Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Fliflet, A.W.
Results
1988 / IEEE
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
1989 / IEEE
By: Sucy, M.S.; Granatstein, V.L.; Kinkead, A.K.; Black, W.M.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; McCowan, R.B.;
By: Sucy, M.S.; Granatstein, V.L.; Kinkead, A.K.; Black, W.M.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; McCowan, R.B.;
1990 / IEEE
By: Hardesty, D.L.; Kinkead, A.K.; Kirkpatrick, D.A.; Black, W.M.; Sucy, M.S.; Manheimer, W.M.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.;
By: Hardesty, D.L.; Kinkead, A.K.; Kirkpatrick, D.A.; Black, W.M.; Sucy, M.S.; Manheimer, W.M.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.;
Design of an electron gun for a 280 GHz induced-resonance-electron-cyclotron (IREC) maser experiment
1992 / IEEEBy: Pendleton, R.A.; McCowan, R.B.; Fliflet, A.W.;
1996 / IEEE
By: Schoen, P.E.; Gan-Moog Chow; Kurihara, L.K.; Bender, B.; Rayne, R.; Fliflet, A.W.; Fischer, R.P.; Kinkead, A.K.; Bruce, R.W.; Lewis, D., III;
By: Schoen, P.E.; Gan-Moog Chow; Kurihara, L.K.; Bender, B.; Rayne, R.; Fliflet, A.W.; Fischer, R.P.; Kinkead, A.K.; Bruce, R.W.; Lewis, D., III;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Hafizi, B.; Gold, S.H.; True, R.B.;
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Hafizi, B.; Gold, S.H.; True, R.B.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Fliflet, A.W.; Rayne, R.J.; Schoen, P.E.; Kurihara, L.K.; Bruce, R.W.; Chow, G.-M.; Bender, B.A.; Lewis, D., III.; Fischer, R.P.;
By: Fliflet, A.W.; Rayne, R.J.; Schoen, P.E.; Kurihara, L.K.; Bruce, R.W.; Chow, G.-M.; Bender, B.A.; Lewis, D., III.; Fischer, R.P.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Hansen, R.J.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Gold, S.H.; Hirschfield, J.L.; Kinkead, A.K.; True, R.; Hafizi, B.; Fliflet, A.W.; Kozyrev, E.V.;
By: Hansen, R.J.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Gold, S.H.; Hirschfield, J.L.; Kinkead, A.K.; True, R.; Hafizi, B.; Fliflet, A.W.; Kozyrev, E.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Rayne, R.J.; Kurihara, L.K.; Fischer, R.P.; Lewis, D., III; Chow, G.-M.; Fliflet, A.W.; Bruce, R.W.; Bender, B.A.;
By: Rayne, R.J.; Kurihara, L.K.; Fischer, R.P.; Lewis, D., III; Chow, G.-M.; Fliflet, A.W.; Bruce, R.W.; Bender, B.A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Barsantit, M.L.; Fliflet, A.W.; Hargreaves, T.A.; Fischer, R.P.; Manheimer, W.M.;
By: Barsantit, M.L.; Fliflet, A.W.; Hargreaves, T.A.; Fischer, R.P.; Manheimer, W.M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0147-1
By: Fischer, R.P.; Manheimer, W.M.; Fliflet, A.W.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.;
By: Fischer, R.P.; Manheimer, W.M.; Fliflet, A.W.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: True, R.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Hansen, R.J.; Kinkead, A.K.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Hafizi, B.;
By: True, R.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Hansen, R.J.; Kinkead, A.K.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Hafizi, B.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Gold, S.H.; Kozyrev, E.V.; Kinkead, A.K.; True, R.B.; Hansen, R.J.; Fliflet, A.W.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.;
By: Gold, S.H.; Kozyrev, E.V.; Kinkead, A.K.; True, R.B.; Hansen, R.J.; Fliflet, A.W.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Ganguly, S.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Fischer, R.P.;
By: Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Ganguly, S.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Fischer, R.P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Gold, S.H.; Hirshfield, J.L.; Hansen, R.J.; True, R.; Fliflet, A.W.; Kinkead, A.K.;
By: Gold, S.H.; Hirshfield, J.L.; Hansen, R.J.; True, R.; Fliflet, A.W.; Kinkead, A.K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Nezhevenko, O.A.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Kozyrev, E.V.; Hirshfield, J.I.; Yakovlev, V.P.;
By: Nezhevenko, O.A.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Kozyrev, E.V.; Hirshfield, J.I.; Yakovlev, V.P.;
2000 / IEEE
By: Chow, G.-M.; Bender, B.A.; Kurihara, L.K.; Lewis, D., III; Rayne, R.J.; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Fischer, R.P.;
By: Chow, G.-M.; Bender, B.A.; Kurihara, L.K.; Lewis, D., III; Rayne, R.J.; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Fischer, R.P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Fischer, R.P.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; Kurihara, L.K.; Lewis, D., III; Miserendino, S.; Kinkead, A.K.;
