C.D.; Skopec, M.; Read, M.E.; Renbaum, J.; Naimann, M.; Hogan, B.; Welsh, D.;
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Striffler, C.D.; Skopec, M.; Read, M.E.; Renbaum, J.; Naimann, M.; Hogan, B.; Welsh, D.;
1989 / IEEE
By: Sucy, M.S.; Granatstein, V.L.; Kinkead, A.K.; Black, W.M.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; McCowan, R.B.;
By: Sucy, M.S.; Granatstein, V.L.; Kinkead, A.K.; Black, W.M.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; McCowan, R.B.;
1990 / IEEE
By: Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M., Jr.; Radack, D.J.; Booske, J.H.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Carmel, Y.; Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Destler, W.W.;
By: Bidwell, S.W.; Antonsen, T.M., Jr.; Radack, D.J.; Booske, J.H.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Carmel, Y.; Levush, B.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Freund, H.P.; Destler, W.W.;
1990 / IEEE
By: Rodgers, J.; Lou, W.; Minami, K.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
By: Rodgers, J.; Lou, W.; Minami, K.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
1990 / IEEE
By: Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Minami, K.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Destler, W.W.; Hosokawa, T.; Ali, M.M.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Lou, W.;
By: Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Minami, K.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Destler, W.W.; Hosokawa, T.; Ali, M.M.; Kehs, R.A.; Abe, D.K.; Lou, W.;
1989 / IEEE
By: Skopec, M.; Calame, J.; Latham, P.E.; Lawson, W.; Welsh, D.; Hogan, B.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Read, M.; Naiman, M.;
By: Skopec, M.; Calame, J.; Latham, P.E.; Lawson, W.; Welsh, D.; Hogan, B.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Read, M.; Naiman, M.;
1991 / IEEE
By: Armstrong, C.M.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Park, G.-S.; Park, S.Y.; Ganguly, A.K.;
By: Armstrong, C.M.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Park, G.-S.; Park, S.Y.; Ganguly, A.K.;
1992 / IEEE
By: Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.; Main, W.T.; Tantawi, S.G.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.G.;
By: Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.; Main, W.T.; Tantawi, S.G.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.G.;
1992 / IEEE
By: Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Skopec, M.; Hogan, B.P.; Calame, J.P.; Lawson, W.;
By: Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Skopec, M.; Hogan, B.P.; Calame, J.P.; Lawson, W.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Reiser, M.; Main, W.; Specht, V.; Read, M.E.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Latham, P.E.; Calame, J.; Lawson, W.; Hogan, B.;
By: Reiser, M.; Main, W.; Specht, V.; Read, M.E.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Latham, P.E.; Calame, J.; Lawson, W.; Hogan, B.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Latham, P.E.; Main, W.; Tantawi, S.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Matthews, H.;
By: Latham, P.E.; Main, W.; Tantawi, S.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Matthews, H.;
1989 / IEEE
By: Levush, B.; Booske, J.H.; Freund, H.P.; Zhang, Z.X.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Radack, D.J.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bidwell, S.; Antonsen, T.M., Jr.;
By: Levush, B.; Booske, J.H.; Freund, H.P.; Zhang, Z.X.; Serbeto, A.; Mayergoyz, I.D.; Radack, D.J.; Latham, P.E.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bidwell, S.; Antonsen, T.M., Jr.;
1989 / IEEE
By: Latham, P.E.; Carmel, Y.; Lawson, W.; Calame, J.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Miller, S.; Read, M.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Skopec, M.; Welsh, D.;
By: Latham, P.E.; Carmel, Y.; Lawson, W.; Calame, J.; Striffler, C.D.; Granatstein, V.L.; Miller, S.; Read, M.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Skopec, M.; Welsh, D.;
Demonstration of efficiency enhancement in a high power backward wave oscillator by plasma injection
1989 / IEEEBy: Destler, W.W.; Carmel, Y.; Kehs, R.A.; Lou, W.R.; Abe, D.; Minami, K.; Granatstein, V.L.;
