Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Giuliani, J.L.
Results
2012 / IEEE
By: Safronova, A.S.; Kantsyrev, V.L.; Esaulov, A.A.; Shrestha, I.; Shlyaptseva, V.V.; Weller, M.E.; Chuvatin, A.S.; Osborne, G.C.; Stafford, A.; Keim, S.F.; Velikovich, A.L.; Giuliani, J.L.; Ouart, N.D.;
By: Safronova, A.S.; Kantsyrev, V.L.; Esaulov, A.A.; Shrestha, I.; Shlyaptseva, V.V.; Weller, M.E.; Chuvatin, A.S.; Osborne, G.C.; Stafford, A.; Keim, S.F.; Velikovich, A.L.; Giuliani, J.L.; Ouart, N.D.;
2012 / IEEE
By: Beg, F.N.; Giuliani, J.L.; Presura, R.; Ivanov, V.V.; Kusse, B.R.; Kantsyrev, V.L.; Gilgenbach, R.M.;
By: Beg, F.N.; Giuliani, J.L.; Presura, R.; Ivanov, V.V.; Kusse, B.R.; Kantsyrev, V.L.; Gilgenbach, R.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Terry, R.; Mulbrandon, M.; Giuliani, J.L.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Commisso, R.; Ottinger, P.;
By: Terry, R.; Mulbrandon, M.; Giuliani, J.L.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Commisso, R.; Ottinger, P.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Davis, J.; Giuliani, J.L.; LePell, P.O.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Chong, Y. K.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.; Velikovich, A.;
By: Davis, J.; Giuliani, J.L.; LePell, P.O.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Chong, Y. K.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.; Velikovich, A.;
2D radiation MHD model assessment of initial argon gas distributions to be imploded on the Z machine
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2By: Jones, B.; Ampleford, D.J.; Madden, R.E.; Coleman, P.L.; Krishnan, M.; Elliott, K.W.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Jennings, C.; Coverdale, C.A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Coverdale, C.A.; Jones, M.C.; Hansen, S.B.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Cuneo, M.E.; Zarnitsky, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, B.; Maron, Y.;
By: Coverdale, C.A.; Jones, M.C.; Hansen, S.B.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Cuneo, M.E.; Zarnitsky, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, B.; Maron, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Yu, E.P.; Starobinets, A.; Maron, Y.; Zalesak, S.T.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.;
By: Yu, E.P.; Starobinets, A.; Maron, Y.; Zalesak, S.T.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.;
Diagnosing copper wire array implosions on refurbished Z with detailed radiation-hydrodynamic models
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2By: Dasgupta, A.; Clark, R.W.; Hansen, S.B.; Coverdale, C.A.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Giuliani, J.L.;
2014 / IEEE
By: Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Thornhill, J.W.; Zalesak, S.T.; Lamb, D.; Tzeferacos, P.;
By: Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Thornhill, J.W.; Zalesak, S.T.; Lamb, D.; Tzeferacos, P.;
2014 / IEEE
By: Harvey-Thompson, A.J.; Jones, B.; Dasgupta, A.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Lamppa, D.C.; Hansen, S.B.; Coverdale, C.A.; Gomez, M.R.; Rochau, G.A.; Johnson, D.; Jones, M.C.; Moore, N.W.; Flanagan, T.; Reneker, J.; Jobe, M.; Lucero, L.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.;
By: Harvey-Thompson, A.J.; Jones, B.; Dasgupta, A.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Lamppa, D.C.; Hansen, S.B.; Coverdale, C.A.; Gomez, M.R.; Rochau, G.A.; Johnson, D.; Jones, M.C.; Moore, N.W.; Flanagan, T.; Reneker, J.; Jobe, M.; Lucero, L.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.;
2014 / IEEE
By: Ouart, N.D.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Petrov, G.M.; Safronova, A.S.; Kantsyrev, V.L.; Esaulov, A.A.; Shrestha, I.; Weller, M.E.; Shlyaptseva, V.; Schultz, K.; Stafford, A.; Cooper, M.; Ampleford, D.J.; Hansen, S.B.;
By: Ouart, N.D.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Petrov, G.M.; Safronova, A.S.; Kantsyrev, V.L.; Esaulov, A.A.; Shrestha, I.; Weller, M.E.; Shlyaptseva, V.; Schultz, K.; Stafford, A.; Cooper, M.; Ampleford, D.J.; Hansen, S.B.;
2014 / IEEE
By: Kroupp, E.; Doron, R.; Stollberg, C.; Mikitchuk, D.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.; Strauss, H.R.; Maron, Y.;
By: Kroupp, E.; Doron, R.; Stollberg, C.; Mikitchuk, D.; Giuliani, J.L.; Velikovich, A.L.; Strauss, H.R.; Maron, Y.;