By: Fischer, R.P.; Gold, S.H.; Fliflet, A.W.; Kurihara, L.K.; Lewis, D., III; Miserendino, S.; Kinkead, A.K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Nezhevenko, O.A.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.;
By: Nezhevenko, O.A.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Kinkead, A.K.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.;
By: Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Gold, S.H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Fliflet, A.W.; Imam, M.A.; Fischer, R.P.; Kinkead, A.K.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Kahn, M.; Gold, S.H.;
By: Fliflet, A.W.; Imam, M.A.; Fischer, R.P.; Kinkead, A.K.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Kahn, M.; Gold, S.H.;
1980 / IEEE
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
By: Adelseck, B.; Armstrong, B.M.; Yamashita, S.; Witters, D.M.; Ashiki, M.; Bahl, I.J.; Baird, J.M.; Barnett, L.R.; Bert, A.G.; Brown, R.; Chatterjee, I.; Engen, G.F.; Fliflet, A.W.; Gandhi, O.P.; Granatstein, V.L.; Hagmann, M.J.; Hoefer, W.J.R.; Hoppe, W.; Chia-lun J. Hu; Itoh, T.; Kaminsky, D.; Kantor, G.; Young-El Ma; Makimoto, M.; Meyer, W.; Mizushina, S.; Rix, F.; Schilz, W.M.; Yi-Chi Shih; Stewart, J.A.C.; Stuchly, M.A.; Stuchly, S.S.; Cheng Sun;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Ngo, M.T.; Danly, B.G.; Gregers-Hansen, V.; Cheung, W.J.; Manheimer, W.M.; Linde, G.J.; St Germain, K.; Fliflet, A.W.;
By: Ngo, M.T.; Danly, B.G.; Gregers-Hansen, V.; Cheung, W.J.; Manheimer, W.M.; Linde, G.J.; St Germain, K.; Fliflet, A.W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Choi, J.S.; Imam, M.A.; Fliflet, A.W.; Kinkead, A.K.; Bruce, R.L.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.;
By: Choi, J.S.; Imam, M.A.; Fliflet, A.W.; Kinkead, A.K.; Bruce, R.L.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Gold, S.H.; Bruce, R.L.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.;
By: Gold, S.H.; Bruce, R.L.; Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Fliflet, A.W.; Bruce, R.L.; Bruce, R.W.; Imam, M.A.; Lewis, D., III; Kinkead, A.K.; Kahn, M.; Gold, S.H.;
By: Fliflet, A.W.; Bruce, R.L.; Bruce, R.W.; Imam, M.A.; Lewis, D., III; Kinkead, A.K.; Kahn, M.; Gold, S.H.;
2005 / IEEE
By: Bruce, R.W.; Imam, M.A.; Lewis, D., III; Kinkead, A.K.; Bruce, R.L.; Gold, S.H.; Kahn, M.; Fliflet, A.W.;
By: Bruce, R.W.; Imam, M.A.; Lewis, D., III; Kinkead, A.K.; Bruce, R.L.; Gold, S.H.; Kahn, M.; Fliflet, A.W.;
Opportunities for NRL WARLOC radar validation and calibration of NASA Earth Observing Space Missions
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3By: Ngo, M.; Linde, G.; Fliflet, A.W.; Manheimer, W.; Miller, S.D.; Danly, B.G.; Cheung, W.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Foster, S.; Bruce, R.L.; Bruce, R.W.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Lombardi, M.T.;
By: Foster, S.; Bruce, R.L.; Bruce, R.W.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Lombardi, M.T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Bruce, R.L.; Choi, J.S.; Bruce, R.W.; Lewis, D., III; Kahn, M.; Lombardi, M.; Fliflet, A.W.; Foster, S.;
By: Bruce, R.L.; Choi, J.S.; Bruce, R.W.; Lewis, D., III; Kahn, M.; Lombardi, M.; Fliflet, A.W.; Foster, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Lombardi, M.; Kinkead, A.K.; Orlov, V.B.; Eisinger, S.B.;
By: Lewis, D., III; Bruce, R.W.; Fliflet, A.W.; Lombardi, M.; Kinkead, A.K.; Orlov, V.B.; Eisinger, S.B.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Hirshfield, J.L.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; LaPointe, M.A.; Gold, S.H.;
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Hirshfield, J.L.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; LaPointe, M.A.; Gold, S.H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Andreadis, T.D.; Smith, G.; Hubbard, R.F.; Hornstein, M.K.; Fliflet, A.W.; Lewis, D.; Gold, S.H.; Lombardi, M.;
By: Andreadis, T.D.; Smith, G.; Hubbard, R.F.; Hornstein, M.K.; Fliflet, A.W.; Lewis, D.; Gold, S.H.; Lombardi, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Fliflet, A.W.; Imam, M.A.; Kinkead, A.K.; Stephenson, C.; Gold, S.H.; Bruce, R.W.;
By: Fliflet, A.W.; Imam, M.A.; Kinkead, A.K.; Stephenson, C.; Gold, S.H.; Bruce, R.W.;
1990 / IEEE
By: Kirkpatrick, D.A.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Hardesty, D.L.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.;
By: Kirkpatrick, D.A.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Hardesty, D.L.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap