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Author: Fujita, H.
Results
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Urushibata, H.; Tominaga, S.; Oi, T.; Kinouchi, S.; Horiguchi, T.; Akagi, H.; Fujita, H.;
By: Urushibata, H.; Tominaga, S.; Oi, T.; Kinouchi, S.; Horiguchi, T.; Akagi, H.; Fujita, H.;
Electrostatically addressable visored shutter array by electroplating for astronomical spectrography
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2By: Kobayashi, N.; Motohara, K.; Mita, M.; Takahashi, T.; Kashikawa, N.; Toshiyoshi, H.; Fujita, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Fujita, H.; Changho Chong; Morosawa, A.; Sakai, T.; Toshiyoshi, H.; Totsuka, K.; Isamoto, K.; Suzuki, T.;
By: Fujita, H.; Changho Chong; Morosawa, A.; Sakai, T.; Toshiyoshi, H.; Totsuka, K.; Isamoto, K.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Toshiyoshi, H.; Nakano, Y.; Fujita, H.; Maruyama, S.; Lee, T.; Higo, A.;
By: Toshiyoshi, H.; Nakano, Y.; Fujita, H.; Maruyama, S.; Lee, T.; Higo, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Hatanaka, Y.; Fujita, H.; Yamamoto, T.; Hara, T.; Sawada, A.; Muramatsu, C.; Noudo, A.;
By: Hatanaka, Y.; Fujita, H.; Yamamoto, T.; Hara, T.; Sawada, A.; Muramatsu, C.; Noudo, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Hoshi, H.; Kanematsu, M.; Yokoyama, R.; Hara, T.; Fujita, H.; Muramatsu, C.; Chen, H.; Zhou, X.; Kamiya, N.;
By: Hoshi, H.; Kanematsu, M.; Yokoyama, R.; Hara, T.; Fujita, H.; Muramatsu, C.; Chen, H.; Zhou, X.; Kamiya, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Sawada, A.; Hatanaka, Y.; Muramatsu, C.; Fujita, H.; Yamamoto, T.;
By: Sawada, A.; Hatanaka, Y.; Muramatsu, C.; Fujita, H.; Yamamoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Katsumata, A.; Hara, T.; Hayashi, T.; Sawagashira, T.; Muramatsu, C.; Katagi, K.; Fujita, H.; Iida, Y.; Xiangrong Zhou;
By: Katsumata, A.; Hara, T.; Hayashi, T.; Sawagashira, T.; Muramatsu, C.; Katagi, K.; Fujita, H.; Iida, Y.; Xiangrong Zhou;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0077-4
By: Yu Huang; Xuejun Zhang; Yufan Zeng; Wendong Li; Fujita, H.; Liling Long;
By: Yu Huang; Xuejun Zhang; Yufan Zeng; Wendong Li; Fujita, H.; Liling Long;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0688-1
By: Fujita, H.; Koshimura, M.; Xuanye An; Xue-Feng Zhang; Hasegawa, R.;
By: Fujita, H.; Koshimura, M.; Xuanye An; Xue-Feng Zhang; Hasegawa, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Aoyama, M.; Sugiyama, T.; Hashiguchi, G.; Fujita, H.; Shibata, Y.; Ataka, M.; Konno, T.; Suzuki, M.;
By: Aoyama, M.; Sugiyama, T.; Hashiguchi, G.; Fujita, H.; Shibata, Y.; Ataka, M.; Konno, T.; Suzuki, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Jianming Wu; Jun Tian; Chao Lv; Fujita, H.; Yun Wen; Ozaki, K.; Yoshida, M.;
By: Jianming Wu; Jun Tian; Chao Lv; Fujita, H.; Yun Wen; Ozaki, K.; Yoshida, M.;
2015 / IEEE
By: Yokokawa, R.; Kotera, H.; Shintaku, H.; Fujita, H.; Karsten, S. L.; Tarhan, M. C.; Subramaniyan, S. P.;
By: Yokokawa, R.; Kotera, H.; Shintaku, H.; Fujita, H.; Karsten, S. L.; Tarhan, M. C.; Subramaniyan, S. P.;
2014 / IEEE
By: Nakamura, K.; Fujita, H.; Fukuyama, A.; Araki, K.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Nagashima, Y.; Idei, H.; Matsuoka, K.; Fujisawa, A.; Hanada, K.; Zushi, H.; Tokunaga, K.; Hasegawa, M.; Sueoka, M.; Liu, X.L.; Xue, E.B.; Xia, F.; Mitarai, O.; Kurihara, K.; Kawamata, Y.;
By: Nakamura, K.; Fujita, H.; Fukuyama, A.; Araki, K.; Higashijima, A.; Nakashima, H.; Kawasaki, S.; Nagashima, Y.; Idei, H.; Matsuoka, K.; Fujisawa, A.; Hanada, K.; Zushi, H.; Tokunaga, K.; Hasegawa, M.; Sueoka, M.; Liu, X.L.; Xue, E.B.; Xia, F.; Mitarai, O.; Kurihara, K.; Kawamata, Y.;