2014 / IEEE
By: Jones, B.; Jennings, C.A.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Bixler, A.; Thompson, J.; Madden, R.E.; Elliott, K.W.; Coleman, P.L.; Krishnan, M.; Coverdale, C.A.; Waisman, E.M.; McKenney, J.L.; Lamppa, D.C.; Hansen, S.B.; Harvey-Thompson, A.J.; Ampleford, D.J.; Cuneo, M.E.; Strizic, T.; Johnson, D.; Jones, M.C.; Moore, N.W.; Flanagan, T.M.;
By: Jones, B.; Jennings, C.A.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Velikovich, A.L.; Chong, Y.K.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Bixler, A.; Thompson, J.; Madden, R.E.; Elliott, K.W.; Coleman, P.L.; Krishnan, M.; Coverdale, C.A.; Waisman, E.M.; McKenney, J.L.; Lamppa, D.C.; Hansen, S.B.; Harvey-Thompson, A.J.; Ampleford, D.J.; Cuneo, M.E.; Strizic, T.; Johnson, D.; Jones, M.C.; Moore, N.W.; Flanagan, T.M.;
1999 / IEEE
By: Thomas, R.E.; Shamamian, V.A.; Giuliani, J.L.; Robson, A.E.; Apruzese, J.P.; Hendry, R.C.; Rudder, R.A.; Mulbrandon, M.;
By: Thomas, R.E.; Shamamian, V.A.; Giuliani, J.L.; Robson, A.E.; Apruzese, J.P.; Hendry, R.C.; Rudder, R.A.; Mulbrandon, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Pechacek, R.E.; Meger, R.A.; Giuliani, J.L.; Butler, J.E.; Shamamian, V.; Hinshelwood, D.D.;
By: Pechacek, R.E.; Meger, R.A.; Giuliani, J.L.; Butler, J.E.; Shamamian, V.; Hinshelwood, D.D.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Rudakov, L.I.; Davis, J.; Velikovich, A.L.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.;
By: Rudakov, L.I.; Davis, J.; Velikovich, A.L.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Shamamian, V.A.; Meger, R.A.; Petrov, G.M.; Pechacek, R.E.; Giuliani, J.L.;
By: Shamamian, V.A.; Meger, R.A.; Petrov, G.M.; Pechacek, R.E.; Giuliani, J.L.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Giuliani, J.L.; Meger, R.A.; Bartschatc K; Dasgupta, A.; Petrov, G.M.; Pechacek, R.E.;
By: Giuliani, J.L.; Meger, R.A.; Bartschatc K; Dasgupta, A.; Petrov, G.M.; Pechacek, R.E.;
2002 / IEEE / 0-7803-7540-8
By: Wolford, M.F.; Swanekamp, S.B.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Myers, M.C.; Hegeler, F.;
By: Wolford, M.F.; Swanekamp, S.B.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Myers, M.C.; Hegeler, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Hinshelwood, D.D.; Giuliani, J.L.; Sethian, J.D.; Myers, M.C.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Wolford, M.F.; Weidenheimer, D.; Morton, D.; Welch, D.; Rose, D.V.; Jones, T.C.;
By: Hinshelwood, D.D.; Giuliani, J.L.; Sethian, J.D.; Myers, M.C.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Wolford, M.F.; Weidenheimer, D.; Morton, D.; Welch, D.; Rose, D.V.; Jones, T.C.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Friedman, M.; Heggeler, F.; Obenschain, S.P.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Wolford, M.F.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.V.; Swanekamp, S.B.;
By: Friedman, M.; Heggeler, F.; Obenschain, S.P.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Wolford, M.F.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.V.; Swanekamp, S.B.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Obenschain, S.; Searles, S.; Jones, T.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Wolford, M.F.; Petrov, G.; Kepple, P.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Myers, M.C.;
By: Obenschain, S.; Searles, S.; Jones, T.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Wolford, M.F.; Petrov, G.; Kepple, P.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Myers, M.C.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Jaynes, R.; Burns, P.; Giuliani, J.L.; Wolford, M.F.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Friedman, M.; Myers, M.C.;
By: Jaynes, R.; Burns, P.; Giuliani, J.L.; Wolford, M.F.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Friedman, M.; Myers, M.C.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Myers, M.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Abdel-Khalik, S.; Wolford, M.; Schoonover, K.; Sadowski, D.; Burns, P.; Hegeler, F.;
By: Myers, M.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Abdel-Khalik, S.; Wolford, M.; Schoonover, K.; Sadowski, D.; Burns, P.; Hegeler, F.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Hegeler, F.; Giuliani, J.L.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.; Wolford, M.;
