Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Freeman, A.
Results
2010 / CABI
By: Sukumar Chakraborty; Luck, J.; Hollaway, G.; Freeman, A.; Karnosky, D. F.; Garrett, K. A.; Percy, K.; Hopkins, A.; Davis, C.; Norton, R.;
By: Sukumar Chakraborty; Luck, J.; Hollaway, G.; Freeman, A.; Karnosky, D. F.; Garrett, K. A.; Percy, K.; Hopkins, A.; Davis, C.; Norton, R.;
1989 / IEEE
By: Freeman, A.; Blacknell, D.; Wood, J.W.; White, R.G.; Quegan, S.; Oliver, C.J.; Finley, I.P.; Ward, I.A.;
By: Freeman, A.; Blacknell, D.; Wood, J.W.; White, R.G.; Quegan, S.; Oliver, C.J.; Finley, I.P.; Ward, I.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Cruz, J.; Freeman, A.; Shaffer, S.; Azeem, M.; Sun, J.; Alves, M.; Chapman, B.;
By: Cruz, J.; Freeman, A.; Shaffer, S.; Azeem, M.; Sun, J.; Alves, M.; Chapman, B.;
1995 / IEEE
By: Alves, M.; Freeman, A.; Sarabandi, K.; Turner, E.; Cruz, J.; Sun, J.; Shaffer, S.; Kim, Y.; Chapman, B.;
By: Alves, M.; Freeman, A.; Sarabandi, K.; Turner, E.; Cruz, J.; Sun, J.; Shaffer, S.; Kim, Y.; Chapman, B.;
1995 / IEEE
By: Freeman, A.; Zambetti, A.; Hartikka, R.; De Roo, R.; Chiu, T.C.; Sarabandi, K.; Stiles, J.M.; Ulaby, F.T.; Dobson, M.C.; Pierce, L.E.;
By: Freeman, A.; Zambetti, A.; Hartikka, R.; De Roo, R.; Chiu, T.C.; Sarabandi, K.; Stiles, J.M.; Ulaby, F.T.; Dobson, M.C.; Pierce, L.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2567-2
By: Turner, E.; Alves, M.; Chapman, B.; Cruz, J.; Freeman, A.; Shaffer, S.;
By: Turner, E.; Alves, M.; Chapman, B.; Cruz, J.; Freeman, A.; Shaffer, S.;
1988 / IEEE
By: Miller, T.; Held, D.N.; Lou, Y.; Nguyen, Q.; Brown, W.E.; Sate, T.; Zebker, H.; Klein, J.D.; Freeman, A.;
By: Miller, T.; Held, D.N.; Lou, Y.; Nguyen, Q.; Brown, W.E.; Sate, T.; Zebker, H.; Klein, J.D.; Freeman, A.;
1991 / IEEE / 0-87942-675-6
By: Norikane, L.; Freeman, A.; Dubois, P.; Madsen, S.N.; Shimada, J.; Shaffer, S.;
By: Norikane, L.; Freeman, A.; Dubois, P.; Madsen, S.N.; Shimada, J.; Shaffer, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4150-3
By: Freeman, A.; Stuhr, F.V.; Hillard, J.E.; Caro, E.R.; Jordan, R.L.; Shen, Y.; Imel, D.;
By: Freeman, A.; Stuhr, F.V.; Hillard, J.E.; Caro, E.R.; Jordan, R.L.; Shen, Y.; Imel, D.;
1990 / IEEE
By: Lentz, H.; Reich, M.; Baker, J.; Dawkins, A.; Groot, J.; Hoogeboom, P.; Zink, M.; Heel, F.; Curlander, J.C.; Freeman, A.;
By: Lentz, H.; Reich, M.; Baker, J.; Dawkins, A.; Groot, J.; Hoogeboom, P.; Zink, M.; Heel, F.; Curlander, J.C.; Freeman, A.;
1998 / IEEE
By: Yuhsyen Shen; Imel, D.; Freeman, A.; Stuhr, F.V.; Hilland, J.E.; Caro, E.R.; Jordan, R.L.;
By: Yuhsyen Shen; Imel, D.; Freeman, A.; Stuhr, F.V.; Hilland, J.E.; Caro, E.R.; Jordan, R.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5207-6
By: Johnson, W.T.K.; Freeman, A.; Curlander, J.; Siqueira, P.; Hensley, S.; Jordan, R.; Huneycutt, B.;
By: Johnson, W.T.K.; Freeman, A.; Curlander, J.; Siqueira, P.; Hensley, S.; Jordan, R.; Huneycutt, B.;
2000 / IEEE
By: Siqueira, P.; Hensley, S.; Jordan, R.; Huneycutt, B.; Johnson, W.T.K.; Freeman, A.; Curlander, J.;
By: Siqueira, P.; Hensley, S.; Jordan, R.; Huneycutt, B.; Johnson, W.T.K.; Freeman, A.; Curlander, J.;
2000 / IEEE
By: McGarragh, G.; Hess, L.; Shaffer, S.; Hensley, S.; Siqueira, P.; Freeman, A.; Chapman, B.;
