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Author: Gasparotto, M.
Results
2014 / IEEE
By: Werner, A.; Rummel, T.; Risse, K.; Otte, M.; Naujoks, D.; Bosch, H.; Herrmann, R.; Hartmann, D. A.; Grote, H.; Gasparotto, M.; Brakel, R.; Nagel, M.;
By: Werner, A.; Rummel, T.; Risse, K.; Otte, M.; Naujoks, D.; Bosch, H.; Herrmann, R.; Hartmann, D. A.; Grote, H.; Gasparotto, M.; Brakel, R.; Nagel, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
By: Bartiromo, R.; Cardinali, A.; Alladio, F.; Tanga, A.; Salpietro, E.; Romanelli, F.; Roccella, M.; Pizzuto, A.; Pieroni, L.; Orsitto, F.P.; Barbato, E.; Mitchell, N.; Micozzi, P.; Mancuso, A.; Lovisetto, L.; Gasparotto, M.; Ferro, C.; De Marco, F.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Scaramuzzi, F.; Angelone, G.; Gasparotto, M.; Frattolillo, A.; Milora, S.L.; Gouge, M.J.; Foust, C.R.; Baylor, L.R.; Combs, S.K.; Ronci, G.; Domma, C.; Migliori, S.; Capobianchi, M.; Baldarelli, M.;
By: Scaramuzzi, F.; Angelone, G.; Gasparotto, M.; Frattolillo, A.; Milora, S.L.; Gouge, M.J.; Foust, C.R.; Baylor, L.R.; Combs, S.K.; Ronci, G.; Domma, C.; Migliori, S.; Capobianchi, M.; Baldarelli, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
By: Cocilovo, V.; Crescenzi, C.; Ciattaglia, S.; Cecchini, A.; Bartiromo, R.; Apicella, M.L.; Gasparotto, M.; Sternini, E.; Semeraro, L.; Roccella, M.; Riccardi, B.; Pizzuto, A.; Moriani, A.; Migliori, S.; Mazzitelli, G.; Maddaluno, G.; Lucca, F.; Lovisetto, L.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Miki, N.; Gasparotto, M.; Roccella, M.; Lucca, F.; Lattanzi, D.; Elio, F.; Chiocchio, S.; Rita, C.;
By: Miki, N.; Gasparotto, M.; Roccella, M.; Lucca, F.; Lattanzi, D.; Elio, F.; Chiocchio, S.; Rita, C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
By: Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Barbaro, E.; Gasparotto, M.; Semeraro, L.; Ferrari, M.; Roccella, M.; Papastergiou, S.; Mazzone, G.; Maddahmo, G.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Danner, W.; Dubner, A.; Cardella, A.; Bykov, V.; Benndorf, A.; Baumel, S.; Damiani, C.; Wendorf, J.; Van Eeten, P.; Tretter, J.; Sonnerup, L.; Reisgen, U.; Pilopp, D.; Panin, A.; Mendelevitch, B.; Lingertat, J.; Lennartz, M.; Junghanns, P.; Koch, F.; Hurd, F.; Holtum, D.; Heinemann, B.; Hartmann, D.; Giesen, B.; Gasparotto, M.; Gardebrecht, W.; Dudek, A.;
By: Danner, W.; Dubner, A.; Cardella, A.; Bykov, V.; Benndorf, A.; Baumel, S.; Damiani, C.; Wendorf, J.; Van Eeten, P.; Tretter, J.; Sonnerup, L.; Reisgen, U.; Pilopp, D.; Panin, A.; Mendelevitch, B.; Lingertat, J.; Lennartz, M.; Junghanns, P.; Koch, F.; Hurd, F.; Holtum, D.; Heinemann, B.; Hartmann, D.; Giesen, B.; Gasparotto, M.; Gardebrecht, W.; Dudek, A.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Simon-Weidner, J.; Sonnerup, L.; Sochor, M.; Egorov, K.; Rumyancev, M.; Gasparotto, M.; Bykov, V.; Jaksic, N.;
By: Simon-Weidner, J.; Sonnerup, L.; Sochor, M.; Egorov, K.; Rumyancev, M.; Gasparotto, M.; Bykov, V.; Jaksic, N.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Damiani, C.; Gasparotto, M.; Heinemann, B.; Mendelevitch, B.; Riedl, R.; Panin, A.; Froschle, M.; Lingertat, J.; Lindig, S.; Koch, F.; Junghanns, P.; Holtum, D.; Giesen, B.;
By: Damiani, C.; Gasparotto, M.; Heinemann, B.; Mendelevitch, B.; Riedl, R.; Panin, A.; Froschle, M.; Lingertat, J.; Lindig, S.; Koch, F.; Junghanns, P.; Holtum, D.; Giesen, B.;