Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Fujii, T.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Fukuchi, T.; Fujii, T.; Oishi, Y.; Nayuki, T.; Takizawa, Y.; Platonov, K.Yu.; Andreev, A.A.; Nemoto, K.; Wang, X.;
By: Fukuchi, T.; Fujii, T.; Oishi, Y.; Nayuki, T.; Takizawa, Y.; Platonov, K.Yu.; Andreev, A.A.; Nemoto, K.; Wang, X.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0274-7
By: Fujii, T.; Tehrani, M.P.; Yendo, T.; Ishibashi, T.; Tanimoto, M.;
By: Fujii, T.; Tehrani, M.P.; Yendo, T.; Ishibashi, T.; Tanimoto, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9500-9
By: Ogashi, Y.; Masuda, H.; Fujii, T.; Yoshimura, M.; Tsukakoshi, M.;
By: Ogashi, Y.; Masuda, H.; Fujii, T.; Yoshimura, M.; Tsukakoshi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kuwashima, F.; Iwasawa, H.; Nagashima, T.; Hangyo, M.; Takei, K.; Kurihara, K.; Tani, M.; Fujii, T.;
By: Kuwashima, F.; Iwasawa, H.; Nagashima, T.; Hangyo, M.; Takei, K.; Kurihara, K.; Tani, M.; Fujii, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8327-3
By: Pagadarai, S.; Si Chen; Fujii, T.; Ohta, M.; Ohtake, M.; Al Abbasi, A.; Vuyyuru, R.; Oie, Y.; Tsuru, M.; Tsukamoto, K.; Saito, M.; Ihara, Y.; Nishida, K.; Fujii, Y.; Yoshimura, C.; Oshida, T.; Nishibori, M.; Altintas, O.; Wyglinski, A.M.;
By: Pagadarai, S.; Si Chen; Fujii, T.; Ohta, M.; Ohtake, M.; Al Abbasi, A.; Vuyyuru, R.; Oie, Y.; Tsuru, M.; Tsukamoto, K.; Saito, M.; Ihara, Y.; Nishida, K.; Fujii, Y.; Yoshimura, C.; Oshida, T.; Nishibori, M.; Altintas, O.; Wyglinski, A.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1348-4
By: Xiaoqiu Wang; Umeda, Y.; Fujii, T.; Yamasaki, T.; Seki, Y.; Takyu, O.; Konishi, S.;
By: Xiaoqiu Wang; Umeda, Y.; Fujii, T.; Yamasaki, T.; Seki, Y.; Takyu, O.; Konishi, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Yoshino, H.; Hoshino, K.; Miyajima, H.; Miyashita, M.; Mikami, M.; Fujii, T.;
By: Yoshino, H.; Hoshino, K.; Miyajima, H.; Miyashita, M.; Mikami, M.; Fujii, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Kojima, A.; Shimojuku, M.; Akimoto, Y.; Higuchi, K.; Koizumi, H.; Kimura, A.; Fujii, T.; Togawa, R.; Nakayama, T.; Obata, S.;
By: Kojima, A.; Shimojuku, M.; Akimoto, Y.; Higuchi, K.; Koizumi, H.; Kimura, A.; Fujii, T.; Togawa, R.; Nakayama, T.; Obata, S.;
2014 / IEEE
By: Yamazato, T.; Takai, I.; Kawahito, S.; Kagawa, K.; Yasutomi, K.; Harada, T.; Andoh, M.; Arai, S.; Yendo, T.; Fujii, T.; Okada, H.;
By: Yamazato, T.; Takai, I.; Kawahito, S.; Kagawa, K.; Yasutomi, K.; Harada, T.; Andoh, M.; Arai, S.; Yendo, T.; Fujii, T.; Okada, H.;
1989 / IEEE
By: Kouzuma, I.; Tagami, Y.; Jin-Nai, K.; Itoh, H.; Hirota, A.; Sera, Y.; Fushimi, K.; Igarashi, M.; Fujii, T.; Hashimoto, T.; Nakayama, T.;
