Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Fiederle, M.
Results
2011 / IEEE
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
2012 / IEEE
By: Eickhoff, W.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Disch, C.; Fiederle, M.; Stoehlker, U.;
By: Eickhoff, W.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Disch, C.; Fiederle, M.; Stoehlker, U.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Vykydal, Z.; Zwerger, A.; Soukup, P.; Jakubek, J.; Fiederle, M.; Fauler, A.;
By: Vykydal, Z.; Zwerger, A.; Soukup, P.; Jakubek, J.; Fiederle, M.; Fauler, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Fiederle, M.; Stohlker, U.; Eickhoff, W.; Disch, C.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Dambacher, M.;
By: Fiederle, M.; Stohlker, U.; Eickhoff, W.; Disch, C.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Dambacher, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Platkevic, M.; Cermak, P.; Vissers, J.; Tyazhev, A.; Tolbanov, O.; Chelkov, G.A.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Yapoudjian, R.; Teyssier, C.; Soueid, P.; Bergeron, G.; Allard, P.; Leroy, C.; Zemlicka, J.; Jakubek, J.; Pospisil, S.; Stekl, I.; Vykydal, Z.;
By: Platkevic, M.; Cermak, P.; Vissers, J.; Tyazhev, A.; Tolbanov, O.; Chelkov, G.A.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Yapoudjian, R.; Teyssier, C.; Soueid, P.; Bergeron, G.; Allard, P.; Leroy, C.; Zemlicka, J.; Jakubek, J.; Pospisil, S.; Stekl, I.; Vykydal, Z.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Cecilia, A.; Keller, E.; Engels, R.; Fauler, A.; dos Santos Rolo, T.; Alaribe, L.; Fiederle, M.; Disch, C.; Hamann, E.;
By: Cecilia, A.; Keller, E.; Engels, R.; Fauler, A.; dos Santos Rolo, T.; Alaribe, L.; Fiederle, M.; Disch, C.; Hamann, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kruchonok, V.G.; Chelkov, G.A.; Zemlicka, J.; Vykydal, Z.; Jakubek, M.; Jakubek, J.; Elkin, V.G.; Visser, J.; Tyazhev, A.V.; Tolbanov, O.P.; Fauler, A.; Fiederle, M.;
By: Kruchonok, V.G.; Chelkov, G.A.; Zemlicka, J.; Vykydal, Z.; Jakubek, M.; Jakubek, J.; Elkin, V.G.; Visser, J.; Tyazhev, A.V.; Tolbanov, O.P.; Fauler, A.; Fiederle, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Fiederle, M.; Stoehlker, U.; Eickhoff, W.; Dambacher, M.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Disch, C.;
By: Fiederle, M.; Stoehlker, U.; Eickhoff, W.; Dambacher, M.; Fauler, A.; Zwerger, A.; Disch, C.;
${\hbox{SrI}}_{2}{:}{\hbox{Eu}}^{2+}$ -Scintillators for Spectroscopy and X-Ray Imaging Applications
2012 / IEEEBy: Alaribe, L.; dos Santos Rolo, T.; Fiederle, M.; Hamann, E.; Disch, C.; Cecilia, A.; Keller, E.; Engels, R.; Fauler, A.;
2013 / IEEE
By: Alaribe, L.; Cecilia, A.; Fiederle, M.; Burger, A.; Feyrer, J.; Procz, S.; Fauler, A.; Hamann, E.;
By: Alaribe, L.; Cecilia, A.; Fiederle, M.; Burger, A.; Feyrer, J.; Procz, S.; Fauler, A.; Hamann, E.;
2012 / IEEE