By: Hegeler, F.; Giuliani, J.L.; Myers, M.; Sethian, J.D.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Rose, D.; Wolford, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Friedman, M.; Wolford, M.F.; Myers, M.C.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Hegeler, F.;
By: Friedman, M.; Wolford, M.F.; Myers, M.C.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Hegeler, F.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Haill, T.A.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Deeney, C.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Mehlhorn, T.A.;
By: Haill, T.A.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Apruzese, J.P.; Deeney, C.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.; Mehlhorn, T.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0018-X
By: Burns, P.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Wolford, M.F.; Jaynes, R.; Sethian, J.D.; Hegeler, F.; Myers, M.C.;
By: Burns, P.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Wolford, M.F.; Jaynes, R.; Sethian, J.D.; Hegeler, F.; Myers, M.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Robson, A.E.; Clark, R.E.; Genoni, T.C.;
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Robson, A.E.; Clark, R.E.; Genoni, T.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Hegeler, F.; Jaynes, R.; Burns, P.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Wollbrd, M.F.; Myers, M.C.; Parish, J.; Albert, T.;
By: Hegeler, F.; Jaynes, R.; Burns, P.; Sethian, J.D.; Giuliani, J.L.; Friedman, M.; Wollbrd, M.F.; Myers, M.C.; Parish, J.; Albert, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Jaynes, R.; Burns, P.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Myers, M.C.; Wolford, M.F.; Giuliani, J.L.;
By: Jaynes, R.; Burns, P.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Myers, M.C.; Wolford, M.F.; Giuliani, J.L.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Myers, M.C.; Giuliani, J.L.; Sethian, J.D.; Wolford, M.F.; Obenschain, S.P.;
By: Myers, M.C.; Giuliani, J.L.; Sethian, J.D.; Wolford, M.F.; Obenschain, S.P.;
2008 / IEEE
By: Giuliani, J.L.; Hegeler, F.; Friedman, M.; Burns, P.M.; Wolford, M.F.; Myers, M.C.; Sethian, J.D.;
By: Giuliani, J.L.; Hegeler, F.; Friedman, M.; Burns, P.M.; Wolford, M.F.; Myers, M.C.; Sethian, J.D.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Coverdale, C.A.; Cuneo, M.E.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.;
By: Coverdale, C.A.; Cuneo, M.E.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Dasgupta, A.; Davis, J.; Chong, Y.K.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.; Jones, B.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.; Coverdale, C.A.; Ampleford, D.J.;
By: Dasgupta, A.; Davis, J.; Chong, Y.K.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.; Jones, B.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.; Coverdale, C.A.; Ampleford, D.J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Dasgupta, A.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Whitney, K.G.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.;
By: Dasgupta, A.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Whitney, K.G.; Davis, J.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Clark, R.W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Bernshtam, V.; Fisher, V.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Kroupp, E.; Osin, D.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Thornhill, J.W.;
By: Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Bernshtam, V.; Fisher, V.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Kroupp, E.; Osin, D.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.; Thornhill, J.W.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Safronova, A.; Whitney, K.G.; Clark, R.; Dasgupta, A.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Ouart, N.D.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Chittenden, J.P.; Cuneo, M.E.; Ampleford, D.J.; Sinars, D.B.; Jones, B.;
By: Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Safronova, A.; Whitney, K.G.; Clark, R.; Dasgupta, A.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Ouart, N.D.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Chittenden, J.P.; Cuneo, M.E.; Ampleford, D.J.; Sinars, D.B.; Jones, B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Clark, R.W.; Chong, Y.K.; Thornhill, J.W.; LeChien, K.R.; Jones, M.C.; Stygar, W.A.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Jones, S.C.; Davis, J.; Savage, M.E.; Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Dasgupta, A.; Whitney, K.G.; Apruzese, J.P.; Waisman, E.M.; Ampleford, D.J.; Chittenden, J.P.;