By: McGarragh, G.; Hess, L.; Shaffer, S.; Hensley, S.; Siqueira, P.; Freeman, A.; Chapman, B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8155-6
By: Shotwell, R.; Jones, M.; Huneycutt, B.; Veilleux, L.; Freeman, A.; Campbell, B.;
By: Shotwell, R.; Jones, M.; Huneycutt, B.; Veilleux, L.; Freeman, A.; Campbell, B.;
Work In Progress: Speaking Out on the Chilly Classroom Climate - Women Engineering Students Tell All
2006 / IEEE / 1-4244-0257-3By: Persaud, A.; Freeman, A.; Yoder, E.; Salter, D.;
2008 / IEEE
By: Ruffie, G.; McDonald, K.C.; Farr, T.; Freeman, A.; Malezieux, J.-M.; Lasne, Y.; Paillou, P.; Demontoux, F.; Chapman, B.;
By: Ruffie, G.; McDonald, K.C.; Farr, T.; Freeman, A.; Malezieux, J.-M.; Lasne, Y.; Paillou, P.; Demontoux, F.; Chapman, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1487-1
By: Simard, M.; Rignot, E.; Treuhaft, R.; Oberto, R.; Freeman, A.; Loverro, A.; Graf, J.; Rosen, P.; Donnellan, A.; Dubayah, R.; Fahnestock, M.; Shugart, H.; Hager, B.; Zebker, H.; Ranson, J.; Abdalati, W.; Blair, J.B.; Xiaoqing Pi; Kwok, R.;
By: Simard, M.; Rignot, E.; Treuhaft, R.; Oberto, R.; Freeman, A.; Loverro, A.; Graf, J.; Rosen, P.; Donnellan, A.; Dubayah, R.; Fahnestock, M.; Shugart, H.; Hager, B.; Zebker, H.; Ranson, J.; Abdalati, W.; Blair, J.B.; Xiaoqing Pi; Kwok, R.;
2009 / IEEE
By: Rishpon, J.; Porat-Ophir, C.; Moscovich-Dagan, H.; Vernick, S.; Shacham-Diamand, Y.; Freeman, A.;
By: Rishpon, J.; Porat-Ophir, C.; Moscovich-Dagan, H.; Vernick, S.; Shacham-Diamand, Y.; Freeman, A.;
2009 / IEEE
By: McDonald, K.; Paillou, P.; Farr, T.; Freeman, A.; Ruffie, G.; Lasne, Y.; Chapman, B.; Malezieux, J.-M.;
By: McDonald, K.; Paillou, P.; Farr, T.; Freeman, A.; Ruffie, G.; Lasne, Y.; Chapman, B.; Malezieux, J.-M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2870-0
By: Xiaoqing Wu; Gogineni, P.; Jezek, K.; Freeman, A.; Rodriguez, F.; Rodriguez, E.;
By: Xiaoqing Wu; Gogineni, P.; Jezek, K.; Freeman, A.; Rodriguez, F.; Rodriguez, E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2870-0
By: Freeman, A.; Dubois-Fernandez, P.; Truong-Loi, M.-L.; Pottier, E.;
By: Freeman, A.; Dubois-Fernandez, P.; Truong-Loi, M.-L.; Pottier, E.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2870-0
By: Freeman, A.; Rosen, P.; Werner, M.; Huber, S.; Prats, P.; Fiedler, H.; De Zan, F.; Younis, M.; Eineder, M.; Papathanassiou, K.; Hajnsek, I.; Krieger, G.; Moreira, A.; Bamler, R.; Werninghaus, R.; Grafmueller, B.; Veilleux, L.; Johnson, W.; Hensley, S.;
By: Freeman, A.; Rosen, P.; Werner, M.; Huber, S.; Prats, P.; Fiedler, H.; De Zan, F.; Younis, M.; Eineder, M.; Papathanassiou, K.; Hajnsek, I.; Krieger, G.; Moreira, A.; Bamler, R.; Werninghaus, R.; Grafmueller, B.; Veilleux, L.; Johnson, W.; Hensley, S.;
2009 / IEEE / 978-2-912328-55-7
By: Pottier, E.; Freeman, A.; Dubois-Fernandez, P.; Truong-Loi, M.-L.;
By: Pottier, E.; Freeman, A.; Dubois-Fernandez, P.; Truong-Loi, M.-L.;
2011 / IEEE
By: Gogineni, S.; Jezek, K.C.; Sonntag, J.G.; Freeman, A.; Wu, X.; Hoch, A.; Rodriguez-Morales, F.; Rodriguez, E.;
By: Gogineni, S.; Jezek, K.C.; Sonntag, J.G.; Freeman, A.; Wu, X.; Hoch, A.; Rodriguez-Morales, F.; Rodriguez, E.;
2011 / IEEE
By: Gogineni, S.; Rodriguez, E.; Jezek, K.C.; Xiaoqing Wu; Freeman, A.; Rodriguez-Morales, F.;
By: Gogineni, S.; Rodriguez, E.; Jezek, K.C.; Xiaoqing Wu; Freeman, A.; Rodriguez-Morales, F.;