1992 / IEEE
By: Guo, H.; Granatstein, V.L.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Rodgers, J.; Chen, L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.;
By: Guo, H.; Granatstein, V.L.; Destler, W.; Bromborsky, A.; Abe, D.K.; Rodgers, J.; Chen, L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.;
1992 / IEEE / 0-7803-0611-2
By: Destler, W.W.; Tate, J.; Levush, B.; Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.;
By: Destler, W.W.; Tate, J.; Levush, B.; Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Lou, W.R.; Carmel, Y.; Antonsen, T.M., Jr.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Jackson, R.H.; Bluem, H.; Granatstein, V.L.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.;
By: Jackson, R.H.; Bluem, H.; Granatstein, V.L.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Chen, L.; Cai, S.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Carmel, Y.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
By: Chen, L.; Cai, S.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Carmel, Y.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
1990 / IEEE
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Latham, P.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Main, W.;
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Latham, P.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Main, W.;
1993 / IEEE
By: Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Bidwell, S.W.; Destler, W.W.; Chang, S.; Ze-Xiang Zhang; Radack, D.J.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.;
By: Rodgers, J.; Granatstein, V.L.; Bidwell, S.W.; Destler, W.W.; Chang, S.; Ze-Xiang Zhang; Radack, D.J.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Calame, J.P.; Striffler, C.D.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Lee, M.K.E.; Hogan, B.; Lawson, W.; Matthews, H.W.;
By: Calame, J.P.; Striffler, C.D.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Lee, M.K.E.; Hogan, B.; Lawson, W.; Matthews, H.W.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Latham, P.E.; Lawson, W.; Striffler, C.D.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Hogan, B.; Calame, J.P.; Qian, Q.; Lee, M.K.E.; Specht, V.;
By: Latham, P.E.; Lawson, W.; Striffler, C.D.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Hogan, B.; Calame, J.P.; Qian, Q.; Lee, M.K.E.; Specht, V.;
1994 / IEEE
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Latham, P.E.; Hogan, B.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Flaherty, M.K.E.; Calame, J.P.; Lawson, W.; Matthews, H.W.;
By: Latham, P.E.; Hogan, B.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Flaherty, M.K.E.; Calame, J.P.; Lawson, W.; Matthews, H.W.;
1995 / IEEE
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
1995 / IEEE
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Hogan, B.; Latham, P.E.; Cheng, J.; Castle, M.; Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Lawson, W.; Reiser, M.;
By: Hogan, B.; Latham, P.E.; Cheng, J.; Castle, M.; Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Lawson, W.; Reiser, M.;
1995 / IEEE
By: Conroy, B.L.; Tate, J.P.; Perez, R.M.; Rodgers, J.; Hoppe, D.J.; Hezhong Guo; Granatstein, V.L.; Naiman, L.; Shiaw-Huei Chen; Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.; Bhanji, A.M.;
By: Conroy, B.L.; Tate, J.P.; Perez, R.M.; Rodgers, J.; Hoppe, D.J.; Hezhong Guo; Granatstein, V.L.; Naiman, L.; Shiaw-Huei Chen; Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.; Bhanji, A.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Lawson, W.; Cheng, J.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Calame, J.P.; Latham, P.E.; Castle, M.; Hogan, B.;
By: Lawson, W.; Cheng, J.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Calame, J.P.; Latham, P.E.; Castle, M.; Hogan, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Nusinovich, G.S.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Guo, H.; Singh, A.; Lawson, W.; Calame, J.;
By: Nusinovich, G.S.; Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Guo, H.; Singh, A.; Lawson, W.; Calame, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Granatstein, V.L.; Castle, M.; Hogan, B.; Cheng, J.; Lawson, W.; Calame, J.P.; Reiser, M.;