By: Dambacher, M.; Zwerger, A.; Fauler, A.; Disch, C.; Eickhoff, W.; Stohlker, U.; Fiederle, M.;
By: Dambacher, M.; Zwerger, A.; Fauler, A.; Disch, C.; Eickhoff, W.; Stohlker, U.; Fiederle, M.;
2015 / IEEE
By: Fiederle, M.; Baumbach, T.; Fauler, A.; Procz, S.; Hamann, E.; Tyazhev, A.; Cecilia, A.; Zuber, M.; Koenig, T.; Tolbanov, O.;
By: Fiederle, M.; Baumbach, T.; Fauler, A.; Procz, S.; Hamann, E.; Tyazhev, A.; Cecilia, A.; Zuber, M.; Koenig, T.; Tolbanov, O.;
2013 / IEEE
By: Fiederle, M.; Stohlker, U.; Balbuena, J.P.; Zwerger, A.; Disch, C.; Fauler, A.; Dambacher, M.;
By: Fiederle, M.; Stohlker, U.; Balbuena, J.P.; Zwerger, A.; Disch, C.; Fauler, A.; Dambacher, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Franc, J.; Babentsov, V.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Benz, K.W.; Ludwig, J.;
By: Franc, J.; Babentsov, V.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Benz, K.W.; Ludwig, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Fiederle, M.; Franc, J.; Grill, R.; Benz, K.W.; Hoschl, P.; Moravec, P.; Belas, E.; Turkevych, I.;
By: Fiederle, M.; Franc, J.; Grill, R.; Benz, K.W.; Hoschl, P.; Moravec, P.; Belas, E.; Turkevych, I.;
2002 / IEEE
By: Fiederle, M.; Moravec, P.; Belas, E.; Turkevych, I.; Benz, K.W.; Franc, J.; Hoschl, P.; Grill, R.;
By: Fiederle, M.; Moravec, P.; Belas, E.; Turkevych, I.; Benz, K.W.; Franc, J.; Hoschl, P.; Grill, R.;
2004 / IEEE
By: Grill, R.; Belas, E.; Fiederle, M.; Babentsov, V.; Franc, J.; Hoschl, P.; Benz, K.W.;
By: Grill, R.; Belas, E.; Fiederle, M.; Babentsov, V.; Franc, J.; Hoschl, P.; Benz, K.W.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Fauler, A.; Braml, H.; Fiederle, M.; Jakobs, K.; Anton, G.; Ludwig, J.; Giersch, J.;
By: Fauler, A.; Braml, H.; Fiederle, M.; Jakobs, K.; Anton, G.; Ludwig, J.; Giersch, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: James, R.B.; Franc, J.; Babentsov, V.; Konrath, J.; Fauler, A.; Fiederle, M.;
By: James, R.B.; Franc, J.; Babentsov, V.; Konrath, J.; Fauler, A.; Fiederle, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Hoschl, P.; Benz, K.W.; Belas, E.; Fiederle, M.; Babentsov, V.; Franc, J.;
By: Hoschl, P.; Benz, K.W.; Belas, E.; Fiederle, M.; Babentsov, V.; Franc, J.;
2006 / IEEE
By: Carini, G.A.; Camarda, G.C.; Bolotnikov, A.E.; James, R.B.; Fiederle, M.; Wright, G.W.; McNeil, W.; McGregor, D.S.; Li, L.;
By: Carini, G.A.; Camarda, G.C.; Bolotnikov, A.E.; James, R.B.; Fiederle, M.; Wright, G.W.; McNeil, W.; McGregor, D.S.; Li, L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Khakhan, O.; Schieber, M.; Zuck, A.; Roth, M.; Uher, J.; Fiederle, M.; Pospisil, S.; Linhart, V.;
By: Khakhan, O.; Schieber, M.; Zuck, A.; Roth, M.; Uher, J.; Fiederle, M.; Pospisil, S.; Linhart, V.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Vykydal, Z.; Bouchami, J.; Zemlicka, J.; Wilhelm, I.; Visschers, J.; Vichoudis, P.; Tlustos, L.; Suk, M.; Solc, J.; Sochor, V.; Pospisil, S.; Platkevic, M.; O'Shea, V.; Campbell, M.; Dolezal, Z.; Fiederle, M.; Greiffenberg, D.; Gutierrez, A.; Heijne, E.; Holy, T.; Idarraga, J.; Jakubek, J.; Kral, V.; Kralik, M.; Lebel, C.; Leroy, C.; Llopart, X.; Maneuski, D.; Nessi, M.;