By: Clark, R.W.; Chong, Y.K.; Thornhill, J.W.; LeChien, K.R.; Jones, M.C.; Stygar, W.A.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Jones, S.C.; Davis, J.; Savage, M.E.; Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Dasgupta, A.; Whitney, K.G.; Apruzese, J.P.; Waisman, E.M.; Ampleford, D.J.; Chittenden, J.P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Stygar, W.A.; Jones, M.C.; LeChien, K.R.; Jennings, C.A.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Apruzese, J.P.; Whitney, K.G.; Clark, R.W.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Dasgupta, A.; Chittenden, J.P.; Savage, M.E.; Jones, S.C.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.;
By: Stygar, W.A.; Jones, M.C.; LeChien, K.R.; Jennings, C.A.; Cuneo, M.E.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Apruzese, J.P.; Whitney, K.G.; Clark, R.W.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Dasgupta, A.; Chittenden, J.P.; Savage, M.E.; Jones, S.C.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.;
2010 / IEEE
By: Sethian, J.D.; Colombant, D.G.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Myers, M.C.; Obenschain, S.P.; Schmitt, A.J.; Weaver, J.; Wolford, M.F.; Hegeler, F.; Friedman, M.; Robson, A.E.; Bayramian, A.; Caird, J.; Ebbers, C.; Latkowski, J.; Hogan, W.; Meier, W.R.; Perkins, L.J.; Schaffers, K.; Abdel Kahlik, S.; Schoonover, K.; Sadowski, D.; Boehm, K.; Carlson, L.; Pulsifer, J.; Najmabadi, F.; Raffray, A.R.; Tillack, M.S.; Kulcinski, G.; Blanchard, J.P.; Heltemes, T.; Ibrahim, A.; Marriott, E.; Moses, G.; Radell, R.; Sawan, M.; Santarius, J.; Sviatoslavsky, G.; Zenobia, S.; Ghoniem, N.M.; Sharafat, S.; El-Awady, J.; Hu, Q.; Duty, C.; Leonard, K.; Romanoski, G.; Snead, L.L.; Zinkle, S.J.; Gentile, C.; Parsells, W.; Prinksi, C.; Kozub, T.; Dodson, T.; Rose, D.V.; Renk, T.; Olson, C.; Alexander, N.; Bozek, A.; Flint, G.; Goodin, D.T.; Hund, J.; Paguio, R.; Petzoldt, R.W.; Schroen, D.G.; Sheliak, J.; Bernat, T.; Bittner, D.; Karnes, J.; Petta, N.; Streit, J.; Geller, D.; Hoffer, J.K.; McGeoch, M.W.; Glidden, S.C.; Sanders, H.; Weidenheimer, D.; Morton, D.; Smith, I.D.; Bobecia, M.; Harding, D.; Lehecka, T.; Gilliam, S.B.; Gidcumb, S.M.; Forsythe, D.; Parikh, N.R.; O'Dell, S.; Gorensek, M.;
By: Sethian, J.D.; Colombant, D.G.; Giuliani, J.L.; Lehmberg, R.H.; Myers, M.C.; Obenschain, S.P.; Schmitt, A.J.; Weaver, J.; Wolford, M.F.; Hegeler, F.; Friedman, M.; Robson, A.E.; Bayramian, A.; Caird, J.; Ebbers, C.; Latkowski, J.; Hogan, W.; Meier, W.R.; Perkins, L.J.; Schaffers, K.; Abdel Kahlik, S.; Schoonover, K.; Sadowski, D.; Boehm, K.; Carlson, L.; Pulsifer, J.; Najmabadi, F.; Raffray, A.R.; Tillack, M.S.; Kulcinski, G.; Blanchard, J.P.; Heltemes, T.; Ibrahim, A.; Marriott, E.; Moses, G.; Radell, R.; Sawan, M.; Santarius, J.; Sviatoslavsky, G.; Zenobia, S.; Ghoniem, N.M.; Sharafat, S.; El-Awady, J.; Hu, Q.; Duty, C.; Leonard, K.; Romanoski, G.; Snead, L.L.; Zinkle, S.J.; Gentile, C.; Parsells, W.; Prinksi, C.; Kozub, T.; Dodson, T.; Rose, D.V.; Renk, T.; Olson, C.; Alexander, N.; Bozek, A.; Flint, G.; Goodin, D.T.; Hund, J.; Paguio, R.; Petzoldt, R.W.; Schroen, D.G.; Sheliak, J.; Bernat, T.; Bittner, D.; Karnes, J.; Petta, N.; Streit, J.; Geller, D.; Hoffer, J.K.; McGeoch, M.W.; Glidden, S.C.; Sanders, H.; Weidenheimer, D.; Morton, D.; Smith, I.D.; Bobecia, M.; Harding, D.; Lehecka, T.; Gilliam, S.B.; Gidcumb, S.M.; Forsythe, D.; Parikh, N.R.; O'Dell, S.; Gorensek, M.;
2010 / IEEE
By: Dasgupta, A.; Giuliani, J.L.; Davis, J.; Clark, R.W.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.;
By: Dasgupta, A.; Giuliani, J.L.; Davis, J.; Clark, R.W.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.;
2010 / IEEE
By: Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Stygar, W.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.A.; Jennings, C.A.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.;