By: Granatstein, V.L.; Castle, M.; Hogan, B.; Cheng, J.; Lawson, W.; Calame, J.P.; Reiser, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Hogan, B.; Castle, M.; Calame, J.P.; Cheng, J.; Reiser, M.; Saraph, G.; Lawson, W.; Metz, H.; Granatstein, V.L.;
By: Hogan, B.; Castle, M.; Calame, J.P.; Cheng, J.; Reiser, M.; Saraph, G.; Lawson, W.; Metz, H.; Granatstein, V.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Reiser, M.; Lawson, W.; Cheng, J.; Metz, H.; Calame, J.P.; Granatstein, V.L.; Castle, M.; Latham, P.E.; Hogan, B.;
By: Reiser, M.; Lawson, W.; Cheng, J.; Metz, H.; Calame, J.P.; Granatstein, V.L.; Castle, M.; Latham, P.E.; Hogan, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Granatstein, V.L.; Conroy, B.L.; Tate, J.; Perez, R.M.; Rodgers, J.; Bhanji, A.; Guo, H.Z.; Naiman, M.; Hoppe, D.J.; Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.;
By: Granatstein, V.L.; Conroy, B.L.; Tate, J.; Perez, R.M.; Rodgers, J.; Bhanji, A.; Guo, H.Z.; Naiman, M.; Hoppe, D.J.; Nusinovich, G.S.; Latham, P.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Guo, H.Z.; Chen, S.H.; Tate, J.;
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Guo, H.Z.; Chen, S.H.; Tate, J.;
1996 / IEEE
By: Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Shiqiu Cheng;
By: Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Shiqiu Cheng;
1996 / IEEE
By: Shahadi, A.; Drori, R.; Bekefi, G.; Granatstein, V.L.; Fruchtman, A.; Baron, Y.; Harhel, T.; Jerby, E.; Bensal, M.; Grinberg, V.; Dikhtiar, V.; Sheinin, M.; Einat, M.; Korol, M.;
By: Shahadi, A.; Drori, R.; Bekefi, G.; Granatstein, V.L.; Fruchtman, A.; Baron, Y.; Harhel, T.; Jerby, E.; Bensal, M.; Grinberg, V.; Dikhtiar, V.; Sheinin, M.; Einat, M.; Korol, M.;
1996 / IEEE
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
1996 / IEEE
By: Shkvarunets, A.G.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Kobayashi, S.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Weaver, J.;
By: Shkvarunets, A.G.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Kobayashi, S.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Weaver, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Calame, J.P.; Lawson, W.; Castle, M.; Reiser, M.; Hogan, B.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Latham, P.E.;
By: Calame, J.P.; Lawson, W.; Castle, M.; Reiser, M.; Hogan, B.; Granatstein, V.L.; Cheng, J.; Latham, P.E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Castle, M.; Hogan, B.; Reiser, M.; Cheng, J.; Lawson, W.; Metz, H.;
By: Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Castle, M.; Hogan, B.; Reiser, M.; Cheng, J.; Lawson, W.; Metz, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Destler, W.W.; Weaver, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
By: Destler, W.W.; Weaver, J.; Kobayashi, S.; Shkvarunets, A.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Saraph, G.P.; Granatstein, V.L.; Castle, M.; Anderson, J.P.; Lawson, W.;
By: Saraph, G.P.; Granatstein, V.L.; Castle, M.; Anderson, J.P.; Lawson, W.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Matthews, H.W.; Irwin, V.; Latham, P.E.; Hogan, B.; Klaherty, M.K.E.; Cheng, J.; Lawson, W.; Calame, J.P.;
By: Granatstein, V.L.; Reiser, M.; Matthews, H.W.; Irwin, V.; Latham, P.E.; Hogan, B.; Klaherty, M.K.E.; Cheng, J.; Lawson, W.; Calame, J.P.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Kobayashi, S.; Miller, S.; Weaver, J.; Nusinovich, G.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
By: Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Kobayashi, S.; Miller, S.; Weaver, J.; Nusinovich, G.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bromborskyt, A.; Tate, J.P.; Minamit, K.; Watanabet, S.; Amint, M.R.; Ogurat, K.; Nusinovich, G.S.; Main, W.; Carmel, Y.;
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Bromborskyt, A.; Tate, J.P.; Minamit, K.; Watanabet, S.; Amint, M.R.; Ogurat, K.; Nusinovich, G.S.; Main, W.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Carmel, Y.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Watanabe, T.; Amin, M.R.; Aiba, Y.;
By: Carmel, Y.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Watanabe, T.; Amin, M.R.; Aiba, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccettit, J.M.; Granatstein, V.L.;
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccettit, J.M.; Granatstein, V.L.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lawson, W.; Flaherty, M.K.E.; Granatstein, V.L.; Latham, P.E.; Hogan, B.; Calame, J.P.; Cheng, J.;
By: Lawson, W.; Flaherty, M.K.E.; Granatstein, V.L.; Latham, P.E.; Hogan, B.; Calame, J.P.; Cheng, J.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; University, N.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Naito, Y.; Sugawara, A.;
By: Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.; University, N.; Watanabe, T.; Ogura, K.; Naito, Y.; Sugawara, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Nusinovich, G.;
By: Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Nusinovich, G.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Ogura, K.; Carmel, Y.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Weaver, J.; Destler, W.W.; Nusinovitch, G.; Watanabe, S.; Tate, J.;
By: Ogura, K.; Carmel, Y.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Weaver, J.; Destler, W.W.; Nusinovitch, G.; Watanabe, S.; Tate, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Antonsen, T., Jr.; Abe, D.K.; Miller, S.M.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
By: Antonsen, T., Jr.; Abe, D.K.; Miller, S.M.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Destler, W.W.; Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Cheng, S.; Bidwell, S.W.; Granatstein, V.L.;
By: Destler, W.W.; Zhang, Z.X.; Rodgers, J.; Cheng, S.; Bidwell, S.W.; Granatstein, V.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Stattel, M.; Lawson, W.; Saraph, G.P.; Anderson, J.P.; Hogan, B.; Castle, M.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.;
By: Stattel, M.; Lawson, W.; Saraph, G.P.; Anderson, J.P.; Hogan, B.; Castle, M.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.;
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Granatstein, V.L.; Chin, P.; Cheng, J.; Castle, M.; Calame, J.P.; Hogan, B.; Lawson, W.; Saraph, G.P.; Ballew, N.; Reiser, M.;
By: Granatstein, V.L.; Chin, P.; Cheng, J.; Castle, M.; Calame, J.P.; Hogan, B.; Lawson, W.; Saraph, G.P.; Ballew, N.; Reiser, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Vlasov, A.; Shakvanmets, A.; Duan, L.; Granatstein, V.L.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Botton, M.; Kobayashi, S.;
By: Vlasov, A.; Shakvanmets, A.; Duan, L.; Granatstein, V.L.; Levush, B.; Rodgers, J.; Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Botton, M.; Kobayashi, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Zhao, J.; Nusinovich, G.; Rodgers, J.; Walter, M.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
By: Zhao, J.; Nusinovich, G.; Rodgers, J.; Walter, M.; Guo, H.; Granatstein, V.L.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Yokota, T.; Nagahama, T.; Minami, K.; Tanaka, K.; Granatstein, V.L.; Kobayashi, S.; Yoshida, N.;
By: Yokota, T.; Nagahama, T.; Minami, K.; Tanaka, K.; Granatstein, V.L.; Kobayashi, S.; Yoshida, N.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Granatstein, V.L.; Yoshida, N.; Tanaka, K.; Kobayashi, S.; Minami, K.;
By: Granatstein, V.L.; Yoshida, N.; Tanaka, K.; Kobayashi, S.; Minami, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Liu, C.; Lawson, W.; Xu, X.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Hogan, B.; Cheng, J.;
By: Liu, C.; Lawson, W.; Xu, X.; Reiser, M.; Granatstein, V.L.; Hogan, B.; Cheng, J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
By: Shkvarunets, A.; Granatstein, V.L.; Antonsen, T.M., Jr.; Rodgers, J.; Carmel, Y.; Kobayashi, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Hogan, B.; Lawson, W.; Cheng, J.; Reiser, M.; Xu, X.; Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Castle, M.;
By: Hogan, B.; Lawson, W.; Cheng, J.; Reiser, M.; Xu, X.; Granatstein, V.L.; Calame, J.P.; Castle, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Granatstein, V.L.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.;
By: Granatstein, V.L.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Tanaka, K.; Hisyam, N.; Onose, H.; Naito, Y.; Sugawara, A.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Kobayashi, S.;
By: Tanaka, K.; Hisyam, N.; Onose, H.; Naito, Y.; Sugawara, A.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Kobayashi, S.;