By: Kouzuma, I.; Tagami, Y.; Jin-Nai, K.; Itoh, H.; Hirota, A.; Sera, Y.; Fushimi, K.; Igarashi, M.; Fujii, T.; Hashimoto, T.; Nakayama, T.;
1988 / IEEE / 0-7803-0785-2
By: Tateno, S.; Ohtani, N.; Kohtoku, S.; Fujii, T.; Katayama, K.; Sakai, H.; Yano, M.; Ozaki, M.; Matsuzaki, M.; Kohno, M.; Kusukawa, R.;
By: Tateno, S.; Ohtani, N.; Kohtoku, S.; Fujii, T.; Katayama, K.; Sakai, H.; Yano, M.; Ozaki, M.; Matsuzaki, M.; Kohno, M.; Kusukawa, R.;
1989 / IEEE
By: Ohta, M.; Nagashima, T.; Saigusa, M.; Kimura, H.; Kobayashi, N.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Anno, K.; Fujii, T.; Ogawa, Y.; Moriyama, S.; Loring, M.; Remsen, D.; Yamane, Y.; Shimizu, K.; Azuma, K.; Oihara, K.;
By: Ohta, M.; Nagashima, T.; Saigusa, M.; Kimura, H.; Kobayashi, N.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Anno, K.; Fujii, T.; Ogawa, Y.; Moriyama, S.; Loring, M.; Remsen, D.; Yamane, Y.; Shimizu, K.; Azuma, K.; Oihara, K.;
1989 / IEEE
By: Fujii, T.; Oihara, K.; Remsen, D.; Loring, M.; Yamane, Y.; Shimizu, K.; Azuma, K.; Nagashima, T.; Ogawa, Y.; Anno, K.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Moriyama, S.; Ohta, M.;
By: Fujii, T.; Oihara, K.; Remsen, D.; Loring, M.; Yamane, Y.; Shimizu, K.; Azuma, K.; Nagashima, T.; Ogawa, Y.; Anno, K.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Moriyama, S.; Ohta, M.;
1991 / IEEE
By: Ribner, D.B.; Fujii, T.; Krisciunas, J.E.; McGrath, D.T.; Garverick, S.L.; Baertsch, R.D.;
By: Ribner, D.B.; Fujii, T.; Krisciunas, J.E.; McGrath, D.T.; Garverick, S.L.; Baertsch, R.D.;
1991 / IEEE / 0-7803-0196-X
By: Sakamoto, S.; Fujii, T.; Kashimoto, Y.; Takamiya, S.; Yamanouchi, M.; Tsuji, S.; Kasai, N.; Sonoda, T.;
By: Sakamoto, S.; Fujii, T.; Kashimoto, Y.; Takamiya, S.; Yamanouchi, M.; Tsuji, S.; Kasai, N.; Sonoda, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Miki, N.; Kobayashi, N.; Wakabayashi, K.; Texuka, M.; Ohta, M.; Ohmori, J.; Kimura, H.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Annoh, K.; Moriyama, S.; Saigusa, M.; Fujii, T.; Itoh, K.;
By: Miki, N.; Kobayashi, N.; Wakabayashi, K.; Texuka, M.; Ohta, M.; Ohmori, J.; Kimura, H.; Terakado, M.; Shinozaki, S.; Annoh, K.; Moriyama, S.; Saigusa, M.; Fujii, T.; Itoh, K.;
1993 / IEEE
By: Tanaka, K.; Nobuhara, H.; Yamamoto, T.; Wakao, K.; Fujii, T.; Sugawara, M.; Odagawa, T.;
By: Tanaka, K.; Nobuhara, H.; Yamamoto, T.; Wakao, K.; Fujii, T.; Sugawara, M.; Odagawa, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Yamada, H.; Futatsugi, T.; Shigematsu, H.; Tomioka, T.; Fujii, T.; Yokayama, N.;
By: Yamada, H.; Futatsugi, T.; Shigematsu, H.; Tomioka, T.; Fujii, T.; Yokayama, N.;