By: Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Stygar, W.A.; Cuneo, M.E.; Jones, M.C.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.A.; Jennings, C.A.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Dasgupta, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Waisman, E.M.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Thornhill, J.W.; Davis, J.; Clark, R.W.; Hansen, S.B.; Dasgupta, A.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.;
By: Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Waisman, E.M.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Jennings, C.A.; Thornhill, J.W.; Davis, J.; Clark, R.W.; Hansen, S.B.; Dasgupta, A.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Clark, R.W.; Dasgupta, A.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Davis, J.; Hansen, S.B.; Waisman, E.M.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Coverdale, C.A.;
By: Clark, R.W.; Dasgupta, A.; Apruzese, J.P.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Davis, J.; Hansen, S.B.; Waisman, E.M.; Jennings, C.A.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Coverdale, C.A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Hansen, S.B.; Jennings, C.A.; LeChien, K.R.; Savage, M.E.; Cuneo, M.E.; Stygar, W.A.; Jones, M.C.; Jones, S.C.; Nash, T.J.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.; Dasgupta, A.; Chong, Y.K.; Clark, R.W.; Apruzese, J.P.;
By: Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Hansen, S.B.; Jennings, C.A.; LeChien, K.R.; Savage, M.E.; Cuneo, M.E.; Stygar, W.A.; Jones, M.C.; Jones, S.C.; Nash, T.J.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Ampleford, D.J.; Dasgupta, A.; Chong, Y.K.; Clark, R.W.; Apruzese, J.P.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Waisman, E.M.; Stygar, W.A.; Coverdale, C.A.; Jones, B.M.; Cuneo, M.E.; Yu, E.P.; Hansen, S.B.; Ampleford, D.J.; Jennings, C.A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Chittenden, J.P.; LeChien, K.; Savage, M.E.;
By: Waisman, E.M.; Stygar, W.A.; Coverdale, C.A.; Jones, B.M.; Cuneo, M.E.; Yu, E.P.; Hansen, S.B.; Ampleford, D.J.; Jennings, C.A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Chittenden, J.P.; LeChien, K.; Savage, M.E.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Davis, J.; Zalesak, S.; Apruzese, J.P.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Dasgupta, A.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Osin, D.; Kroupp, E.; Clark, R.;
By: Davis, J.; Zalesak, S.; Apruzese, J.P.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Dasgupta, A.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Osin, D.; Kroupp, E.; Clark, R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Ampleford, D.J.; Jennings, C.A.; Chong, Y.K.; Dasgupta, A.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Bailey, J.E.; Rochau, G.A.; Hansen, S.B.;
By: Ampleford, D.J.; Jennings, C.A.; Chong, Y.K.; Dasgupta, A.; Davis, J.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Giuliani, J.L.; Thornhill, J.W.; Cuneo, M.E.; Coverdale, C.A.; Jones, B.; Bailey, J.E.; Rochau, G.A.; Hansen, S.B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Giuliani, J.L.; Davis, J.; Velikovich, A.L.; Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Clark, R.W.; Chong, Y.K.;
By: Giuliani, J.L.; Davis, J.; Velikovich, A.L.; Flicker, D.G.; Coverdale, C.A.; Clark, R.W.; Chong, Y.K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Haines, M.G.; Young, F.C.; Schumer, J.W.; Velikovich, A.L.; Apruzese, J.P.; Thornhill, J.W.; Clark, R.W.; Giuliani, J.L.;
By: Haines, M.G.; Young, F.C.; Schumer, J.W.; Velikovich, A.L.; Apruzese, J.P.; Thornhill, J.W.; Clark, R.W.; Giuliani, J.L.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Hansen, S.B.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Clark, R.W.; Davis, J.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Dasgupta, A.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Thornhill, W.; Rochau, G.A.; Coverdale, C.A.;
By: Hansen, S.B.; Ampleford, D.J.; Jones, B.; Clark, R.W.; Davis, J.; Giuliani, J.L.; Jennings, C.A.; Dasgupta, A.; Cuneo, M.E.; Bailey, J.E.; Thornhill, W.; Rochau, G.A.; Coverdale, C.A.;
2011 / IEEE
By: Alumot, D.; Rosenzweig, G.; Starobinets, A.; Kroupp, E.; Osin, D.; Maron, Y.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Yu, E.; Fisher, A.;
By: Alumot, D.; Rosenzweig, G.; Starobinets, A.; Kroupp, E.; Osin, D.; Maron, Y.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Yu, E.; Fisher, A.;