2014 / IEEE
By: Subramaniyan, S. P.; Tarhan, M. C.; Karsten, S. L.; Fujita, H.; Shintaku, H.; Yokokawa, R.; Kotera, H.;
By: Subramaniyan, S. P.; Tarhan, M. C.; Karsten, S. L.; Fujita, H.; Shintaku, H.; Yokokawa, R.; Kotera, H.;
2014 / IEEE
By: Hatakeyama, K.; Sarajlic, E.; Siekman, M. H.; Jalabert, L.; Fujita, H.; Abelmann, L.; Tas, N.;
By: Hatakeyama, K.; Sarajlic, E.; Siekman, M. H.; Jalabert, L.; Fujita, H.; Abelmann, L.; Tas, N.;
2014 / IEEE
By: Mitsuya, H.; Ashizawa, H.; Sugiyama, T.; Kumemura, M.; Ataka, M.; Hashiguchi, G.; Fujita, H.;
By: Mitsuya, H.; Ashizawa, H.; Sugiyama, T.; Kumemura, M.; Ataka, M.; Hashiguchi, G.; Fujita, H.;
2014 / IEEE
By: Mita, M.; Takahashi, T.; Toshiyoshi, H.; Fujita, H.; Kashikawa, N.; Kobayashi, N.; Motohara, K.; Konishi, M.;
By: Mita, M.; Takahashi, T.; Toshiyoshi, H.; Fujita, H.; Kashikawa, N.; Kobayashi, N.; Motohara, K.; Konishi, M.;
2013 / IEEE
By: Yoshida, H.; Yamamura, T.; Tsukamoto, M.; Sakagawa, T.; Ishikawa, M.; Miyanaga, N.; Fujita, H.; Tsubakimoto, K.;
By: Yoshida, H.; Yamamura, T.; Tsukamoto, M.; Sakagawa, T.; Ishikawa, M.; Miyanaga, N.; Fujita, H.; Tsubakimoto, K.;
1991 / IEEE
By: Tsukioka, H.; Furukawa, S.; Endoh, K.; Ohe, E.; Kamata, Y.; Maejima, M.; Ishizuka, F.; Hyohdoh, K.; Nozaki, M.; Fujita, H.;
By: Tsukioka, H.; Furukawa, S.; Endoh, K.; Ohe, E.; Kamata, Y.; Maejima, M.; Ishizuka, F.; Hyohdoh, K.; Nozaki, M.; Fujita, H.;
1989 / IEEE
By: Ishigaki, Y.; Tsuchiya, K.; Hasegawa, H.; Goto, M.; Toita, H.; Shibazaki, M.; Takashiba, O.; Tominaga, T.; Fujita, H.;
By: Ishigaki, Y.; Tsuchiya, K.; Hasegawa, H.; Goto, M.; Toita, H.; Shibazaki, M.; Takashiba, O.; Tominaga, T.; Fujita, H.;
1991 / IEEE / 0-87942-641-1
By: Suzuki, S.; Fujita, H.; Shibata, H.; Yura, S.; Uchizawa, M.; Matsuura, T.;
By: Suzuki, S.; Fujita, H.; Shibata, H.; Yura, S.; Uchizawa, M.; Matsuura, T.;
1992 / IEEE
By: Irie, T.; Tsozaki, T.; Dokai, K.; Ishida, K.; Nakayama, T.; Aihara, Y.; Arakawa, K.; Fujita, H.;
By: Irie, T.; Tsozaki, T.; Dokai, K.; Ishida, K.; Nakayama, T.; Aihara, Y.; Arakawa, K.; Fujita, H.;
1991 / IEEE / 0-87942-585-7
By: Takeshima, N.; Gabriel, K.J.; Ozaki, M.; Takahashi, J.; Horiguchi, H.; Fujita, H.;
By: Takeshima, N.; Gabriel, K.J.; Ozaki, M.; Takahashi, J.; Horiguchi, H.; Fujita, H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Yamane, T.; Tsuneoka, M.; Cho, Y.; Nagashima, T.; Fujita, H.; Hayakawa, S.; Ishibashi, M.; Shibuya, T.; Yoshida, T.; Harada, K.; Ohtsuka, S.;
By: Yamane, T.; Tsuneoka, M.; Cho, Y.; Nagashima, T.; Fujita, H.; Hayakawa, S.; Ishibashi, M.; Shibuya, T.; Yoshida, T.; Harada, K.; Ohtsuka, S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0620-1
By: Awoki, K.; Li, J.; Yoshida, H.; Ikeda, H.; Fujita, H.; Nishimura, K.-I.; Tsuchiya, E.; Shinohara, S.;
By: Awoki, K.; Li, J.; Yoshida, H.; Ikeda, H.; Fujita, H.; Nishimura, K.-I.; Tsuchiya, E.; Shinohara, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-0957-X
By: Fan, L.S.; Fontana, R.E.; Lane, L.H.; Hirano, T.; Furuhata, T.; Fujita, H.;
By: Fan, L.S.; Fontana, R.E.; Lane, L.H.; Hirano, T.; Furuhata, T.; Fujita, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Shirai, T.; Inoue, M.; Noda, A.; Okamoto, H.; Kakigi, S.; Iwashita, Y.; Ikegami, M.; Fujita, H.; Dewa, H.;
By: Shirai, T.; Inoue, M.; Noda, A.; Okamoto, H.; Kakigi, S.; Iwashita, Y.; Ikegami, M.; Fujita, H.; Dewa, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1760-2
By: Yoshida, H.; Jinzhu Li; Fujita, H.; Wakai, K.; Ikeda, H.; Shinohara, S.;
By: Yoshida, H.; Jinzhu Li; Fujita, H.; Wakai, K.; Ikeda, H.; Shinohara, S.;