By: Vykydal, Z.; Bouchami, J.; Zemlicka, J.; Wilhelm, I.; Visschers, J.; Vichoudis, P.; Tlustos, L.; Suk, M.; Solc, J.; Sochor, V.; Pospisil, S.; Platkevic, M.; O'Shea, V.; Campbell, M.; Dolezal, Z.; Fiederle, M.; Greiffenberg, D.; Gutierrez, A.; Heijne, E.; Holy, T.; Idarraga, J.; Jakubek, J.; Kral, V.; Kralik, M.; Lebel, C.; Leroy, C.; Llopart, X.; Maneuski, D.; Nessi, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Fauler, A.; Fiederle, M.; Zwerger, A.; Cecilia, A.; Greiffenberg, D.; dos Santos Rolo, T.; Baumbach, T.; Simon, R.; Vagovic, P.; Pelliccia, D.;
By: Fauler, A.; Fiederle, M.; Zwerger, A.; Cecilia, A.; Greiffenberg, D.; dos Santos Rolo, T.; Baumbach, T.; Simon, R.; Vagovic, P.; Pelliccia, D.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Fauler, A.; Stohlker, U.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Fiederle, M.;
By: Fauler, A.; Stohlker, U.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Fiederle, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Stohlker, U.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Hamann, E.; Fiederle, M.;
By: Stohlker, U.; Zwerger, A.; Dambacher, M.; Hamann, E.; Fiederle, M.;
2009 / IEEE
By: Zappettini, A.; Zanotti, L.; Dieguez, E.; Duffar, T.; Roosen, G.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Sylla, L.;
By: Zappettini, A.; Zanotti, L.; Dieguez, E.; Duffar, T.; Roosen, G.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Sylla, L.;
2011 / IEEE
By: Fiederle, M.; Anton, G.; Michel, T.; Kreisler, B.; Fauler, A.; Guni, E.; Durst, J.; Zwerger, A.;
By: Fiederle, M.; Anton, G.; Michel, T.; Kreisler, B.; Fauler, A.; Guni, E.; Durst, J.; Zwerger, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Hamann, E.; Butzer, J.; Vagovic, P.; Fauler, A.; Zwerger, A.; dos Santos Rolo, T.; Greiffenberg, D.; Fiederle, M.; Cecilia, A.; Baumbach, T.;
By: Hamann, E.; Butzer, J.; Vagovic, P.; Fauler, A.; Zwerger, A.; dos Santos Rolo, T.; Greiffenberg, D.; Fiederle, M.; Cecilia, A.; Baumbach, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Zwerger, A.; Disch, C.; Fiederle, M.; Dambacher, M.; Fauler, A.;
By: Zwerger, A.; Disch, C.; Fiederle, M.; Dambacher, M.; Fauler, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Fauler, A.; Zwerger, A.; Lubke, J.; Procz, S.; Fiederle, M.; Mix, M.; Pichotka, M.;
By: Fauler, A.; Zwerger, A.; Lubke, J.; Procz, S.; Fiederle, M.; Mix, M.; Pichotka, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Fauler, A.; Greiffenberg, D.; Butzer, J.; Hanschke, D.; Baumbach, T.; Cecilia, A.; Hamann, E.; Vagovic, P.; Fiederle, M.;
By: Fauler, A.; Greiffenberg, D.; Butzer, J.; Hanschke, D.; Baumbach, T.; Cecilia, A.; Hamann, E.; Vagovic, P.; Fiederle, M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap