Author: Gallix, R.

2012 / IEEE
By: Sun, Z.C.; Han, S.L.; Pan, C.J.; Hou, B.L.; Lee, P.Y.; Liao, M.; Fu, Y.K.; Gallix, R.; Luo, R.R.; Yang, S.J.; Kang, D.A.;

2012 / IEEE
By: Seo, K.; Mitchell, N.; Knaster, J.; Gallix, R.; Savary, F.;

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1989 / IEEE
By: Reis, E.; Baxi, C.; Gallix, R.; Schultz, K.;

1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Luce, T.C.; Callis, R.W.; O'Neill, R.C.; Moeller, C.P.; Cary, W.P.; Lohr, J.M.; Hodapp, T.R.; Gallix, R.; Doane, J.L.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Nakajima, H.; Sborchia, C.; Knaster, J.; Jong, C.; Gallix, R.; Fu, Y.; Ohmori, J.; Shaw, R.;

2008 / IEEE
By: Simon, F.; Sborchia, C.; Libeyre, P.; Knaster, J.; Mitchell, N.; Gallix, R.; Bessette, D.; Jong, C.;

2008 / IEEE
By: Knaster, J.; Shaw, R.; Sborchia, C.; Mitchell, N.; Macklin, B.; Gallix, R.;

2008 / IEEE
By: Knaster, J.; Jong, C.; Gallix, R.; Fu, Y.; Sborchia, C.; Mitchell, N.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Lee, P.Y.; Jong, C.; Fu, Y.; Gallix, R.; Jian, G.D.; Hou, B.L.;

2010 / IEEE
By: Sborchia, C.; Gallix, R.; Bonito-Oliva, A.; Savary, F.; Knaster, J.; Okuno, K.; Nakajima, H.; Mitchell, N.; Koizumi, N.;

2010 / IEEE
By: Baynham, E.; Savary, F.; Mitchell, N.; Knaster, J.; Gallix, R.;

2010 / IEEE
By: Sahu, A.; Bauer, P.; Gallix, R.; Bessette, D.; Foussat, A.; Jong, C.T.J.; Gribov, Y.; Mitchell, N.; Libeyre, P.;

2011 / IEEE
By: Knaster, J.; Shah, S.; Savary, F.; Capuano, C.; Gallix, R.; Seo, K.; Mitchell, N.; Gardner, M.; Patel, V.;