Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Gandhi, O.P.
Results
1975 / IEEE
By: Akhtarzad, S.; Benko, E.; Webb, D.C.; Tearle, C.A.; Bowers, H.C.; Cristal, E.G.; Denlinger, E.J.; Engen, G.F.; Gandhi, O.P.; Ganguly, A.K.; Heath, K.R.; Hoer, C.A.; Johns, P.B.; Linvill, J.G., Jr.; McDermott, E.C.; McGoogan, J.T.; Mellor, D.J.; Midford, T.A.; Mykietyn, E.; Nahas, J.J.; Obah, C.O.G.; Regier, R.D.; Roe, K.C.; Rosen, J.;
By: Akhtarzad, S.; Benko, E.; Webb, D.C.; Tearle, C.A.; Bowers, H.C.; Cristal, E.G.; Denlinger, E.J.; Engen, G.F.; Gandhi, O.P.; Ganguly, A.K.; Heath, K.R.; Hoer, C.A.; Johns, P.B.; Linvill, J.G., Jr.; McDermott, E.C.; McGoogan, J.T.; Mellor, D.J.; Midford, T.A.; Mykietyn, E.; Nahas, J.J.; Obah, C.O.G.; Regier, R.D.; Roe, K.C.; Rosen, J.;
1977 / IEEE
By: Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Caldwell, L.R.; Saito, M.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Guy, A.W.; Hagmann, M.J.; Haine, J.L.; Hoefer, W.J.R.; Kato, F.; Ku, W.H.; Lin, J.C.; Mokari-Bolhassan, M.E.; Okoshi, T.; Rehnmark, S.; Rhodes, J.D.;
By: Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Caldwell, L.R.; Saito, M.; Gopinath, A.; Gupta, C.; Guy, A.W.; Hagmann, M.J.; Haine, J.L.; Hoefer, W.J.R.; Kato, F.; Ku, W.H.; Lin, J.C.; Mokari-Bolhassan, M.E.; Okoshi, T.; Rehnmark, S.; Rhodes, J.D.;
1978 / IEEE
By: Beyer, J.B.; Gunn, M.W.; Durney, C.H.; Felsen, L.B.; Franz, M.; Fray, C.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Kumagai, N.; Lewin, L.; Malherbe, J.A.G.; Masaki, Y.; Matsuhara, M.; Ness, J.B.; Papiernik, A.; Pratesi, R.; Ronchi, L.; Safaai-Jazi, A.; Seidel, D.B.; Sang-Yung Shin; Steyn, A.F.; Tippet, J.C.; Yen-chu Wang; Wheeler, H.A.; Gar Lam Yip; Chang, D.C.;
By: Beyer, J.B.; Gunn, M.W.; Durney, C.H.; Felsen, L.B.; Franz, M.; Fray, C.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Kumagai, N.; Lewin, L.; Malherbe, J.A.G.; Masaki, Y.; Matsuhara, M.; Ness, J.B.; Papiernik, A.; Pratesi, R.; Ronchi, L.; Safaai-Jazi, A.; Seidel, D.B.; Sang-Yung Shin; Steyn, A.F.; Tippet, J.C.; Yen-chu Wang; Wheeler, H.A.; Gar Lam Yip; Chang, D.C.;
1979 / IEEE
By: Clauss, R.C.; Hong-ih Cong; Te-Kao Wu; G. A. Teh; Gandhi, O.P.; Howes, M.J.; Jacobi, J.H.; Johnson, K.M.; Kerr, A.R.; Kopeika, N.S.; Lenox, R.H.; Makover, Y.; Mattauch, R.J.; McBretney, J.; Mehran, R.; Meyerhoff, J.L.; Moore, C.R.; Pospieszalski, M.W.; Schonbach, S.; Smith, G.S.; V.C.Y. So; Stegeman, G.I.;
By: Clauss, R.C.; Hong-ih Cong; Te-Kao Wu; G. A. Teh; Gandhi, O.P.; Howes, M.J.; Jacobi, J.H.; Johnson, K.M.; Kerr, A.R.; Kopeika, N.S.; Lenox, R.H.; Makover, Y.; Mattauch, R.J.; McBretney, J.; Mehran, R.; Meyerhoff, J.L.; Moore, C.R.; Pospieszalski, M.W.; Schonbach, S.; Smith, G.S.; V.C.Y. So; Stegeman, G.I.;
1979 / IEEE
By: Allen, J.L.; Caruso, G.; Parkash, A.; Vaid, J.K.; Terakado, R.; Chatterjee, I.; D'Andrea, J.A.; Das, B.N.; Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hobdell, J.L.; Foong Chee Hong; Kobayashi, M.; Mansingh, A., Jr.; Medley, M.W.; Neelakantaswamy, P.S.; Pandharipande, V.M.; Sannino, M.; Somlo, P.I.;
By: Allen, J.L.; Caruso, G.; Parkash, A.; Vaid, J.K.; Terakado, R.; Chatterjee, I.; D'Andrea, J.A.; Das, B.N.; Durney, C.H.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hobdell, J.L.; Foong Chee Hong; Kobayashi, M.; Mansingh, A., Jr.; Medley, M.W.; Neelakantaswamy, P.S.; Pandharipande, V.M.; Sannino, M.; Somlo, P.I.;
1980 / IEEE
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
1981 / IEEE
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;
By: Aditya, S.; Archer, J.W.; Symons, R.S.; Strid, E.W.; Atwater, H.A.; Carr, K.L.; Caloccia, E.M.; Chatterjee, I.; El-Mahdi, A.M.; Ferguson, P.E.; Gandhi, O.P.; Hagmann, M.J.; Hansson, E.R.B.; Hegji, S.J.; Ho-Chung Huang; Ikeuchi, M.; Imai, T.; Ito, K.; Jory, H.R.; Kheifets, S.A.; Kumar, M.; Larsson, M.A.; Meyer, W.; Minnis, B.J.; Niki, H.; Nystrom, G.L.; Ogai, M.; Okoshi, T.; Hideo, S.; Shaeffer, J.;